料金表 PRICE LIST
KISTECに試験を依頼される際と、機器をご利用になる際の料金をお探しいただけます。
料金表に掲載の項目のほか、ご相談内容に応じて、料金表に無い試験を算定し、ご提示できる場合もございます。お気軽に無料技術相談フォームよりご相談ください。
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ご利用上の注意
- 料金は全て消費税を含んでいます。
- この料金表に掲げる以外に実施可能な項目及び使用可能な設備機器もあります。詳細は担当各部へお問い合わせください。
- 機器の更新等により項目及び設備機器名並びに料金の額を変更する場合があります。
- 担当部名欄のＥ及びＫの表示は、同一試験項目の各拠点の該当する料金番号を示しています。 (Ｅ 海老名本部、Ｋ 溝の口支所)
材料分析
定量分析
定量分析（Ａ） （容易なもの）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1810 | 定量分析（Ａ） （容易なもの） | １試料，１成分につき（容易なもの） | 10,450円 | 化学技術部 |
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定量分析（Ｂ）（複雑なもの）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1820 | 定量分析（Ｂ） （複雑なもの） | １試料，１成分につき（複雑なもの） | 12,650円 | 化学技術部 |
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炭素・硫黄分析装置による定量分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1821 | 炭素・硫黄分析装置による定量分析（Ａ） （容易なもの） | １試料，１成分につき（容易なもの） | 9,130円 | 化学技術部 |
| E1822 | 炭素・硫黄分析装置による定量分析（Ｂ） （複雑なもの） | １試料，１成分につき（複雑なもの） | 13,530円 | 化学技術部 |
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原子吸光分析法による定量分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1831 | 原子吸光分析法による定量分析（Ａ） （容易なもの） | １試料，１成分につき（容易なもの） | 9,240円 | 化学技術部 |
| E1832 | 原子吸光分析法による定量分析（Ｂ） （複雑なもの） | １試料，１成分につき（複雑なもの） | 13,970円 | 化学技術部 |
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ＩＣＰ発光分光分析法による定量分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1891 | ICP発光分光分析法による定量分析（Ａ） （容易なもの） | １試料，１成分につき（容易なもの） | 9,130円 | 化学技術部 |
| E1892 | ICP発光分光分析法による定量分析（Ｂ） （複雑なもの） | １試料，１成分につき（複雑なもの） | 13,640円 | 化学技術部 |
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ＩＣＰ発光分光分析法による定性分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1911 | ICP発光分光分析法による定性分析 | １試料につき，基本１0元素まで | 20,790円 | 化学技術部 |
| E1921 | ICP発光分光分析法による定性分析 1元素増 | １試料につき，１元素増すごとに | 1,980円 | 化学技術部 |
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カールフィッシャー水分測定（直接法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1930 | カールフィッシャー水分測定（直接法） | １条件，１試料につき | 12,320円 | 化学技術部 |
| E1931 | カールフィッシャー水分測定（直接法） 1試料増 | １試料増すごとに | 7,040円 | 化学技術部 |
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カールフィッシャー水分測定（加熱気化法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1932 | カールフィッシャー水分測定（加熱気化法） | １条件，１試料につき | 15,070円 | 化学技術部 |
| E1933 | カールフィッシャー水分測定（加熱気化法） 1試料増 | １試料増すごとに | 10,340円 | 化学技術部 |
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分光蛍光光度計試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2110 | 分光蛍光光度計試験 | １スペクトルにつき | 9,680円 | 化学技術部 |
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ＣＨＮ元素分析装置による定量分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2610 | CHN元素分析装置による定量分析 | １試料につき | 18,700円 | 化学技術部 |
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水質試験（Ａ）（容易なもの）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4010 | 水質試験（Ａ） （容易なもの） | １項目につき （容易なもの） | 6,710円 | 化学技術部 |
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水質試験（Ｂ）（複雑なもの）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4020 | 水質試験（Ｂ） （複雑なもの） | １項目につき （複雑なもの） | 10,560円 | 化学技術部 |
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溶出検液作成
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4030 | 溶出検液作成（Ａ） （６成分以下) | １試料につき （6成分以下) | 4,840円 | 化学技術部 |
| E4040 | 溶出検液作成（Ｂ） （７成分以上） | １試料につき （7成分以上） | 9,020円 | 化学技術部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7170 | 分光蛍光光度計 | 日立 F-4010 | 4,400円 | 化学技術部 |
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ガスクロマトグラフ成分分析
ガスクロマトグラフによる分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2225 | ガスクロマトグラフによる分析 | １試料につき | 11,220円 | 化学技術部 |
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ガスクロマトグラフ定量分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2235 | ガスクロマトグラフ定量分析 | １試料１成分につき | 16,060円 | 化学技術部 |
| E2236 | ガスクロマトグラフ定量分析 1成分増 | １成分増すごとに | 6,490円 | 化学技術部 |
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ヘッドスペースガスクロマトグラフによる分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2265 | ヘッドスペースガスクロマトグラフによる分析 | １試料につき | 16,500円 | 化学技術部 |
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ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2275 | ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析 | １試料１成分につき | 22,770円 | 化学技術部 |
| E2276 | ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析 1成分増 | １成分増すごとに | 6,490円 | 化学技術部 |
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ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2310 | ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ） | １試料１成分につき | 44,770円 | 化学技術部 |
| E2311 | ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ） 定性分析 1成分増 | １成分増すごとに | 5,720円 | 化学技術部 |
| E2312 | ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ） 定量分析 1成分増 | １成分増すごとに | 6,710円 | 化学技術部 |
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ヘッドスペースＧＣＭＳ分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2330 | ヘッドスペースＧＣＭＳ分析 | １試料１成分につき | 57,860円 | 化学技術部 |
| E2331 | ヘッドスペースＧＣＭＳ分析 定性分析 1成分増 | １成分増すごとに | 5,720円 | 化学技術部 |
| E2332 | ヘッドスペースＧＣＭＳ分析 定量分析 1成分増 | １成分増すごとに | 6,710円 | 化学技術部 |
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サーマルデソープションＧＣＭＳ分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2340 | サーマルデソープションＧＣＭＳ分析 | １試料１成分につき | 62,150円 | 化学技術部 |
| E2341 | サーマルデソープションＧＣＭＳ分析 定性分析 1成分増 | １成分増すごとに | 5,720円 | 化学技術部 |
| E2342 | サーマルデソープションＧＣＭＳ分析 定量分析 1成分増 | １成分増すごとに | 6,710円 | 化学技術部 |
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化学イオン化（ＣＩ）法によるＧＣＭＳ分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2350 | 化学イオン化（ＣＩ）法によるＧＣＭＳ分析 | １試料につき （E2310, E2330, E2340に適用） | 12,980円 | 化学技術部 |
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熱分解GCMS分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2360 | 熱分解ＧＣＭＳ分析 | １試料１成分につき | 58,850円 | 化学技術部 |
| E2361 | 熱分解ＧＣＭＳ分析 定性分析 1成分増 | １成分増すごとに | 5,720円 | 化学技術部 |
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液体クロマトグラフ成分分析
イオンクロマトグラフ分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2211 | イオンクロマトグラフ分析（１） （一般的なもの） | １測定につき | 17,600円 | 化学技術部 |
| E2212 | イオンクロマトグラフ分析（２） （特殊なもの） | １測定につき | 22,440円 | 化学技術部 |
| E2215 | 試料調製（溶出前処理） | E2211, E2212に適用 | 4,730円 | 化学技術部 |
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高速液体クロマトグラフ分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2281 | 高速液体クロマトグラフ分析 （分析条件検討を含まない） | １試料１成分につき | 12,320円 | 化学技術部 |
| E2282 | 高速液体クロマトグラフ分析 （簡単な分析条件を含む） | １試料１成分につき | 31,460円 | 化学技術部 |
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液体クロマトグラフ－質量分析（飛行時間型）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2290 | 液体クロマトグラフ－質量分析 （飛行時間型） （分析条件検討を含まない） |
１試料１成分につき | 47,960円 | 化学技術部 |
| E2291 | 液体クロマトグラフ－質量分析 （飛行時間型） （簡単な分析条件の検討） |
１試料につき （E2290に適用） | 25,520円 | 化学技術部 |
| E2292 | 液体クロマトグラフ－質量分析 （飛行時間型） 定性分析1成分増 |
１成分増すごとに | 4,510円 | 化学技術部 |
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液体クロマトグラフ－質量分析（四重極型）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2294 | 液体クロマトグラフ－質量分析 （四重極型） （分析条件検討を含む） |
１試料１成分につき | 41,360円 | 化学技術部 |
| E2295 | 液体クロマトグラフ－質量分析 （四重極型） （分析条件検討を含まない） |
１試料１成分につき | 21,010円 | 化学技術部 |
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固体・表面分析
蛍光Ｘ線法による微小部定性分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1841 | 蛍光Ｘ線法（XRF）による微小部定性分析 | １試料，１ヶ所につき | 9,570円 | 化学技術部 |
| E1842 | 蛍光Ｘ線法（XRF）による微小部定性分析 1条件増 | １条件増すごとに | 3,520円 | 化学技術部 |
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蛍光Ｘ線定性分析（波長分散方式）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1860 | 蛍光Ｘ線定性分析（XRF）（波長分散方式） | １試料につき | 22,440円 | 化学技術部 |
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X線光電子分光分析（XPS）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1882 | Ｘ線光電子分光分析（XPS） （簡単なもの) | １試料１ヶ所につき | 18,150円 | 機械・材料技術部 |
| E1884 | Ｘ線光電子分光分析（XPS） （簡単なもの) 条件増 | １条件増すごとに | 8,250円 | 機械・材料技術部 |
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X線光電子分光分析（走査型・XPS）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1980 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・ワイドスキャンのみ） | １試料１ヶ所につき | 15,840円 | 機械・材料技術部 |
| E1982 | Ｘ線光電子分光分析 （走査型・XPS・ワイドおよびナロースキャン） |
１試料１ヶ所につき（6元素まで） | 23,540円 | 機械・材料技術部 |
| E1984 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・面分析，線分析） | １試料１ヶ所につき（5元素まで） | 24,640円 | 機械・材料技術部 |
| E1986 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・深さ方向分析） | １試料１ヶ所につき（6元素まで） | 37,180円 | 機械・材料技術部 |
| E1990 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS） 条件増 | １条件増すごとに | 5,720円 | 機械・材料技術部 |
| E1992 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS） 元素増（１） | １元素増すごとに（E１982, E１984に適用） | 4,950円 | 機械・材料技術部 |
| E1994 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS） 元素増（２） | １元素増すごとに（E１986に適用） | 7,370円 | 機械・材料技術部 |
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電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2570 | 電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA） | １ヶ所につき | 29,370円 | 機械・材料技術部 |
| E2581 | エネルギー分散型X線分析（EDS・FE-EPMAによる） | １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） | 7,260円 | 機械・材料技術部 |
| E2582 | 表面観察（FE-EPMAによる） １ヶ所増 | 同一試料で１ヶ所増すごとに（E2570, E2580に適用） | 4,510円 | 機械・材料技術部 |
| E2590 | 電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA） 追加分析 | １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） | 9,130円 | 機械・材料技術部 |
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微小部蛍光Ｘ線分析（XRF）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1210 | 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） | １試料１条件につき | 7,590円 | 川崎技術支援部 |
| K1211 | 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 条件追加 | １条件追加につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
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微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1212 | 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析 | 面分析１条件につき（５元素まで） | 12,100円 | 川崎技術支援部 |
| K1213 | 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析 条件追加 | 面分析１条件追加につき | 2,530円 | 川崎技術支援部 |
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Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）表面分析（ワイドスキャンのみ）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5002 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ） | １試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ） | 27,610円 | 川崎技術支援部 |
| K5005 | Ｘ線光電子分光分析 （走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ） 追加試料 |
追加１試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ） | 21,780円 | 川崎技術支援部 |
| K5007 | Ｘ線光電子分光分析 （走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ） 条件増 |
１条件増すごとに（ワイドスキャンのみ） | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
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Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）表面分析（ワイドおよびナロースキャン）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5011 | Ｘ線光電子分光分析 （走査型・XPS・表面分析・ワイドおよびナロースキャン） |
１試料１条件につき （ワイドおよびナロースキャン） |
49,060円 | 川崎技術支援部 |
| K5012 | Ｘ線光電子分光分析 （走査型・XPS・表面分析・ワイドおよびナロースキャン） 条件増 |
１条件増すごとに（面分析、状態分析加算等） | 11,330円 | 川崎技術支援部 |
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Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）深さ方向分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5010 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・深さ方向分析） | １試料１条件につき （主成分のみ、深さ0.2μmまで） |
82,940円 | 川崎技術支援部 |
| K5015 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・深さ方向分析） 条件増 | １条件増すごとに | 11,330円 | 川崎技術支援部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K2210 | 微小部蛍光Ｘ線分析装置（XRF） [SEA6000VX HSFinder] | SII社 SEA6000VX HSFinder | 6,050円 | 川崎技術支援部 |
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有機物定性分析
フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2021 | フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR） | １スペクトルにつき | 20,350円 | 化学技術部、機械・材料技術部 |
| E2023 | フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR）用微小試料調製 | １試料につき | 3,410円 | 化学技術部、機械・材料技術部 |
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顕微レーザーラマン分光分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2080 | 顕微レーザーラマン分光分析 | １試料１ヶ所につき | 20,460円 | 機械・材料技術部 |
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飛行時間型質量分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2631 | 飛行時間型質量分析 | １試料１測定につき | 29,810円 | 化学技術部 |
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電子スピン共鳴分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2651 | 電子スピン共鳴分析（Ａ）（基本測定） | １試料１スペクトルにつき | 22,220円 | 機械・材料技術部 |
| E2652 | 電子スピン共鳴分析（Ｂ）（特殊測定・定量） | １試料１スペクトルにつき | 38,940円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5050 | フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR） 簡易な測定 | １試料１条件につき | 10,230円 | 川崎技術支援部 |
| K5055 | フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR） | １試料１条件につき | 20,350円 | 川崎技術支援部 |
| K5056 | フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR） 条件追加 | １条件追加につき | 8,030円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K6050 | フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR） [FT/IR-6300FV・IRT-7000] |
日本分光 FT/IR-6300FV・IRT-7000 | 9,680円 | 川崎技術支援部 |
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X線構造解析
X線回折試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2510 | Ｘ線回折試験 （Ι） 粉末X線回折 | １試料につき | 24,090円 | 電子技術部 |
| E2520 | Ｘ線回折試験 （Ⅱ） 高度な粉末Ｘ線回折・薄膜X線回折 | １試料につき | 36,630円 | 電子技術部 |
| E2530 | Ｘ線回折試験 （Ⅲ） 高度な薄膜Ｘ線回折 | １試料につき | 56,650円 | 電子技術部 |
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試料調製
試料調製
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1801 | 試料調製（１）（一般的な前処理） | E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 | 10,890円 | 化学技術部 |
| E1802 | 試料調製（２）（複雑な前処理） | E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 | 14,300円 | 化学技術部 |
