依頼試験REQUESTED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル(不具合)が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
(依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。)
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フォトルミネッセンス測定
試料に光を照射して物質が発する光(蛍光)を定性、定量評価。 半導体、蛍光体の発光特性評価より、不純物...
電子技術部
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- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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半導体パラメータ測定
半導体デバイスアナライザを用いて半導体素子のI-V特性(電流と電圧の関係)やC-V特性(容量と電圧の...
電子技術部
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- #半導体特性評価
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パワー半導体静特性試験
半導体カーブトレーサを用いて、高電圧・大電流に対応したパワー半導体素子のI-V特性などを測定します。
電子技術部
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- #半導体特性評価
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クリーン雰囲気試験
電子技術部
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超音波ボールボンダ試験
マニュアルボールボンダによるワイヤーボンディング 【試験対象】 電子材料、半導体金線のワイヤー...
電子技術部
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超音波ウェッジボンダ試験
マニュアルウェッジボンダによるワイヤーボンディング 【試験対象】 電子材料、半導体例:アルミ線...
電子技術部
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熱抵抗測定
熱過渡解析によるパワーデバイスの熱抵抗測定を行います。構造関数を算出してデバイスの放熱特性や放熱経路...
電子技術部
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