料金表 PRICE LIST

KISTECに試験を依頼される際と、機器をご利用になる際の料金をお探しいただけます。

料金表に掲載の項目のほか、ご相談内容に応じて、料金表に無い試験を算定し、ご提示できる場合もございます。お気軽に無料技術相談フォームよりご相談ください。

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ご利用上の注意

  1. 料金は全て消費税を含んでいます。
  2. この料金表に掲げる以外に実施可能な項目及び使用可能な設備機器もあります。詳細は担当各部へお問い合わせください。
  3. 機器の更新等により項目及び設備機器名並びに料金の額を変更する場合があります。
  4. 担当部名欄のE及びKの表示は、同一試験項目の各拠点の該当する料金番号を示しています。 (E 海老名本部、K 溝の口支所)

材料分析

定量分析

定量分析(A) (容易なもの)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110101-01 定量分析(A)(容易なもの) 1試料,1成分につき(容易なもの) 10,450円 化学技術部

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定量分析(B)(複雑なもの)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110101-02 定量分析(B)(複雑なもの) 1試料,1成分につき(複雑なもの) 12,650円 化学技術部

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炭素・硫黄分析装置による定量分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110104-01 炭素・硫黄分析装置による定量分析(A) (容易なもの) 1試料,1成分につき(容易なもの) 9,130円 化学技術部
E110104-02 炭素・硫黄分析装置による定量分析(B) (複雑なもの) 1試料,1成分につき(複雑なもの) 13,530円 化学技術部

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原子吸光分析法による定量分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110107-01 原子吸光分析法による定量分析(A)(容易なもの) 1試料,1成分につき(容易なもの) 9,240円 化学技術部
E110107-02 原子吸光分析法による定量分析(B)(複雑なもの) 1試料,1成分につき(複雑なもの) 13,970円 化学技術部

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ICP発光分光分析法による定量分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110110-01 ICP発光分光分析法による定量分析(A) (容易なもの) 1試料,1成分につき(容易なもの) 9,130円 化学技術部
E110110-02 ICP発光分光分析法による定量分析(B) (複雑なもの) 1試料,1成分につき(複雑なもの) 13,640円 化学技術部

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ICP発光分光分析法による定性分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110113-01 ICP発光分光分析法による定性分析 1試料につき,基本10元素まで 20,790円 化学技術部
E110113-02 ICP発光分光分析法による定性分析 1元素増 1試料につき,1元素増すごとに 1,980円 化学技術部

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カールフィッシャー水分測定(直接法)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110116-01 カールフィッシャー水分測定(直接法) 1条件,1試料につき 12,320円 化学技術部
E110116-02 カールフィッシャー水分測定(直接法) 1試料増 1試料増すごとに 7,040円 化学技術部

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カールフィッシャー水分測定(加熱気化法)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110119-01 カールフィッシャー水分測定(加熱気化法) 1条件,1試料につき 15,070円 化学技術部
E110119-02 カールフィッシャー水分測定(加熱気化法) 1試料増 1試料増すごとに 10,340円 化学技術部

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分光蛍光光度計試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110122-01 分光蛍光光度計試験 1スペクトルにつき 9,680円 化学技術部

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CHN元素分析装置による定量分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110125-01 CHN元素分析装置による定量分析 1試料につき 18,700円 化学技術部

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水質試験(A)(容易なもの)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110128-01 水質試験(A)(容易なもの) 1項目につき (容易なもの) 6,710円 化学技術部

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水質試験(B)(複雑なもの)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110128-02 水質試験(B)(複雑なもの) 1項目につき (複雑なもの) 10,560円 化学技術部

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溶出検液作成

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110131-01 溶出検液作成(A)(6成分以下) 1試料につき (6成分以下) 4,840円 化学技術部
E110131-02 溶出検液作成(B)(7成分以上) 1試料につき (7成分以上) 9,020円 化学技術部

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機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E210101-01 分光蛍光光度計 日立 F-4010 4,400円 化学技術部

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ガスクロマトグラフ成分分析

ガスクロマトグラフによる分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110401-01 ガスクロマトグラフによる分析 1試料につき 11,220円 化学技術部

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ガスクロマトグラフ定量分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110404-01 ガスクロマトグラフ定量分析 1試料1成分につき 16,060円 化学技術部
E110404-02 ガスクロマトグラフ定量分析 1成分増 1成分増すごとに 6,490円 化学技術部

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ヘッドスペースガスクロマトグラフによる分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110407-01 ヘッドスペースガスクロマトグラフによる分析 1試料につき 16,500円 化学技術部

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ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110410-01 ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析 1試料1成分につき 22,770円 化学技術部
E110410-02 ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析 1成分増 1成分増すごとに 6,490円 化学技術部

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ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110413-01 ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS) 1試料1成分につき 44,770円 化学技術部
E110413-02 ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS) 定性分析 1成分増 1成分増すごとに 5,720円 化学技術部
E110413-03 ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS) 定量分析 1成分増 1成分増すごとに 6,710円 化学技術部

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ヘッドスペースGCMS分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110416-01 ヘッドスペースGCMS分析 1試料1成分につき 57,860円 化学技術部
E110416-02 ヘッドスペースGCMS分析  定性分析 1成分増 1成分増すごとに 5,720円 化学技術部
E110416-03 ヘッドスペースGCMS分析  定量分析 1成分増 1成分増すごとに 6,710円 化学技術部

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サーマルデソープションGCMS分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110419-01 サーマルデソープションGCMS分析 1試料1成分につき 62,150円 化学技術部
E110419-02 サーマルデソープションGCMS分析 定性分析 1成分増 1成分増すごとに 5,720円 化学技術部
E110419-03 サーマルデソープションGCMS分析 定量分析 1成分増 1成分増すごとに 6,710円 化学技術部

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化学イオン化(CI)法によるGCMS分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110422-01 化学イオン化(CI)法によるGCMS分析 1試料につき(E110413-01,E110416-01,E110419-01に適用) 12,980円 化学技術部

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熱分解GCMS分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110425-01 熱分解GCMS分析 1試料1成分につき 58,850円 化学技術部
E110425-02 熱分解GCMS分析 定性分析 1成分増 1成分増すごとに 5,720円 化学技術部

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液体クロマトグラフ成分分析

イオンクロマトグラフ分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110701-01 イオンクロマトグラフ分析(1) (一般的なもの) 1測定につき 17,600円 化学技術部
E110701-02 イオンクロマトグラフ分析(2) (特殊なもの) 1測定につき 22,440円 化学技術部
E110704-01 試料調製(溶出前処理) E110107-01, E1101107-02に適用 4,730円 化学技術部

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高速液体クロマトグラフ分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110707-01 高速液体クロマトグラフ分析(分析条件検討を含まない) 1試料1成分につき 12,320円 化学技術部
E110707-02 高速液体クロマトグラフ分析(簡単な分析条件を含む) 1試料1成分につき 31,460円 化学技術部

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液体クロマトグラフ-質量分析(飛行時間型)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110710-01 液体クロマトグラフ-質量分析(飛行時間型)(分析条件検討を含まない) 1試料1成分につき 47,960円 化学技術部
E110710-02 液体クロマトグラフ-質量分析(飛行時間型)(簡単な分析条件の検討) 1試料につき(E110710-01に適用) 25,520円 化学技術部
E110710-03 液体クロマトグラフ-質量分析(飛行時間型)定性分析1成分増 1成分増すごとに 4,510円 化学技術部

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液体クロマトグラフ-質量分析(四重極型)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E110713-01 液体クロマトグラフ-質量分析(四重極型)(分析条件検討を含む) 1試料1成分につき 41,360円 化学技術部
E110713-02 液体クロマトグラフ-質量分析(四重極型)(分析条件検討を含まない) 1試料1成分につき 21,010円 化学技術部

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固体・表面分析

蛍光X線法による微小部定性分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E111001-01 蛍光X線法(XRF)による微小部定性分析 1試料,1ヶ所につき 9,570円 化学技術部
E111001-02 蛍光X線法(XRF)による微小部定性分析 1条件増 1条件増すごとに 3,520円 化学技術部

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蛍光X線定性分析(波長分散方式)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E111004-01 蛍光X線定性分析(XRF)(波長分散方式) 1試料につき 22,440円 化学技術部

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X線光電子分光分析(XPS)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E111007-01 X線光電子分光分析(XPS)(簡単なもの) 1試料1ヶ所につき 18,150円 機械・材料技術部
E111007-02 X線光電子分光分析(XPS)(簡単なもの) 条件増 1条件増すごとに 8,250円 機械・材料技術部

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X線光電子分光分析(走査型・XPS)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E111010-01 X線光電子分光分析(走査型・XPS・ワイドスキャンのみ) 1試料1ヶ所につき 15,840円 機械・材料技術部
E111010-02 X線光電子分光分析
(走査型・XPS・ワイドおよびナロースキャン)
1試料1ヶ所につき(6元素まで) 23,540円 機械・材料技術部
E111010-03 X線光電子分光分析(走査型・XPS・面分析,線分析) 1試料1ヶ所につき(5元素まで) 24,640円 機械・材料技術部
E111010-04 X線光電子分光分析(走査型・XPS・深さ方向分析) 1試料1ヶ所につき(6元素まで) 37,180円 機械・材料技術部
E111010-05 X線光電子分光分析(走査型・XPS) 条件増 1条件増すごとに 5,720円 機械・材料技術部
E111010-06 X線光電子分光分析(走査型・XPS) 元素増(1) 1元素増すごとに(E111010-02, E111010-03に適用) 4,950円 機械・材料技術部
E111010-07 X線光電子分光分析(走査型・XPS) 元素増(2) 1元素増すごとに(E111010-04に適用) 7,370円 機械・材料技術部

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電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E111013-01 電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA) 1ヶ所につき 29,370円 機械・材料技術部
E111013-02 エネルギー分散型X線分析(EDS・FE-EPMAによる) 1ヶ所につき(E111013-01に適用) 7,260円 機械・材料技術部
E111013-03 表面観察(FE-EPMAによる) 1ヶ所増 同一試料で1ヶ所増すごとに(E111013-01に適用) 4,510円 機械・材料技術部
E111013-04 電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA) 追加分析 1ヶ所につき(E111013-01に適用) 9,130円 機械・材料技術部

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微小部蛍光X線分析(XRF)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K111001-01 微小部蛍光X線分析(XRF) 1試料1条件につき 7,590円 川崎技術支援部
K111001-02 微小部蛍光X線分析(XRF) 条件追加 1条件追加につき 3,520円 川崎技術支援部

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微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K111004-01 微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析 面分析1条件につき(5元素まで) 12,100円 川崎技術支援部
K111004-02 微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析 条件追加 面分析1条件追加につき 2,530円 川崎技術支援部

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X線光電子分光分析(走査型・XPS)表面分析(ワイドスキャンのみ)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K111007-01 X線光電子分光分析(走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ) 1試料1ヶ所につき(ワイドスキャンのみ) 27,610円 川崎技術支援部
K111007-02 X線光電子分光分析
(走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ) 追加試料
追加1試料1ヶ所につき(ワイドスキャンのみ) 21,780円 川崎技術支援部
K111007-03 X線光電子分光分析
(走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ) 条件増
1条件増すごとに(ワイドスキャンのみ) 5,610円 川崎技術支援部

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X線光電子分光分析(走査型・XPS)表面分析(ワイドおよびナロースキャン)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K111010-01 X線光電子分光分析
(走査型・XPS・表面分析・ワイドおよびナロースキャン)
1試料1条件につき
(ワイドおよびナロースキャン)
49,060円 川崎技術支援部
K111010-02 X線光電子分光分析
(走査型・XPS・表面分析・ワイドおよびナロースキャン)  条件増
1条件増すごとに(面分析、状態分析加算等) 11,330円 川崎技術支援部

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X線光電子分光分析(走査型・XPS)深さ方向分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K111013-01 X線光電子分光分析(走査型・XPS・深さ方向分析)  1試料1条件につき
(主成分のみ、深さ0.2μmまで)
82,940円 川崎技術支援部
K111013-02 X線光電子分光分析(走査型・XPS・深さ方向分析) 条件増 1条件増すごとに 11,330円 川崎技術支援部

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機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
K211001-01 微小部蛍光X線分析装置(XRF) [SEA6000VX HSFinder] SII社  SEA6000VX HSFinder 6,050円 川崎技術支援部

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有機物定性分析

フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E111301-01 フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) 1スペクトルにつき 20,350円 化学技術部、機械・材料技術部
E111301-02 フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR)用微小試料調製 1試料につき 3,410円 化学技術部、機械・材料技術部

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顕微レーザーラマン分光分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E111304-01 顕微レーザーラマン分光分析 1試料1ヶ所につき 20,460円 機械・材料技術部

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飛行時間型質量分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E111307-01 飛行時間型質量分析 1試料1測定につき 29,810円 化学技術部

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電子スピン共鳴分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E111310-01 電子スピン共鳴分析(A)(基本測定) 1試料1スペクトルにつき 22,220円 機械・材料技術部
E111310-02 電子スピン共鳴分析(B)(特殊測定・定量) 1試料1スペクトルにつき 38,940円 機械・材料技術部

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フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K111301-01 フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) 簡易な測定 1試料1条件につき 10,230円 川崎技術支援部
K111301-02 フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) 1試料1条件につき 20,350円 川崎技術支援部
K111301-03 フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) 条件追加 1条件追加につき 8,030円 川崎技術支援部

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機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
K211301-01 フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)[FT/IR-6300FV・IRT-7000] 日本分光  FT/IR-6300FV・IRT-7000 9,680円 川崎技術支援部

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X線構造解析

X線回折試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E111601-01 X線回折試験(Ι)粉末X線回折 1試料につき 24,090円 電子技術部
E111601-02 X線回折試験(Ⅱ)高度な粉末X線回折・薄膜X線回折 1試料につき 36,630円 電子技術部
E111601-03 X線回折試験(Ⅲ)高度な薄膜X線回折 1試料につき 56,650円 電子技術部

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試料調製

試料調製

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E111901-01 試料調製(1)(一般的な前処理) E110101-01, E110101-02, E110104-01, E110104-02, E110107-01, E110107-02, E110110-01, E110110-02, E110113-01, E110113-02, E110128-01, E110128-02, E111004-01に適用 10,890円 化学技術部
E111901-02 試料調製(2)(複雑な前処理) E110101-01, E110101-02, E110104-01, E110104-02, E110107-01, E110107-02, E110110-01, E110110-02, E110113-01, E110113-02, E110128-01, E110128-02, E111004-01に適用 14,300円 化学技術部
E111901-03 試料調製(3)(困難な前処理) E110101-01, E110101-02, E110104-01, E110104-02, E110107-01, E110107-02, E110110-01, E110110-02, E110113-01, E110113-02, E110128-01, E110128-02, E111004-01に適用 21,230円 化学技術部
E111901-04 試料調製(4)(非常に困難な前処理) E110101-01, E110101-02, E110104-01, E110104-02, E110107-01, E110107-02, E110110-01, E110110-02, E110113-01, E110113-02, E110128-01, E110128-02, E111004-01に適用 29,150円 化学技術部
E111904-01 切粉作製(A)(加工が容易なもの) E110101-01, E110101-02, E110104-01, E110104-02, E110107-01, E110107-02, E110110-01, E110110-02, E110113-01, E110113-02, E110128-01, E110128-02, E111004-01に適用 3,080円 化学技術部
E111904-02 切粉作製(B)(加工がやや難しいもの) E110101-01, E110101-02, E110104-01, E110104-02, E110107-01, E110107-02, E110110-01, E110110-02, E110113-01, E110113-02, E110128-01, E110128-02, E111004-01に適用 10,560円 化学技術部

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材料観察

外観観察

デジタルマイクロスコープ観察 [HRX-01]

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E120101-01 デジタルマイクロスコープ観察 [HRX-01] 1試料につき 2,640円 機械・材料技術部

