依頼試験REQUESTED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル（不具合）が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
（依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。）
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蛍光Ｘ線定性分析（波長分散方式）
試料にX線を照射し、発生するX線（蛍光X線）の波長を波長分散方式（WDX）で測定することにより、一定...
化学技術部
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 無機材料
- #異物
- #トラブル対策
- #有害物質規制（有害元素）
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蛍光Ｘ線法による微小部定性分析
蛍光 X 線分析（エネルギー分散型蛍光 X 線分光法、EDX、Energy Dispersive X...
化学技術部
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 無機材料
- #異物
- #トラブル対策
- #有害物質規制（有害元素）
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電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA）
細く絞った電子線を固体表面に照射することにより、微小領域の元素分析ができます。変色や腐食・破壊等の不...
機械・材料技術部
- 固体・表面分析
- 無機材料
- 電気・電子製品
- #JKA
- #不具合
- #元素分析
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X線光電子分光分析（走査型・XPS）
固体表面にX線を照射して光電効果により放出される光電子の運動エネルギー（EK）と強度を測定する手法で...
機械・材料技術部
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #変色
- #表面分析
- #組成分析
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X線光電子分光分析（XPS）
固体表面にX線を照射して光電効果により放出される光電子の運動エネルギー（EK）と強度を測定する手法で...
機械・材料技術部
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #変色
- #表面分析
- #組成分析
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Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）表面分析（ワイドおよびナロースキャン）
極表面に、どのような元素が存在するか分析することができます。試料表面の極薄い層（数nm）の元素分析（...
川﨑技術支援部
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #変色
- #表面分析
- #組成分析
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Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）表面分析（ワイドスキャンのみ）
極表面に、どのような元素が存在するか分析することができます。試料表面の極薄い層（数nm）の元素分析（...
川﨑技術支援部
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #変色
- #表面分析
- #組成分析
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微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析
蛍光Ｘ線(XRF)分析装置は、試料にＸ線を照射し発生する蛍光Ｘ線を測定することで元素の確認（定性）や...
川﨑技術支援部
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 無機材料
- #異物
- #トラブル対策
- #有害物質規制（有害元素）
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微小部蛍光Ｘ線分析（XRF）
蛍光Ｘ線(XRF)分析装置は、試料にＸ線を照射し発生する蛍光Ｘ線を測定することで元素の確認（定性）や...
川﨑技術支援部
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 無機材料
- #異物
- #トラブル対策
- #有害物質規制（有害元素）
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Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）深さ方向分析
極表面に、どのような元素が存在するか分析することができます。試料表面の極薄い層（数nm）の元素分析（...
川﨑技術支援部
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- 無機材料
- 高分子材料
- #変色
- #表面分析
- #組成分析