依頼試験COMISSIONED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル(不具合)が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
(依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。)
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マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法)
Sパラメータ測定を利用した電子材料等の誘電率、透磁率の同時測定同軸管法(広帯域):200MHz~4G...
電子技術部
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マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法)
共振器法や誘電体プローブ法を用いたマイクロ波帯の電子材料の誘電率、誘電正接測定空洞共振器法(高精度)...
電子技術部
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マイクロ波誘電率測定(BCDR法)
周波数範囲10GHzから67GHzの誘電率・誘電正接を測定
電子技術部
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マイクロ波誘電率・透磁率測定(ハーモニック共振器法)
ハーモニック共振器法を用いたマイクロ波帯の電子材料の誘電率、透磁率の周波数特性測定 【試験対象...
電子技術部
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交流磁化特性測定
交流磁化特性測定装置を用いて交流B-H曲線・鉄損・交流磁化時の透磁率を測定します。 【試験対象...
電子技術部
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薄膜交流透磁率測定
薄膜高周波透磁率測定装置を用いて磁性膜の高周波透磁率を測定します。 測定周波数範囲100k~100M...
電子技術部
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磁化温度特性測定
VSM装置を用いて-196~800℃における磁性材料のB-H曲線、M-H曲線/磁気モーメント-温度特...
電子技術部
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磁歪測定
磁性材料に磁場を与えた(磁化した)時の歪量を測定します。レーザー変位測定方式/歪分解能:0.08μm...
電子技術部
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磁化特性測定(積分方式)
BHカーブトレーサを用いた直流B-H測定によって、B-H曲線、初磁化曲線、保磁力、残留磁束密度、最大...
電子技術部
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磁化特性測定(VSM方式)
振動試料型磁力計(VSM)によってB-H曲線、M-H曲線、保磁力、残留磁束密度(残留磁化)、磁化率な...
電子技術部
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