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デジタルマイクロスコープ撮影 [HRX-01]

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E120104-01 デジタルマイクロスコープ撮影 [HRX-01] 1撮影につき 1,100円 機械・材料技術部

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金属組織写真撮影

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E120107-01 金属組織写真撮影 写真1枚につき 11,110円 機械・材料技術部
E120107-02 写真撮影箇所増し  (E120107-01に適用) 同一試料で1ヶ所増すごとに 2,860円 機械・材料技術部

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実体顕微鏡写真撮影

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E120110-01 実体顕微鏡写真撮影 写真1枚につき 4,840円 機械・材料技術部
E120110-02 実体顕微鏡写真撮影箇所増し(E120110-01に適用) 同一試料で1ヶ所増すごとに 2,090円 機械・材料技術部

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プラスチック製品の破断面観察

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E120113-01 プラスチック製品の破断面観察 1試料につき 29,150円 化学技術部
E120116-01 プラスチック製品の破断面写真撮影 写真1枚につき (E120113-01に適用) 2,970円 化学技術部
E120116-02 プラスチック製品の破断面写真撮影(倍率変更) 写真1枚につき (E120116-01に適用) 1,430円 化学技術部
E120119-01 プラスチック製品の外観撮影 写真1枚につき(E120113-01に適用) 1,430円 化学技術部
E120122-01 観察試料作製(1) (標準的なもの) 1試料につき(E120113-01に適用) 3,630円 化学技術部
E120122-02 観察試料作製(2) (複雑なもの) 1試料につき(E120113-01に適用) 7,260円 化学技術部

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デジタルマイクロスコープ観察 [VHX-600]

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120101-01 デジタルマイクロスコープ観察 [VHX-600] 画像1枚につき 4,180円 川崎技術支援部

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金属組織写真撮影

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120104-01 金属組織写真撮影 写真1枚につき 11,110円 川崎技術支援部

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外観写真撮影

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120107-01 外観写真撮影 写真1枚につき 5,720円 川崎技術支援部
K120110-01 写真撮影1ヶ所増すごとに 同一試料で1ヶ所増すごとに 2,860円 川崎技術支援部

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顕微鏡試料調製

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120113-01 顕微鏡試料調製(第1種):容易なもの 1試料につき 1,980円 川崎技術支援部
K120113-02 顕微鏡試料調製(第2種):標準的なもの 1試料につき 3,960円 川崎技術支援部
K120113-03 顕微鏡試料調製(第3種):比較的複雑なもの 1試料につき 7,810円 川崎技術支援部
K120113-04 顕微鏡試料調製(第4種):非常に複雑なもの 1試料につき 11,550円 川崎技術支援部

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機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E220101-01 デジタルマイクロスコープ ハイロックス HRX-01 1,980円 機械・材料技術部
E220104-01 金属顕微鏡 ニコン X2-T1-NR 550円 機械・材料技術部
E220107-01 顕微鏡 オリンパス CKX41N-31PHP 770円 化学技術部
K220101-01 デジタルマイクロスコープ [VHX-600] (30分当たり) キーエンス  VHX-600 1,650円 川崎技術支援部
K220104-01 金属顕微鏡  [BX-51] (1時間当たり) オリンパス光学工業  BX-51 1,650円 川崎技術支援部

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微細構造観察

ハイブリッドレーザー顕微鏡観察

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E120410-01 ハイブリッドレーザー顕微鏡観察 1測定1解析につき 8,690円 電子技術部
E120410-02 ハイブリッドレーザー顕微鏡観察 1視野追加 1視野追加につき 4,290円 電子技術部

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走査電子顕微鏡写真撮影

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E120401-01 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下 1試料1視野観察につき 21,120円 機械・材料技術部
E120401-02 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下 1視野追加 1視野追加観察につき 4,840円 機械・材料技術部
E120401-03 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍を超えて10万倍以下 1試料1視野観察につき 30,910円 機械・材料技術部
E120401-04 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍を超えて10万倍以下 1視野追加 1視野追加観察につき 9,240円 機械・材料技術部
E120401-05 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの 1試料1視野観察につき 52,250円 機械・材料技術部
E120401-06 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの 1視野追加 1視野追加観察につき 14,960円 機械・材料技術部
E120401-07 走査電子顕微鏡写真撮影 10~15視野 10~15視野 115,940円 機械・材料技術部
E120401-08 走査電子顕微鏡写真撮影 16~30視野 16~30視野 173,910円 機械・材料技術部
E120401-09 エネルギー分散型X線分析(EDS) (E120401-01~E120401-08, E120404-01に適用) 1ヶ所につき 7,150円 機械・材料技術部

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電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E120401-09 エネルギー分散型X線分析(EDS) (E120401-01~E120401-08, E120404-01に適用) 1ヶ所につき 7,150円 機械・材料技術部
E120404-01 電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位測定 1視野測定につき 49,500円 機械・材料技術部
E120404-02 電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位測定 
1視野追加
1視野追加測定につき 12,760円 機械・材料技術部

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表面観察(FE-EPMAによる)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E120407-01 表面観察(FE-EPMAによる) 1ヶ所につき 20,350円 機械・材料技術部
E120407-02 エネルギー分散型X線分析(EDS・FE-EPMAによる) 1ヶ所につき(E120407-01に適用) 7,260円 機械・材料技術部
E120407-03 表面観察(FE-EPMAによる) 1ヶ所増 同一試料で1ヶ所増すごとに(E120407-01に適用) 4,510円 機械・材料技術部
E120407-04 電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA) 追加分析 1ヶ所につき(E120407-01に適用) 9,130円 機械・材料技術部

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走査型プローブ顕微鏡観察

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E120413-01 走査型プローブ顕微鏡観察 標準1条件1測定につき 23,320円 電子技術部
E120413ー02 走査型プローブ顕微鏡観察 1視野追加 1視野追加につき 10,780円 電子技術部

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超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E120416-01 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 1測定1解析につき 9,020円 電子技術部
E120416-02 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 1解析増 1解析増すごとに 2,420円 電子技術部

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走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120401-01 走査電子顕微鏡観察
(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]  5万倍以下
観察倍率5万倍以下 1条件につき 21,450円 川崎技術支援部
K120401-02 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 5万倍以下 条件追加 観察倍率5万倍以下 1条件追加につき 4,950円 川崎技術支援部
K120401-03 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 5万倍を超えて10万倍以下 観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 
1条件につき
31,020円 川崎技術支援部
K120401-05 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 10万倍を超えるもの 観察倍率10万倍を超えるもの 
1条件につき
52,470円 川崎技術支援部
K120401-06 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 10万倍を超えるもの 条件追加 観察倍率10万倍を超えるもの 
1条件追加につき
15,400円 川崎技術支援部
K120401-07 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 10~15視野 1試料の観察視野が10~15視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) 114,400円 川崎技術支援部
K120401-08 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 16~30視野 1試料の観察視野が16~30視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) 170,060円 川崎技術支援部
K120401-09 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 条件追加 1条件追加につき 12,540円 川崎技術支援部
K120401ー04 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 5万倍を超えて10万倍以下 条件追加 観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 
1条件追加につき
9,680円 川崎技術支援部
K120404-01 走査電子顕微鏡(電界放出型)[S-4800] エネルギー分散型X線分析(EDS) 1条件追加につき 15,400円 川崎技術支援部
K120404-02 走査電子顕微鏡(電界放出型)[S-4800] エネルギー分散型X線分析(EDS) 条件追加 1条件追加につき 4,950円 川崎技術支援部
K120404-03 走査電子顕微鏡(電界放出型)[S-4800] エネルギー分散型X線分析(EDS) 面分析 面分析1条件につき 16,390円 川崎技術支援部

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走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[JSM-7800F Prime]

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120407-01 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] 5万倍以下
観察倍率5万倍以下1試料1視野観察につき 21,120円 川崎技術支援部
K120407-02 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] 5万倍以下  1視野追加
観察倍率5万倍以下 
同一試料において1視野追加観察につき
4,840円 川崎技術支援部
K120407-03 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] 5万倍を超えて10万倍以下
観察倍率5万倍を超えて10万倍以下  
1試料1視野観察につき
30,910円 川崎技術支援部
K120407-04 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] 5万倍を超えて10万倍以下 1視野追加
観察倍率5万倍を超えて10万倍以下  
同一試料において1視野追加観察につき
9,240円 川崎技術支援部
K120407-05 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] 10万倍を超えるもの
観察倍率10万倍を超えるもの
1試料1視野観察につき
52,250円 川崎技術支援部
K120407-06 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] 10万倍を超えるもの 1視野追加
観察倍率10万倍を超えるもの
同一試料において1視野追加観察につき
14,960円 川崎技術支援部
K120407-07 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] 10~15視野
1試料の観察視野が10~15視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) 115,940円 川崎技術支援部
K120407-08 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] 16~30視野
1試料の観察視野が16~30視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) 173,910円 川崎技術支援部
K120407-09 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] 低真空モード
低真空モードの使用 11,220円 川崎技術支援部
K120407-10 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] STEM
透過像観察機能(STEM)の使用 11,220円 川崎技術支援部
K120407-11 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] 1条件追加
1条件追加につき  11,220円 川崎技術支援部
K120410-01 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] エネルギー分散型X線分析(EDS) 
点分析
点分析1視野1箇所につき 17,380円 川崎技術支援部
K120410-02 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] エネルギー分散型X線分析(EDS) 
点分析追加
点分析同一視野内で1箇所追加につき 5,170円 川崎技術支援部
K120410-03 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] エネルギー分散型X線分析(EDS) 
線分析
線分析1視野1箇所につき 23,540円 川崎技術支援部
K120410-04 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] エネルギー分散型X線分析(EDS) 
線分析追加
線分析同一視野内で1箇所追加につき 8,360円 川崎技術支援部
K120410-05 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] エネルギー分散型X線分析(EDS) 
面分析
面分析1視野につき 35,860円 川崎技術支援部
K120410-06 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)
[JSM-7800F Prime] エネルギー分散型X線分析(EDS) 
各種データ処理
各種データ処理1条件につき 5,170円 川崎技術支援部

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分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF]

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120413-01 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
10万倍以下
倍率 10万倍以下 1視野につき 19,470円 川崎技術支援部
K120413-02 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF]
10万倍以下 1視野増
倍率 10万倍以下 1視野増すごとに 7,040円 川崎技術支援部
K120413-03 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
10万倍を超えて50万倍以下
倍率 10万倍を超えて50万倍以下 
1視野につき
25,850円 川崎技術支援部
K120413-04 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
10万倍を超えて50万倍以下 1視野増
倍率 10万倍を超えて50万倍以下 
1視野増すごとに
14,080円 川崎技術支援部
K120413-05 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
50万倍を超えて200万倍以下
倍率  50万倍を超えて200万倍以下 
1視野につき
35,530円 川崎技術支援部
K120413-06 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
50万倍を超えて200万倍以下 1視野増
倍率  50万倍を超えて200万倍以下 
1視野増すごとに
19,470円 川崎技術支援部
K120413-07 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
200万倍を超えるもの
倍率 200万倍を超えるもの 1視野につき 51,590円 川崎技術支援部
K120413-08 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
200万倍を超えるもの 1視野増
倍率 200万倍を超えるもの 1視野増すごとに 29,590円 川崎技術支援部
K120416-01 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
試料傾斜調整
試料傾斜調整 1条件ごとに 13,420円 川崎技術支援部
K120419-01 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF]
制限視野回折
制限視野回折 1視野につき 16,500円 川崎技術支援部
K120419-02 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF]
微小領域回折
微小領域回折 1視野につき 29,590円 川崎技術支援部
K120419-03 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF]
明視野像
明視野像 1視野につき 19,470円 川崎技術支援部
K120419-04 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF]
暗視野像
暗視野像 1視野につき 35,530円 川崎技術支援部
K120422-01 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
点分析
点分析 
1試料1測定点につき
28,710円 川崎技術支援部
K120422-02 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
点分析追加
点分析 
同一試料において1測定点追加につき
6,160円 川崎技術支援部
K120422-03 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
定量分析
定量分析 
1試料1測定点につき
24,970円 川崎技術支援部
K120422-04 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
定量分析追加
定量分析 
同一試料において1測定点追加につき
7,370円 川崎技術支援部
K120422-05 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
線分析
線分析 
1測定5元素までごとに
68,090円 川崎技術支援部
K120422-06 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF] 
面分析
面分析 
1視野5元素ごとに、または2時間につき
109,230円 川崎技術支援部
K120422-07 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF] データ処理 各種データ処理 1条件につき 12,320円 川崎技術支援部

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分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/STEM/EDS)[Talos F200X]

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120425-01 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X] 10万倍以下 観察倍率10万倍以下 1視野につき 19,690円 川崎技術支援部
K120425-02 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X] 10万倍以下 1視野追加 観察倍率10万倍以下 同条件1視野追加につき 9,900円 川崎技術支援部
K120425-03 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X] 10万倍を超えて50万倍以下 観察倍率10万倍を超えて50万倍以下 1視野につき 26,840円 川崎技術支援部
K120425-04 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X] 10万倍を超えて50万倍以下 1視野追加 観察倍率10万倍を超えて50万倍以下 同条件1視野追加につき 14,850円 川崎技術支援部
K120425-05 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X] 50万倍を超えて200万倍以下 観察倍率50万倍を超えて200万倍以下 1視野につき 35,530円 川崎技術支援部
K120425-06 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X] 50万倍を超えて200万倍以下 1視野追加 観察倍率50万倍を超えて200万倍以下 同条件1視野追加につき 19,690円 川崎技術支援部
K120425-07 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X] 200万倍を超えるもの 観察倍率200万倍を超えるもの 1視野につき 51,370円 川崎技術支援部
K120425-08 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X] 200万倍を超えるもの 1視野追加 観察倍率200万倍を超えるもの 同条件1視野追加につき 30,690円 川崎技術支援部
K120428-01 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X] 試料傾斜調整 試料傾斜調整 1条件につき 13,530円 川崎技術支援部
K120431-01 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X] 制限視野回折 制限視野回析 1視野につき 17,160円 川崎技術支援部
K120431-02 分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[Talos F200X] 条件追加 1条件追加につき 12,210円 川崎技術支援部
K120434-01 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[Talos F200X] エネルギー分散型X線分析(EDS)面分析 面分析 1視野5元素ごとに、または2時間につき 108,900円 川崎技術支援部
K120434-02 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[Talos F200X] データ処理 各種データ処理 1条件につき 12,210円 川崎技術支援部
K120437-01 TEM試料調製 分散法 ふりかけ法 ふりかけ法 1試料につき 6,600円 川崎技術支援部
K120437-02 TEM試料調製 分散法 懸濁法 懸濁法 1試料につき 13,090円 川崎技術支援部
K120437-03 TEM試料調製 低エネルギーイオンミリング (ジェントルミル) 1試料1条件につき 14,850円 川崎技術支援部
K120437-04 TEM試料調製 電子染色 1試料につき 29,260円 川崎技術支援部
K120437-05 TEM試料調製 樹脂包埋 1試料につき 14,190円 川崎技術支援部
K120440-01 TEM試料調製 FIB-リフトアウト法 1試料につき 88,440円 川崎技術支援部
K120440-02 TEM試料調製 FIB-リフトアウト法 条件追加 1条件追加につき 32,120円 川崎技術支援部
K120440-03 TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 低加速ガリウムイオン 低加速ガリウムイオン仕上げ 1試料につき 122,100円 川崎技術支援部
K120440-04 TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 低加速ガリウムイオン 試料作製のみ 低加速ガリウムイオン仕上げ 
1試料につき(試料作製のみ)
134,640円 川崎技術支援部
K120440-05 TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 低加速ガリウムイオン条件追加 低加速ガリウムイオン仕上げ 1条件追加につき 32,450円 川崎技術支援部
K120440-06 TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 アルゴンイオンミリング アルゴンイオンミリング仕上げ 1試料につき 137,500円 川崎技術支援部
K120440-07 TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 アルゴンイオンミリング 試料作製のみ アルゴンイオンミリング仕上げ 
1試料につき(試料作製のみ)
149,380円 川崎技術支援部
K120440-08 TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 アルゴンイオンミリング条件追加 アルゴンイオンミリング仕上げ 1条件追加につき 32,450円 川崎技術支援部

