依頼試験REQUESTED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル（不具合）が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
（依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。）
試験を探す
-
アッシャーによるプラズマ処理
表面改質、有機物除去 【試験対象】 CF4プラズマ処理、酸素プラズマ処理例）レジスト残渣の除去...
電子技術部
- 微細加工
- 電子材料
- 電気・電子製品
- #薄膜作成・成膜
-
その他光触媒性能試験
ご希望の条件でテーラーメイドな試験を実施します。JIS試験などの試料サイズや測定条件が決まっている試...
川﨑技術支援部
- 光触媒評価
- 光触媒
- その他
- #光触媒
- #性能評価
- #研究開発
-
ＥＣＲプラズマエッチング
プラズマを用いるドライエッチング法の一つであり、この場合は、ECR (電子サイクロトロン共鳴) によ...
電子技術部
- 微細加工
- 電子材料
- 電気・電子製品
- #薄膜作成・成膜
-
高精度フォトリソグラフィ
UV露光による感光性樹脂への高精度転写 両面パターンにも対応可 【試験対象】 ウエハサイズ：2...
電子技術部
- 微細加工
- 電子材料
- 電気・電子製品
- #薄膜作成・成膜
- #微細加工
-
空気清浄機によるたばこ煙成分の脱臭試験（JEM1467に準じた試験法）
川﨑技術支援部
- 光触媒評価
- 電気・電子製品
- 光触媒
- #空気浄化
- #JEM
- #光触媒
-
電子線リソグラフィ
電子線リソグラフィによる電子線レジスト樹脂への高精細パターン形成 【試験対象】 ウエハサイズ：...
電子技術部
- 微細加工
- 電子材料
- 電気・電子製品
- #薄膜作成・成膜
- #微細加工
-
クリーン雰囲気試験
電子技術部
- 半導体・実装
- 電気・電子製品
- #薄膜作成・成膜
-
パワー半導体静特性試験
半導体カーブトレーサを用いて、高電圧・大電流に対応したパワー半導体素子のI-V特性などを測定します。
電子技術部
- 半導体・実装
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
-
半導体パラメータ測定
半導体デバイスアナライザを用いて半導体素子のI-V特性（電流と電圧の関係）やC-V特性（容量と電圧の...
電子技術部
- 半導体・実装
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
-
技術開発受託報告書の複本
-
精密機械研磨法
精密機械研磨装置（EM TXP）は光学顕微鏡、SEMおよびTEM用試料の切断・研磨のためのターゲット...
川﨑技術支援部
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #微細加工
-
太陽電池のIPCE測定
太陽電池のIPCE測定
川﨑技術支援部
- 太陽電池評価
- 太陽電池
- #太陽電池評価