依頼試験REQUESTED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル（不具合）が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
（依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。）
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薄膜硬さ試験
本試験では、従来のビッカース硬さ試験機と異なり、圧子駆動部に変位計を装備し、加えた試験力と圧子の押込...
電子技術部
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- #薄膜作成・成膜
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接合強度試験（はんだ継手強度試験）
電子技術部
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- 電気・電子製品
- #部品実装
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接合強度試験（ワイヤーボンディング強度試験）
電子技術部
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- 電気・電子製品
- #部品実装
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接合強度試験（ダイシェア試験）
電子技術部
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- #部品実装
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触針式膜厚測定
試料表面に触針を走査させて、段差の高さから薄膜の膜厚を測定します。 【試験対象】 薄膜付きの基...
電子技術部
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触針式表面形状測定
試料表面上の長方形の領域(測定領域)を触針で走査して、測定領域の3次元的な表面形状を取得します。3次...
電子技術部
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- #半導体特性評価
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パワーサイクル試験
主にパワーデバイスを対象として、ON/OFFの通電を繰り返し印加することによって、熱的あるいは電気的...
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- #信頼性評価
- #パワーデバイス
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フォトルミネッセンス測定
試料に光を照射して物質が発する光（蛍光）を定性、定量評価。 半導体、蛍光体の発光特性評価より、不純物...
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ホール効果測定
試料に電圧を印可して電流測定を行うことで抵抗率（比抵抗）を評価します。また、磁場を印可することで伝導...
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光干渉式膜厚測定
半導体プロセスにおける各種膜を光学式により非接触で膜厚測定します。 【試験対象】 SiO2（酸...
電子技術部
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酸化拡散試験
酸素や水蒸気を利用し、Si（シリコン）ウェハへ熱酸化により、酸化膜の形成を行います。また、Siウエハ...
電子技術部
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低温光特性評価
クライオスタットを用いて５Kまでの極低温に冷却が可能です。ガラス窓を備えており、光学特性評価が可能で...
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