| E1803 | 試料調製（３）（困難な前処理） | E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 | 21,230円 | 化学技術部 |
| E1804 | 試料調製（４）（非常に困難な前処理） | E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 | 29,150円 | 化学技術部 |
| E1805 | 切粉作製（Ａ）（加工が容易なもの） | E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 | 3,080円 | 化学技術部 |
| E1806 | 切粉作製（Ｂ）（加工がやや難しいもの） | E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 | 10,560円 | 化学技術部 |
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材料観察
外観観察
デジタルマイクロスコープ観察 [HRX-01]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0101 | デジタルマイクロスコープ観察 [HRX-01] | １試料につき | 2,640円 | 機械・材料技術部 |
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デジタルマイクロスコープ撮影 [HRX-01]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0102 | デジタルマイクロスコープ撮影 [HRX-01] | １撮影につき | 1,100円 | 機械・材料技術部 |
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金属組織写真撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0031 | 金属組織写真撮影 | 写真１枚につき | 11,110円 | 機械・材料技術部 |
| E0070 | 写真撮影箇所増し （E0031に適用） | 同一試料で１ヶ所増すごとに | 2,860円 | 機械・材料技術部 |
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実体顕微鏡写真撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0055 | 実体顕微鏡写真撮影 | 写真１枚につき | 4,840円 | 機械・材料技術部 |
| E0056 | 実体顕微鏡写真撮影箇所増し （E0055に適用） | 同一試料で１ヶ所増すごとに | 2,090円 | 機械・材料技術部 |
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プラスチック製品の破断面観察
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2940 | プラスチック製品の破断面観察 | １試料につき | 29,150円 | 化学技術部 |
| E2941 | プラスチック製品の破断面写真撮影 | 写真１枚につき（E2940に適用） | 2,970円 | 化学技術部 |
| E2942 | プラスチック製品の破断面写真撮影（倍率変更） | 写真１枚につき（E2941に適用） | 1,430円 | 化学技術部 |
| E2943 | プラスチック製品の外観撮影 | 写真１枚につき（E2940に適用） | 1,430円 | 化学技術部 |
| E2944 | 観察試料作製（１） （標準的なもの） | １試料につき（E2940に適用） | 3,630円 | 化学技術部 |
| E2945 | 観察試料作製（２） （複雑なもの） | １試料につき（E2940に適用） | 7,260円 | 化学技術部 |
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デジタルマイクロスコープ観察 [VHX-600]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1910 | デジタルマイクロスコープ観察 [VHX-600] | 画像１枚につき | 4,180円 | 川崎技術支援部 |
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金属組織写真撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5110 | 金属組織写真撮影 | 写真１枚につき | 11,110円 | 川崎技術支援部 |
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外観写真撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5112 | 外観写真撮影 | 写真１枚につき | 5,720円 | 川崎技術支援部 |
| K5114 | 写真撮影１ヶ所増すごとに | 同一試料で１ヶ所増すごとに | 2,860円 | 川崎技術支援部 |
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顕微鏡試料調製
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5120 | 顕微鏡試料調製（第１種）：容易なもの | １試料につき | 1,980円 | 川崎技術支援部 |
| K5121 | 顕微鏡試料調製（第２種）：標準的なもの | １試料につき | 3,960円 | 川崎技術支援部 |
| K5122 | 顕微鏡試料調製（第３種）：比較的複雑なもの | １試料につき | 7,810円 | 川崎技術支援部 |
| K5123 | 顕微鏡試料調製（第４種）：非常に複雑なもの | １試料につき | 11,550円 | 川崎技術支援部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7150 | デジタルマイクロスコープ | ハイロックス HRX-01 | 1,980円 | 機械・材料技術部 |
| E7020 | 金属顕微鏡 | ニコン X2-T1-NR | 550円 | 機械・材料技術部 |
| E7160 | 顕微鏡 | オリンパス CKX41N-31PHP | 770円 | 化学技術部 |
| K2915 | デジタルマイクロスコープ [VHX-600] （30分当たり） | キーエンス VHX-600 | 1,650円 | 川崎技術支援部 |
| K6110 | 金属顕微鏡 [BX-51] （１時間当たり） | オリンパス光学工業 BX-51 | 1,650円 | 川崎技術支援部 |
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微細構造観察
ハイブリッドレーザー顕微鏡観察
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1145 | ハイブリッドレーザー顕微鏡観察 | １測定１解析につき | 8,690円 | 電子技術部 |
| E1146 | ハイブリッドレーザー顕微鏡観察 １視野追加 | １視野追加につき | 4,290円 | 電子技術部 |
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走査電子顕微鏡写真撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0011 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍以下 | １試料１視野観察につき | 21,120円 | 機械・材料技術部 |
| E0012 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍以下 １視野追加 | １視野追加観察につき | 4,840円 | 機械・材料技術部 |
| E0013 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍を超えて10万倍以下 | １試料１視野観察につき | 30,910円 | 機械・材料技術部 |
| E0014 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍を超えて10万倍以下 １視野追加 | １視野追加観察につき | 9,240円 | 機械・材料技術部 |
| E0015 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの | １試料１視野観察につき | 52,250円 | 機械・材料技術部 |
| E0016 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの １視野追加 | １視野追加観察につき | 14,960円 | 機械・材料技術部 |
| E0017 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10～15視野 | 115,940円 | 機械・材料技術部 | |
| E0018 | 走査電子顕微鏡写真撮影 16～30視野 | 173,910円 | 機械・材料技術部 | |
| E0021 | エネルギー分散型X線分析（EDS） （E0011～E0018、E1790に適用） |
１ヶ所につき | 7,150円 | 機械・材料技術部 |
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電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1790 | 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定 | １視野測定につき | 49,500円 | 機械・材料技術部 |
| E1791 | 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定 １視野追加 |
１視野追加測定につき | 12,760円 | 機械・材料技術部 |
| E0021 | エネルギー分散型X線分析（EDS） （E0011～E0018、E1790に適用） |
１ヶ所につき | 7,150円 | 機械・材料技術部 |
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表面観察（FE-EPMAによる）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2580 | 表面観察（FE-EPMAによる） | １ヶ所につき | 20,350円 | 機械・材料技術部 |
| E2581 | エネルギー分散型X線分析（EDS・FE-EPMAによる） | １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） | 7,260円 | 機械・材料技術部 |
| E2582 | 表面観察（FE-EPMAによる） １ヶ所増 | 同一試料で１ヶ所増すごとに（E2570, E2580に適用） | 4,510円 | 機械・材料技術部 |
| E2590 | 電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA） 追加分析 | １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） | 9,130円 | 機械・材料技術部 |
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走査型プローブ顕微鏡観察
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1780 | 走査型プローブ顕微鏡観察 | 標準１条件１測定につき | 23,320円 | 電子技術部 |
| E1781 | 走査型プローブ顕微鏡観察 １視野追加 | １視野追加につき | 10,780円 | 電子技術部 |
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超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1150 | 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 | １測定１解析につき | 9,020円 | 電子技術部 |
| E1151 | 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 １解析増 | １解析増すごとに | 2,420円 | 電子技術部 |
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走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1010 | 走査電子顕微鏡観察 （電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] ５万倍以下 |
観察倍率５万倍以下 １条件につき | 21,450円 | 川崎技術支援部 |
| K1015 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] ５万倍以下 条件追加 |
観察倍率５万倍以下 １条件追加につき | 4,950円 | 川崎技術支援部 |
| K1020 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] ５万倍を超えて10万倍以下 |
観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 １条件につき |
31,020円 | 川崎技術支援部 |
| K1025 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] ５万倍を超えて10万倍以下 条件追加 |
観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 １条件追加につき |
9,680円 | 川崎技術支援部 |
| K1030 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 10万倍を超えるもの |
観察倍率10万倍を超えるもの １条件につき |
52,470円 | 川崎技術支援部 |
| K1035 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 10万倍を超えるもの 条件追加 |
観察倍率10万倍を超えるもの １条件追加につき |
15,400円 | 川崎技術支援部 |
| K1050 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 10～15視野 |
１試料の観察視野が10～15視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） | 114,400円 | 川崎技術支援部 |
| K1052 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 16～30視野 |
１試料の観察視野が16～30視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） | 170,060円 | 川崎技術支援部 |
| K1055 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 条件追加 |
１条件追加につき | 12,540円 | 川崎技術支援部 |
| K1040 | 走査電子顕微鏡（電界放出型）[S-4800] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） |
１条件追加につき | 15,400円 | 川崎技術支援部 |
| K1041 | 走査電子顕微鏡（電界放出型）[S-4800] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 条件追加 |
１条件追加につき | 4,950円 | 川崎技術支援部 |
| K1042 | 走査電子顕微鏡（電界放出型）[S-4800] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 面分析 |
面分析１条件につき | 16,390円 | 川崎技術支援部 |
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走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[JSM-7800F Prime]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1310 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] ５万倍以下 |
観察倍率５万倍以下１試料１視野観察につき | 21,120円 | 川崎技術支援部 |
| K1315 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] ５万倍以下 １視野追加 |
観察倍率５万倍以下 同一試料において１視野追加観察につき |
4,840円 | 川崎技術支援部 |
| K1320 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] ５万倍を超えて10万倍以下 |
観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 １試料１視野観察につき |
30,910円 | 川崎技術支援部 |
| K1325 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] ５万倍を超えて10万倍以下 １視野追加 |
観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 同一試料において１視野追加観察につき |
9,240円 | 川崎技術支援部 |
| K1330 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] 10万倍を超えるもの |
観察倍率10万倍を超えるもの １試料１視野観察につき |
52,250円 | 川崎技術支援部 |
| K1335 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] 10万倍を超えるもの １視野追加 |
観察倍率10万倍を超えるもの 同一試料において１視野追加観察につき |
14,960円 | 川崎技術支援部 |
| K1392 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] 10～15視野 |
１試料の観察視野が10～15視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） | 115,940円 | 川崎技術支援部 |
| K1395 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] 16～30視野 |
１試料の観察視野が16～30視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） | 173,910円 | 川崎技術支援部 |
| K1342 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] 低真空モード |
低真空モードの使用 | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K1343 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] STEM |
透過像観察機能（STEM）の使用 | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K1340 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] １条件追加 |
１条件追加につき | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K1350 | 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 点分析 |
点分析１視野１箇所につき | 17,380円 | 川崎技術支援部 |
| K1351 | 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 点分析追加 |
点分析同一視野内で１箇所追加につき | 5,170円 | 川崎技術支援部 |
| K1352 | 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 線分析 |
線分析１視野１箇所につき | 23,540円 | 川崎技術支援部 |
| K1353 | 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 線分析追加 |
線分析同一視野内で１箇所追加につき | 8,360円 | 川崎技術支援部 |
| K1354 | 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 面分析 |
面分析１視野につき | 35,860円 | 川崎技術支援部 |
| K1356 | 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS） [JSM-7800F Prime] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 各種データ処理 |
各種データ処理１条件につき | 5,170円 | 川崎技術支援部 |
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分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1440 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 10万倍以下 |
倍率 10万倍以下 １視野につき | 19,470円 | 川崎技術支援部 |
| K1445 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 10万倍以下 １視野増 |
倍率 10万倍以下 １視野増すごとに | 7,040円 | 川崎技術支援部 |
| K1441 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 10万倍を超えて50万倍以下 |
倍率 10万倍を超えて50万倍以下 １視野につき |
25,850円 | 川崎技術支援部 |
| K1446 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 10万倍を超えて50万倍以下 １視野増 |
倍率 10万倍を超えて50万倍以下 １視野増すごとに |
14,080円 | 川崎技術支援部 |
| K1450 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 50万倍を超えて200万倍以下 |
倍率 50万倍を超えて200万倍以下 １視野につき |
35,530円 | 川崎技術支援部 |
| K1455 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 50万倍を超えて200万倍以下 １視野増 |
倍率 50万倍を超えて200万倍以下 １視野増すごとに |
19,470円 | 川崎技術支援部 |
| K1451 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 200万倍を超えるもの |
倍率 200万倍を超えるもの １視野につき | 51,590円 | 川崎技術支援部 |
| K1456 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 200万倍を超えるもの １視野増 |
倍率 200万倍を超えるもの １視野増すごとに | 29,590円 | 川崎技術支援部 |
| K1460 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 試料傾斜調整 |
試料傾斜調整 １条件ごとに | 13,420円 | 川崎技術支援部 |
| K1470 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 制限視野回折 |
制限視野回折 １視野につき | 16,500円 | 川崎技術支援部 |
| K1471 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 微小領域回折 |
微小領域回折 １視野につき | 29,590円 | 川崎技術支援部 |
| K1472 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 明視野像 |
明視野像 １視野につき | 19,470円 | 川崎技術支援部 |
| K1473 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 暗視野像 |
暗視野像 １視野につき | 35,530円 | 川崎技術支援部 |
| K1510 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 点分析 |
点分析 １試料１測定点につき |
28,710円 | 川崎技術支援部 |
| K1515 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 点分析追加 |
点分析 同一試料において１測定点追加につき |
6,160円 | 川崎技術支援部 |
| K1540 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 定量分析 |
定量分析 １試料１測定点につき |
24,970円 | 川崎技術支援部 |
| K1545 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 定量分析追加 |
定量分析 同一試料において１測定点追加につき |
7,370円 | 川崎技術支援部 |
| K1520 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 線分析 |
線分析 １測定５元素までごとに |
68,090円 | 川崎技術支援部 |
| K1530 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 面分析 |
面分析 １視野５元素ごとに、または２時間につき |
109,230円 | 川崎技術支援部 |
| K1550 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] データ処理 | 各種データ処理 １条件につき | 12,320円 | 川崎技術支援部 |
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分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/STEM/EDS）[Talos F200X]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1740 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 10万倍以下 |
観察倍率10万倍以下 １視野につき |
19,690円 | 川崎技術支援部 |
| K1741 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 10万倍以下 １視野追加 |
観察倍率10万倍以下 同条件１視野追加につき |
9,900円 | 川崎技術支援部 |
| K1745 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 10万倍を超えて50万倍以下 |
観察倍率10万倍を超えて50万倍以下 １視野につき |
26,840円 | 川崎技術支援部 |
| K1746 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 10万倍を超えて50万倍以下 １視野追加 |
観察倍率10万倍を超えて50万倍以下 同条件１視野追加につき |
14,850円 | 川崎技術支援部 |
| K1750 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 50万倍を超えて200万倍以下 |
観察倍率50万倍を超えて200万倍以下 １視野につき |
35,530円 | 川崎技術支援部 |
