依頼試験COMISSIONED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル（不具合）が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
（依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。）
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電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定
走査電子顕微鏡に付属された電子線後方散乱回折（EBSD）図形を観測する装置を用いて、観察視野内での結...
機械・材料技術部
- 微細構造観察
- 金属材料
- #結晶方位
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走査電子顕微鏡写真撮影
FE-SEM 装置の外観 材料および機械部品の表面ならびに破壊面の観察 【試験対象】 各...
機械・材料技術部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- #破面
- #表面観察
- #電子顕微鏡
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表面観察（FE-EPMAによる）
材料および機械部品の表面ならびに破壊面の観察 【試験対象】 金属、セラミックス、樹脂等 ...
機械・材料技術部
- 微細構造観察
- 電気・電子製品
- 塗装・メッキ製品
- #JKA
- #厚さ・膜厚
- #不具合
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走査型プローブ顕微鏡観察
原子ステップサファイア及び電子線レジストパターン 走査プローブ顕微鏡(SPM)は先端サイズがナ...
電子技術部
- 微細構造観察
- 電子材料
- #原子間力顕微鏡
- #形状測定
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超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定
微小部品の三次元形状観察、測定 【試験対象】 機械部品、電子部品、電子材料、半導体 等 ...
電子技術部
- 微細構造観察
- 電子材料
- #形状測定
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走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[JSM-7800F Prime]
FE-SEM 7800F 最新の高性能電子光学系により、金属や半導体、セラミクス、有機物、磁...
川﨑技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #元素分析
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
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走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]
FE-SEM S4800 ・材料の表面形態観察を30倍から80万倍の範囲で観察できます。・光学...
川﨑技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #元素分析
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
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分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]
分析透過電子顕微鏡 EM002BF ♠数千倍から数百万倍まで、広範囲の倍率で試料の微細構造観察...
川﨑技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #元素分析
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
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分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/STEM/EDS）[Talos F200X]
分析透過電子顕微鏡 Talos 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM／EDS）は、多次元に渡る高速...
川﨑技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #元素分析
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
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集束イオンビーム装置観察（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB]
FIB-SEM Xvision200TB 高精度加工・極低加速電圧加工が可能な集束イオンビーム...
川﨑技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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画像解析システム
FIB-SEMで取得した画像を画像解析システムにて、三次元再構築等の画像解析を行います。
川﨑技術支援部
- 微細構造観察
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- 無機材料
- 高分子材料
- #画像解析
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集束イオンビーム装置観察（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
FIB-SEM scios 最新のFIB-SEMです。局所領域の断面加工と観察、TEM試料作製...
川﨑技術支援部
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- #結晶構造解析
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