依頼試験REQUESTED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル(不具合)が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
(依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。)
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電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA)
細く絞った電子線を固体表面に照射することにより、微小領域の元素分析ができます。変色や腐食・破壊等の不...
機械・材料技術部
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- 電気・電子製品
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- #不具合
- #元素分析
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X線光電子分光分析(走査型・XPS)
固体表面にX線を照射して光電効果により放出される光電子の運動エネルギー(EK)と強度を測定する手法で...
機械・材料技術部
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- 金属材料
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- 高分子材料
- #変色
- #表面分析
- #組成分析
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X線光電子分光分析(XPS)
固体表面にX線を照射して光電効果により放出される光電子の運動エネルギー(EK)と強度を測定する手法で...
機械・材料技術部
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- 高分子材料
- #変色
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蛍光X線定性分析(波長分散方式)
試料にX線を照射し、発生するX線(蛍光X線)の波長を波長分散方式(WDX)で測定することにより、一定...
化学技術部
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- #異物
- #トラブル対策
- #有害物質規制(有害元素)
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蛍光X線法による微小部定性分析
蛍光 X 線分析(エネルギー分散型蛍光 X 線分光法、EDX、Energy Dispersive X...
化学技術部
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- #異物
- #トラブル対策
- #有害物質規制(有害元素)
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X線光電子分光分析(走査型・XPS)表面分析(ワイドおよびナロースキャン)
極表面に、どのような元素が存在するか分析することができます。試料表面の極薄い層(数nm)の元素分析(...
川﨑技術支援部
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- #変色
- #表面分析
- #組成分析
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X線光電子分光分析(走査型・XPS)表面分析(ワイドスキャンのみ)
極表面に、どのような元素が存在するか分析することができます。試料表面の極薄い層(数nm)の元素分析(...
川﨑技術支援部
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- #変色
- #表面分析
- #組成分析
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微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析
蛍光X線(XRF)分析装置は、試料にX線を照射し発生する蛍光X線を測定することで元素の確認(定性)や...
川﨑技術支援部
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- #異物
- #トラブル対策
- #有害物質規制(有害元素)
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微小部蛍光X線分析(XRF)
蛍光X線(XRF)分析装置は、試料にX線を照射し発生する蛍光X線を測定することで元素の確認(定性)や...
川﨑技術支援部
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 無機材料
- #異物
- #トラブル対策
- #有害物質規制(有害元素)
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X線光電子分光分析(走査型・XPS)深さ方向分析
極表面に、どのような元素が存在するか分析することができます。試料表面の極薄い層(数nm)の元素分析(...
川﨑技術支援部
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