| K1751 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 50万倍を超えて200万倍以下 １視野追加 |
観察倍率50万倍を超えて200万倍以下 同条件１視野追加につき |
19,690円 | 川崎技術支援部 |
| K1755 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 200万倍を超えるもの |
観察倍率200万倍を超えるもの １視野につき |
51,370円 | 川崎技術支援部 |
| K1756 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 200万倍を超えるもの １視野追加 |
観察倍率200万倍を超えるもの 同条件１視野追加につき |
30,690円 | 川崎技術支援部 |
| K1760 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 試料傾斜調整 |
試料傾斜調整 １条件につき |
13,530円 | 川崎技術支援部 |
| K1761 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 制限視野回折 |
制限視野回析 １視野につき |
17,160円 | 川崎技術支援部 |
| K1768 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] 条件追加 |
１条件追加につき | 12,210円 | 川崎技術支援部 |
| K1770 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[Talos F200X] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）面分析 |
面分析 １視野５元素ごとに、または２時間につき |
108,900円 | 川崎技術支援部 |
| K1410 | TEM試料調製 分散法 ふりかけ法 | ふりかけ法 １試料につき | 6,600円 | 川崎技術支援部 |
| K1411 | TEM試料調製 分散法 懸濁法 | 懸濁法 １試料につき | 13,090円 | 川崎技術支援部 |
| K1425 | TEM試料調製 低エネルギーイオンミリング （ジェントルミル） |
１試料１条件につき | 14,850円 | 川崎技術支援部 |
| K1432 | TEM試料調製 電子染色 | １試料につき | 29,260円 | 川崎技術支援部 |
| K1433 | TEM試料調製 樹脂包埋 | １試料につき | 14,190円 | 川崎技術支援部 |
| K1620 | TEM試料調製 FIB-リフトアウト法 | １試料につき | 88,440円 | 川崎技術支援部 |
| K1621 | TEM試料調製 FIB-リフトアウト法 条件追加 | １条件追加につき | 32,120円 | 川崎技術支援部 |
| K1625 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 低加速ガリウムイオン |
低加速ガリウムイオン仕上げ １試料につき |
122,100円 | 川崎技術支援部 |
| K1663 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 低加速ガリウムイオン 試料作製のみ |
低加速ガリウムイオン仕上げ １試料につき（試料作製のみ） |
134,640円 | 川崎技術支援部 |
| K1626 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 低加速ガリウムイオン条件追加 |
低加速ガリウムイオン仕上げ １条件追加につき |
32,450円 | 川崎技術支援部 |
| K1627 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 アルゴンイオンミリング |
アルゴンイオンミリング仕上げ １試料につき |
137,500円 | 川崎技術支援部 |
| K1666 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 アルゴンイオンミリング 試料作製のみ |
アルゴンイオンミリング仕上げ １試料につき（試料作製のみ） |
149,380円 | 川崎技術支援部 |
| K1628 | TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 アルゴンイオンミリング条件追加 |
アルゴンイオンミリング仕上げ １条件追加につき |
32,450円 | 川崎技術支援部 |
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集束イオンビーム装置観察（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1640 | 集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB] | １時間以内 | 33,880円 | 川崎技術支援部 |
| K1641 | 集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB] 追加 | 追加１時間当たり | 28,820円 | 川崎技術支援部 |
| K1650 | FIBオプション カーボン膜デポジション | 10分当たり | 2,420円 | 川崎技術支援部 |
| K1670 | FIBオプション アルゴンイオンミリング | 30分当たり | 11,330円 | 川崎技術支援部 |
| K1680 | FIB付属のSEM観察 | １試料１視野観察につき | 20,680円 | 川崎技術支援部 |
| K1681 | FIB付属のSEM観察 視野追加 | 同一試料において１視野追加観察につき | 4,620円 | 川崎技術支援部 |
| K1682 | FIB付属のSEM観察 条件追加 | 同一試料において１条件追加につき | 4,620円 | 川崎技術支援部 |
| K1690 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析 |
点分析１視野１箇所につき | 17,050円 | 川崎技術支援部 |
| K1691 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析追加 |
点分析同一視野内で１箇所追加につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
| K1694 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析 |
線分析１視野１箇所につき | 22,880円 | 川崎技術支援部 |
| K1695 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析追加 |
線分析同一視野内で１箇所追加につき | 8,910円 | 川崎技術支援部 |
| K1692 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 面分析 |
面分析１視野につき | 34,650円 | 川崎技術支援部 |
| K1696 | FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 各種データ処理 |
各種データ処理１条件につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
| K1672 | FIB-SEMによる 三次元再構築用連続断面画像の取得 | １測定につき | 113,740円 | 川崎技術支援部 |
| K1674 | FIB-SEMによる 三次元再構築用連続断面画像の取得 条件追加 |
１条件追加につき | 12,100円 | 川崎技術支援部 |
| K1730 | FIB-SEMによる 微小試験片の作製 標準 | 標準的な作製 （SEM観察含む） ５本につき | 182,160円 | 川崎技術支援部 |
| K1732 | FIB-SEMによる 微小試験片の作製 複雑 | 複雑な作製 （SEM観察含む） ５本につき | 273,130円 | 川崎技術支援部 |
| K1735 | FIB-SEMによる 微小試験片の作製 条件追加 | １条件追加につき | 11,550円 | 川崎技術支援部 |
| K1610 | マニピュレーターによるサンプリング | １試料につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
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レーザーマーキング
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1630 | レーザーマーキング | 15分以内 | 2,860円 | 川崎技術支援部 |
| K1635 | レーザーマーキング 追加 | 追加15分当たり | 1,870円 | 川崎技術支援部 |
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集束イオンビーム装置観察（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1940 | 集束イオンビーム装置（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD） [Scios LoVacシステム] |
１時間以内 | 35,530円 | 川崎技術支援部 |
| K1941 | 集束イオンビーム装置（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD） [Scios LoVacシステム] 追加 |
追加１時間当たり | 30,470円 | 川崎技術支援部 |
| K1950 | マルチ解析用FIBオプション カーボン膜デポジション |
10分当たり | 2,420円 | 川崎技術支援部 |
| K1951 | マルチ解析用FIBオプション プラチナ膜デポジション |
10分当たり | 2,310円 | 川崎技術支援部 |
| K1960 | マルチ解析用FIB付属のSEM観察 | １試料１視野観察につき | 20,900円 | 川崎技術支援部 |
| K1961 | マルチ解析用FIB付属のSEM観察 視野追加 | 同一試料において１視野追加観察につき | 4,730円 | 川崎技術支援部 |
| K1962 | マルチ解析用FIB付属のSEM観察 条件追加 | 同一試料において１条件追加につき | 4,730円 | 川崎技術支援部 |
| K1965 | マルチ解析用FIB付属のSEM観察オプション 低真空 | 低真空モードの使用 | 11,660円 | 川崎技術支援部 |
| K1970 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析 |
点分析１視野１箇所につき | 17,380円 | 川崎技術支援部 |
| K1971 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 点分析追加 |
点分析同一視野内で１箇所追加につき | 5,940円 | 川崎技術支援部 |
| K1974 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析 |
線分析１視野１箇所につき | 23,210円 | 川崎技術支援部 |
| K1975 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 線分析追加 |
線分析同一視野内で１箇所追加につき | 8,910円 | 川崎技術支援部 |
| K1976 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 面分析 |
面分析１視野につき | 34,760円 | 川崎技術支援部 |
| K1978 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EDS分析測定 各種データ処理 |
各種データ処理１条件につき | 5,940円 | 川崎技術支援部 |
| K1980 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 結晶方位マップ |
結晶方位マップ１視野につき | 48,840円 | 川崎技術支援部 |
| K1981 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 視野追加 |
同一試料で１視野追加につき | 11,660円 | 川崎技術支援部 |
| K1984 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 条件追加 |
１条件追加につき | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K1985 | マルチ解析用FIB付属のSEMオプション EBSD分析測定 各種データ処理 |
各種データ処理１条件につき | 5,940円 | 川崎技術支援部 |
| K1990 | マルチ解析用FIB-SEMによる 三次元再構築用連続断面画像の取得 |
１測定につき | 120,230円 | 川崎技術支援部 |
| K1995 | マルチ解析用FIB-SEMによる 三次元再構築用連続断面画像の取得 条件追加 |
１条件追加につき | 12,210円 | 川崎技術支援部 |
| K1930 | マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 標準 | 標準的な作製（SEM観察含む）５本につき | 193,710円 | 川崎技術支援部 |
| K1932 | マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 複雑 | 複雑な作製（SEM観察含む） ５本につき | 292,820円 | 川崎技術支援部 |
| K1935 | マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 条件追加 | １条件追加につき | 11,880円 | 川崎技術支援部 |
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画像解析システム
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1832 | 画像解析システム 三次元再構築 | １測定対象につき | 62,590円 | 川崎技術支援部 |
| K1834 | 画像解析システム 三次元データ処理 | １条件追加につき | 12,430円 | 川崎技術支援部 |
| K1840 | 画像解析システム 画像解析 | １測定対象につき | 23,760円 | 川崎技術支援部 |
| K1842 | 画像解析システム データ処理 | １条件追加につき | 6,270円 | 川崎技術支援部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E6960 | 超深度形状測定顕微鏡 （レーザー顕微鏡） | キーエンス VK8500 | 2,090円 | 電子技術部 |
| E6965 | ハイブリッドレーザー顕微鏡 データ解析 | レーザーテック OPTELICS HYBRID | 880円 | 電子技術部 |
| K2425 | 低エネルギーイオン研磨装置 [Model IV5（ジェントルミル）] | リンダ Model IV5（ジェントルミル） | 12,100円 | 川崎技術支援部 |
| K2015 | FE-SEM/EDS [S-4800] | 日立ハイテクノロジーズ S-4800 | 39,380円 | 川崎技術支援部 |
| K2635 | レーザーマーカ [LR2100ST] （30分当たり） | HOYA LR2100ST | 3,080円 | 川崎技術支援部 |
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試料調製・前処理
イオンミリング法による試料調製
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0022 | イオンミリング法による試料調製（１） （標準的なもの） | １試料１ヶ所につき | 45,100円 | 機械・材料技術部 |
| E0023 | イオンミリング法による試料調製（２） （複雑なもの） | １試料１ヶ所につき | 67,430円 | 機械・材料技術部 |
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顕微鏡試料調製
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0080 | 顕微鏡試料調製（１） （容易なもの） | １試料につき | 1,980円 | 機械・材料技術部 |
| E0090 | 顕微鏡試料調製（２） （標準的なもの） | １試料につき | 3,960円 | 機械・材料技術部 |
| E0091 | 顕微鏡試料調製（３） （比較的複雑なもの） | １試料につき | 7,810円 | 機械・材料技術部 |
| E0092 | 顕微鏡試料調製（４） （非常に複雑なもの） | １試料につき | 11,550円 | 機械・材料技術部 |
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試料前処理（切断、導電処理等）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4120 | 試料前処理（切断、導電処理等） | 処理時間30分につき | 1,650円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
精密機械研磨法
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4210 | 精密機械研磨法 A：容易な試料 | １試料につき | 12,320円 | 川崎技術支援部 |
| K4212 | 精密機械研磨法 B：標準的な試料 | １試料につき | 24,750円 | 川崎技術支援部 |
| K4214 | 精密機械研磨法 C：複雑な試料 | １試料につき | 36,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4216 | 精密機械研磨法 D：非常に複雑な試料 | １試料につき | 48,400円 | 川崎技術支援部 |
| K4217 | 精密機械研磨法 条件追加 | １条件追加につき | 5,720円 | 川崎技術支援部 |
| K4220 | 試料の撮影 | １試料１視野につき | 2,310円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
イオンミリング法 （小さい試料用）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4230 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） A：容易な試料 |
１試料につき | 24,090円 | 川崎技術支援部 |
| K4232 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） B：標準的な試料 |
１試料につき | 47,300円 | 川崎技術支援部 |
| K4234 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） C：複雑な試料 |
１試料につき | 72,490円 | 川崎技術支援部 |
| K4236 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） D：非常に複雑な試料 |
１試料につき | 92,620円 | 川崎技術支援部 |
| K4237 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） 条件追加 |
１条件追加につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
| K4238 | 断面イオンミリング法 （小さい試料用） クライオ |
クライオの使用 １試料につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
| K4240 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） A：容易な試料 |
１試料につき | 11,440円 | 川崎技術支援部 |
| K4242 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） B：標準的な試料 |
１試料につき | 23,870円 | 川崎技術支援部 |
| K4244 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） C：複雑な試料 |
１試料につき | 34,320円 | 川崎技術支援部 |
| K4246 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） D：非常に複雑な試料 |
１試料につき | 44,770円 | 川崎技術支援部 |
| K4247 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） 条件追加 |
１条件追加につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
| K4248 | 平面イオンミリング法 （小さい試料用） クライオ |
クライオの使用 １試料につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
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イオンミリング法 （大きい試料用）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4250 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） A：容易な試料 |
１試料につき | 23,100円 | 川崎技術支援部 |
| K4252 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） B：標準的な試料 |
１試料につき | 45,980円 | 川崎技術支援部 |
| K4254 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） C：複雑な試料 |
１試料につき | 68,860円 | 川崎技術支援部 |
| K4256 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） D：非常に複雑な試料 |
１試料につき | 91,960円 | 川崎技術支援部 |
| K4257 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） 条件追加 |
１条件追加につき | 5,720円 | 川崎技術支援部 |
| K4258 | 断面イオンミリング法 （大きい試料用） クライオ |
クライオの使用 １試料につき | 5,830円 | 川崎技術支援部 |
| K4260 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） A：容易な試料 |
１試料につき | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
| K4262 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） B：標準的な試料 |
１試料につき | 21,340円 | 川崎技術支援部 |
| K4264 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） C：複雑な試料 |
１試料につき | 31,350円 | 川崎技術支援部 |
| K4266 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） D：非常に複雑な試料 |
１試料につき | 41,800円 | 川崎技術支援部 |
| K4267 | 平面イオンミリング法 （大きい試料用） 条件追加 |
１条件追加につき | 5,390円 | 川崎技術支援部 |
| K4270 | イオンビームスパッタ | １試料につき | 5,940円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
ウルトラミクロトーム法
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4280 | ウルトラミクロトーム法 A：容易な試料 | １試料につき | 24,420円 | 川崎技術支援部 |
| K4282 | ウルトラミクロトーム法 B：標準的な試料 | １試料につき | 49,170円 | 川崎技術支援部 |
| K4284 | ウルトラミクロトーム法 C：複雑な試料 | １試料につき | 74,030円 | 川崎技術支援部 |
| K4286 | ウルトラミクロトーム法 D：非常に複雑な試料 | １試料につき | 98,670円 | 川崎技術支援部 |
| K4287 | ウルトラミクロトーム法 条件追加 | １条件追加につき | 6,270円 | 川崎技術支援部 |
| K4288 | ウルトラミクロトーム法 クライオ | クライオの使用 １試料につき | 60,720円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
各種コーティング（カーボンコーティング他）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4310 | カーボンコーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4320 | 金コーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4330 | 白金コーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4340 | パラジウムコーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
| K4350 | オスミウムコーティング | １試料につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
分散法
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4170 | 分散法 ふりかけ法 | １試料につき | 6,600円 | 川崎技術支援部 |
| K4171 | 分散法 懸濁法 | １試料につき | 13,090円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
低エネルギーイオンミリング（ジェントルミル）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4180 | 低エネルギーイオンミリング（ジェントルミル） | １試料１条件につき | 14,850円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
樹脂包埋
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4185 | 樹脂包埋 | １試料につき | 14,190円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
電子染色
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4192 | 電子染色 | １試料につき | 29,260円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
その他特殊処理
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K4195 | その他特殊処理 | １試料につき | 17,710円 | 川崎技術支援部 |
| K4196 | その他特殊処理 条件追加 | １条件追加につき | 17,710円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
材料物性
熱物性測定
示差熱熱重量測定（ＴＧ／ＤＴＡ）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2411 | 示差熱熱重量測定（ＴＧ／ＤＴＡ） 室温～600℃ | １測定につき | 15,840円 | 化学技術部 |
| E2421 | 示差熱熱重量測定（ＴＧ／ＤＴＡ） 600℃をこえるもの | １測定につき | 21,120円 | 化学技術部 |