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集束イオンビーム装置観察(FIB-SEM/EDS)[XVision 200TB]

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120443-01 集束イオンビーム装置(FIB-SEM/EDS)[XVision 200TB] 1時間以内 33,880円 川崎技術支援部
K120443-02 集束イオンビーム装置(FIB-SEM/EDS)[XVision 200TB] 追加 追加1時間当たり 28,820円 川崎技術支援部
K120446-01 FIBオプション カーボン膜デポジション 10分当たり 2,420円 川崎技術支援部
K120446-02 FIBオプション アルゴンイオンミリング 30分当たり 11,330円 川崎技術支援部
K120449-01 FIB付属のSEM観察 1試料1視野観察につき 20,680円 川崎技術支援部
K120449-02 FIB付属のSEM観察  視野追加 同一試料において1視野追加観察につき 4,620円 川崎技術支援部
K120449-03 FIB付属のSEM観察  条件追加 同一試料において1条件追加につき 4,620円 川崎技術支援部
K120452-01 FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析 点分析1視野1箇所につき 17,050円 川崎技術支援部
K120452-02 FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析追加 点分析同一視野内で1箇所追加につき 5,830円 川崎技術支援部
K120452-03 FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析 線分析1視野1箇所につき 22,880円 川崎技術支援部
K120452-04 FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析追加 線分析同一視野内で1箇所追加につき 8,910円 川崎技術支援部
K120452-05 FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 面分析 面分析1視野につき 34,650円 川崎技術支援部
K120452-06 FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 各種データ処理 各種データ処理1条件につき 5,830円 川崎技術支援部
K120455-01 FIB-SEMによる 三次元再構築用連続断面画像の取得 1測定につき 113,740円 川崎技術支援部
K120455-02 FIB-SEMによる 三次元再構築用連続断面画像の取得 条件追加 1条件追加につき 12,100円 川崎技術支援部
K120458-01 FIB-SEMによる 微小試験片の作製 標準 標準的な作製 (SEM観察含む) 5本につき 182,160円 川崎技術支援部
K120458-02 FIB-SEMによる 微小試験片の作製 複雑 複雑な作製 (SEM観察含む) 5本につき 273,130円 川崎技術支援部
K120458-03 FIB-SEMによる 微小試験片の作製 条件追加 1条件追加につき 11,550円 川崎技術支援部
K120461-01 マニピュレーターによるサンプリング 1試料につき 5,830円 川崎技術支援部

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レーザーマーキング

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120464-01 レーザーマーキング 15分以内 2,860円 川崎技術支援部
K120464-02 レーザーマーキング 追加 追加15分当たり 1,870円 川崎技術支援部

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集束イオンビーム装置観察(マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD)[Scios LoVacシステム]

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120467-01 集束イオンビーム装置(マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD)
[Scios LoVacシステム]
1時間以内 35,530円 川崎技術支援部
K120467-02 集束イオンビーム装置(マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD)
[Scios LoVacシステム] 追加
追加1時間当たり 30,470円 川崎技術支援部
K120470-01 マルチ解析用FIBオプション 
カーボン膜デポジション
10分当たり 2,420円 川崎技術支援部
K120470-02 マルチ解析用FIBオプション 
プラチナ膜デポジション
10分当たり 2,310円 川崎技術支援部
K120473-01 マルチ解析用FIB付属のSEM観察 1試料1視野観察につき 20,900円 川崎技術支援部
K120473-02 マルチ解析用FIB付属のSEM観察 視野追加 同一試料において1視野追加観察につき 4,730円 川崎技術支援部
K120473-03 マルチ解析用FIB付属のSEM観察 条件追加 同一試料において1条件追加につき 4,730円 川崎技術支援部
K120473-04 マルチ解析用FIB付属のSEM観察オプション  低真空 低真空モードの使用 11,660円 川崎技術支援部
K120476-01 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析 点分析1視野1箇所につき 17,380円 川崎技術支援部
K120476-02 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析追加 点分析同一視野内で1箇所追加につき 5,940円 川崎技術支援部
K120476-03 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析 線分析1視野1箇所につき 23,210円 川崎技術支援部
K120476-04 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析追加 線分析同一視野内で1箇所追加につき 8,910円 川崎技術支援部
K120476-05 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 面分析 面分析1視野につき 34,760円 川崎技術支援部
K120476-06 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 各種データ処理 各種データ処理1条件につき 5,940円 川崎技術支援部
K120479-01 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 結晶方位マップ 結晶方位マップ1視野につき 48,840円 川崎技術支援部
K120479-02 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 視野追加 同一試料で1視野追加につき 11,660円 川崎技術支援部
K120479-03 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 条件追加 1条件追加につき 11,220円 川崎技術支援部
K120479-04 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 各種データ処理 各種データ処理1条件につき 5,940円 川崎技術支援部
K120482-01 マルチ解析用FIB-SEMによる
三次元再構築用連続断面画像の取得
1測定につき 120,230円 川崎技術支援部
K120482-02 マルチ解析用FIB-SEMによる三次元再構築用連続断面画像の取得 条件追加 1条件追加につき 12,210円 川崎技術支援部
K120485-01 マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 標準 標準的な作製(SEM観察含む)5本につき 193,710円 川崎技術支援部
K120485-02 マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 複雑 複雑な作製(SEM観察含む) 5本につき 292,820円 川崎技術支援部
K120485-03 マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 条件追加 1条件追加につき 11,880円 川崎技術支援部

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画像解析システム

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120488-01 画像解析システム 三次元再構築 1測定対象につき 62,590円 川崎技術支援部
K120488-02 画像解析システム 三次元データ処理 1条件追加につき 12,430円 川崎技術支援部
K120488-03 画像解析システム 画像解析 1測定対象につき 23,760円 川崎技術支援部
K120488-04 画像解析システム データ処理 1条件追加につき 6,270円 川崎技術支援部

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機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E220401-01 超深度形状測定顕微鏡(レーザー顕微鏡) キーエンス VK8500 2,090円 電子技術部
E220404-01 ハイブリッドレーザー顕微鏡 データ解析 レーザーテック OPTELICS HYBRID 880円 電子技術部
K220401-01 低エネルギーイオン研磨装置 [Model IV5(ジェントルミル)] リンダ Model IV5(ジェントルミル) 12,100円 川崎技術支援部
K220404-01 FE-SEM/EDS [S-4800]  日立ハイテクノロジーズ  S-4800 39,380円 川崎技術支援部
K220407-01 レーザーマーカ [LR2100ST](30分当たり) HOYA  LR2100ST 3,080円 川崎技術支援部

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試料調製・前処理

イオンミリング法による試料調製

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E120701-01 イオンミリング法による試料調製(1)(標準的なもの) 1試料1ヶ所につき 45,100円 機械・材料技術部
E120701-02 イオンミリング法による試料調製(2)(複雑なもの) 1試料1ヶ所につき 67,430円 機械・材料技術部

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顕微鏡試料調製

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E120704-01 顕微鏡試料調製(1)(容易なもの) 1試料につき 1,980円 機械・材料技術部
E120704-02 顕微鏡試料調製(2)(標準的なもの) 1試料につき 3,960円 機械・材料技術部
E120704-03 顕微鏡試料調製(3)(比較的複雑なもの)  1試料につき 7,810円 機械・材料技術部
E120704-04 顕微鏡試料調製(4)(非常に複雑なもの)  1試料につき 11,550円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

試料前処理(切断、導電処理等)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120701-01 試料前処理(切断、導電処理等) 処理時間30分につき 1,650円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

精密機械研磨法

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120704-01 精密機械研磨法 A:容易な試料 1試料につき 12,320円 川崎技術支援部
K120704-02 精密機械研磨法 B:標準的な試料 1試料につき 24,750円 川崎技術支援部
K120704-03 精密機械研磨法 C:複雑な試料 1試料につき 36,520円 川崎技術支援部
K120704-04 精密機械研磨法 D:非常に複雑な試料 1試料につき 48,400円 川崎技術支援部
K120704-05 精密機械研磨法 条件追加 1条件追加につき 5,720円 川崎技術支援部
K120707-01 試料の撮影 1試料1視野につき 2,310円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

イオンミリング法 (小さい試料用)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120710-01 断面イオンミリング法(小さい試料用) A:容易な試料 1試料につき 24,090円 川崎技術支援部
K120710-02 断面イオンミリング法(小さい試料用) B:標準的な試料 1試料につき 47,300円 川崎技術支援部
K120710-03 断面イオンミリング法(小さい試料用) C:複雑な試料 1試料につき 72,490円 川崎技術支援部
K120710-04 断面イオンミリング法(小さい試料用) D:非常に複雑な試料 1試料につき 92,620円 川崎技術支援部
K120710-05 断面イオンミリング法(小さい試料用) 条件追加 1条件追加につき 5,830円 川崎技術支援部
K120710-06 断面イオンミリング法(小さい試料用) クライオ クライオの使用 1試料につき 5,830円 川崎技術支援部
K120713-01 平面イオンミリング法(小さい試料用) A:容易な試料 1試料につき 11,440円 川崎技術支援部
K120713-02 平面イオンミリング法(小さい試料用) B:標準的な試料 1試料につき 23,870円 川崎技術支援部
K120713-03 平面イオンミリング法(小さい試料用) C:複雑な試料 1試料につき 34,320円 川崎技術支援部
K120713-04 平面イオンミリング法(小さい試料用) D:非常に複雑な試料 1試料につき 44,770円 川崎技術支援部
K120713-05 平面イオンミリング法(小さい試料用) 条件追加 1条件追加につき 5,830円 川崎技術支援部
K120713-06 平面イオンミリング法(小さい試料用) クライオ クライオの使用 1試料につき 5,830円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

イオンミリング法 (大きい試料用)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120716-01 断面イオンミリング法(大きい試料用) A:容易な試料 1試料につき 23,100円 川崎技術支援部
K120716-02 断面イオンミリング法(大きい試料用) B:標準的な試料 1試料につき 45,980円 川崎技術支援部
K120716-03 断面イオンミリング法(大きい試料用) C:複雑な試料 1試料につき 68,860円 川崎技術支援部
K120716-04 断面イオンミリング法(大きい試料用) D:非常に複雑な試料 1試料につき 91,960円 川崎技術支援部
K120716-05 断面イオンミリング法(大きい試料用) 条件追加 1条件追加につき 5,720円 川崎技術支援部
K120716-06 断面イオンミリング法(大きい試料用) クライオ クライオの使用 1試料につき 5,830円 川崎技術支援部
K120719-01 平面イオンミリング法(大きい試料用) A:容易な試料 1試料につき 11,220円 川崎技術支援部
K120719-02 平面イオンミリング法(大きい試料用) B:標準的な試料 1試料につき 21,340円 川崎技術支援部
K120719-03 平面イオンミリング法(大きい試料用) C:複雑な試料 1試料につき 31,350円 川崎技術支援部
K120719-04 平面イオンミリング法(大きい試料用) D:非常に複雑な試料 1試料につき 41,800円 川崎技術支援部
K120719-05 平面イオンミリング法(大きい試料用) 条件追加 1条件追加につき 5,390円 川崎技術支援部
K120722-01 イオンビームスパッタ 1試料につき 5,940円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

ウルトラミクロトーム法

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120725-01 ウルトラミクロトーム法 A:容易な試料 1試料につき 24,420円 川崎技術支援部
K120725-02 ウルトラミクロトーム法 B:標準的な試料 1試料につき 49,170円 川崎技術支援部
K120725-03 ウルトラミクロトーム法 C:複雑な試料 1試料につき 74,030円 川崎技術支援部
K120725-04 ウルトラミクロトーム法 D:非常に複雑な試料 1試料につき 98,670円 川崎技術支援部
K120725-05 ウルトラミクロトーム法 条件追加 1条件追加につき 6,270円 川崎技術支援部
K120725-06 ウルトラミクロトーム法 クライオ クライオの使用 1試料につき 60,720円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

各種コーティング(カーボンコーティング他)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120728-01 カーボンコーティング 1試料につき 3,520円 川崎技術支援部
K120728-02 金コーティング 1試料につき 3,520円 川崎技術支援部
K120728-03 白金コーティング 1試料につき 3,520円 川崎技術支援部
K120728-04 パラジウムコーティング 1試料につき 3,520円 川崎技術支援部
K120731-01 オスミウムコーティング 1試料につき 3,520円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

分散法

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120734-01 分散法 ふりかけ法 1試料につき 6,600円 川崎技術支援部
K120734-02 分散法 懸濁法 1試料につき 13,090円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

低エネルギーイオンミリング(ジェントルミル)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120737-01 低エネルギーイオンミリング(ジェントルミル) 1試料1条件につき 14,850円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

樹脂包埋

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120740-01 樹脂包埋 1試料につき 14,190円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

電子染色

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120743-01 電子染色 1試料につき 29,260円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

その他特殊処理

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120746-01 その他特殊処理 1試料につき 17,710円 川崎技術支援部
K120746-02 その他特殊処理 条件追加 1条件追加につき 17,710円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

高コントラスト包埋剤の試用

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K120749-01 高コントラスト包埋剤の試用 1処理につき 29,810円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

材料物性

熱物性測定

示差熱熱重量測定(TG/DTA)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130101-01 示差熱熱重量測定(TG/DTA)室温~600℃ 1測定につき 15,840円 化学技術部
E130101-02 示差熱熱重量測定(TG/DTA)600℃をこえるもの 1測定につき 21,120円 化学技術部
E130122-01 試料調製(1)(切断,試験片作製等簡易な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 3,300円 化学技術部
E130122ー02 試料調製(2)(粉末化等困難な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 4,950円 化学技術部
E130122ー03 試料調製(3)(溶解,ろ過等複雑な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 7,370円 化学技術部

左右にスクロールできます

示差走査熱量測定(DSC)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130104-01 示差走査熱量測定(DSC) 1測定につき 17,270円 化学技術部
E130104-02 示差走査熱量測定(DSC)液体窒素使用 1測定につき 23,430円 化学技術部
E130122-01 試料調製(1)(切断,試験片作製等簡易な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 3,300円 化学技術部
E130122ー02 試料調製(2)(粉末化等困難な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 4,950円 化学技術部
E130122ー03 試料調製(3)(溶解,ろ過等複雑な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 7,370円 化学技術部

左右にスクロールできます

高圧示差熱・熱重量測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130107-01 高圧示差熱・熱重量測定 1測定につき 25,630円 化学技術部
E130122-01 試料調製(1)(切断,試験片作製等簡易な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 3,300円 化学技術部
E130122ー02 試料調製(2)(粉末化等困難な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 4,950円 化学技術部
E130122ー03 試料調製(3)(溶解,ろ過等複雑な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 7,370円 化学技術部

左右にスクロールできます

発火温度測定(HP-TG法)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130110-01 発火温度測定(HP-TG法) 1測定につき 22,330円 化学技術部
E130122-01 試料調製(1)(切断,試験片作製等簡易な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 3,300円 化学技術部
E130122ー02 試料調製(2)(粉末化等困難な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 4,950円 化学技術部
E130122ー03 試料調製(3)(溶解,ろ過等複雑な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 7,370円 化学技術部

左右にスクロールできます

複合熱分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130113-01 複合熱分析 1測定につき 70,290円 化学技術部
E130122-01 試料調製(1)(切断,試験片作製等簡易な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 3,300円 化学技術部
E130122ー02 試料調製(2)(粉末化等困難な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 4,950円 化学技術部
E130122ー03 試料調製(3)(溶解,ろ過等複雑な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 7,370円 化学技術部

