2025年3月14日

XPS元素分析からみる光触媒のガス分解性能

川崎技術支援部

溝の口

XPSによる試料表面の元素分析を実施することで、試料のアセトアルデヒド分解性能の優劣について考察することができます。

まず、試料のアセトアルデヒド分解性能試験を実施しました。

試料Bは、Aに比べてアセトアルデヒドの分解速度が遅く、理論値(アセトアルデヒドの2倍量)よりも二酸化炭素の生成量が多いことが分かりました。

試料Bは、Aに比べてアセトアルデヒドの分解速度が遅く、理論値(アセトアルデヒドの2倍量)よりも二酸化炭素の生成量が多いことが分かりました。

（この試験で用いた機器はこちら→）光音響マルチガス分析器

次に、試料のXPSワイドスキャン分析を実施しました。

試料Bは、Aに比べて表面の炭素（C 1s）が約3.3倍、チタン（Ti 2p）は約0.6倍程度であることが分かりました。試料Bは、Aに比べて表面に露出した光触媒が少なく、またその原因は表面の有機物にあることが示唆されました。

この結果より、試料Bでは、アセトアルデヒドの分解と光触媒表面を汚染している有機物の分解が並行して起きることで、試料Aに比べてアセトアルデヒドの分解速度が遅く、二酸化炭素の生成量が多くなったと考えられます。

XPSは、試料表面の極薄い層（数nm）の元素分析に用いられる機器です。そのため、表面で反応が進行する光触媒材料と相性が良い分析機器といえます。

使用機器

今回のような分解性能試験を実施した場合は上記料金表のK3122が工数に応じて積算されます。
XPSワイドスキャン測定を実施した場合は、上記料金表が適用されます。詳細はお問い合わせください。
NO.	項目	単位	料金
K161925-01	その他光触媒性能試験	１時間につき	7,150
K111007-01	Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ）	１試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ）	27,610
K111007-02	Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ）追加試料	追加１試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ）	21,780

依頼試験（KISTEC事業名：試験計測）で利用できます。