| E2490 | 試料調製（１） （切断，試験片作製等簡易な前処理） | E2411からE2472に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E2491 | 試料調製（２） （粉末化等困難な前処理） | E2411からE2472に適用 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E2492 | 試料調製（３） （溶解，ろ過等複雑な前処理） | E2411からE2472に適用 | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
示差走査熱量測定（ＤＳＣ）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2432 | 示差走査熱量測定（ＤＳＣ） | １測定につき | 17,270円 | 化学技術部 |
| E2433 | 示差走査熱量測定（ＤＳＣ）液体窒素使用 | １測定につき | 23,430円 | 化学技術部 |
| E2490 | 試料調製（１） （切断，試験片作製等簡易な前処理） | E2411からE2472に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E2491 | 試料調製（２） （粉末化等困難な前処理） | E2411からE2472に適用 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E2492 | 試料調製（３） （溶解，ろ過等複雑な前処理） | E2411からE2472に適用 | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
高圧示差熱・熱重量測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2441 | 高圧示差熱・熱重量測定 | １測定につき | 25,630円 | 化学技術部 |
| E2490 | 試料調製（１） （切断，試験片作製等簡易な前処理） | E2411からE2472に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E2491 | 試料調製（２） （粉末化等困難な前処理） | E2411からE2472に適用 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E2492 | 試料調製（３） （溶解，ろ過等複雑な前処理） | E2411からE2472に適用 | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
発火温度測定（ＨＰ-ＴＧ法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2442 | 発火温度測定（ＨＰ-ＴＧ法） | １測定につき | 22,330円 | 化学技術部 |
| E2490 | 試料調製（１） （切断，試験片作製等簡易な前処理） | E2411からE2472に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E2491 | 試料調製（２） （粉末化等困難な前処理） | E2411からE2472に適用 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E2492 | 試料調製（３） （溶解，ろ過等複雑な前処理） | E2411からE2472に適用 | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
複合熱分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2450 | 複合熱分析 | １測定につき | 70,290円 | 化学技術部 |
| E2490 | 試料調製（１） （切断，試験片作製等簡易な前処理） | E2411からE2472に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E2491 | 試料調製（２） （粉末化等困難な前処理） | E2411からE2472に適用 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E2492 | 試料調製（３） （溶解，ろ過等複雑な前処理） | E2411からE2472に適用 | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
高圧示差走査熱量測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2460 | 高圧示差走査熱量測定 | １測定につき | 25,080円 | 化学技術部 |
| E2490 | 試料調製（１） （切断，試験片作製等簡易な前処理） | E2411からE2472に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E2491 | 試料調製（２） （粉末化等困難な前処理） | E2411からE2472に適用 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E2492 | 試料調製（３） （溶解，ろ過等複雑な前処理） | E2411からE2472に適用 | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
熱機械測定（ＴＭＡ）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2470 | 熱機械測定（ＴＭＡ）室温～600℃ | １測定につき | 17,050円 | 化学技術部 |
| E2471 | 熱機械測定（ＴＭＡ）600℃をこえるもの | １測定につき | 30,140円 | 化学技術部 |
| E2472 | 熱機械測定（ＴＭＡ）液体窒素使用 | １測定につき | 23,320円 | 化学技術部 |
| E2490 | 試料調製（１） （切断，試験片作製等簡易な前処理） | E2411からE2472に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E2491 | 試料調製（２） （粉末化等困難な前処理） | E2411からE2472に適用 | 4,950円 | 化学技術部 |
| E2492 | 試料調製（３） （溶解，ろ過等複雑な前処理） | E2411からE2472に適用 | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
熱伝導率測定（プローブ法）（室温）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2930 | 熱伝導率測定（プローブ法） （室温） | １試料につき | 10,010円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
サーモグラフィによる表面温度測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3771 | サーモグラフィによる表面温度測定 | １時間につき | 4,620円 | 化学技術部 |
| E3772 | サーモグラフィによる表面温度測定 （特殊条件の場合） | １時間につき | 17,380円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
赤外線放射計による放射率測定※装置故障により現在ご利用いただけません。
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3930 | 赤外線放射計による放射率測定 | １試料１測定につき | 38,720円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
サーモグラフィによる表面温度測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3690 | サーモグラフィによる表面温度測定 | １測定につき | 2,750円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E8610 | 熱機械試験機 | マック・サイエンス TMA-4000 | 6,270円 | 化学技術部 |
| E8620 | 赤外線放射計 | 日本バーンズ SA-200 | 8,360円 | 化学技術部 |
| E8580 | プラスチック用熱伝導率計 | 京都電子工業 QTM-D3型 | 4,950円 | 化学技術部 |
| K3560 | 赤外線サーモグラフィ [TVS-200EX] | 日本アビオニクス TVS-200EX | 2,750円 | 川崎技術支援部 |
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粉体・表面性能
接触角測定試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4150 | 接触角測定試験 | １試料につき | 2,420円 | 機械・材料技術部 |
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ゼータ電位測定（Ａ）（微粒子分散溶液）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4160 | ゼータ電位測定（Ａ） （微粒子分散溶液） | １試料につき | 10,340円 | 機械・材料技術部 |
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ゼータ電位測定（Ｂ）（平板形状試料）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4170 | ゼータ電位測定（Ｂ） （平板形状試料） | １試料につき | 12,870円 | 機械・材料技術部 |
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粒径分布測定（レーザ回折・散乱法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4173 | 粒径分布測定（レーザ回折・散乱法） （Ａ）湿式または乾式 | １試料につき | 6,490円 | 機械・材料技術部 |
| E4174 | 粒径分布測定（レーザ回折・散乱法） （Ｂ）湿式（有機溶媒） | １試料につき | 8,470円 | 機械・材料技術部 |
| E4175 | 粒径分布測定（レーザ回折・散乱法） （Ｃ）特殊なもの | １試料につき | 10,450円 | 機械・材料技術部 |
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粒径分布測定（動的光散乱法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4180 | 粒径分布測定（動的光散乱法） | １試料につき | 9,020円 | 機械・材料技術部 |
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粒径分布測定（静的画像解析法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4183 | 粒径分布測定（静的画像解析法）（Ａ）（簡易な評価） | １試料につき | 4,730円 | 機械・材料技術部 |
| E4184 | 粒径分布測定（静的画像解析法）（Ｂ) | １試料につき | 8,030円 | 機械・材料技術部 |
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比表面積測定（窒素ガス吸着法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4190 | 比表面積測定（窒素ガス吸着法）（１） （容易なもの） | １試料につき | 21,560円 | 機械・材料技術部 |
| E4191 | 比表面積測定（窒素ガス吸着法）（２） （複雑なもの） | １試料につき | 35,860円 | 機械・材料技術部 |
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細孔分布解析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4192 | 細孔分布解析 | １試料につき | 3,630円 | 機械・材料技術部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3542 | 接触角計 [DMｓ-401] | 協和界面科学 DMｓ-401 | 3,410円 | 川崎技術支援部 |
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透過度測定
ガス・水蒸気透過度測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2925 | ガス・水蒸気透過度測定 | １試料・1測定につき（24時間まで） | 28,600円 | 化学技術部 |
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電気化学試験
金属・合金の電極電位測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3211 | 金属・合金の電極電位測定（１） | １試料につき４時間まで | 14,410円 | 化学技術部 |
| E3212 | 金属・合金の電極電位測定（２） １時間増 | １時間増すごとに | 220円 | 化学技術部 |
| E3280 | 試料調製（１） （比較的容易） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E3290 | 試料調製（２） （比較的複雑） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 6,710円 | 化学技術部 |
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金属・合金の腐食減量測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3221 | 金属・合金の腐食減量測定（１） | １試料につき24時間まで | 14,300円 | 化学技術部 |
| E3222 | 金属・合金の腐食減量測定（２） 24時間増 | 24時間増すごとに | 4,290円 | 化学技術部 |
| E3280 | 試料調製（１） （比較的容易） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E3290 | 試料調製（２） （比較的複雑） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 6,710円 | 化学技術部 |
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異種金属接触腐食電流測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3223 | 異種金属接触腐食電流測定（１） | １試料につき４時間まで | 14,410円 | 化学技術部 |
| E3224 | 異種金属接触腐食電流測定（２） １時間増 | １時間増すごとに | 220円 | 化学技術部 |
| E3280 | 試料調製（１） （比較的容易） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E3290 | 試料調製（２） （比較的複雑） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 6,710円 | 化学技術部 |
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金属の分極測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3270 | 金属の分極測定 | １試料につき | 19,250円 | 化学技術部 |
| E3280 | 試料調製（１） （比較的容易） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E3290 | 試料調製（２） （比較的複雑） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 6,710円 | 化学技術部 |
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電気化学インピーダンス測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3275 | 電気化学インピーダンス測定 | １試料につき | 7,260円 | 化学技術部 |
| E3280 | 試料調製（１） （比較的容易） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E3290 | 試料調製（２） （比較的複雑） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 6,710円 | 化学技術部 |
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電極の研磨
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3295 | 電極の研磨 | １試料につき | 1,650円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
腐食液・電解液作製
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3296 | 腐食液・電解液作製 | １試料につき | 1,650円 | 化学技術部 |
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光学特性評価
分光光度計による透過率または拡散反射率測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2011 | 分光光度計による透過率または拡散反射率測定 （紫外・可視のみ） |
１試料１スペクトルにつき | 5,830円 | 機械・材料技術部 |
| E2012 | 分光光度計による透過率または拡散反射率測定 （紫外・可視・近赤外） |
１試料１スペクトルにつき | 6,380円 | 機械・材料技術部 |
| E2017 | 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 | １スペクトル１解析につき | 440円 | 機械・材料技術部 |
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分光光度計による正反射率測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2013 | 分光光度計による正反射率測定 （紫外・可視・近赤外） | 偏光子なしまたは偏光１成分の １試料１スペクトルにつき |
6,820円 | 機械・材料技術部 |
| E2014 | 分光光度計による正反射率測定 （紫外・可視・近赤外） 追加（１） |
同一試料・同一条件で偏光１成分追加につき | 3,740円 | 機械・材料技術部 |
| E2015 | 分光光度計による正反射率測定 （紫外・可視・近赤外） 追加（２） |
同一試料・同一条件・同一偏光成分で １角度追加につき |
2,090円 | 機械・材料技術部 |
| E2017 | 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 | １スペクトル１解析につき | 440円 | 機械・材料技術部 |
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分光光度計による透過率または反射率測定（特殊なもの）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2016 | 分光光度計による透過率または反射率測定 （特殊なもの） | １試料１スペクトルにつき | 9,790円 | 機械・材料技術部 |
| E2017 | 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 | １スペクトル１解析につき | 440円 | 機械・材料技術部 |
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紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3450 | 紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定 | １試料１条件につき | 6,820円 | 川崎技術支援部 |
| K3452 | 紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定 追加 | 追加１条件につき | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
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分光放射照度計によるスペクトル測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3470 | 分光放射照度計によるスペクトル測定 | １測定につき | 10,450円 | 川崎技術支援部 |
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光学測定に関わる作業
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3660 | 光学測定に関わる作業 | １時間につき | 7,260円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3670 | 色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定 | １測定につき | 4,730円 | 川崎技術支援部 |
| K3672 | 色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定 追加 | １測定追加につき | 3,080円 | 川崎技術支援部 |
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色差計による色差の測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3680 | 色差計による色差の測定 | １測定につき | 3,410円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E8090 | ボロメータ測定システム微小信号測定システム | セイコー 5302 | 4,950円 | 電子技術部 |
| K3550 | 紫外・可視・近赤外分光光度計 [UH4150] （1時間以内） | 日立ハイテクサイエンス UH4150 | 8,470円 | 川崎技術支援部 |
| K3552 | 紫外・可視・近赤外分光光度計 [UH4150] （追加30分当たり） | 日立ハイテクサイエンス UH4150 | 2,860円 | 川崎技術支援部 |
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電磁気特性評価
マイクロ波誘電率測定（共振器法・誘電体プローブ法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0850 | マイクロ波誘電率測定 （共振器法・誘電体プローブ法） | １条件１測定につき | 19,140円 | 電子技術部 |
| E0860 | マイクロ波誘電率測定 （共振器法・誘電体プローブ法） １件増 |
１測定増すごとに | 6,380円 | 電子技術部 |
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マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0870 | マイクロ波誘電率・透磁率測定 （Ｓパラメータ法） | １条件１測定につき | 17,600円 | 電子技術部 |
| E0880 | マイクロ波誘電率・透磁率測定 （Ｓパラメータ法） １件増 | １測定増すごとに | 4,950円 | 電子技術部 |
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マイクロ波誘電率・透磁率測定（ハーモニック共振器法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0881 | マイクロ波誘電率・透磁率測定 （ハーモニック共振器法） | １測定につき | 20,130円 | 電子技術部 |
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マイクロ波誘電率測定（ＢＣＤＲ法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0882 | マイクロ波誘電率測定 （ＢＣＤＲ法） | １条件１測定につき | 39,380円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
磁化特性測定（ＶＳＭ方式）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0910 | 磁化特性測定（ＶＳＭ方式） | １試料１測定につき | 6,710円 | 電子技術部 |
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磁化特性測定（積分方式）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0920 | 磁化特性測定（積分方式） | １試料１測定につき | 4,840円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
磁歪測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0930 | 磁歪測定 | １試料１測定につき | 18,920円 | 電子技術部 |
| E0931 | 磁歪測定 １条件増 | １条件増すごとに | 12,210円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
磁化温度特性測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0940 | 磁化温度特性測定 | １試料１測定につき | 22,110円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
薄膜交流透磁率測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0950 | 薄膜交流透磁率測定 | １試料１測定につき | 6,050円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
交流磁化特性測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0951 | 交流磁化特性測定 （B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス） |
１試料１測定につき | 10,450円 | 電子技術部 |
| E0952 | 交流磁化特性測定 （B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス） １条件増 |
１条件増すごとに | 6,930円 | 電子技術部 |
| E0953 | 交流磁化特性測定 （B-H曲線無しの連続測定、可変条件は１） |
１試料５測定まで | 17,490円 | 電子技術部 |
| E0954 | 交流磁化特性測定 （B-H曲線無しの連続測定、可変条件は１） １測定増 |
１測定増すごとに | 2,640円 | 電子技術部 |
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試料調整
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0958 | 試料調整 | １時間当たり | 3,300円 | 電子技術部 |
| E0959 | データ処理 | １時間当たり | 3,300円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E8431 | ガウスメータ（最小測定レンジ:0.35mT、最大測定レンジ:3.5T） | Lake shore Inc 455型 | 1,430円 | 電子技術部 |
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粘弾性測定
動的粘弾性測定レオメーター
