依頼試験COMISSIONED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル（不具合）が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
（依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。）
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ハードウェア試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のハードウェア上の設定を確認します。 【試験対象】 新...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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ソフトウェア試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のソフトウェア上の設定を確認します。 【試験対象】 新...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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組み合わせ試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のネットワーク上での動作を確認します。 【試験対象】 ...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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インタオぺラビリティ試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品の従来品との互換性を確認します。CC-Link協会コンフォー...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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画像解析システム
FIB-SEMで取得した画像を画像解析システムにて、三次元再構築等の画像解析を行います。
川﨑技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #画像解析
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エージング試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のネットワーク上での耐久性を確認します。 【試験対象】...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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フォトルミネッセンス測定
試料に光を照射して物質が発する光（蛍光）を定性、定量評価。 半導体、蛍光体の発光特性評価より、不純物...
電子技術部
- 半導体・実装
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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高分解能（１nm以下）フォトルミネッセンス測定
半導体中の不純物（ドーピング元素）をスペクトルピーク値から定性分析し、ピーク強度から半定量分析します...
電子技術部
- 半導体・実装
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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低温光特性評価
クライオスタットを用いて５Kまでの極低温に冷却が可能です。ガラス窓を備えており、光学特性評価が可能で...
電子技術部
- 半導体・実装
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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酸化拡散試験
酸素や水蒸気を利用し、Si（シリコン）ウェハへ熱酸化により、酸化膜の形成を行います。また、Siウエハ...
電子技術部
- 半導体・実装
- 電気・電子製品
- #薄膜作成・成膜
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光干渉式膜厚測定
半導体プロセスにおける各種膜を光学式により非接触で膜厚測定します。 【試験対象】 SiO2（酸...
電子技術部
- 半導体・実装
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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光触媒の窒素酸化物除去性能試験
JISR1701-1 光触媒 空気浄化 窒素酸化物除去性能試験 JIS R 1701-1 ファ...
川﨑技術支援部
- 光触媒評価
- 光触媒
- #空気浄化
- #光触媒
- #JIS