左右にスクロールできます

高圧示差走査熱量測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130116-01 高圧示差走査熱量測定 1測定につき 25,080円 化学技術部
E130122-01 試料調製(1)(切断,試験片作製等簡易な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 3,300円 化学技術部
E130122ー02 試料調製(2)(粉末化等困難な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 4,950円 化学技術部
E130122ー03 試料調製(3)(溶解,ろ過等複雑な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 7,370円 化学技術部

左右にスクロールできます

熱機械測定(TMA)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130119-01 熱機械測定(TMA)室温~600℃ 1測定につき 17,050円 化学技術部
E130119-02 熱機械測定(TMA)600℃をこえるもの 1測定につき 30,140円 化学技術部
E130119-03 熱機械測定(TMA)液体窒素使用 1測定につき 23,320円 化学技術部
E130122-01 試料調製(1)(切断,試験片作製等簡易な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 3,300円 化学技術部
E130122ー02 試料調製(2)(粉末化等困難な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 4,950円 化学技術部
E130122ー03 試料調製(3)(溶解,ろ過等複雑な前処理) E130101-01からE130119-03に適用 7,370円 化学技術部

左右にスクロールできます

熱伝導率測定(プローブ法)(室温)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130125-01 熱伝導率測定(プローブ法)(室温) 1試料につき 10,010円 化学技術部

左右にスクロールできます

熱伝導率測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130126-01 熱伝導率測定(容易なもの) 1試料につき 14,850円 化学技術部
E130126-02 熱伝導率測定(複雑なもの) 1試料につき 22,990円 化学技術部

左右にスクロールできます

サーモグラフィによる表面温度測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130128-01 サーモグラフィによる表面温度測定 1時間につき 4,620円 化学技術部
E130128-02 サーモグラフィによる表面温度測定(特殊条件の場合) 1時間につき 17,380円 化学技術部

左右にスクロールできます

赤外線放射計による放射率測定※装置故障により現在ご利用いただけません。

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130131-01 赤外線放射計による放射率測定 1試料1測定につき 38,720円 化学技術部

左右にスクロールできます

サーモグラフィによる表面温度測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K130101-01 サーモグラフィによる表面温度測定 1測定につき 2,750円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E230101-01 熱機械試験機 マック・サイエンス TMA-4000 6,270円 化学技術部
E230104-01 赤外線放射計 日本バーンズ SA-200 8,360円 化学技術部
E230107-01 プラスチック用熱伝導率計 京都電子工業 QTM-D3型 4,950円 化学技術部
K230101-01 赤外線サーモグラフィ [TVS-200EX] 日本アビオニクス TVS-200EX 2,750円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

粉体・表面性能

接触角測定試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130401-01 接触角測定試験 1試料につき 2,420円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

ゼータ電位測定(A)(微粒子分散溶液)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130404-01 ゼータ電位測定(A)(微粒子分散溶液) 1試料につき 10,340円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

ゼータ電位測定(B)(平板形状試料)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130404-02 ゼータ電位測定(B)(平板形状試料) 1試料につき 12,870円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

粒径分布測定(レーザ回折・散乱法)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130407-01 粒径分布測定(レーザ回折・散乱法)(A)湿式または乾式 1試料につき 6,490円 機械・材料技術部
E130407-02 粒径分布測定(レーザ回折・散乱法)(B)湿式(有機溶媒) 1試料につき 8,470円 機械・材料技術部
E130407-03 粒径分布測定(レーザ回折・散乱法)(C)特殊なもの 1試料につき 10,450円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

粒径分布測定(動的光散乱法)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130410ー01 粒径分布測定(動的光散乱法) 1試料につき 9,020円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

粒径分布測定(静的画像解析法)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130413-01 粒径分布測定(静的画像解析法)(A)(簡易な評価) 1試料につき 4,730円 機械・材料技術部
E130413-02 粒径分布測定(静的画像解析法)(B) 1試料につき 8,030円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

比表面積測定(窒素ガス吸着法)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130416-01 比表面積測定(窒素ガス吸着法)(1)(容易なもの) 1試料につき 21,560円 機械・材料技術部
E130416-02 比表面積測定(窒素ガス吸着法)(2)(複雑なもの) 1試料につき 35,860円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

細孔分布解析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130419-01 細孔分布解析 1試料につき 3,630円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
K230401-01 接触角計 [DMs-401]  協和界面科学  DMs-401 3,410円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

透過度測定

ガス・水蒸気透過度測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E130701-01 ガス・水蒸気透過度測定 1試料・1測定につき(24時間まで) 28,600円 化学技術部

左右にスクロールできます

電気化学試験

金属・合金の電極電位測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131001-01 金属・合金の電極電位測定(1) 1試料につき4時間まで 14,410円 化学技術部
E131001-02 金属・合金の電極電位測定(2) 1時間増 1時間増すごとに 220円 化学技術部
E131016-01 試料調製(1)(比較的容易) E131001-01, E131001-02, E131004-01, E131004-02, E131007-01, E131007-02, E131010-01, E131013-01に適用 3,300円 化学技術部
E131016-02 試料調製(2)(比較的複雑) E131001-01, E131001-02, E131004-01, E131004-02, E131007-01, E131007-02, E131010-01, E131013-01に適用 6,710円 化学技術部

左右にスクロールできます

金属・合金の腐食減量測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131004-01 金属・合金の腐食減量測定(1) 1試料につき24時間まで 14,300円 化学技術部
E131004-02 金属・合金の腐食減量測定(2) 24時間増 24時間増すごとに 4,290円 化学技術部
E131016-01 試料調製(1)(比較的容易) E131001-01, E131001-02, E131004-01, E131004-02, E131007-01, E131007-02, E131010-01, E131013-01に適用 3,300円 化学技術部
E131016-02 試料調製(2)(比較的複雑) E131001-01, E131001-02, E131004-01, E131004-02, E131007-01, E131007-02, E131010-01, E131013-01に適用 6,710円 化学技術部

左右にスクロールできます

異種金属接触腐食電流測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131007-01 異種金属接触腐食電流測定(1) 1試料につき4時間まで 14,410円 化学技術部
E131007-02 異種金属接触腐食電流測定(2) 1時間増 1時間増すごとに 220円 化学技術部
E131016-01 試料調製(1)(比較的容易) E131001-01, E131001-02, E131004-01, E131004-02, E131007-01, E131007-02, E131010-01, E131013-01に適用 3,300円 化学技術部
E131016-02 試料調製(2)(比較的複雑) E131001-01, E131001-02, E131004-01, E131004-02, E131007-01, E131007-02, E131010-01, E131013-01に適用 6,710円 化学技術部

左右にスクロールできます

金属の分極測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131010-01 金属の分極測定 1試料につき 19,250円 化学技術部
E131016-01 試料調製(1)(比較的容易) E131001-01, E131001-02, E131004-01, E131004-02, E131007-01, E131007-02, E131010-01, E131013-01に適用 3,300円 化学技術部
E131016-02 試料調製(2)(比較的複雑) E131001-01, E131001-02, E131004-01, E131004-02, E131007-01, E131007-02, E131010-01, E131013-01に適用 6,710円 化学技術部

左右にスクロールできます

電気化学インピーダンス測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131013-01 電気化学インピーダンス測定 1試料につき 7,260円 化学技術部
E131016-01 試料調製(1)(比較的容易) E131001-01, E131001-02, E131004-01, E131004-02, E131007-01, E131007-02, E131010-01, E131013-01に適用 3,300円 化学技術部
E131016-02 試料調製(2)(比較的複雑) E131001-01, E131001-02, E131004-01, E131004-02, E131007-01, E131007-02, E131010-01, E131013-01に適用 6,710円 化学技術部

左右にスクロールできます

電極の研磨

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131019-01 電極の研磨 1試料につき 1,650円 化学技術部

左右にスクロールできます

腐食液・電解液作製

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131022-01 腐食液・電解液作製 1試料につき 1,650円 化学技術部

左右にスクロールできます

光学特性評価

分光光度計による透過率または拡散反射率測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131301-01 分光光度計による透過率または拡散反射率測定(紫外・可視のみ) 1試料1スペクトルにつき 5,830円 機械・材料技術部
E131304-01 分光光度計による透過率または拡散反射率測定(紫外・可視・近赤外) 1試料1スペクトルにつき 6,380円 機械・材料技術部
E131313-01 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 1スペクトル1解析につき 440円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

分光光度計による正反射率測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131307-01 分光光度計による正反射率測定(紫外・可視・近赤外) 偏光子なしまたは偏光1成分の
1試料1スペクトルにつき
6,820円 機械・材料技術部
E131307-02 分光光度計による正反射率測定(紫外・可視・近赤外)追加(1) 同一試料・同一条件で偏光1成分追加につき 3,740円 機械・材料技術部
E131307-03 分光光度計による正反射率測定(紫外・可視・近赤外)追加(2) 同一試料・同一条件・同一偏光成分で
1角度追加につき
2,090円 機械・材料技術部
E131313-01 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 1スペクトル1解析につき 440円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

分光光度計による透過率または反射率測定(特殊なもの)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131310-01 分光光度計による透過率または反射率測定(特殊なもの) 1試料1スペクトルにつき 9,790円 機械・材料技術部
E131313-01 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 1スペクトル1解析につき 440円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K131301-01 紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定 1試料1条件につき 6,820円 川崎技術支援部
K131301-02 紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定 追加 追加1条件につき 3,740円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

分光放射照度計によるスペクトル測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K131304-01 分光放射照度計によるスペクトル測定 1測定につき 10,450円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K131307-01 色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定 1測定につき 4,730円 川崎技術支援部
K131307-02 色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定 追加 1測定追加につき 3,080円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

色差計による色差の測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K131310-01 色差計による色差の測定 1測定につき 3,410円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

光学測定に関わる作業

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K131313-01 光学測定に関わる作業 1時間につき 7,260円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E231301-01 ボロメータ測定システム微小信号測定システム セイコー 5302 4,950円 電子技術部
K231301-01 紫外・可視・近赤外分光光度計 [UH4150] (1時間以内) 日立ハイテクサイエンス  UH4150 8,470円 川崎技術支援部
K232301-02 紫外・可視・近赤外分光光度計 [UH4150] (追加30分当たり) 日立ハイテクサイエンス  UH4150 2,860円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

電磁気特性評価

マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131601-01 マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法) 1条件1測定につき 19,140円 電子技術部
E131601-02 マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法)1件増 1測定増すごとに 6,380円 電子技術部

左右にスクロールできます

マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131604-01 マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法) 1条件1測定につき 17,600円 電子技術部
E131604-02 マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法) 1件増 1測定増すごとに 4,950円 電子技術部

左右にスクロールできます

マイクロ波誘電率・透磁率測定(ハーモニック共振器法)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131607-01 マイクロ波誘電率・透磁率測定(ハーモニック共振器法) 1測定につき 20,130円 電子技術部

左右にスクロールできます

マイクロ波誘電率測定(BCDR法)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131610-01 マイクロ波誘電率測定(BCDR法) 1条件1測定につき 39,380円 電子技術部

左右にスクロールできます

磁化特性測定(VSM方式)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131613-01 磁化特性測定(VSM方式) 1試料1測定につき 6,710円 電子技術部

左右にスクロールできます

磁化特性測定(積分方式)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131616-01 磁化特性測定(積分方式) 1試料1測定につき 4,840円 電子技術部

左右にスクロールできます

磁歪測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131619-01 磁歪測定 1試料1測定につき 18,920円 電子技術部
E131619-02 磁歪測定 1条件増 1条件増すごとに 12,210円 電子技術部

左右にスクロールできます

磁化温度特性測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131622-01 磁化温度特性測定 1試料1測定につき 22,110円 電子技術部

左右にスクロールできます

薄膜交流透磁率測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131625-01 薄膜交流透磁率測定 1試料1測定につき 6,050円 電子技術部

左右にスクロールできます

交流磁化特性測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131628-01 交流磁化特性測定(B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス) 1試料1測定につき 10,450円 電子技術部
E131628-02 交流磁化特性測定(B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス) 1条件増 1条件増すごとに 6,930円 電子技術部
E131631-01 交流磁化特性測定(B-H曲線無しの連続測定、可変条件は1) 1試料5測定まで 17,490円 電子技術部
E131631-02 交流磁化特性測定(B-H曲線無しの連続測定、可変条件は1) 1測定増 1測定増すごとに 2,640円 電子技術部

左右にスクロールできます

試料調整

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131634-01 試料調整 E131613-01,E131616-01,E131619-01,E131619-02,E131622-01,E131625-01,E131628-01,E131628-02,E131631-01,E131631-02に適用 3,300円 電子技術部
E131637-01 データ処理 E131613-01,E131616-01,E131619-01,E131619-02,E131622-01,E131625-01,E131628-01,E131628-02,E131631-01,E131631-02に適用 3,300円 電子技術部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E231601-01 ガウスメータ(最小測定レンジ:0.35mT、最大測定レンジ:3.5T) Lake shore Inc 455型 1,430円 電子技術部

左右にスクロールできます

粘弾性測定

動的粘弾性測定レオメーター

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131901-01 動的粘弾性測定レオメーター(1走査1時間未満、冷凍機を使用しない場合) 1走査(温度変化または振動数変化)につき 18,150円 化学技術部
E131907-01 動的粘弾性測定レオメーター(1走査2時間未満または冷凍機使用) 1走査(温度変化または振動数変化)につき 30,030円 化学技術部
E131913-01 動的粘弾性測定レオメーター(1走査3時間未満または液体窒素使用) 1走査(温度変化または振動数変化)につき 45,320円 化学技術部
E131916-01 ペルチェシステム使用(10~150℃) E131901-01, E131907-01に適用 7,040円 化学技術部
E131919-01 試料調製(取り付け困難なもの) E131901-01, E131904-01, E131907-01, E131910-01, E131913-01に適用 2,970円 化学技術部
E131922-01 試料調製(測定後処理) E131901-01, E131904-01, E131907-01, E131910-01, E131913-01に適用 3,630円 化学技術部

左右にスクロールできます

動的粘弾性測定DMA

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E131904-01 動的粘弾性測定DMA(1走査1時間未満、冷凍機を使用しない場合) 1走査(温度変化または振動数変化)につき 16,610円 化学技術部
E131910-01 動的粘弾性測定DMA(1走査2時間未満または冷凍機使用) 1走査(温度変化または振動数変化)につき 27,390円 化学技術部
E131919-01 試料調製(取り付け困難なもの) E131901-01, E131904-01, E131907-01, E131910-01, E131913-01に適用 2,970円 化学技術部
E131922-01 試料調製(測定後処理) E131901-01, E131904-01, E131907-01, E131910-01, E131913-01に適用 3,630円 化学技術部

左右にスクロールできます

吸水性測定

吸水試験(室温)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E132201-01 吸水試験(室温) 1試料につき 7,370円 化学技術部

左右にスクロールできます

比重測定

比重試験(水中置換法)(室温)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E132501-01 比重試験(水中置換法)(室温) 1試料につき 7,920円 化学技術部

左右にスクロールできます

制振性

損失係数測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E132801-01 損失係数測定(A) 1試料1測定温度につき 13,530円 機械・材料技術部
E132801-02 損失係数測定(B) 1測定温度増 1測定温度増すごとに 1,430円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E232801-01 制振性能測定装置 ブリュエルケアー PULSE/MS-18143型 4,620円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

材料強度

強度試験

引張・圧縮・曲げ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140101-01 引張・圧縮・曲げ試験(1)(簡単な試験) 1試験につき 2,530円 機械・材料技術部
E140101-02 引張・圧縮・曲げ試験(2)(比較的簡単な試験) 1試験につき 3,740円 機械・材料技術部
E140101-03 引張・圧縮・曲げ試験(3)(標準的な試験) 1試験につき 5,500円 機械・材料技術部
E140101-04 引張・圧縮・曲げ試験(4)(やや複雑な試験) 1試験につき 7,480円 機械・材料技術部
E140101-05 引張・圧縮・曲げ試験(5)(複雑な試験) 1試験につき 10,560円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