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2750 | 動的粘弾性測定レオメーター （１走査１時間未満、冷凍機を使用しない場合） |
１走査（温度変化または振動数変化）につき | 18,150円 | 化学技術部 |
| E2760 | 動的粘弾性測定レオメーター （１走査２時間未満または冷凍機使用） |
１走査（温度変化または振動数変化）につき | 30,030円 | 化学技術部 |
| E2770 | 動的粘弾性測定レオメーター （１走査３時間未満または液体窒素使用） |
１走査（温度変化または振動数変化）につき | 45,320円 | 化学技術部 |
| E2771 | ペルチェシステム使用（10～150℃） | E2750, E2760に適用 | 7,040円 | 化学技術部 |
| E2772 | 試料調製（取り付け困難なもの） | E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 | 2,970円 | 化学技術部 |
| E2774 | 試料調製（測定後処理） | E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 | 3,630円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
動的粘弾性測定ＤＭＡ
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2751 | 動的粘弾性測定ＤＭＡ （１走査１時間未満、冷凍機を使用しない場合） |
１走査（温度変化または振動数変化）につき | 16,610円 | 化学技術部 |
| E2761 | 動的粘弾性測定ＤＭＡ （１走査２時間未満または冷凍機使用） | １走査（温度変化または振動数変化）につき | 27,390円 | 化学技術部 |
| E2772 | 試料調製（取り付け困難なもの） | E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 | 2,970円 | 化学技術部 |
| E2774 | 試料調製（測定後処理） | E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 | 3,630円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
吸水性測定
吸水試験（室温）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2730 | 吸水試験 （室温） | １試料につき | 7,370円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
比重測定
比重試験（水中置換法）（室温）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2720 | 比重試験（水中置換法） （室温） | １試料につき | 7,920円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
制振性
損失係数測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4977 | 損失係数測定（Ａ） | １試料１測定温度につき | 13,530円 | 機械・材料技術部 |
| E4978 | 損失係数測定（Ｂ） １測定温度増 | １測定温度増すごとに | 1,430円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E8713 | 制振性能測定装置 | ブリュエルケアー PULSE/MS-18143型 | 4,620円 | 機械・材料技術部 |
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材料強度
強度試験
引張･圧縮･曲げ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0110 | 引張・圧縮・曲げ試験（１） （簡単な試験） | １試験につき | 2,530円 | 機械・材料技術部 |
| E0120 | 引張・圧縮・曲げ試験（２） （比較的簡単な試験） | １試験につき | 3,740円 | 機械・材料技術部 |
| E0130 | 引張・圧縮・曲げ試験（３） （標準的な試験） | １試験につき | 5,500円 | 機械・材料技術部 |
| E0140 | 引張・圧縮・曲げ試験（４） （やや複雑な試験） | １試験につき | 7,480円 | 機械・材料技術部 |
| E0150 | 引張・圧縮・曲げ試験（５） （複雑な試験） | １試験につき | 10,560円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
シャルピー衝撃試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0175 | 常温シャルピー衝撃試験 | １試料につき | 1,540円 | 機械・材料技術部 |
| E0176 | 低温シャルピー衝撃試験 | １試料につき | 3,410円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
疲労試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0415 | 疲労試験 １時間以内 | １試験につき | 5,060円 | 機械・材料技術部 |
| E0420 | 疲労試験 ８時間以内 | １試験につき | 17,050円 | 機械・材料技術部 |
| E0435 | 疲労試験 ８時間増 （E0420, E0431に適用） | ８時間を超えて８時間増すごとに | 8,580円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
硬さ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5330 | 硬さ試験 | １点につき | 1,100円 | 川崎技術支援部 |
| K5340 | 硬さ試験試料調製（第１種）：容易なもの | １試料につき | 1,980円 | 川崎技術支援部 |
| K5341 | 硬さ試験試料調製（第２種）：比較的容易なもの | １試料につき | 3,960円 | 川崎技術支援部 |
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硬さ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0180 | 硬さ試験 | １点につき | 1,100円 | 機械・材料技術部 |
| E0203 | 硬さ試験試料調製（第３種）：標準的なもの | 1試料につき | 8,140円 | 機械・材料技術部 |
| E0204 | 硬さ試験試料調製（第４種）：比較的複雑なもの | 1試料につき | 10,560円 | 機械・材料技術部 |
| E0205 | 硬さ試験試料調製（第５種）：複雑なもの | 1試料につき | 13,640円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
薄膜・微小部硬さ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0191 | 薄膜・微小部硬さ試験 | １試料１ヶ所につき | 21,780円 | 機械・材料技術部 |
| E0192 | 薄膜・微小部硬さ試験 １ヶ所増 | １ヶ所増すごとに | 9,680円 | 機械・材料技術部 |
| E0206 | 硬さ試験試料調製（第6種）：薄膜・微小部硬さ試験用 | 1試料につき | 15,730円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
Ｘ線応力測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0295 | Ｘ線応力測定 | １試料１か所１方向につき | 6,050円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
熱間加工性試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0440 | 熱間加工性試験 | １試料につき | 8,250円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
引張試験（50ｋN以下）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2841 | 引張試験（50ｋN以下） | １試験片につき | 3,190円 | 化学技術部 |
| E2871 | 非接触式伸び計使用 | １試験片につき（E2841に適用） | 3,190円 | 化学技術部 |
| E2872 | 恒温槽使用（-30～200℃） | １試験片１時間につき （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用） |
2,970円 | 化学技術部 |
| E2873 | 恒温恒湿槽使用 | １試験片１時間につき （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用） |
4,070円 | 化学技術部 |
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圧縮試験（50ｋN以下）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2842 | 圧縮試験（50ｋN以下） | １試験片につき | 3,190円 | 化学技術部 |
| E2872 | 恒温槽使用（-30～200℃） | １試験片１時間につき （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用） |
2,970円 | 化学技術部 |
| E2873 | 恒温恒湿槽使用 | １試験片１時間につき （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用） |
4,070円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
曲げ試験（５ｋN以下）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2843 | 曲げ試験（5ｋN以下） | １試験片につき | 3,190円 | 化学技術部 |
| E2872 | 恒温槽使用（-30～200℃） | １試験片１時間につき （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用） |
2,970円 | 化学技術部 |
| E2873 | 恒温恒湿槽使用 | １試験片１時間につき （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用） |
4,070円 | 化学技術部 |
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動作パターン制御試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2844 | 動作パターン制御試験 | １試験片につき | 9,900円 | 化学技術部 |
| E2872 | 恒温槽使用（-30～200℃） | １試験片１時間につき （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用） |
2,970円 | 化学技術部 |
| E2873 | 恒温恒湿槽使用 | １試験片１時間につき （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用） |
4,070円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
引張弾性率測定（接触式伸び計使用）（室温）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2851 | 引張弾性率測定（接触式伸び計使用）（室温） | １試験片につき | 5,390円 | 化学技術部 |
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圧縮弾性率測定（室温）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2852 | 圧縮弾性率測定（室温） | １試験片につき | 3,190円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
曲げ弾性率測定（室温）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2853 | 曲げ弾性率測定（室温） | １試験片につき | 3,190円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
軟質発泡材料圧縮試験（室温）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2863 | 軟質発泡材料圧縮試験（室温） | １試験片につき | 9,900円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
シャルピー衝撃試験（室温）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2881 | シャルピー衝撃試験（室温） | １試験片につき | 2,310円 | 化学技術部 |
| E2885 | ノッチ加工 | １試験片につき（E2881に適用） | 1,980円 | 化学技術部 |
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硬さ試験（ロックウェル・デュロメータ）（室温）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2920 | 硬さ試験（ロックウェル・デュロメータ） （室温） | １試料につき | 3,520円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E6050 | 材料試験機（５ｋＮ） | インストロンジャパン 5565型 | 1,320円 | 化学技術部 |
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摩擦摩耗
トライボ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0211 | トライボ試験 | １試料１条件につき | 8,360円 | 機械・材料技術部 |
| E0212 | トライボ試験 １件増 | １条件増すごとに | 3,850円 | 機械・材料技術部 |
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摩耗試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0215 | 摩耗試験 | １試料１条件につき | 7,700円 | 機械・材料技術部 |
| E0216 | 摩耗試験 １件増 | １条件増すごとに | 3,520円 | 機械・材料技術部 |
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設計加工
デザイン
デザイン・企画
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5280 | デザイン・企画 | １時間につき | 3,410円 | 事業化支援部 |
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CAD・CAM・CAE
機械設計・解析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4990 | 機械設計・解析 | １時間当たり | 6,160円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
弾塑性解析（塑性加工のシミュレーション解析）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5001 | 弾塑性解析（塑性加工のシミュレーション解析） | １時間当たり | 9,020円 | 情報・生産技術部 |
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構造解析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4994 | 構造解析 | １時間当たり | 9,460円 | 機械・材料技術部 |
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３Dプリンター
三次元造形（小型インクジェット式３Ｄプリンター）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4997 | 三次元造形前処理 | １時間当たり | 3,410円 | 情報・生産技術部 |
| E4991 | 三次元造形 （小型インクジェット式３Ｄプリンター） | １時間当たり | 770円 | 情報・生産技術部 |
| E4999 | 三次元造形後処理 | １時間当たり | 3,630円 | 情報・生産技術部 |
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三次元造形（インクジェット式３Dプリンター）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4997 | 三次元造形前処理 | １時間当たり | 3,410円 | 情報・生産技術部 |
| E4998 | 三次元造形 （インクジェット式３Dプリンター） | １時間当たり | 2,970円 | 情報・生産技術部 |
| E4999 | 三次元造形後処理 | １時間当たり | 3,630円 | 情報・生産技術部 |
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三次元造形（光造形式３Dプリンター）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4997 | 三次元造形前処理 | １時間当たり | 3,410円 | 情報・生産技術部 |
| E5000 | 三次元造形 （光造形式３Dプリンター） | １時間当たり | 1,430円 | 情報・生産技術部 |
| E4999 | 三次元造形後処理 | １時間当たり | 3,630円 | 情報・生産技術部 |
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加工
立形マシニングセンタによる加工
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0490 | 立形マシニングセンタによる加工 | １時間当たり | 7,040円 | 情報・生産技術部 |
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５軸制御マシニングセンタによる加工
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0495 | ５軸制御マシニングセンタによる加工 | １時間当たり | 7,590円 | 情報・生産技術部 |
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ワイヤ放電加工
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4620 | ワイヤ放電加工 | １時間当たり | 4,290円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
ＮＣ放電加工試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0450 | ＮＣ放電加工試験 | １時間当たり | 2,530円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
ホットプレス処理
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0460 | ホットプレス処理 | １時間当たり | 9,350円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
制御雰囲気炉処理
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0461 | 制御雰囲気炉処理 | １時間当たり | 4,620円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
脱脂炉処理
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0462 | 脱脂炉処理 | １時間当たり | 1,760円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
卓上型電気炉処理
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0463 | 卓上型電気炉処理 | １時間当たり | 2,090円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
ＨＩＰ処理
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0470 | ＨＩＰ処理 | １時間当たり | 19,580円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
ＣＩＰ処理
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0471 | ＣＩＰ処理 | １時間当たり | 6,160円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
熱処理特性試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0480 | 熱処理特性試験 | １時間当たり | 12,870円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
工具寿命試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0270 | 工具寿命試験 | １項目につき | 17,160円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
切削抵抗測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0310 | 切削抵抗測定 | １項目につき | 12,650円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7750 | 油圧プレス （ホットプレス） | セイブ HP-2 | 330円 | 情報・生産技術部 |
| E8810 | 混練機 | 森山 DSI-5GHH-E | 2,750円 | 機械・材料技術部 |
| E8820 | 金属粉末射出成形装置 | 東芝機械 IS30EPN-1A | 2,310円 | 機械・材料技術部 |
| E6210 | コンターマシン | アマダ VA-500 | 330円 | 情報・生産技術部 |
| E6230 | 平面研削盤 | 岡本 PSG-52DX | 1,650円 | 機械・材料技術部 |
| E6240 | ボール盤 | ヤマモト YSDT-550 | 220円 | 機械・材料技術部 |
| E6270 | 切断機 | Hストルアス社 ﾃﾞｨｽｺﾄﾑ | 1,430円 | 機械・材料技術部 |
| E6310 | 帯鋸盤 | アマダ HA300 | 990円 | 情報・生産技術部 |
| E6350 | ＣＮＣ旋盤 | オークマ LS-30N | 5,500円 | 機械・材料技術部 |
| E6340 | 旋盤 | 昌運 ST-5 | 1,320円 | 機械・材料技術部 |
| E6360 | 旋盤 | シャブリン SV-150A | 2,090円 | 機械・材料技術部 |
| E6370 | フライス盤 | デッケル FP1 | 2,310円 | 機械・材料技術部 |
| E6375 | ＮＣフライス盤 | イワシタ ＮＲ２ | 2,530円 | 情報・生産技術部 |
| E6380 | 立形マシニングセンタ | 牧野フライス製作所 V33 | 3,740円 | 情報・生産技術部 |
| E7720 | ツールチェンジＮＣ加工機 | 平安コーポレーション NC-151MC-1508 | 2,090円 | 情報・生産技術部 |
| E7730 | ルータ | 平安鉄工 NC-131P-1008 | 770円 | 情報・生産技術部 |
| E8840 | 電気炉 | 炉研工業 ﾏｯﾌﾙ型加熱炉 HI | 1,430円 | 機械・材料技術部 |
| E8980 | シリコニット箱型炉 | シリコニット高熱工業 SFB-2040 | 990円 | 機械・材料技術部 |
| E8970 | 熱間加工再現試験装置 | 富士電波工機 ｻｰﾒｯｸﾏｽﾀｰZ | 12,540円 | 機械・材料技術部 |
| E8975 | 熱処理再現試験装置 | 富士電波工機 特注品FTA-153VTほか | 9,570円 | 機械・材料技術部 |
| E9610 | ファブラボ（Ⅰ） | ３Ｄプリンタ使用可 装置類取扱い指導有 | 3,300円 | 電子技術部 |
| E9620 | ファブラボ（Ⅱ） | ３Ｄプリンタ使用可 装置類取扱い指導無 | 550円 | 電子技術部 |
| E9630 | ファブラボ（Ⅲ） | ３Ｄプリンタ使用不可 装置類取扱い指導無 | 220円 | 電子技術部 |
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微細加工
真空蒸着
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1156 | 真空蒸着 | 標準１試料当たり | 37,070円 | 電子技術部 |
| E1157 | 真空蒸着 １条件増 | １条件増すごとに | 17,270円 | 電子技術部 |
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スパッタ成膜
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1158 | スパッタ成膜 | 標準１試料当たり | 48,950円 | 電子技術部 |
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アッシャーによるプラズマ処理
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1180 | アッシャーによるプラズマ処理 | １条件１時間につき | 18,040円 | 電子技術部 |
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ＥＣＲプラズマエッチング
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1190 | ＥＣＲプラズマエッチング | 標準１試料当たり | 49,720円 | 電子技術部 |
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高精度フォトリソグラフィ
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1191 | 高精度フォトリソグラフィ | １枚につき | 28,600円 | 電子技術部 |
| E1192 | 高精度フォトリソグラフィ １枚増 | １枚増すごとに | 10,340円 | 電子技術部 |
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電子線リソグラフィ
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1200 | 電子線リソグラフィ | １時間当たり | 10,670円 | 電子技術部 |
| E1201 | 電子線リソグラフィ試料調製 | １試料につき | 9,350円 | 電子技術部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E6730 | 研磨機 | ムサシノ電子 MA-200 | 2,530円 | 電子技術部 |
| E6735 | 自動研磨機 | QATM社 サファイア250 A2-ECO | 3,300円 | 電子技術部 |
| E6760 | 高温小型真空雰囲気炉 | ナガノ NEWTONIAN PASCAL40 | 5,940円 | 電子技術部 |
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性能評価
電気計測・試験
