使用機器USED EQUIPMENT
KISTECが保有している機器・設備をご紹介します。
職員が行う各種試験や研究に使用しているもののほか、お客様自ら来所いただき使用可能なものもございます。
お客様ご自身でご利用可能な機器は、「機器を探す」よりご確認ください。
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マニュピレーター
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集束イオンビーム装置（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
- 溝の口
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- 固体・表面分析
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電子線マイクロアナライザ（電界放出型・FE-EPMA）
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X線光電子分光分析装置（走査型・XPS）[VersaProbeⅡ]
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- 機器利用可
走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]
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走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）[JSM-7800F Prime]
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集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB]
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分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF]
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Ｘ線光電子分光分析装置（走査型・XPS）[Quantera SXM]
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- 機器利用可
蛍光Ｘ線分析装置（微小部・XRF）[SEA6000VX HSFinder]
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蛍光X線分析装置（波長分散方式・XRF）[RIX3100]
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- #有害物質規制（有害元素）
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蛍光Ｘ線分析装置（エネルギー分散方式・XRF）[XGT-5000WR]
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