シャルピー衝撃試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140104-01 常温シャルピー衝撃試験 1試料につき 1,540円 機械・材料技術部
E140107-01 低温シャルピー衝撃試験 1試料につき 3,410円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

疲労試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140110-01 疲労試験 1時間以内 1試験につき 5,060円 機械・材料技術部
E140110-02 疲労試験 8時間以内 1試験につき 17,050円 機械・材料技術部
E140110-03 疲労試験 8時間増(E140110-02に適用) 8時間を超えて8時間増すごとに 8,580円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

硬さ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140113-01 硬さ試験 1点につき 1,100円 機械・材料技術部
E140116-03 硬さ試験試料調製(第3種):標準的なもの 1試料につき 8,140円 機械・材料技術部
E140116-04 硬さ試験試料調製(第4種):比較的複雑なもの 1試料につき 10,560円 機械・材料技術部
E140116-05 硬さ試験試料調製(第5種):複雑なもの 1試料につき 13,640円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

薄膜・微小部硬さ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140116-06 硬さ試験試料調製(第6種):薄膜・微小部硬さ試験用 1試料につき 15,730円 機械・材料技術部
E140119-01 薄膜・微小部硬さ試験 1試料1ヶ所につき 21,780円 機械・材料技術部
E140119-02 薄膜・微小部硬さ試験 1ヶ所増 1ヶ所増すごとに 9,680円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

X線応力測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140122-01 X線応力測定  1試料1か所1方向につき 6,050円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

熱間加工性試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140125-01 熱間加工性試験 1試料につき 8,250円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

引張試験(50kN以下)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140128-01 引張試験(50kN以下) 1試験片につき 3,190円 化学技術部
E140152-01 非接触式伸び計使用 1試験片につき(E140128-01に適用) 3,190円 化学技術部
E140155-01 恒温槽使用(-30~200℃) 1試験片1時間につき(E140128-01, E140131-01, E140134-01, E140137-01に適用) 2,970円 化学技術部
E140158-01 恒温恒湿槽使用 1試験片1時間につき(E140128-01, E140131-01, E140134-01, E140137-01に適用) 4,070円 化学技術部

左右にスクロールできます

圧縮試験(50kN以下)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140131-01 圧縮試験(50kN以下) 1試験片につき 3,190円 化学技術部
E140155-01 恒温槽使用(-30~200℃) 1試験片1時間につき(E140128-01, E140131-01, E140134-01, E140137-01に適用) 2,970円 化学技術部
E140158-01 恒温恒湿槽使用 1試験片1時間につき(E140128-01, E140131-01, E140134-01, E140137-01に適用) 4,070円 化学技術部

左右にスクロールできます

曲げ試験(5kN以下)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140134-01 曲げ試験(5kN以下) 1試験片につき 3,190円 化学技術部
E140155-01 恒温槽使用(-30~200℃) 1試験片1時間につき(E140128-01, E140131-01, E140134-01, E140137-01に適用) 2,970円 化学技術部
E140158-01 恒温恒湿槽使用 1試験片1時間につき(E140128-01, E140131-01, E140134-01, E140137-01に適用) 4,070円 化学技術部

左右にスクロールできます

動作パターン制御試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140137-01 動作パターン制御試験 1試験片につき 9,900円 化学技術部
E140155-01 恒温槽使用(-30~200℃) 1試験片1時間につき(E140128-01, E140131-01, E140134-01, E140137-01に適用) 2,970円 化学技術部
E140158-01 恒温恒湿槽使用 1試験片1時間につき(E140128-01, E140131-01, E140134-01, E140137-01に適用) 4,070円 化学技術部

左右にスクロールできます

引張弾性率測定(接触式伸び計使用)(室温)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140140-01 引張弾性率測定(接触式伸び計使用)(室温) 1試験片につき 5,390円 化学技術部

左右にスクロールできます

圧縮弾性率測定(室温)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140143-01 圧縮弾性率測定(室温) 1試験片につき 3,190円 化学技術部

左右にスクロールできます

曲げ弾性率測定(室温)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140146-01 曲げ弾性率測定(室温) 1試験片につき 3,190円 化学技術部

左右にスクロールできます

軟質発泡材料圧縮試験(室温)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140149-01 軟質発泡材料圧縮試験(室温) 1試験片につき 9,900円 化学技術部

左右にスクロールできます

シャルピー衝撃試験(室温)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140161-01 シャルピー衝撃試験(室温) 1試験片につき 2,310円 化学技術部
E140161-02 ノッチ加工 1試験片につき(E140161-01に適用) 1,980円 化学技術部

左右にスクロールできます

硬さ試験(ロックウェル・デュロメータ)(室温)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140164-01 硬さ試験(ロックウェル・デュロメータ) (室温) 1試料につき 3,520円 化学技術部

左右にスクロールできます

硬さ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K140101-01 硬さ試験 1点につき 1,100円 川崎技術支援部
K140104-01 硬さ試験試料調製(第1種):容易なもの 1試料につき 1,980円 川崎技術支援部
K140104-02 硬さ試験試料調製(第2種):比較的容易なもの 1試料につき 3,960円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E240101-01 材料試験機(5kN) インストロンジャパン 5565型 1,320円 化学技術部

左右にスクロールできます

摩擦摩耗

トライボ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140401-01 トライボ試験 1試料1条件につき 8,360円 機械・材料技術部
E140401-02 トライボ試験 1件増 1条件増すごとに 3,850円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

摩耗試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E140404-01 摩耗試験 1試料1条件につき 7,700円 機械・材料技術部
E140404-02 摩耗試験 1件増 1条件増すごとに 3,520円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

設計加工

デザイン

デザイン・企画

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E150101-01 デザイン・企画 1時間につき 3,410円 事業化支援部

左右にスクロールできます

CAD・CAM・CAE

機械設計・解析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E150401-01 機械設計・解析 1時間当たり 6,160円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

弾塑性解析(塑性加工のシミュレーション解析)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E150404-01 弾塑性解析(塑性加工のシミュレーション解析) 1時間当たり 9,020円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

構造解析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E150407-01 構造解析 1時間当たり 9,460円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

3Dプリンター

三次元造形(小型インクジェット式3Dプリンター)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E150701-01 三次元造形前処理 1時間当たり 3,410円 情報・生産技術部
E150704-01 三次元造形(小型インクジェット式3Dプリンター) 1時間当たり 770円 情報・生産技術部
E150713-01 三次元造形後処理 1時間当たり 3,630円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

三次元造形(インクジェット式3Dプリンター)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E150701-01 三次元造形前処理 1時間当たり 3,410円 情報・生産技術部
E150707-01 三次元造形(インクジェット式3Dプリンター) 1時間当たり 2,970円 情報・生産技術部
E150713-01 三次元造形後処理 1時間当たり 3,630円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

三次元造形(光造形式3Dプリンター)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E150701-01 三次元造形前処理 1時間当たり 3,410円 情報・生産技術部
E150710-01 三次元造形(光造形式3Dプリンター) 1時間当たり 1,430円 情報・生産技術部
E150713-01 三次元造形後処理 1時間当たり 3,630円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

加工

立形マシニングセンタによる加工

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151001-01 立形マシニングセンタによる加工 1時間当たり 7,040円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

5軸制御マシニングセンタによる加工

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151004-01 5軸制御マシニングセンタによる加工 1時間当たり 7,590円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

CNC旋盤による加工

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151008-01 CNC旋盤による加工 1時間当たり 8,800円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

切削抵抗測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151010-01 切削抵抗測定 1測定につき 990円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

ワイヤ放電加工

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151013-01 ワイヤ放電加工 1時間当たり 4,290円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

NC放電加工試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151016-01 NC放電加工試験 1時間当たり 2,530円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

ホットプレス処理

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151019-01 ホットプレス処理 1時間当たり 9,350円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

制御雰囲気炉処理

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151022-01 制御雰囲気炉処理 1時間当たり 4,620円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

脱脂炉処理

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151025-01 脱脂炉処理 1時間当たり 1,760円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

卓上型電気炉処理

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151028-01 卓上型電気炉処理 1時間当たり 2,090円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

HIP処理

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151031-01 HIP処理  1時間当たり 19,580円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

CIP処理

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151034-01 CIP処理  1時間当たり 6,160円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

熱処理特性試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151037-01 熱処理特性試験 1時間当たり 12,870円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E251001-01 混練機 森山 DSI-5GHH-E 2,750円 機械・材料技術部
E251004-01 金属粉末射出成形装置 東芝機械 IS30EPN-1A 2,310円 機械・材料技術部
E251007-01 コンターマシン アマダ VA-500 330円 情報・生産技術部
E251010-01 平面研削盤 岡本 PSG-52DX 1,650円 機械・材料技術部
E251013-01 ボール盤 ヤマモト YSDT-550 220円 機械・材料技術部
E251016-01 切断機 Hストルアス社 ディスコトム 1,430円 機械・材料技術部
E251019-01 帯鋸盤 アマダ HA300 990円 情報・生産技術部
E251022-01 CNC旋盤 オークマ LS-30N 5,500円 機械・材料技術部
E251025-01 旋盤 昌運 ST-5 1,320円 機械・材料技術部
E251028-01 旋盤 シャブリン SV-150A 2,090円 機械・材料技術部
E251031-01 フライス盤 デッケル FP1 2,310円 機械・材料技術部
E251034-01 NCフライス盤 イワシタ NR2 2,530円 情報・生産技術部
E251037-01 立形マシニングセンタ 牧野フライス製作所 V33 3,740円 情報・生産技術部
E251040-01 ツールチェンジNC加工機 平安コーポレーション NC-151MC-1508 2,090円 情報・生産技術部
E251043-01 油圧プレス(ホットプレス) セイブ HP-2 330円 情報・生産技術部
E251046-01 ルータ 平安鉄工 NC-131P-1008 770円 情報・生産技術部
E251049-01 電気炉 炉研工業 マッフル型加熱炉 HI 1,430円 機械・材料技術部
E251052-01 シリコニット箱型炉 シリコニット高熱工業  SFB-2040 990円 機械・材料技術部
E251055-01 熱間加工再現試験装置 富士電波工機 サーメックマスターZ 12,540円 機械・材料技術部
E251058-01 熱処理再現試験装置 富士電波工機 特注品FTA-153VTほか 9,570円 機械・材料技術部
E251061-01 ファブラボ(Ⅰ) 3Dプリンタ使用可 装置類取扱い指導有 3,300円 電子技術部
E251061-02 ファブラボ(Ⅱ) 3Dプリンタ使用可 装置類取扱い指導無 550円 電子技術部
E251061-03 ファブラボ(Ⅲ) 3Dプリンタ使用不可 装置類取扱い指導無 220円 電子技術部

左右にスクロールできます

微細加工

真空蒸着

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151301-01 真空蒸着 標準1試料当たり  37,070円 電子技術部
E151301-02 真空蒸着 1条件増 1条件増すごとに  17,270円 電子技術部

左右にスクロールできます

スパッタ成膜

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151304-01 スパッタ成膜 標準1試料当たり  48,950円 電子技術部

左右にスクロールできます

アッシャーによるプラズマ処理

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151307-01 アッシャーによるプラズマ処理 1条件1時間につき  18,040円 電子技術部

左右にスクロールできます

ECRプラズマエッチング

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151310-01 ECRプラズマエッチング 標準1試料当たり  49,720円 電子技術部

左右にスクロールできます

高精度フォトリソグラフィ

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151313-01 高精度フォトリソグラフィ 1枚につき  28,600円 電子技術部
E151316-01 高精度フォトリソグラフィ 1枚増  1枚増すごとに  10,340円 電子技術部

左右にスクロールできます

電子線リソグラフィ

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E151319-01 電子線リソグラフィ 1時間当たり  10,670円 電子技術部
E151322-01 電子線リソグラフィ試料調製 1試料につき  9,350円 電子技術部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E251301-01 研磨機 ムサシノ電子 MA-200 2,530円 電子技術部
E251304-01 自動研磨機 QATM社 サファイア250 A2-ECO 3,300円 電子技術部
E251307-01 高温小型真空雰囲気炉 ナガノ NEWTONIAN PASCAL40 5,940円 電子技術部

左右にスクロールできます

性能評価

電気計測・試験

電流電圧測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160101-01 電流電圧測定 1試料1条件につき 3,080円 電子技術部

左右にスクロールできます

電圧・電流波形測定(オシロスコープ)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160104-01 電圧・電流波形測定(オシロスコープ) 2時間まで 13,970円 電子技術部
E160104-02 電圧・電流波形測定(オシロスコープ) 1時間増 1時間増すごとに 6,160円 電子技術部

左右にスクロールできます

低抵抗測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160107-01 低抵抗測定 1試料1条件につき 4,180円 電子技術部

左右にスクロールできます

絶縁抵抗試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160110-01 絶縁抵抗測定 1試料1条件につき 5,170円 電子技術部

左右にスクロールできます

電気機器・漏れ電流測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160113-01 電気機器・漏れ電流測定 1試料1条件につき 4,400円 電子技術部

左右にスクロールできます

電気機器・耐電圧試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160116-01 電気機器・耐電圧試験 1試料1測定につき 4,290円 電子技術部

左右にスクロールできます

電気機器・接地回路の抵抗測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160119-01 電気機器・接地回路の抵抗測定 1試料1条件につき 4,290円 電子技術部

左右にスクロールできます

電気機器・温度試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160122-01 電気機器・温度試験 1測定点につき 3,190円 電子技術部

左右にスクロールできます

電気機器・電力測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160125-01 電気機器・電力測定 1試料1条件につき 5,500円 電子技術部

左右にスクロールできます

絶縁抵抗測定(平板試料)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K160101-01 絶縁抵抗測定(平板試料) 1試料につき 6,050円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E260101-01 絶縁抵抗計(表面および体積抵抗のみ) キーサイト・テクノロジー   4339B 3,300円 電子技術部
E260104-01 LCRメータ YHP YHP4285A 3,190円 電子技術部
K260101-01 オシロスコープ [WaveRunner62Xi] レクロイ  WaveRunner62Xi 2,310円 川崎技術支援部
K260104-01 ACミリオームハイテスター [3560] 日置電機  3560 550円 川崎技術支援部
K260107-01 超絶縁計 [SM-8220] 日置電機  SM-8220 220円 川崎技術支援部
K260110-01 交流耐電圧試験器 [3158]  日置電機  3158 220円 川崎技術支援部
K260113-01 漏れ電流試験器 [ST5540] 日置電機  ST5540 990円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

ネットワーク試験

イーサネットコンプライアンステスト

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160401-01 イーサネットコンプライアンステスト 1時間につき 5,170円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

適合性試験(FL-net)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160404-01 適合性試験(FL-net) 1試料6時間まで  53,240円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

相互接続性試験(FL-net)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160407-01 相互接続性試験(FL-net) 1試料2時間まで  35,420円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

ノイズ試験(CC-Link)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160410-01 ノイズ試験(CC-Link) 1試料8時間まで  31,790円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

ハードウェア試験(CC-Link)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160413-01 ハードウェア試験(CC-Link) 1試料4時間まで  15,840円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

ソフトウェア試験(CC-Link)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160416-01 ソフトウェア試験(CC-Link) 1試料10時間まで  39,710円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

組み合わせ試験(CC-Link)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160419-01 組み合わせ試験(CC-Link) 1試料6時間まで  23,760円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

インタオぺラビリティ試験(CC-Link)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160422-01 インタオぺラビリティ試験(CC-Link) 1試料5時間まで  19,800円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

エージング試験(CC-Link)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160425-01 エージング試験(CC-Link) 1試料12時間まで  14,190円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