絶縁抵抗測定（平板試料）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5610 | 絶縁抵抗測定（平板試料） | １試料につき | 6,050円 | 川崎技術支援部 |
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電流電圧測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0510 | 電流電圧測定 | １試料１条件につき | 3,080円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
電圧・電流波形測定（オシロスコープ）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0525 | 電圧・電流波形測定（オシロスコープ） | ２時間まで | 13,970円 | 電子技術部 |
| E0535 | 電圧・電流波形測定（オシロスコープ） 1時間増 | １時間増すごとに | 6,160円 | 電子技術部 |
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低抵抗測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0570 | 低抵抗測定 | １試料１条件につき | 4,180円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
電気機器・漏れ電流測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0660 | 電気機器・漏れ電流測定 | １試料１条件につき | 4,400円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
電気機器・耐電圧試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0670 | 電気機器・耐電圧試験 | １試料１測定につき | 4,290円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
電気機器・接地回路の抵抗測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0680 | 電気機器・接地回路の抵抗測定 | １試料１条件につき | 4,290円 | 電子技術部 |
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絶縁抵抗試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0750 | 絶縁抵抗測定 | １試料１条件につき | 5,170円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
電気機器・温度試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0760 | 電気機器・温度試験 | １測定点につき | 3,190円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
電気機器・電力測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0820 | 電気機器・電力測定 | １試料１条件につき | 5,500円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E8200 | 絶縁抵抗計（表面および体積抵抗のみ） | キーサイト・テクノロジー 4339B | 3,300円 | 電子技術部 |
| E8220 | ＬＣＲメータ | ＹＨＰ YHP4285A | 3,190円 | 電子技術部 |
| K6510 | オシロスコープ [WaveRunner62Xi] | レクロイ WaveRunner62Xi | 2,310円 | 川崎技術支援部 |
| K6515 | ACミリオームハイテスター [3560] | 日置電機 3560 | 550円 | 川崎技術支援部 |
| K6517 | 超絶縁計 [SM-8220] | 日置電機 SM-8220 | 220円 | 川崎技術支援部 |
| K6518 | 交流耐電圧試験器 [3158] | 日置電機 3158 | 220円 | 川崎技術支援部 |
| K6520 | 漏れ電流試験器 [ST5540] | 日置電機 ST5540 | 990円 | 川崎技術支援部 |
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ネットワーク試験
イーサネットコンプライアンステスト
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0890 | イーサネットコンプライアンステスト | １時間につき | 5,170円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
適合性試験（FL-net）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4820 | 適合性試験（FL-net） | １試料６時間まで | 53,240円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
相互接続性試験（FL-net）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4821 | 相互接続性試験（FL-net） | １試料２時間まで | 35,420円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
ノイズ試験（CC-Link）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4910 | ノイズ試験（CC-Link） | １試料８時間まで | 31,790円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
ハードウェア試験（CC-Link）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4920 | ハードウェア試験（CC-Link） | １試料４時間まで | 15,840円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
ソフトウェア試験（CC-Link）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4930 | ソフトウェア試験（CC-Link） | １試料１0時間まで | 39,710円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
組み合わせ試験（CC-Link）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4940 | 組み合わせ試験（CC-Link） | １試料６時間まで | 23,760円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
インタオぺラビリティ試験（CC-Link）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4950 | インタオぺラビリティ試験（CC-Link） | １試料５時間まで | 19,800円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
エージング試験（CC-Link）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4960 | エージング試験（CC-Link） | １試料１2時間まで | 14,190円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
半導体・実装
フォトルミネッセンス測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1060 | フォトルミネッセンス測定 | １試料１条件につき | 46,310円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
高分解能（１nm以下）フォトルミネッセンス測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1070 | 高分解能（1nm以下）フォトルミネッセンス測定 | １試料１条件につき | 74,250円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
低温光特性評価
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1080 | 低温光特性評価 | １試料１条件につき | 36,960円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
酸化拡散試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1120 | 酸化拡散試験 | １時間当たり | 23,650円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
触針式膜厚測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1125 | 触針式膜厚測定 | １測定につき | 4,400円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
触針式表面形状測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1126 | 触針式表面形状測定 | １測定につき | 12,650円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
光干渉式膜厚測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1130 | 光干渉式膜厚測定 | １試料１測定点につき | 3,190円 | 電子技術部 |
| E1140 | 光干渉式膜厚測定 1測定点増 | １試料につき１測定点増すごとに | 1,540円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
ホール効果測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1152 | ホール効果測定 | １試料１条件につき | 21,670円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
熱抵抗測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0767 | 熱抵抗測定 | １時間当たり | 9,350円 | 電子技術部 |
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パワーサイクル試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1386 | パワーサイクル試験 | ８時間まで | 22,990円 | 電子技術部 |
| E1387 | パワーサイクル試験 ８時間増 | ８時間増すごとに | 11,330円 | 電子技術部 |
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超音波ウェッジボンダ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1153 | 超音波ウェッジボンダ試験 | １時間当たり | 8,910円 | 電子技術部 |
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超音波ボールボンダ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1154 | 超音波ボールボンダ試験 | １時間当たり | 11,000円 | 電子技術部 |
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接合強度試験（はんだ継手強度試験）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0775 | 接合強度試験（はんだ継手強度試験） | １測定条件につき（５測定点まで） | 9,130円 | 電子技術部 |
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接合強度試験（ワイヤーボンディング強度試験）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0776 | 接合強度試験（ワイヤーボンディング強度試験） | １測定条件につき（５測定点まで） | 10,780円 | 電子技術部 |
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接合強度試験（ダイシェア試験）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0777 | 接合強度試験（ダイシェア試験） | １測定条件につき（５測定点まで） | 11,660円 | 電子技術部 |
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薄膜硬さ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0778 | 薄膜硬さ試験 | １時間当たり | 5,940円 | 電子技術部 |
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クリーン雰囲気試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1211 | クリーン雰囲気試験 | １時間当たり | 6,490円 | 電子技術部 |
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パワー半導体静特性試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0768 | パワー半導体静特性試験 | １時間当たり | 7,370円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
半導体パラメータ測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0769 | 半導体パラメータ測定 | １時間当たり | 7,260円 | 電子技術部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E6680 | 陽極接合装置 | アユミ工業 AB-40特注品 | 12,870円 | 電子技術部 |
| E6690 | マスクアライナ | ミカサ MA-20 | 7,590円 | 電子技術部 |
| E6740 | 酸化拡散装置 | ＫＨエレクトロニクス 特別仕様 | 19,360円 | 電子技術部 |
| E6770 | 超音波ボールボンダ | ウエストボンド 7700A | 7,700円 | 電子技術部 |
| E6790 | チップ付け装置 | ウエストボンド 7200A | 2,860円 | 電子技術部 |
| E6810 | 超音波ウェッジボンダ | ウエストボンド 7400A | 5,610円 | 電子技術部 |
| E6880 | アッシャー装置 | 東京応化工業 OPM-EM600 | 12,650円 | 電子技術部 |
| E6950 | 光干渉式膜厚測定装置 | 大日本スクリーン VM-8000J | 3,080円 | 電子技術部 |
| E6970 | 触針式膜厚計 | 小坂研究所 ET4000AKR | 2,090円 | 電子技術部 |
| E6980 | 分光エリプソ装置 | 日本セミラボ SE-2000 | 7,260円 | 電子技術部 |
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電磁環境・EMC
電源周波数磁界イミュニティ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1557 | 電源周波数磁界イミュニティ試験 1時間まで | 1時間まで | 11,000円 | 電子技術部 |
| E1558 | 電源周波数磁界イミュニティ試験 １時間増すごとに | １時間増すごとに | 6,160円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
ネットワークアナライザ測定（マルチポート）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0780 | ネットワークアナライザ測定（マルチポート） | １測定につき | 11,440円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
ネットワークアナライザ測定（４ポートまで）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0791 | ネットワークアナライザ測定（4ポートまで） | １試料１条件につき | 7,700円 | 電子技術部 |
| E0792 | ネットワークアナライザ測定（4ポートまで） １件増 | １条件増すごとに | 2,970円 | 電子技術部 |
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マイクロ波・ミリ波伝送特性測定（Ｓパラメータ・ＴＤＲ測定）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0835 | マイクロ波・ミリ波伝送特性測定 （Sパラメータ・TDR測定） | １条件１測定につき | 18,040円 | 電子技術部 |
| E0836 | マイクロ波・ミリ波伝送特性測定 （Sパラメータ・TDR測定） １件増 |
１測定増すごとに | 4,730円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
マイクロ波・ミリ波伝送特性測定（プローバー測定）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0845 | マイクロ波・ミリ波伝送特性測定 （プローバー測定） | １条件１測定につき | 32,120円 | 電子技術部 |
| E0846 | マイクロ波・ミリ波伝送特性測定 （プローバー測定） １件増 | １測定増すごとに | 5,390円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
放射妨害波測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1410 | 放射妨害波測定 ２時間まで | ２時間まで | 40,810円 | 電子技術部 |
| E1420 | 放射妨害波測定 1時間増 | １時間増すごとに | 15,730円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
車載機器の放射・伝導妨害波測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1425 | 車載機器の放射・伝導妨害波測定 ２時間まで | ２時間まで | 40,810円 | 電子技術部 |
| E1426 | 車載機器の放射・伝導妨害波測定 １時間増 | １時間増すごとに | 15,730円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
電源・通信ポート伝導妨害波測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1430 | 電源・通信ポート伝導妨害波測定 １時間まで | １時間まで | 24,970円 | 電子技術部 |
| E1440 | 電源・通信ポート伝導妨害波測定 １時間増 | １時間増すごとに | 15,620円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
雑音電力測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1450 | 雑音電力測定 １時間まで | １時間まで | 24,970円 | 電子技術部 |
| E1460 | 雑音電力測定 １時間増 | １時間増すごとに | 15,620円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
放射無線周波電磁界イミュニティ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1472 | 放射無線周波電磁界イミュニティ試験 ２時間まで | ２時間まで | 31,900円 | 電子技術部 |
| E1482 | 放射無線周波電磁界イミュニティ試験 １時間増 | １時間増すごとに | 12,760円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
静電気放電イミュニティ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1490 | 静電気放電イミュニティ試験 １時間まで | １時間まで | 12,760円 | 電子技術部 |
| E1510 | 静電気放電イミュニティ試験 １時間増 | １時間増すごとに | 7,370円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
電気的ファーストトランジェント/ バーストイミュニティ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1520 | 電気的ファーストトランジェント/バーストイミュニティ試験 １時間まで |
１時間まで | 12,760円 | 電子技術部 |
| E1530 | 電気的ファーストトランジェント/バーストイミュニティ試験 １時間増 |
１時間増すごとに | 7,370円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
雷サージイミュニティ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1540 | 雷サージイミュニティ試験 １時間まで | １時間まで | 12,760円 | 電子技術部 |
| E1550 | 雷サージイミュニティ試験 １時間増 | １時間増すごとに | 7,370円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
誘導伝導電磁界イミュニティ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1553 | 誘導伝導電磁界イミュニティ試験 １時間まで | １時間まで | 19,580円 | 電子技術部 |
| E1554 | 誘導伝導電磁界イミュニティ試験 １時間増 | １時間増すごとに | 13,090円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動イミュニティ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1555 | 電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動イミュニティ試験 １時間まで |
１時間まで | 10,120円 | 電子技術部 |
| E1556 | 電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動イミュニティ試験 １時間増 |
１時間増すごとに | 5,610円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
インパルスノイズ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1560 | インパルスノイズ試験 １時間まで | １時間まで | 12,760円 | 電子技術部 |
| E1570 | インパルスノイズ試験 １時間増 | １時間増すごとに | 7,370円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
電磁波シールド効果測定 (100kHz～1GHz、 KEC法)
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1581 | 電磁波シールド効果測定 （100kHz～1GHz、KEC法） | １試料１測定（電界または磁界）につき | 6,490円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
マイクロ波電磁波シールド効果測定 (1GHz～ 8.5GHz、2焦点型扁平空洞)
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1600 | マイクロ波電磁波シールド効果測定 （1GHz～8.5GHz、2焦点型扁平空洞） |
１試料１測定につき | 7,370円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
電波透過特性測定（マイクロ波帯）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1605 | 電波透過特性測定（マイクロ波帯） | １条件１測定につき | 16,940円 | 電子技術部 |
| E1606 | 電波透過特性測定（マイクロ波帯） １件増 | １測定増すごとに | 7,810円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
電波吸収率測定（簡易アンテナ法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1610 | 電波吸収率測定（簡易アンテナ法） | １条件１測定につき | 14,300円 | 電子技術部 |
| E1620 | 電波吸収率測定（簡易アンテナ法） １件増 | １測定増すごとに | 3,960円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E8270 | 伝導イミュニティ測定システム | ノイズ研究所 ESS-B3011 | 4,070円 | 電子技術部 |
| K2310 | 電波暗室（測定帯域 30MHz～１GHz） [TDK製（３m法）] （１時間以内） |
TDK製（３m法） | 8,140円 | 川崎技術支援部 |
| K2311 | 電波暗室（測定帯域 30MHz～１GHz） [TDK製（３m法）] （追加30分当たり） |
TDK製（３m法） | 3,960円 | 川崎技術支援部 |
| K2315 | 電波暗室 （測定帯域 １GHz～6GHz） [TDK製（３m法）] （１時間以内） |
TDK製（３m法） | 9,460円 | 川崎技術支援部 |
| K2316 | 電波暗室 （測定帯域 １GHz～6GHz） [TDK製（３m法）] （追加30分当たり） |
TDK製（３m法） | 4,510円 | 川崎技術支援部 |
| K2430 | シールドルーム [SH-H1313] （１時間以内） | ノイズ研究所 SH-H1313 | 3,300円 | 川崎技術支援部 |
| K2431 | シールドルーム [SH-H1313] （追加30分当たり） | ノイズ研究所 SH-H1313 | 1,210円 | 川崎技術支援部 |
| K2440 | シールドテント [TM-2.5-1.7-2-2] （１時間以内） | 富山電気ビルディング TM-2.5-1.7-2-2 | 3,190円 | 川崎技術支援部 |
| K2441 | シールドテント [TM-2.5-1.7-2-2] （追加30分当たり） | 富山電気ビルディング TM-2.5-1.7-2-2 | 1,430円 | 川崎技術支援部 |
| K2450 | EMI測定システムＡ（放射雑音測定） [N9010A EXA] （１時間以内） |
キーサイト N9010A EXA | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
| K2451 | EMI測定システムＡ（放射雑音測定） [N9010A EXA] （追加30分当たり） |
キーサイト N9010A EXA | 1,650円 | 川崎技術支援部 |
| K2460 | EMI測定システムＡ（伝導性雑音測定） [N9010A EXA] （１時間以内） | キーサイト N9010A EXA | 4,070円 | 川崎技術支援部 |
| K2461 | EMI測定システムＡ（伝導性雑音測定） [N9010A EXA] （追加30分当たり） |
キーサイト N9010A EXA | 1,210円 | 川崎技術支援部 |
