依頼試験COMISSIONED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル（不具合）が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
（依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。）
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磁化特性測定（ＶＳＭ方式）
振動試料型磁力計（VSM）によってB-H曲線、M-H曲線、保磁力、残留磁束密度（残留磁化）、磁化率な...
電子技術部
- 電磁気特性評価
- 磁性材料
- #磁気特性評価
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磁化特性測定（積分方式）
BHカーブトレーサを用いた直流B-H測定によって、B-H曲線、初磁化曲線、保磁力、残留磁束密度、最大...
電子技術部
- 電磁気特性評価
- 磁性材料
- #磁気特性評価
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磁歪測定
磁性材料に磁場を与えた（磁化した）時の歪量を測定します。レーザー変位測定方式／歪分解能：0.08μm...
電子技術部
- 電磁気特性評価
- 磁性材料
- #磁気特性評価
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磁化温度特性測定
VSM装置を用いて-196～800℃における磁性材料のB-H曲線、M-H曲線／磁気モーメント-温度特...
電子技術部
- 電磁気特性評価
- 磁性材料
- #磁気特性評価
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薄膜交流透磁率測定
薄膜高周波透磁率測定装置を用いて磁性膜の高周波透磁率を測定します。 測定周波数範囲100k～100M...
電子技術部
- 電磁気特性評価
- 磁性材料
- #磁気特性評価
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交流磁化特性測定
交流磁化特性測定装置を用いて交流B-H曲線・鉄損・交流磁化時の透磁率を測定します。 【試験対象...
電子技術部
- 電磁気特性評価
- 磁性材料
- #磁気特性評価
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自動下書き
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適合性試験（FL-net）
FL-netに接続するための新規の製品の各項目における個別の動作をJEM1480の試験方法により確認...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #FL-net
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相互接続性試験（FL-net）
FL-netに接続するための新規の製品のネットワーク上での動作をJEM1480の試験方法により確認し...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #FL-net
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レーザーマーキング
分析箇所の特定のため、レーザーマーカーを用いマーキングを行います。レーザーマーカーは試料表面をCCD...
川﨑技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #レーザ加工
- #微細加工
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集束イオンビーム装置観察（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
FIB-SEM scios 最新のFIB-SEMです。局所領域の断面加工と観察、TEM試料作製...
川﨑技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
- #組成分析
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ノイズ試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品にノイズを加えた時の動作を確認します。 【試験対象】 ...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link