半導体・実装

フォトルミネッセンス測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160701ー01 フォトルミネッセンス測定 1試料1条件につき  46,310円 電子技術部

左右にスクロールできます

高分解能(1nm以下)フォトルミネッセンス測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160704-01 高分解能(1nm以下)フォトルミネッセンス測定 1試料1条件につき  74,250円 電子技術部

左右にスクロールできます

低温光特性評価

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160707-01 低温光特性評価 1試料1条件につき  36,960円 電子技術部

左右にスクロールできます

酸化拡散試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160710-01 酸化拡散試験 1時間当たり  23,650円 電子技術部

左右にスクロールできます

触針式膜厚測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160713-01 触針式膜厚測定 1測定につき 4,400円 電子技術部

左右にスクロールできます

触針式表面形状測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160716-01 触針式表面形状測定 1測定につき 12,650円 電子技術部

左右にスクロールできます

光干渉式膜厚測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160719-01 光干渉式膜厚測定 1試料1測定点につき 3,190円 電子技術部
E160722-01 光干渉式膜厚測定 1測定点増 1試料につき1測定点増すごとに 1,540円 電子技術部

左右にスクロールできます

ホール効果測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160725-01 ホール効果測定 1試料1条件につき  21,670円 電子技術部

左右にスクロールできます

熱抵抗測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160728-01 熱抵抗測定 1時間当たり  9,350円 電子技術部

左右にスクロールできます

パワーサイクル試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160731-01 パワーサイクル試験 8時間まで 22,990円 電子技術部
E160731-02 パワーサイクル試験 8時間増 8時間増すごとに 11,330円 電子技術部

左右にスクロールできます

超音波ウェッジボンダ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160734ー01 超音波ウェッジボンダ試験 1時間当たり 8,910円 電子技術部

左右にスクロールできます

超音波ボールボンダ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160737-01 超音波ボールボンダ試験 1時間当たり 11,000円 電子技術部

左右にスクロールできます

接合強度試験(はんだ継手強度試験)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160740-01 接合強度試験(はんだ継手強度試験) 1測定条件につき(5測定点まで) 9,130円 電子技術部

左右にスクロールできます

接合強度試験(ワイヤーボンディング強度試験)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160740-02 接合強度試験(ワイヤーボンディング強度試験) 1測定条件につき(5測定点まで) 10,780円 電子技術部

左右にスクロールできます

接合強度試験(ダイシェア試験)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160740-03 接合強度試験(ダイシェア試験) 1測定条件につき(5測定点まで) 11,660円 電子技術部

左右にスクロールできます

薄膜硬さ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160743-01 薄膜硬さ試験 1時間当たり 5,940円 電子技術部

左右にスクロールできます

クリーン雰囲気試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160746-01 クリーン雰囲気試験 1時間当たり 6,490円 電子技術部

左右にスクロールできます

パワー半導体静特性試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160749-01 パワー半導体静特性試験 1時間当たり 7,370円 電子技術部

左右にスクロールできます

半導体パラメータ測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E160752-01 半導体パラメータ測定 1時間当たり 7,260円 電子技術部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E260701-01 陽極接合装置 アユミ工業 AB-40特注品 12,870円 電子技術部
E260704-01 マスクアライナ ミカサ MA-20 7,590円 電子技術部
E260707-01 酸化拡散装置 KHエレクトロニクス  特別仕様 19,360円 電子技術部
E260710-01 超音波ボールボンダ ウエストボンド 7700A 7,700円 電子技術部
E260713-01 チップ付け装置 ウエストボンド 7200A 2,860円 電子技術部
E260716-01 超音波ウェッジボンダ ウエストボンド 7400A 5,610円 電子技術部
E260719-01 アッシャー装置 東京応化工業 OPM-EM600 12,650円 電子技術部
E260722-01 光干渉式膜厚測定装置 大日本スクリーン VM-8000J 3,080円 電子技術部
E260725-01 触針式膜厚計 小坂研究所 ET4000AKR 2,090円 電子技術部
E260728-01 分光エリプソ装置 日本セミラボ SE-2000 7,260円 電子技術部

左右にスクロールできます

電磁環境・EMC

ネットワークアナライザ測定(マルチポート)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161001-01 ネットワークアナライザ測定(マルチポート) 1測定につき  11,440円 電子技術部

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ネットワークアナライザ測定(4ポートまで)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161004-01 ネットワークアナライザ測定(4ポートまで) 1試料1条件につき  7,700円 電子技術部
E161004-02 ネットワークアナライザ測定(4ポートまで) 1件増 1条件増すごとに  2,970円 電子技術部

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マイクロ波・ミリ波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161007-01 マイクロ波・ミリ波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定) 1条件1測定につき  18,040円 電子技術部
E161007-02 マイクロ波・ミリ波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定) 
1件増
1測定増すごとに  4,730円 電子技術部

左右にスクロールできます

マイクロ波・ミリ波伝送特性測定(プローバー測定)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161010-01 マイクロ波・ミリ波伝送特性測定(プローバー測定) 1条件1測定につき  32,120円 電子技術部
E161010-02 マイクロ波・ミリ波伝送特性測定(プローバー測定)1件増 1測定増すごとに  5,390円 電子技術部

左右にスクロールできます

放射妨害波測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161013-01 放射妨害波測定 2時間まで 2時間まで  40,810円 電子技術部
E161013-02 放射妨害波測定 1時間増 1時間増すごとに  15,730円 電子技術部

左右にスクロールできます

車載機器の放射・伝導妨害波測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161016-01 車載機器の放射・伝導妨害波測定 2時間まで 2時間まで  40,810円 電子技術部
E161016-02 車載機器の放射・伝導妨害波測定 1時間増 1時間増すごとに  15,730円 電子技術部

左右にスクロールできます

電源・通信ポート伝導妨害波測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161019-01 電源・通信ポート伝導妨害波測定 1時間まで 1時間まで  24,970円 電子技術部
E161019-02 電源・通信ポート伝導妨害波測定 1時間増 1時間増すごとに  15,620円 電子技術部

左右にスクロールできます

雑音電力測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161022-01 雑音電力測定 1時間まで 1時間まで 24,970円 電子技術部
E161022-02 雑音電力測定 1時間増 1時間増すごとに  15,620円 電子技術部

左右にスクロールできます

静電気放電イミュニティ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161025-01 静電気放電イミュニティ試験 1時間まで 1時間まで  12,760円 電子技術部
E161025-02 静電気放電イミュニティ試験 1時間増 1時間増すごとに  7,370円 電子技術部

左右にスクロールできます

放射無線周波電磁界イミュニティ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161028-01 放射無線周波電磁界イミュニティ試験 2時間まで 2時間まで  31,900円 電子技術部
E161028-02 放射無線周波電磁界イミュニティ試験 1時間増 1時間増すごとに  12,760円 電子技術部

左右にスクロールできます

電気的ファーストトランジェント/ バーストイミュニティ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161031-01 電気的ファーストトランジェント/バーストイミュニティ試験 
1時間まで
1時間まで  12,760円 電子技術部
E161031-02 電気的ファーストトランジェント/バーストイミュニティ試験 
1時間増
1時間増すごとに  7,370円 電子技術部

左右にスクロールできます

雷サージイミュニティ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161034-01 雷サージイミュニティ試験 1時間まで 1時間まで  12,760円 電子技術部
E161034-02 雷サージイミュニティ試験 1時間増 1時間増すごとに  7,370円 電子技術部

左右にスクロールできます

誘導伝導電磁界イミュニティ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161037-01 誘導伝導電磁界イミュニティ試験 1時間まで 1時間まで  19,580円 電子技術部
E161037-02 誘導伝導電磁界イミュニティ試験 1時間増 1時間増すごとに  13,090円 電子技術部

左右にスクロールできます

電源周波数磁界イミュニティ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161040-01 電源周波数磁界イミュニティ試験 1時間まで 1時間まで 11,000円 電子技術部
E161040-02 電源周波数磁界イミュニティ試験 1時間増すごとに 1時間増すごとに 6,160円 電子技術部

左右にスクロールできます

電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動イミュニティ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161043-01 電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動イミュニティ試験 
1時間まで
1時間まで  10,120円 電子技術部
E161043-02 電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動イミュニティ試験 
1時間増
1時間増すごとに  5,610円 電子技術部

左右にスクロールできます

インパルスノイズ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161046-01 インパルスノイズ試験 1時間まで 1時間まで  12,760円 電子技術部
E161046-02 インパルスノイズ試験 1時間増 1時間増すごとに  7,370円 電子技術部

左右にスクロールできます

車載機器の電源変動試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161047-01 車載機器の電源変動試験 1時間まで 1時間まで 9,680円 電子技術部
E161047-02 車載機器の電源変動試験 1時間増 1時間増すごとに 5,280円 電子技術部

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電磁波シールド効果測定 (100kHz~1GHz、 KEC法)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161049-01 電磁波シールド効果測定 (100kHz~1GHz、KEC法) 1試料1測定(電界または磁界)につき 6,490円 電子技術部

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マイクロ波電磁波シールド効果測定 (1GHz~ 8.5GHz、2焦点型扁平空洞)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161052-01 マイクロ波電磁波シールド効果測定 
(1GHz~8.5GHz、2焦点型扁平空洞)
1試料1測定につき  7,370円 電子技術部

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電波透過特性測定(マイクロ波帯)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161055-01 電波透過特性測定(マイクロ波帯) 1条件1測定につき  16,940円 電子技術部
E161055-02 電波透過特性測定(マイクロ波帯) 1件増 1測定増すごとに  7,810円 電子技術部

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電波吸収率測定(簡易アンテナ法)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161058-01 電波吸収率測定(簡易アンテナ法) 1条件1測定につき  14,300円 電子技術部
E161058-02 電波吸収率測定(簡易アンテナ法) 1件増 1測定増すごとに 3,960円 電子技術部

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機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E261001-01 伝導イミュニティ測定システム ノイズ研究所   ESS-B3011 4,070円 電子技術部
K261001-01 電波暗室(測定帯域 30MHz~1GHz)[TDK製(3m法)] (1時間以内) TDK製(3m法)  8,140円 川崎技術支援部
K261001-02 電波暗室(測定帯域 30MHz~1GHz)[TDK製(3m法)] (追加30分当たり) TDK製(3m法)  3,960円 川崎技術支援部
K261003-01 電波暗室 (測定帯域 1GHz~6GHz)[TDK製(3m法)] (1時間以内) TDK製(3m法)  9,460円 川崎技術支援部
K261003-02 電波暗室 (測定帯域 1GHz~6GHz)[TDK製(3m法)] (追加30分当たり) TDK製(3m法)  4,510円 川崎技術支援部
K261007-01 シールドルーム [SH-H1313](1時間以内) ノイズ研究所 SH-H1313 3,300円 川崎技術支援部
K261007-02 シールドルーム [SH-H1313](追加30分当たり) ノイズ研究所 SH-H1313 1,210円 川崎技術支援部
K261010-01 シールドテント [TM-2.5-1.7-2-2](1時間以内) 富山電気ビルディング TM-2.5-1.7-2-2 3,190円 川崎技術支援部
K261010-02 シールドテント [TM-2.5-1.7-2-2](追加30分当たり) 富山電気ビルディング TM-2.5-1.7-2-2 1,430円 川崎技術支援部
K261013-01 EMI測定システムA(放射雑音測定)[N9010A EXA](1時間以内) キーサイト N9010A EXA 5,610円 川崎技術支援部
K261013-02 EMI測定システムA(放射雑音測定)[N9010A EXA](追加30分当たり) キーサイト N9010A EXA 1,650円 川崎技術支援部
K261016-01 EMI測定システムA(伝導性雑音測定)[N9010A EXA] (1時間以内) キーサイト N9010A EXA 4,070円 川崎技術支援部
K261016-02 EMI測定システムA(伝導性雑音測定)[N9010A EXA] (追加30分当たり) キーサイト N9010A EXA 1,210円 川崎技術支援部
K261019-01 インピーダンス安定化回路網(ISN)[ISN T8,T8CAT6] (1時間以内) TESEQ  ISN T8,T8CAT6 1,320円 川崎技術支援部
K261019-02 インピーダンス安定化回路網(ISN)[ISN T8,T8CAT6] (追加30分当たり) TESEQ  ISN T8,T8CAT6 770円 川崎技術支援部
K261022-01 電源高調波電流測定器 [PM3000ACE他] (1時間以内) Voltec  PM3000ACE他 2,860円 川崎技術支援部
K261022-02 電源高調波電流測定器 [PM3000ACE他] (追加30分当たり) Voltec  PM3000ACE他 1,430円 川崎技術支援部
K261025-01 パルスイミュニティ試験器 [Compact NX5] (1時間以内) EM Test  Compact NX5 2,970円 川崎技術支援部
K261025-02 パルスイミュニティ試験器 [Compact NX5] (追加30分当たり) EM Test  Compact NX5 1,320円 川崎技術支援部
K261028-01 静電気試験器 [ESS-S3011&GT-30R] (1時間以内) ノイズ研究所  ESS-S3011&GT-30R 2,420円 川崎技術支援部
K261028-02 静電気試験器 [ESS-S3011&GT-30R] (追加30分当たり) ノイズ研究所  ESS-S3011&GT-30R 1,210円 川崎技術支援部
K261031-01 伝導イミュニティ試験器 [NSG2070](1時間以内) SCHAFFNER  NSG2070 2,860円 川崎技術支援部
K261031-02 伝導イミュニティ試験器 [NSG2070](追加30分当たり) SCHAFFNER  NSG2070 1,430円 川崎技術支援部
K261034-01 ノイズシミュレータ [INS-4040] (1時間以内) ノイズ研究所 INS-4040 2,860円 川崎技術支援部
K261034-02 ノイズシミュレータ [INS-4040] (追加30分当たり) ノイズ研究所  INS-4040 1,430円 川崎技術支援部

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燃料電池・二次電池評価

燃料電池の電極作製(スプレー塗工)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161301-01 燃料電池の電極作製(スプレー塗工) 1時間当たり  4,730円 化学技術部

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燃料電池の発電試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161304-01 燃料電池の発電試験 1時間当たり  8,470円 化学技術部

左右にスクロールできます

燃料電池スタック試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161307-01 燃料電池スタック試験(1) 24時間まで(8時間当たり) 4,510円 化学技術部
E161307-02 燃料電池スタック試験(2) 24時間増 24時間増すごとに  7,150円 化学技術部

左右にスクロールできます

燃料電池の露点測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161310-01 燃料電池の露点測定(1) 24時間まで(1時間当たり) 4,180円 化学技術部
E161310-02 燃料電池の露点測定(2) 24時間増 24時間増すごとに  25,520円 化学技術部

左右にスクロールできます

電解質膜のガス透過性測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161313-01 電解質膜のガス透過性測定 1試料につき(1時間当たり) 6,380円 化学技術部

左右にスクロールできます

電池充放電試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161316-01 電池充放電試験(1) 1試料につき6時間まで 23,760円 化学技術部
E161316-02 電池充放電試験(2)6時間増 6時間増すごとに 10,780円 化学技術部
E161325-01 試料調製(1)(比較的容易) E161316-01, E161316-02に適用 3,300円 化学技術部
E161325-02 試料調製(2)(比較的複雑) E161316-01, E161316-02に適用 6,710円 化学技術部

左右にスクロールできます

電極の熱ロールプレス処理

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161319-01 電極の熱ロールプレス処理 1試料1時間につき  4,070円 化学技術部

左右にスクロールできます

大型電池充放電試験(2kW以下)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E161322-01 大型電池充放電試験(2kW以下)(1) 1試料につき6時間まで 9,020円 化学技術部
E161322-02 大型電池充放電試験(2kW以下)(2)6時間増 6時間増すごとに  5,940円 化学技術部