| K2350 | インピーダンス安定化回路網（ISN） [ISN T8,T8CAT6] （１時間以内） |
TESEQ ISN T8,T8CAT6 | 1,320円 | 川崎技術支援部 |
| K2351 | インピーダンス安定化回路網（ISN） [ISN T8,T8CAT6] （追加30分当たり） |
TESEQ ISN T8,T8CAT6 | 770円 | 川崎技術支援部 |
| K2330 | 電源高調波電流測定器 [PM3000ACE他] （１時間以内） | Voltec PM3000ACE他 | 2,860円 | 川崎技術支援部 |
| K2331 | 電源高調波電流測定器 [PM3000ACE他] （追加30分当たり） | Voltec PM3000ACE他 | 1,430円 | 川崎技術支援部 |
| K2380 | パルスイミュニティ試験器 [Compact NX5] （１時間以内） | EM Test Compact NX5 | 2,970円 | 川崎技術支援部 |
| K2381 | パルスイミュニティ試験器 [Compact NX5] （追加30分当たり） | EM Test Compact NX5 | 1,320円 | 川崎技術支援部 |
| K2360 | 静電気試験器 [ESS-S3011>-30R] （１時間以内） | ノイズ研究所 ESS-S3011>-30R | 2,420円 | 川崎技術支援部 |
| K2361 | 静電気試験器 [ESS-S3011>-30R] （追加30分当たり） | ノイズ研究所 ESS-S3011>-30R | 1,210円 | 川崎技術支援部 |
| K2776 | 伝導イミュニティ試験器 [NSG2070] （１時間以内） | SCHAFFNER NSG2070 | 2,860円 | 川崎技術支援部 |
| K2777 | 伝導イミュニティ試験器 [NSG2070] （追加30分当たり） | SCHAFFNER NSG2070 | 1,430円 | 川崎技術支援部 |
| K2370 | ノイズシミュレータ [INS-4040] （１時間以内） | ノイズ研究所 INS-4040 | 2,860円 | 川崎技術支援部 |
| K2371 | ノイズシミュレータ [INS-4040] （追加30分当たり） | ノイズ研究所 INS-4040 | 1,430円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
燃料電池・二次電池評価
燃料電池の電極作製（スプレー塗工）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3255 | 燃料電池の電極作製(スプレー塗工) | １時間当たり | 4,730円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
燃料電池の発電試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3241 | 燃料電池の発電試験 | １時間当たり | 8,470円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
燃料電池スタック試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3253 | 燃料電池スタック試験（１） | 24時間まで（8時間当たり） | 4,510円 | 化学技術部 |
| E3254 | 燃料電池スタック試験（２） 24時間増 | 24時間増すごとに | 7,150円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
燃料電池の露点測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3251 | 燃料電池の露点測定（１） | 24時間まで（１時間当たり） | 4,180円 | 化学技術部 |
| E3252 | 燃料電池の露点測定（２） 24時間増 | 24時間増すごとに | 25,520円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
電解質膜のガス透過性測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3242 | 電解質膜のガス透過性測定 | １試料につき（１時間当たり） | 6,380円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
電池充放電試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3261 | 電池充放電試験（１） | １試料につき６時間まで | 23,760円 | 化学技術部 |
| E3262 | 電池充放電試験（２） 6時間増 | ６時間増すごとに | 10,780円 | 化学技術部 |
| E3280 | 試料調製（１） （比較的容易） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 3,300円 | 化学技術部 |
| E3290 | 試料調製（２） （比較的複雑） | E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 | 6,710円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
電極の熱ロールプレス処理
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3263 | 電極の熱ロールプレス処理 | １試料１時間につき | 4,070円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
大型電池充放電試験（２kW以下）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3265 | 大型電池充放電試験（２kW以下）（１） | １試料につき6時間まで | 9,020円 | 化学技術部 |
| E3266 | 大型電池充放電試験（２kW以下）（２） 6時間増 | ６時間増すごとに | 5,940円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
太陽電池評価
太陽電池のIPCE測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3310 | 太陽電池のIPCE測定 | １試料につき | 41,360円 | 川崎技術支援部 |
| K3312 | 太陽電池のIPCE測定 追加 | １試料または１条件追加につき | 11,660円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
太陽電池のI-V測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3320 | 太陽電池のI-V測定 | １試料につき | 42,570円 | 川崎技術支援部 |
| K3322 | 太陽電池のI-V測定 追加 | １試料または１条件追加につき | 11,880円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
太陽電池のI-V測定 LED特定波長
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3330 | 太陽電池のI-V測定 LED特定波長 | １試料につき | 23,100円 | 川崎技術支援部 |
| K3332 | 太陽電池のI-V測定 LED特定波長 追加 | １試料または１条件追加につき | 7,150円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
低照度環境下におけるI-V測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3620 | 低照度環境下におけるI-V測定 | １条件につき | 5,500円 | 川崎技術支援部 |
| K3622 | 低照度環境下におけるI-V測定 追加 | １試料または１条件追加につき | 2,640円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
XeランプSSによる連続照射
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3350 | XeランプSSによる連続照射 | 24時間につき | 22,770円 | 川崎技術支援部 |
| K3352 | XeランプSSによる連続照射 追加 | 追加24時間につき | 20,240円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
LED-SSによる特定波長の光照射
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3360 | LED-SSによる特定波長の光照射 | 24時間につき | 33,000円 | 川崎技術支援部 |
| K3362 | LED-SSによる特定波長の光照射 追加 | 追加24時間につき | 30,360円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
２灯式SSによる連続照射
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3610 | 2灯式SSによる連続照射 | 24時間につき（150mm角まで 山下電装YSS-T150Aを使用） |
54,670円 | 川崎技術支援部 |
| K3612 | 2灯式SSによる連続照射 追加 | 追加24時間につき（150mm角まで 山下電装YSS-T150Aを使用） |
52,800円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
低照度光源による光照射
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3630 | 低照度光源による光照射 | １時間につき | 4,180円 | 川崎技術支援部 |
| K3632 | 低照度光源による光照射 24時間 | 24時間につき | 30,140円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
無抵抗電流計による電流値測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3640 | 無抵抗電流計による電流値測定 | １時間につき | 1,210円 | 川崎技術支援部 |
| K3642 | 無抵抗電流計による電流値測定 24時間 | 24時間につき | 9,130円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
データロガーによる測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3650 | データロガーによる測定 | １時間につき | 1,210円 | 川崎技術支援部 |
| K3652 | データロガーによる測定 24時間 | 24時間につき | 9,240円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
オシロスコープ
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3655 | オシロスコープ | １時間につき | 2,090円 | 川崎技術支援部 |
| K3657 | オシロスコープ 24時間 | 24時間につき | 10,450円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
連続光照射に伴う簡易なI-V測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3390 | 連続光照射に伴う簡易なI-V測定 | １回につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
太陽電池のインピーダンス測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3395 | 太陽電池のインピーダンス測定 | １試料につき | 14,410円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
発電面積規定用遮光マスク（面積測定済み）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3420 | 発電面積規定用遮光マスク（面積測定済み） | １枚につき | 1,870円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
光触媒評価
光触媒の窒素酸化物除去性能試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3010 | 光触媒の窒素酸化物除去性能試験 | １試験につき | 71,170円 | 川崎技術支援部 |
| K3015 | 光触媒の窒素酸化物除去性能試験 －再生率－ | １試験につき | 20,020円 | 川崎技術支援部 |
| K3110 | 光触媒試料調製 | 処理時間30分につき | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3050 | 光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験 | １試験につき | 48,840円 | 川崎技術支援部 |
| K3055 | 光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験 －バッグ法 | １試験につき | 44,990円 | 川崎技術支援部 |
| K3110 | 光触媒試料調製 | 処理時間30分につき | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
光触媒のトルエン除去性能試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3060 | 光触媒のトルエン除去性能試験 | １試験につき | 44,880円 | 川崎技術支援部 |
| K3110 | 光触媒試料調製 | 処理時間30分につき | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
光触媒のホルムアルデヒド除去性能試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3070 | 光触媒のホルムアルデヒド除去性能試験 | １試験につき | 66,110円 | 川崎技術支援部 |
| K3110 | 光触媒試料調製 | 処理時間30分につき | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
光触媒のメチルメルカプタン除去性能試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3075 | 光触媒のメチルメルカプタン除去性能試験 | １試験につき | 71,610円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
光触媒のセルフクリーニング試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3020 | 光触媒のセルフクリーニング試験 湿式分解性能の測定 | １試験につき | 48,620円 | 川崎技術支援部 |
| K3030 | 光触媒のセルフクリーニング試験 水接触角の測定 | １試験につき | 71,610円 | 川崎技術支援部 |
| K3110 | 光触媒試料調製 | 処理時間30分につき | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
光触媒の水浄化性能試験（JISR1704準拠）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3080 | 光触媒の水浄化性能試験（JISR1704準拠） （明条件のみ） | １試験につき | 81,840円 | 川崎技術支援部 |
| K3085 | 光触媒の水浄化性能試験（JISR1704準拠） （暗条件のみ） | １試験につき | 81,840円 | 川崎技術支援部 |
| K3110 | 光触媒試料調製 | 処理時間30分につき | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
光触媒性能試験JIS試験条件不成立時 （試験途中中止時）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3105 | 光触媒性能試験JIS試験条件不成立時 （試験途中中止時） | １試験につき | 24,310円 | 川崎技術支援部 |
| K3110 | 光触媒試料調製 | 処理時間30分につき | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
その他光触媒性能試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3122 | その他光触媒性能試験 | １時間につき | 7,150円 | 川崎技術支援部 |
| K3110 | 光触媒試料調製 | 処理時間30分につき | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
空気清浄機によるたばこ煙成分の脱臭試験（JEM1467に準じた試験法）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3090 | 空気清浄機によるたばこ煙成分の脱臭試験 （JEM1467に準じた試験法） |
１試験につき | 69,740円 | 川崎技術支援部 |
| K3110 | 光触媒試料調製 | 処理時間30分につき | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
水接触角の測定（光触媒JIS試験以外）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3042 | 水接触角の測定（光触媒JIS試験以外） | １試料１点につき | 4,950円 | 川崎技術支援部 |
| K3047 | 水接触角の測定（光触媒JIS試験以外）追加 | １点追加につき | 1,210円 | 川崎技術支援部 |
| K3110 | 光触媒試料調製 | 処理時間30分につき | 3,740円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
繊維性能評価
繊維熱物性試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3450 | 繊維熱物性試験 | １試料１測定につき | 6,050円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
重量測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3460 | 重量測定 | １試料につき | 660円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
編織物厚さ測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3620 | 編織物厚さ測定 | １試料につき | 1,980円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
編織物通気度試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3650 | 編織物通気度試験 | １試料につき | 3,080円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
編織物強伸度測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3661 | 編織物強伸度測定 | １試料１方向につき | 3,300円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
糸強伸度測定（容易なもの）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3820 | 糸強伸度測定（容易なもの） | １試料につき | 1,210円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E8550 | 風合い計測システム | カトーテック KES-F7ｻｰﾓﾗﾎﾞⅡ | 3,630円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
木材性能評価
摩耗試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4250 | 摩耗試験 | １試料につき | 4,290円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
圧縮試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4210 | 圧縮試験 | １試料につき | 3,190円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
引張試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4220 | 引張試験 | １試料につき | 3,410円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
曲げ試験（50kN以下）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4240 | 曲げ試験（50kN以下） | １試料につき | 2,750円 | 情報・生産技術部 |
| E4241 | 曲げ試験（50kN以下） （曲げ強さ及び曲げヤング係数の算出を必要とするもの） |
１試料につき | 4,180円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
局所構造試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4260 | 局所構造試験 | １試料１測定につき | 3,190円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
密度測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4270 | 密度測定 | １試料につき | 1,650円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
含水率測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4280 | 含水率測定 | １試料につき | 6,490円 | 情報・生産技術部 |
| E4281 | 含水率測定 １増 | 一緒の工程で１試料増すごとに | 2,530円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
いす繰返し衝撃試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4310 | いす繰返し衝撃試験（１） | １試料１条件につき（4,000回まで） | 9,020円 | 情報・生産技術部 |
| E4320 | いす繰返し衝撃試験（２） 4,000回増 | 同一試料に連続し4,000回増すごとに | 5,170円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
いす繰返し耐久性試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4350 | いす繰返し耐久性試験（１） | １試料１条件につき（5,000回まで） | 9,900円 | 情報・生産技術部 |
| E4360 | いす繰返し耐久性試験（２） 5,000回増 | 同一試料に連続し5,000回増すごとに | 5,170円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
垂直過重下の強度試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4370 | 垂直過重下の強度試験 | １試料１条件につき | 3,740円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
背もたれの静的強度試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4380 | 背もたれの静的強度試験 | １試料１条件につき | 3,740円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
脚部の静的強度試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4390 | 脚部の静的強度試験 | １試料１条件につき | 3,740円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
煮沸繰返し試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4480 | 煮沸繰返し試験 | １試料につき | 2,750円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
温冷水浸せき試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4490 | 温冷水浸せき試験 | １試料につき | 1,760円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
試料調整
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4510 | 試料調製（１） （のこ盤、かんな盤などによる試験片作製） | １試料（30分につき） | 1,650円 | 情報・生産技術部 |
| E4520 | 試料調製（２） （接着調湿等の前処理を伴うもの） | １試料につき | 2,530円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E6080 | 万能材料試験機 | オリエンテック UTA-5T | 1,320円 | 情報・生産技術部 |
| E9016 | 摩耗試験機 （研磨紙使用無し） | 東洋精機 NO410 GS10付 | 220円 | 情報・生産技術部 |
左右にスクロールできます
塗膜・めっき性能評価
塗膜物性試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3010 | 塗膜物性試験 | １試料につき | 1,870円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
蛍光X線法による膜厚測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3020 | 蛍光X線法による膜厚測定 | １試料１ヶ所につき | 5,170円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
光沢度測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3030 | 光沢度測定 | １試料につき | 3,740円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
色彩測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3040 | 色彩測定 | １試料につき | 3,630円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
浸せき試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3050 | 浸せき試験 | 室温で実施の場合 1試料24時間まで （試験液費用は別途負担） |
4,730円 | 化学技術部 |
| E3051 | 浸せき試験 24時間増 | 24時間増すごとに | 770円 | 化学技術部 |
| E3052 | 浸せき試験用試薬調製 | １試料につき | 3,410円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
煮沸試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3071 | 煮沸試験 | １試料８時間につき | 3,630円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
