依頼試験COMISSIONED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル（不具合）が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
（依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。）
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薄膜硬さ試験
本試験では、従来のビッカース硬さ試験機と異なり、圧子駆動部に変位計を装備し、加えた試験力と圧子の押込...
電子技術部
- 半導体・実装
- 電気・電子製品
- #薄膜作成・成膜
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蛍光X線法による膜厚測定
試料に X 線を照射して被膜あるいは素地を構成する元素固有の蛍光X線強度を測定することで被膜の膜厚を...
化学技術部
- 塗膜・めっき性能評価
- 塗装・メッキ製品
- #厚さ・膜厚
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ガス・水蒸気透過度測定
ガス・水蒸気透過度測定 シート及びフィルムのガス・水蒸気透過度の測定 【試験対象】サンプ...
化学技術部
- 透過度測定
- 高分子材料
- 膜材
- #JKA
- #物理特性試験機
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触針式表面形状測定
試料表面上の長方形の領域(測定領域)を触針で走査して、測定領域の3次元的な表面形状を取得します。3次...
電子技術部
- 半導体・実装
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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触針式膜厚測定
試料表面に触針を走査させて、段差の高さから薄膜の膜厚を測定します。 【試験対象】 薄膜付きの基...
電子技術部
- 半導体・実装
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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光触媒のメチルメルカプタン除去性能試験
JISR1701-5 光触媒 空気浄化 メチルメルカプタン除去性能試験
川﨑技術支援部
- 光触媒評価
- 光触媒
- #空気浄化
- #光触媒
- #JIS
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粒径分布測定（静的画像解析法）
機械・材料技術部
- 粉体・表面性能
- 粒・粉体
- #画像解析
- #粒度分布
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粒径分布測定（レーザ回折・散乱法）
機械・材料技術部
- 粉体・表面性能
- 粒・粉体
- #粒度分布
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シャルピー衝撃試験（室温）
化学技術部
- 強度試験
- 高分子材料
- #強度試験機
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電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動イミュニティ試験
【試験対象】 電器製品 【用途】 電器製品の電源の電圧、周波数等の変動、異常状態に対するイミュ...
電子技術部
- 電磁環境・EMC
- 電気・電子製品
- #EMC
- #電磁ノイズ
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冷熱衝撃試験（中・ハイパワータイプ）
電子技術部
- 温湿度評価
- 電子材料
- 電気・電子製品
- 機械製品
- #JKA
- #環境試験
- #性能評価
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高出力高精細Ｘ線ＣＴ撮影
Ⅹ線により非破壊で試料内部の状態を3次元的に観察する。断層画像や立体像が得られる。 最大管電圧：30...
機械・材料技術部
- 非破壊検査
- 電気・電子製品
- 機械製品
- #不具合
- #内部観察機器