左右にスクロールできます

太陽電池評価

太陽電池のIPCE測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161601-01 太陽電池のIPCE測定 1試料につき 41,360円 川崎技術支援部
K161601-02 太陽電池のIPCE測定 追加 1試料または1条件追加につき 11,660円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

太陽電池のI-V測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161604-01 太陽電池のI-V測定 1試料につき 42,570円 川崎技術支援部
K161604-02 太陽電池のI-V測定 追加 1試料または1条件追加につき 11,880円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

太陽電池のI-V測定 LED特定波長

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161607-01 太陽電池のI-V測定 LED特定波長 1試料につき 23,100円 川崎技術支援部
K161607-02 太陽電池のI-V測定 LED特定波長 追加 1試料または1条件追加につき 7,150円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

低照度環境下におけるI-V測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161610-01 低照度環境下におけるI-V測定 1条件につき 5,500円 川崎技術支援部
K161610-02 低照度環境下におけるI-V測定 追加 1試料または1条件追加につき 2,640円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

XeランプSSによる連続照射

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161613-01 XeランプSSによる連続照射 24時間につき 22,770円 川崎技術支援部
K161613-02 XeランプSSによる連続照射 追加 追加24時間につき 20,240円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

LED-SSによる特定波長の光照射

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161616-01 LED-SSによる特定波長の光照射 24時間につき 33,000円 川崎技術支援部
K161616-02 LED-SSによる特定波長の光照射 追加 追加24時間につき 30,360円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

2灯式SSによる連続照射

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161619-01 2灯式SSによる連続照射 24時間につき(150mm角まで 
山下電装YSS-T150Aを使用) 
54,670円 川崎技術支援部
K161619-02 2灯式SSによる連続照射 追加 追加24時間につき(150mm角まで 
山下電装YSS-T150Aを使用)
52,800円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

低照度光源による光照射

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161622-01 低照度光源による光照射 1時間につき 4,180円 川崎技術支援部
K161622-02 低照度光源による光照射 24時間 24時間につき 30,140円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

無抵抗電流計による電流値測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161625-01 無抵抗電流計による電流値測定 1時間につき 1,210円 川崎技術支援部
K161625-02 無抵抗電流計による電流値測定 24時間 24時間につき 9,130円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

データロガーによる測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161628-01 データロガーによる測定 1時間につき 1,210円 川崎技術支援部
K161628-02 データロガーによる測定 24時間 24時間につき 9,240円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

オシロスコープ

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161631-01 オシロスコープ 1時間につき 2,090円 川崎技術支援部
K161631-02 オシロスコープ 24時間 24時間につき 10,450円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

連続光照射に伴う簡易なI-V測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161634-01 連続光照射に伴う簡易なI-V測定 1回につき 3,520円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

太陽電池のインピーダンス測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161637-01 太陽電池のインピーダンス測定 1試料につき 14,410円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

発電面積規定用遮光マスク(面積測定済み)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161640-01 発電面積規定用遮光マスク(面積測定済み) 1枚につき 1,870円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

光触媒評価

光触媒の窒素酸化物除去性能試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161901ー01 光触媒の窒素酸化物除去性能試験 1試験につき 71,170円 川崎技術支援部
K161901ー02 光触媒の窒素酸化物除去性能試験 -再生率- 1試験につき 20,020円 川崎技術支援部
K162934-01 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161904-01 光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験 1試験につき 48,840円 川崎技術支援部
K161904-02 光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験  -バッグ法 1試験につき 44,990円 川崎技術支援部
K162934-01 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

光触媒のトルエン除去性能試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161907-01 光触媒のトルエン除去性能試験 1試験につき 44,880円 川崎技術支援部
K162934-01 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

光触媒のホルムアルデヒド除去性能試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161910-01 光触媒のホルムアルデヒド除去性能試験 1試験につき 66,110円 川崎技術支援部
K162934-01 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

光触媒のメチルメルカプタン除去性能試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161913-01 光触媒のメチルメルカプタン除去性能試験 1試験につき 71,610円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

光触媒のセルフクリーニング試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161916-01 光触媒のセルフクリーニング試験 湿式分解性能の測定 1試験につき 48,620円 川崎技術支援部
K161916-02 光触媒のセルフクリーニング試験 水接触角の測定 1試験につき 71,610円 川崎技術支援部
K162934-01 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

光触媒の水浄化性能試験(JISR1704準拠)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161919-01 光触媒の水浄化性能試験(JISR1704準拠) (明条件のみ) 1試験につき 81,840円 川崎技術支援部
K161919-02 光触媒の水浄化性能試験(JISR1704準拠) (暗条件のみ) 1試験につき 81,840円 川崎技術支援部
K162934-01 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

光触媒性能試験JIS試験条件不成立時 (試験途中中止時)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161922-01 光触媒性能試験JIS試験条件不成立時 (試験途中中止時) 1試験につき 24,310円 川崎技術支援部
K162934-01 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

その他光触媒性能試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161925-01 その他光触媒性能試験 1時間につき 7,150円 川崎技術支援部
K162934-01 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

空気清浄機によるたばこ煙成分の脱臭試験(JEM1467に準じた試験法)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161928-01 空気清浄機によるたばこ煙成分の脱臭試験 (JEM1467に準じた試験法) 1試験につき 69,740円 川崎技術支援部
K162934-01 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

水接触角の測定(光触媒JIS試験以外)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K161931-01 水接触角の測定(光触媒JIS試験以外) 1試料1点につき  4,950円 川崎技術支援部
K161931-02 水接触角の測定(光触媒JIS試験以外)追加 1点追加につき  1,210円 川崎技術支援部
K162934-01 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

繊維性能評価

繊維熱物性試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162201-01 繊維熱物性試験 1試料1測定につき 6,050円 化学技術部

左右にスクロールできます

重量測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162204-01 重量測定 1試料につき 660円 化学技術部

左右にスクロールできます

編織物厚さ測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162207-01 編織物厚さ測定 1試料につき 1,980円 化学技術部

左右にスクロールできます

編織物通気度試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162210-01 編織物通気度試験 1試料につき 3,080円 化学技術部

左右にスクロールできます

編織物強伸度測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162213-01 編織物強伸度測定 1試料1方向につき 3,300円 化学技術部

左右にスクロールできます

糸強伸度測定(容易なもの)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162216-01 糸強伸度測定(容易なもの) 1試料につき 1,210円 化学技術部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E262201-01 風合い計測システム カトーテック KES-F7サーモラボⅡ 3,630円 化学技術部

左右にスクロールできます

木材性能評価

圧縮試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162501-01 圧縮試験 1試料につき 3,190円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

引張試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162504-01 引張試験 1試料につき 3,410円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

曲げ試験(50kN以下)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162507-01 曲げ試験(50kN以下) 1試料につき 2,750円 情報・生産技術部
E162510-01 曲げ試験(50kN以下)(曲げ強さ及び曲げヤング係数の算出を必要とするもの) 1試料につき 4,180円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

摩耗試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162513-01 摩耗試験 1試料につき 4,290円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

局所構造試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162516-01 局所構造試験 1試料1測定につき 3,190円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

密度測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162519-01 密度測定 1試料につき 1,650円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

含水率測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162522-01 含水率測定 1試料につき 6,490円 情報・生産技術部
E162522-02 含水率測定 1試料増 一緒の工程で1試料増すごとに 2,530円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

いす繰返し衝撃試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162525-01 いす繰返し衝撃試験(1) 1試料1条件につき(4,000回まで) 9,020円 情報・生産技術部
E162525-02 いす繰返し衝撃試験(2) 4,000回増 同一試料に連続し4,000回増すごとに 5,170円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

いす繰返し耐久性試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162528-01 いす繰返し耐久性試験(1) 1試料1条件につき(5,000回まで) 9,900円 情報・生産技術部
E162528-02 いす繰返し耐久性試験(2) 5,000回増 同一試料に連続し5,000回増すごとに 5,170円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

垂直過重下の強度試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162531-01 垂直過重下の強度試験 1試料1条件につき 3,740円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

背もたれの静的強度試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162534-01 背もたれの静的強度試験 1試料1条件につき 3,740円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

脚部の静的強度試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162537-01 脚部の静的強度試験 1試料1条件につき 3,740円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

煮沸繰返し試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162540-01 煮沸繰返し試験 1試料につき 2,750円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

温冷水浸せき試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162543-01 温冷水浸せき試験 1試料につき 1,760円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

試料調整

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162546-01 試料調製(1)(のこ盤、かんな盤などによる試験片作製) 1試料(30分につき) 1,650円 情報・生産技術部
E162546-02 試料調製(2)(接着調湿等の前処理を伴うもの) 1試料につき 2,530円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E262501-01 万能材料試験機 オリエンテック UTA-5T 1,320円 情報・生産技術部
E262504-01 摩耗試験機(研磨紙使用無し) 東洋精機 NO410 GS10付 220円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

塗膜・めっき性能評価

塗膜物性試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162801-01 塗膜物性試験 1試料につき 1,870円 化学技術部

左右にスクロールできます

蛍光X線法による膜厚測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162804-01 蛍光X線法による膜厚測定 1試料1ヶ所につき 5,170円 化学技術部

左右にスクロールできます

光沢度測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162807-01 光沢度測定 1試料につき 3,740円 化学技術部

左右にスクロールできます

色彩測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162810-01 色彩測定 1試料につき 3,630円 化学技術部

左右にスクロールできます

浸せき試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162813-01 浸せき試験 室温で実施の場合 1試料24時間まで 
(試験液費用は別途負担)
4,730円 化学技術部
E162813-02 浸せき試験 24時間増 24時間増すごとに 770円 化学技術部
E162813-03 浸せき試験用試薬調製 1試料につき 3,410円 化学技術部

左右にスクロールできます

煮沸試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162816-01 煮沸試験 1試料8時間につき 3,630円 化学技術部

左右にスクロールできます

耐熱性試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162819-01 耐熱性試験  1試料500℃まで8時間につき 2,420円 化学技術部

左右にスクロールできます

外観撮影

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E162822-01 外観撮影 1枚につき 440円 化学技術部
E162822-02 外観撮影(色彩調整を要するもの) 1枚につき 2,310円 化学技術部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E262801-01 乾式塗装ブース サンエス工業 DS-CSS-1200 1,980円 化学技術部

左右にスクロールできます

接着性能評価

接着強さ試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163101-01 接着強さ試験 1試験片につき 4,180円 化学技術部
E163107-01 恒温槽使用(-30~200℃) 1試験片1時間につき(E163101-01に適用) 2,970円 化学技術部
E163107-02 恒温恒湿槽使用 1試験片1時間につき(E163101-01に適用) 4,070円 化学技術部

左右にスクロールできます

はく離接着強さ試験(室温)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163104-01 はく離接着強さ試験(室温) 1試験片につき 4,620円 化学技術部

左右にスクロールできます

バイオ・食品

一般生菌数測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163401-01 一般生菌数測定 1試料につき 5,060円 化学技術部

左右にスクロールできます

嫌気性菌数検査

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163405-01 嫌気性菌数検査 1試料1測定につき 6,490円 化学技術部

左右にスクロールできます

抗菌性評価試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163407-01 抗菌性評価試験 1試料1測定につき 6,600円 化学技術部

左右にスクロールできます

蛍光顕微鏡観察(生物試料)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163410-01 蛍光顕微鏡観察(生物試料) 1試料1測定につき 6,380円 化学技術部

左右にスクロールできます

抗酸化性測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163413-01 抗酸化性測定(1) 1試料につき 3,960円 化学技術部
E163416-01 抗酸化性測定(2) (H-ORAC法による) 1試料につき 12,760円 化学技術部

左右にスクロールできます

酵素阻害活性測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163419-01 酵素阻害活性測定(1)(複雑なもの) 1試料につき 7,700円 化学技術部
E163422-01 酵素阻害活性測定(2)(容易なもの) 1試料につき 5,500円 化学技術部

左右にスクロールできます

抗糖化性測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163425-01 抗糖化性測定(1)(複雑なもの) 1試料につき 7,370円 化学技術部
E163425-02 抗糖化性測定(2)(容易なもの) 1試料につき 5,500円 化学技術部

左右にスクロールできます

水分定量(常圧乾燥法による)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163428-01 水分定量(常圧乾燥法による) 1試料につき 4,950円 化学技術部

左右にスクロールできます

遊離アミノ酸組成分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163431-01 遊離アミノ酸組成分析 1試料につき 43,120円 化学技術部

左右にスクロールできます

タンパク質定量(Bradford法、Lowry法、BCA法による)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163434-01 タンパク質定量(Bradford法、Lowry法、BCA法による) 1試料につき 4,620円 化学技術部

左右にスクロールできます

タンパク質電気泳動試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163437-01 タンパク質電気泳動試験 1試料につき 7,590円 化学技術部

左右にスクロールできます

脂質定量(ソックスレー抽出法による)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163440-01 脂質定量(ソックスレー抽出法による) 1試料につき 5,720円 化学技術部

左右にスクロールできます

灰分定量(直接灰化法による)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163443-01 灰分定量(直接灰化法による) 1試料につき 5,500円 化学技術部

左右にスクロールできます

総ポリフェノール定量(Folin-Ciocalteu法による)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163446-01 総ポリフェノール定量(Folin-Ciocalteu法による) 1試料につき 4,620円 化学技術部

左右にスクロールできます

総アントシアニン定量(pH differential法による)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163449-01 総アントシアニン定量(pH differential法による) 1試料につき 6,930円 化学技術部

左右にスクロールできます

総プロアントシアニジン定量(DMAC法による)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163452-01 総プロアントシアニジン定量(DMAC法による) 1試料につき 4,620円 化学技術部

左右にスクロールできます

総フラボノイド定量(塩化アルミニウム法による)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163455-01 総フラボノイド定量(塩化アルミニウム法による) 1試料につき 5,060円 化学技術部

左右にスクロールできます

炭水化物定量(フェノール-硫酸法による)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163458-01 炭水化物定量(フェノール-硫酸法による) 1試料につき 5,500円 化学技術部

左右にスクロールできます

リグニン定量(硫酸法による)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163461-01 リグニン定量(硫酸法による) 1試料につき 9,020円 化学技術部

左右にスクロールできます

サフラン試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163464-01 サフラン試験 1試料につき 24,310円 化学技術部

左右にスクロールできます

凍結乾燥

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163467-01 凍結乾燥 (24時間まで) 24時間まで 6,050円 化学技術部
E163467-02 凍結乾燥 (24時間増すごとに) 24時間増すごとに 2,640円 化学技術部

左右にスクロールできます

凍結乾燥(温度制御有)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163470-01 凍結乾燥(温度制御有) (24時間まで) 24時間まで 11,770円 化学技術部
E163470-02 凍結乾燥(温度制御有) (24時間増すごとに) 24時間増すごとに 8,140円 化学技術部

左右にスクロールできます

冷却遠心分離

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163473-01 冷却遠心分離 1時間まで 5,390円 化学技術部
E163473-02 冷却遠心分離 1時間増 1時間増すごとに (E163473-01に適用) 5,060円 化学技術部

左右にスクロールできます

試料調製

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163476-01 試料調製(1)(簡易なもの) E163401-01~E163473-01に適用 1,760円 化学技術部
E163476-02 試料調製(2)(基本的なもの) E163401-01~E163473-01に適用 3,630円 化学技術部
E163476-03 試料調製(3)(複雑なもの) E163401-01~E163473-01に適用 7,150円 化学技術部
E163476-04 試料調製(4)(困難なもの) E163401-01~E163473-01に適用 10,890円 化学技術部

