使用機器USED EQUIPMENT
KISTECが保有している機器・設備をご紹介します。
職員が行う各種試験や研究に使用しているもののほか、お客様自ら来所いただき使用可能なものもございます。
お客様ご自身でご利用可能な機器は、「機器を探す」よりご確認ください。
機器を探す
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低照度光源
- 溝の口
- 太陽電池評価
- 太陽電池
- #光学機器
- #太陽電池評価
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分光放射照度計
- 溝の口
- 光学特性評価
- （材料共通）
- #NEDO
- #光学機器
- #分光分析
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高性能分光放射照度計
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- 光学特性評価
- （材料共通）
- #NEDO
- #光学機器
- #分光分析
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照度分布評価装置
- 溝の口
- 光学特性評価
- （材料共通）
- #NEDO
- #光学機器
- #太陽電池評価
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促進耐光性試験機（キセノン）
- 溝の口
- 耐候性・耐食性試験
- 高分子材料
- 塗装・メッキ製品
- #促進耐光性
- #環境試験
- #劣化
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促進耐光性試験機（紫外線蛍光ランプ式）
- 溝の口
- 耐候性・耐食性試験
- 高分子材料
- 塗装・メッキ製品
- #促進耐光性
- #環境試験
- #劣化
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- 機器利用可
紫外・可視・近赤外分光光度計 [UH4150]
- 溝の口
- 光学特性評価
- （材料共通）
- #光学機器
- #分光分析
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ネットワークアナライザ（回路定数・測定解析システム）
- 海老名
- 電磁環境・EMC
- 電気・電子製品
- #JKA
- #電磁環境試験機器
- #高周波特性評価
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EMI 測定システム
- 海老名
- 電磁環境・EMC
- 電気・電子製品
- #電磁環境試験機器
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電波暗室及びシールド室
- 海老名
- 電磁環境・EMC
- 電気・電子製品
- #電磁環境試験機器
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耐電圧試験機
- 海老名
- 電気計測・試験
- 電子材料
- 電気・電子製品
- #安全性評価
- #耐久性
- #電気計測機器
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半導体パラメータアナライザ
- 海老名
- 半導体・実装
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価