左右にスクロールできます

超臨界炭酸ガス抽出

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163479-01 超臨界炭酸ガス抽出 1試料、30分間につき 14,300円 化学技術部
E163479-02 超臨界炭酸ガス抽出 30分増 30分増すごとに(E163479-01に適用) 3,850円 化学技術部
E163482-01 エントレーナー使用(超臨界炭酸ガス抽出) 1試料、30分間につき(E163479-01に適用) 4,290円 化学技術部
E163485-01 コールドトラップ使用(超臨界炭酸ガス抽出) 1試料、30分間につき(E163479-01に適用) 2,200円 化学技術部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E263401-01 蛍光顕微鏡(生物試料) サーモフィッシャーサイエンティフィック AMF5000 2,640円 化学技術部
E263404-01 冷却遠心機 エッペンドルフ・ハイマック・テクノロジーズ CR21N 1,760円 化学技術部
E263407-01 濃縮機(遠心式濃縮機) タイテック VC-96N 110円 化学技術部
E263410-01 フレンチプレス細胞破砕機 アミンコ FA078 440円 化学技術部
E263413-01 マルチ検出モードプレートリーダー テカンジャパン Infinite200Pro 1,430円 化学技術部

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寸法測定・形状測定

三次元座標測定(接触式測定)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163701-01 三次元座標測定(接触式測定) 1時間当たり 18,480円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

三次元座標測定(光学式測定)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163704-01 三次元座標測定(光学式測定) 1時間当たり 8,470円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

三次元座標測定(3Dデジタイザ)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163707-01 三次元座標測定(3Dデジタイザ) 1時間当たり 7,700円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

表面粗さ測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163710-01 表面粗さ測定 1試料1ヶ所につき 1,430円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

表面形状測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E163713-01 表面形状測定 1試料1ヶ所につき 1,870円 情報・生産技術部
E163713-02 形状評価 1寸法につき 220円 情報・生産技術部

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機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E263701-01 万能測定顕微鏡 カールツァイス UMM300/100 2,090円 情報・生産技術部
E263704-01 表面形状測定装置 東京精密 サーフコムNEX241 SD2-13 1,980円 情報・生産技術部
K263701-01 表面粗さ形状測定機 [サーフコム 550A]   東京精密         サーフコム550A 1,430円 川崎技術支援部

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非破壊検査

X線透過試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164001-01 X線透過試験 1時間当たり  7,590円 機械・材料技術部

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X線CT撮影

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164004-01 X線CT撮影 1測定につき  33,440円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

高出力高精細X線CT撮影

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164007-01 高出力高精細X線CT撮影 1時間当たり  16,830円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

非破壊超音波映像撮影

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164010-01 非破壊超音波映像撮影 1時間当たり  9,020円 電子技術部
E164010-02 非破壊超音波映像撮影(データ解析のみ) 1解析当たり  3,520円 電子技術部

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マイクロフォーカスX線検査装置

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K164001-01 マイクロフォーカスX線検査 30分以内 7,040円 川崎技術支援部
K164001-02 マイクロフォーカスX線検査 追加 追加15分当たり  3,080円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E264001-01 X線透視装置 島津製作所 SMX-2000 4,290円 機械・材料技術部
E264004-01 X線CTスキャン装置 ユニハイトシステム XVA-160 Noix+Presto 13,310円 機械・材料技術部
K264001-01 マイクロフォーカスX線検査装置 [MXT-160UU](30分以内) メディエックステック  MXT-160UU 4,070円 川崎技術支援部
K264001-02 マイクロフォーカスX線検査装置 [MXT-160UU](追加15分当たり) メディエックステック  MXT-160UU 1,650円 川崎技術支援部

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撮影

高速度カメラ撮影

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164301-01 高速度カメラ撮影 1時間当たり 6,050円 情報・生産技術部
E164301-02 高速度カメラ撮影(アナログ波形データ収集装置併用) 1時間当たり 6,490円 情報・生産技術部

左右にスクロールできます

音響

時間波形分析(振動)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164601-01 時間波形分析(振動) 1分析につき 3,740円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

周波数分析(振動)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164604-01 周波数分析(振動) 1分析につき 5,500円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

騒音測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164607-01 騒音測定 1測定につき 2,750円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

オクターブ分析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164610-01 オクターブ分析 1分析につき 3,300円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

時間波形分析(音)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164613-01 時間波形分析(音) 1分析につき 3,630円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

周波数分析(音)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164616-01 周波数分析(音) 1分析につき 5,500円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

音響パワーレベル測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164619-01 音響パワーレベル測定 1測定につき 11,110円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

音圧分布測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164622-01 音圧分布測定 1測定につき 16,610円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

音質評価解析

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164625-01 音質評価解析 1測定につき 6,270円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

音響インピーダンス及び伝搬定数測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164628-01 音響インピーダンス及び伝搬定数測定 1測定につき 7,920円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

垂直入射吸音率測定

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164631-01 垂直入射吸音率測定 1測定につき 5,170円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E264601-01 簡易半無響室 小野測器  1,650円 機械・材料技術部
E264604-01 音響インテンシティ測定装置 小野測器 CF6400INT/MOD 11,110円 機械・材料技術部
E264607-01 音質評価システム 小野測器 WS-5160 3,960円 機械・材料技術部
E264610-01 垂直入射吸音率測定システム 日本音響エンジニアリング  WinZacMTX 1,540円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

温湿度評価

恒温恒湿槽(低湿度対応,PDL)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164907-01 恒温恒湿槽 (低湿度対応,PDL) 8時間まで 17,380円 電子技術部
E164907-02 恒温恒湿槽 (低湿度対応,PDL) 8時間増 8時間増すごとに 4,070円 電子技術部

左右にスクロールできます

恒温恒湿槽

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164901-01 恒温恒湿槽 24時間まで 24,090円 電子技術部
E164901-02 恒温恒湿槽 24時間増 24時間増すごとに 9,680円 電子技術部

左右にスクロールできます

恒温恒湿槽(大、150℃対応)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164904-01 恒温恒湿槽(大、150℃対応) 24時間まで 35,750円 電子技術部
E164904-02 恒温恒湿槽(大、150℃対応) 24時間増 24時間増すごとに 19,140円 電子技術部

左右にスクロールできます

ハイパワー恒温恒湿槽

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164910-01 ハイパワー恒温恒湿槽 8時間まで 17,490円 電子技術部
E164910-02 ハイパワー恒温恒湿槽 8時間増 8時間増すごとに 5,280円 電子技術部

左右にスクロールできます

小型恒温恒湿槽(SH,SU600番台)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164913-01 小型恒温恒湿槽(SH,SU600番台) 24時間まで 16,170円 電子技術部
E164913-02 小型恒温恒湿槽(SH,SU600番台) 24時間増 24時間増すごとに 5,940円 電子技術部

左右にスクロールできます

小型恒温恒湿槽 (SH,SU200番台)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164916-01 小型恒温恒湿槽(SH,SU200番台) 24時間まで 13,090円 電子技術部
E164916-02 小型恒温恒湿槽(SH,SU200番台) 24時間増 24時間増すごとに 4,730円 電子技術部

左右にスクロールできます

高温槽

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164919-01 高温槽 24時間まで 13,750円 電子技術部
E164919-02 高温槽 24時間増 24時間増すごとに 6,710円 電子技術部

左右にスクロールできます

冷熱衝撃試験(大)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164922-01 冷熱衝撃試験(大) 8時間まで 16,280円 電子技術部
E164922-02 冷熱衝撃試験(大) 8時間増 8時間増すごとに 8,250円 電子技術部

左右にスクロールできます

冷熱衝撃試験(中)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164925-01 冷熱衝撃試験(中) 8時間まで 12,100円 電子技術部
E164925-02 冷熱衝撃試験(中) 8時間増 8時間増すごとに 6,050円 電子技術部

左右にスクロールできます

冷熱衝撃試験(中・TSA)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164928-01 冷熱衝撃試験(中・TSA) 8時間まで 14,520円 電子技術部
E164928-02 冷熱衝撃試験(中・TSA) 8時間増 8時間増すごとに 7,040円 電子技術部

左右にスクロールできます

冷熱衝撃試験(中・ハイパワータイプ)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164931-01 冷熱衝撃試験(中・ハイパワータイプ) 8時間まで 15,510円 電子技術部
E164931-02 冷熱衝撃試験(中・ハイパワータイプ) 8時間増 8時間増すごとに 7,700円 電子技術部

左右にスクロールできます

プレッシャークッカー試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164934-01 プレッシャークッカー試験 24時間まで 19,800円 電子技術部
E164934-02 プレッシャークッカー試験 24時間増 24時間増すごとに 12,210円 電子技術部

左右にスクロールできます

HAST試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164937-01 HAST試験 24時間まで 20,020円 電子技術部
E164937-02 HAST試験 24時間増 24時間増すごとに 13,090円 電子技術部

左右にスクロールできます

人工気象室(小型)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164940-01 人工気象室(小型) 1時間ごとに 5,280円 化学技術部

左右にスクロールできます

人工気象室(大型)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E164943-01 人工気象室(大型) 1時間ごとに 8,360円 化学技術部
E164946-01 日射装置 1時間ごとに
(人工気象室(大型)の料金に加算)
6,710円 化学技術部

左右にスクロールできます

恒温恒湿槽(中)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K164901-01 恒温恒湿槽(中) 24時間まで 22,440円 川崎技術支援部
K164901-02 恒温恒湿槽(中) 24時間増 24時間増すごとに 9,020円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

恒温恒湿槽(小)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K164904-01 恒温恒湿槽(小) 24時間まで 18,370円 川崎技術支援部
K164904-02 恒温恒湿槽(小) 24時間増 24時間増すごとに 6,930円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

恒温槽

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K164907-01 恒温槽 24時間まで 12,210円 川崎技術支援部
K164907-02 恒温槽 24時間増 24時間増すごとに 6,270円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

プレッシャークッカー試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K164910-01 プレッシャークッカー試験 24時間まで 19,800円 川崎技術支援部
K164910-02 プレッシャークッカー試験 24時間増 24時間増すごとに 12,210円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

冷熱衝撃試験 (小)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K164913-01 冷熱衝撃試験 (小) 8時間まで 10,780円 川崎技術支援部
K164913-02 冷熱衝撃試験 (小) 8時間増 8時間増すごとに 5,610円 川崎技術支援部

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機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E264901-01 人工気象室 タバイエスぺック TBL-9W4YPX 14,190円 化学技術部
K264901-01 恒温槽(室温~300℃) [PVH-110M]  エスペック  PVH-110M 660円 川崎技術支援部
K264904-01 恒温恒湿槽(小)(-40~150℃) [ETAC TH411HA] 楠本化成  ETAC TH411HA 770円 川崎技術支援部
K264907-01 恒温恒湿槽(中)(-40~150℃) [ETAC FX424P]  楠本化成  ETAC FX424P 1,210円 川崎技術支援部
K264910-01 恒温恒湿槽(中)(-40~150℃) [ETAC FX412N-E] 楠本化成  FX412N-E 1,100円 川崎技術支援部
K264913-01 プレッシャークッカー [ETAC PM420]  楠本化成  ETAC PM420 990円 川崎技術支援部
K264916-01 冷熱衝撃試験機 (小) [ETAC TS100]  楠本化成  ETAC TS100 1,430円 川崎技術支援部
K264919-01 冷熱衝撃試験機 (小)[ETAC NT1050W] 楠本化成  ETAC NT1050W 1,430円 川崎技術支援部
K264922-01 超低温恒温恒湿槽(-70~150℃)[PSL-2KPH]  エスペック PSL-2KPH 1,100円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

耐候性・耐食性試験

促進耐候性試験(キセノン)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E165201-01 促進耐候性試験(キセノン) 標準条件(放射照度60W/㎡、BPT63℃、スプレー18分/120分)の場合 1試料50時間につき 20,460円 化学技術部
E165201-02 試料取付費 1ホルダーにつき (E165201-01に適用) 3,300円 化学技術部
E165201-03 試料抜取り費 1ホルダーにつき (E165201-01に適用) 1,650円 化学技術部

左右にスクロールできます

耐光試験(カーボンアーク)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E165204-01 耐光試験(カーボンアーク) 1試料につき20時間 1,760円 化学技術部

左右にスクロールできます

塩水噴霧試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E165207-01 塩水噴霧試験 1試料24時間につき  2,530円 化学技術部
E165207-02 試験途中の試料観察(槽からの取り出し無し) 1回につき(E165207-01に適用) 440円 化学技術部
E165207-03 試験途中の試料観察(槽からの取り出し有り) 1試料1回につき(E165207-01に適用) 1,430円 化学技術部
E165207-04 試験途中の試料洗浄 1試料1回につき(E165207-03に適用) 660円 化学技術部
E165207-05 試験途中の試料抜き去り 1試料1回につき(E165207-01に適用) 440円 化学技術部

左右にスクロールできます

紫外線照射試験(Atlas UV test)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K165201-01 紫外線照射試験 [Atlas UV test] 24時間につき 6,270円 川崎技術支援部
K165201-02 紫外線照射試験 [Atlas UV test] 連続100時間 連続運転100時間につき 23,210円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

紫外線照射試験(UV-B, C / Atlas UV test)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K165204-01 紫外線照射試験 UV-B, C [Atlas UV test]  24時間につき 7,150円 川崎技術支援部
K165204-02 紫外線照射試験 UV-B, C [Atlas UV test] 連続100時間 連続運転100時間につき 24,970円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

小型Xe耐光試験機(東洋精機製作所 Atlas SUNTEST XLS+)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
K165207-01 小型Xe耐光試験 [Atlas SUNTEST XLS+] 24時間につき 7,700円 川崎技術支援部
K165207-02 小型Xe耐光試験 [Atlas SUNTEST XLS+] 連続100時間 連続運転100時間につき 26,950円 川崎技術支援部

左右にスクロールできます

疲労・振動耐久性

製品強度試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E165501-01 製品強度試験(1)(簡単な試験) 1試験につき 8,690円 機械・材料技術部
E165501-02 製品強度試験(2)(標準的な試験) 1試験につき 15,510円 機械・材料技術部
E165501-03 製品強度試験(3)(複雑な試験) 1試験につき 24,090円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

疲労試験 大型構造物

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E165504-01 疲労試験 大型構造物 8時間以内 1試験につき 23,540円 機械・材料技術部
E165504-02 疲労試験 8時間増(E165504-01に適用) 8時間を超えて8時間増すごとに 8,580円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

振動試験

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E165507-01 振動試験 1時間当たり 8,690円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

振動試験(大型の試験機によるもの)

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E165510-01 振動試験(大型の試験機によるもの) 1時間当たり 11,110円 機械・材料技術部

左右にスクロールできます

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E265501-01 振動試験機 IMV VS-2000A-140T 5,280円 機械・材料技術部
E265504-01 振動試験機(大型) IMV i250/SA5M 7,370円 機械・材料技術部

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その他

成績書の複本・データ技術開発受託報告書等の交付

成績書の複本・データ等の交付

 
No. 項目 単位 料金 担当部名
E170101-01 成績書の複本・データ等の交付 1通につき
(写真を含む場合は別に加算することができる)
297円
K170101-01 成績書の複本・データ等の交付 1通につき
(写真を含む場合は別に加算することができる)
297円 川崎技術支援部
K170104-01 技術開発受託報告書の作成(データ処理) 基本単位 (難易度により加算あり) 2,970円 川崎技術支援部
K170104-02 技術開発受託報告書の作成(考察) 基本単位 (難易度により加算あり) 6,050円 川崎技術支援部
K170104-03 技術開発受託報告書の複本の交付 1通につき(写真を含む場合は別に加算することができる) 297円 川崎技術支援部

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研究生の指導

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E270401-01 研究生の指導 1人1日につき  1,100円
E270401-02 研究生の指導 1人増 研究生1人増すごとに   550円
K270401-01 機器操作指導料(開放利用時に適用) 15分当たり 立会人1人、15分当たり  3,080円 川崎技術支援部

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製品開発室

機器使用

  • 特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
 
No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
E270701-01 製品開発室 実験棟 1・2・4階 88円 事業化支援部
E270704-01 ドラフトチャンバー(製品開発室) 実験棟 1階 220円 事業化支援部

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