耐熱性試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3080 | 耐熱性試験 | １試料500℃まで８時間につき | 2,420円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
外観撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3090 | 外観撮影 | １枚につき | 440円 | 化学技術部 |
| E3095 | 外観撮影（色彩調整を要するもの） | １枚につき | 2,310円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E8910 | 乾式塗装ブース | サンエス工業 DS-CSS-1200 | 1,980円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
接着性能評価
接着強さ試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2861 | 接着強さ試験 | １試験片につき | 4,180円 | 化学技術部 |
| E2872 | 恒温槽使用（-30～200℃） | １試験片１時間につき （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用） |
2,970円 | 化学技術部 |
| E2873 | 恒温恒湿槽使用 | １試験片１時間につき （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用） |
4,070円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
はく離接着強さ試験（室温）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E2862 | はく離接着強さ試験（室温） | １試験片につき | 4,620円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
バイオ・食品
一般生菌数測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5011 | 一般生菌数測定 | １試料につき | 5,060円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
嫌気性菌数測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5031 | 嫌気性菌数測定 | １試料につき | 6,380円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
抗菌性評価試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5036 | 抗菌性評価試験 | １試料１測定につき | 6,600円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
蛍光顕微鏡観察（生物試料）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5038 | 蛍光顕微鏡観察（生物試料） | １試料１測定につき | 6,380円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
抗酸化性測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5040 | 抗酸化性測定（１） | １試料につき | 3,960円 | 化学技術部 |
| E5041 | 抗酸化性測定（２） （H－ＯＲＡＣ法による） | １試料につき | 12,760円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
酵素阻害活性測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5060 | 酵素阻害活性測定（１） （複雑なもの） | １試料につき | 7,700円 | 化学技術部 |
| E5061 | 酵素阻害活性測定（２） （容易なもの） | １試料につき | 5,500円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
抗糖化性測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5062 | 抗糖化性測定（１） （複雑なもの） | １試料につき | 7,370円 | 化学技術部 |
| E5063 | 抗糖化性測定（２） （容易なもの） | １試料につき | 5,500円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
水分定量（常圧乾燥法による）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5090 | 水分定量（常圧乾燥法による） | １試料につき | 4,950円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
遊離アミノ酸組成分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5091 | 遊離アミノ酸組成分析 | １試料につき | 43,120円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
タンパク質定量（Bradford法、Lowry法、BCA法による）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5100 | タンパク質定量 （Bradford法、Lowry法、BCA法による） | １試料につき | 4,620円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
タンパク質電気泳動試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5105 | タンパク質電気泳動試験 | １試料につき | 7,590円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
脂質定量（ソックスレー抽出法による）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5110 | 脂質定量（ソックスレー抽出法による） | １試料につき | 5,720円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
灰分定量（直接灰化法による）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5120 | 灰分定量（直接灰化法による） | １試料につき | 5,500円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
総ポリフェノール定量（Folin-Ciocalteu法による）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5130 | 総ポリフェノール定量 （Folin-Ciocalteu法による） | １試料につき | 4,620円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
総アントシアニン定量（pH differential法による）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5135 | 総アントシアニン定量 （pH differential法による） | １試料につき | 6,930円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
総プロアントシアニジン定量（ＤＭＡＣ法による）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5136 | 総プロアントシアニジン定量（ＤＭＡＣ法による） | １試料につき | 4,620円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
総フラボノイド定量（塩化アルミニウム法による）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5137 | 総フラボノイド定量（塩化アルミニウム法による） | １試料につき | 5,060円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
炭水化物定量（フェノール-硫酸法による）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5140 | 炭水化物定量（フェノール-硫酸法による） | １試料につき | 5,500円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
リグニン定量（硫酸法による）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5150 | リグニン定量（硫酸法による） | １試料につき | 9,020円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
サフラン試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5160 | サフラン試験 | １試料につき | 24,310円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
凍結乾燥
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5170 | 凍結乾燥 （24時間まで） | 24時間まで | 6,050円 | 化学技術部 |
| E5171 | 凍結乾燥 （24時間増すごとに） | 24時間増すごとに | 2,640円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
凍結乾燥（温度制御有）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5175 | 凍結乾燥（温度制御有） （24時間まで） | 24時間まで | 11,770円 | 化学技術部 |
| E5176 | 凍結乾燥（温度制御有） （24時間増すごとに） | 24時間増すごとに | 8,140円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
冷却遠心分離
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3325 | 冷却遠心分離 | １時間まで | 5,390円 | 化学技術部 |
| E3326 | 冷却遠心分離 １時間増 | １時間増すごとに （E3325に適用） | 5,060円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
試料調製
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5180 | 試料調製（１） （簡易なもの） | E5011～E5176、E3325に適用 | 1,760円 | 化学技術部 |
| E5181 | 試料調製（２） （基本的なもの） | E5011～E5176、E3325に適用 | 3,630円 | 化学技術部 |
| E5182 | 試料調製（３） （複雑なもの） | E5011～E5176、E3325に適用 | 7,150円 | 化学技術部 |
| E5183 | 試料調製（４） （困難なもの） | E5011～E5176、E3325に適用 | 10,890円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
超臨界炭酸ガス抽出
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3310 | 超臨界炭酸ガス抽出 | １試料、30分間につき | 14,300円 | 化学技術部 |
| E3314 | 超臨界炭酸ガス抽出 30分増 | 30分増すごとに（E3310に適用） | 3,850円 | 化学技術部 |
| E3312 | エントレーナー使用（超臨界炭酸ガス抽出） | １試料、30分間につき（E3310に適用） | 4,290円 | 化学技術部 |
| E3313 | コールドトラップ使用（超臨界炭酸ガス抽出） | １試料、30分間につき（E3310に適用） | 2,200円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7180 | 蛍光顕微鏡（生物試料） | サーモフィッシャーサイエンティフィック AMF5000 | 2,640円 | 化学技術部 |
| E8725 | 冷却遠心機 | エッペンドルフ・ハイマック・テクノロジーズ CR21N | 1,760円 | 化学技術部 |
| E9040 | 濃縮機 （遠心式濃縮機） | タイテック VC-96N | 110円 | 化学技術部 |
| E9060 | フレンチプレス細胞破砕機 | アミンコ FA078 | 440円 | 化学技術部 |
| E9061 | マルチ検出モードプレートリーダー | テカンジャパン Infinite200Pro | 1,430円 | 化学技術部 |
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寸法測定・形状測定
三次元座標測定（接触式測定）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0225 | 三次元座標測定（接触式測定） | １時間当たり | 18,480円 | 情報・生産技術部 |
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三次元座標測定（光学式測定）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0230 | 三次元座標測定（光学式測定） | １時間当たり | 8,470円 | 情報・生産技術部 |
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表面粗さ測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0245 | 表面粗さ測定 | １試料１ヶ所につき | 1,430円 | 情報・生産技術部 |
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三次元座標測定（3Dデジタイザ）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0235 | 三次元座標測定（3Dデジタイザ） | １時間当たり | 7,700円 | 情報・生産技術部 |
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表面形状測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0255 | 表面形状測定 | １試料１ヶ所につき | 1,870円 | 情報・生産技術部 |
| E0260 | 形状評価 | １寸法につき | 220円 | 情報・生産技術部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7810 | 万能測定顕微鏡 | カールツァイス UMM300/100 | 2,090円 | 情報・生産技術部 |
| E7830 | 表面形状測定装置 | 東京精密 サーフコムNEX241 SD2-13 | 1,980円 | 情報・生産技術部 |
| K6370 | 表面粗さ形状測定機 [サーフコム 550A] | 東京精密 サーフコム550A | 1,430円 | 川崎技術支援部 |
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非破壊検査
Ｘ線透過試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0960 | Ｘ線透過試験 | １時間当たり | 7,590円 | 機械・材料技術部 |
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Ｘ線ＣＴ撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0981 | Ｘ線ＣＴ撮影 | １測定につき | 33,440円 | 機械・材料技術部 |
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高出力高精細Ｘ線ＣＴ撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0985 | 高出力高精細X線CT撮影 | １時間当たり | 16,830円 | 機械・材料技術部 |
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非破壊超音波映像撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0990 | 非破壊超音波映像撮影 | １時間当たり | 9,020円 | 電子技術部 |
| E0991 | 非破壊超音波映像撮影 （データ解析のみ） | １解析当たり | 3,520円 | 電子技術部 |
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マイクロフォーカスＸ線検査装置
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K1720 | マイクロフォーカスＸ線検査装置 | 30分以内 | 7,040円 | 川崎技術支援部 |
| K1725 | マイクロフォーカスＸ線検査装置 追加 | 追加15分当たり | 3,080円 | 川崎技術支援部 |
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7230 | Ｘ線透視装置 | 島津製作所 SMX-2000 | 4,290円 | 機械・材料技術部 |
| E7240 | Ｘ線ＣＴスキャン装置 | ユニハイトシステム XVA-160 Noix+Presto | 13,310円 | 機械・材料技術部 |
| K2720 | マイクロフォーカスＸ線検査装置 [MXT-160UU] （30分以内） | メディエックステック MXT-160UU | 4,070円 | 川崎技術支援部 |
| K2725 | マイクロフォーカスＸ線検査装置 [MXT-160UU] （追加15分当たり） |
メディエックステック MXT-160UU | 1,650円 | 川崎技術支援部 |
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撮影
高速度カメラ撮影
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4995 | 高速度カメラ撮影 | １時間当たり | 6,050円 | 情報・生産技術部 |
| E4996 | 高速度カメラ撮影 （アナログ波形データ収集装置併用） | １時間当たり | 6,490円 | 情報・生産技術部 |
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音響
時間波形分析（振動）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4974 | 時間波形分析（振動） | １分析につき | 3,740円 | 機械・材料技術部 |
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周波数分析（振動）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4975 | 周波数分析（振動） | １分析につき | 5,500円 | 機械・材料技術部 |
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騒音測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4980 | 騒音測定 | １測定につき | 2,750円 | 機械・材料技術部 |
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オクターブ分析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4981 | オクターブ分析 | １分析につき | 3,300円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
時間波形分析（音）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4982 | 時間波形分析（音） | １分析につき | 3,630円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
周波数分析（音）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4983 | 周波数分析（音） | １分析につき | 5,500円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
音響パワーレベル測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4984 | 音響パワーレベル測定 | １測定につき | 11,110円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
音圧分布測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4985 | 音圧分布測定 | １測定につき | 16,610円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
音質評価解析
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4986 | 音質評価解析 | １測定につき | 6,270円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
音響インピーダンス及び伝搬定数測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4988 | 音響インピーダンス及び伝搬定数測定 | １測定につき | 7,920円 | 機械・材料技術部 |
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垂直入射吸音率測定
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4989 | 垂直入射吸音率測定 | １測定につき | 5,170円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7470 | 簡易半無響室 | 小野測器 | 1,650円 | 機械・材料技術部 |
| E8260 | 音響インテンシティ測定装置 | 小野測器 CF6400INT/MOD | 11,110円 | 機械・材料技術部 |
| E8261 | 音質評価システム | 小野測器 WS-5160 | 3,960円 | 機械・材料技術部 |
| E8263 | 垂直入射吸音率測定システム | 日本音響エンジニアリング WinZacMTX | 1,540円 | 機械・材料技術部 |
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温湿度評価
恒温恒湿槽（低湿度対応，ＰＤＬ）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1378 | 恒温恒湿槽 （低湿度対応，ＰＤＬ) | ８時間まで | 17,380円 | 電子技術部 |
| E1379 | 恒温恒湿槽 （低湿度対応，ＰＤＬ) ８時間増 | ８時間増すごとに | 4,070円 | 電子技術部 |
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恒温恒湿槽
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1250 | 恒温恒湿槽 | 24時間まで | 24,090円 | 電子技術部 |
| E1251 | 恒温恒湿槽 24時間増 | 24時間増すごとに | 9,680円 | 電子技術部 |
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高温槽
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1290 | 高温槽 | 24時間まで | 13,750円 | 電子技術部 |
| E1310 | 高温槽 24時間増 | 24時間増すごとに | 6,710円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
プレッシャークッカー試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1320 | プレッシャークッカー試験 | 24時間まで | 19,800円 | 電子技術部 |
| E1330 | プレッシャークッカー試験 24時間増 | 24時間増すごとに | 12,210円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
冷熱衝撃試験（中・ハイパワータイプ）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1340 | 冷熱衝撃試験（中・ハイパワータイプ） | ８時間まで | 15,510円 | 電子技術部 |
| E1341 | 冷熱衝撃試験（中・ハイパワータイプ） ８時間増 | ８時間増すごとに | 7,700円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
冷熱衝撃試験（中）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1350 | 冷熱衝撃試験（中） | ８時間まで | 12,100円 | 電子技術部 |
| E1360 | 冷熱衝撃試験（中） ８時間増 | ８時間増すごとに | 6,050円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
冷熱衝撃試験（中・TSA）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1363 | 冷熱衝撃試験（中・TSA） | ８時間まで | 14,520円 | 電子技術部 |
| E1364 | 冷熱衝撃試験（中・TSA） ８時間増 | ８時間増すごとに | 7,040円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
HAST試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1365 | HAST試験 | 24時間まで | 20,020円 | 電子技術部 |
| E1366 | HAST試験 24時間増 | 24時間増すごとに | 13,090円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
ハイパワー恒温恒湿槽
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1367 | ハイパワー恒温恒湿槽 | ８時間まで | 17,490円 | 電子技術部 |
| E1368 | ハイパワー恒温恒湿槽 ８時間増 | ８時間増すごとに | 5,280円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
恒温恒湿槽（大、１５０℃対応）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1370 | 恒温恒湿槽（大、150℃対応） | 24時間まで | 35,750円 | 電子技術部 |
| E1375 | 恒温恒湿槽（大、150℃対応） 24時間増 | 24時間増すごとに | 19,140円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
冷熱衝撃試験（大）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1380 | 冷熱衝撃試験（大） | ８時間まで | 16,280円 | 電子技術部 |
| E1385 | 冷熱衝撃試験（大） ８時間増 | ８時間増すごとに | 8,250円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
小型恒温恒湿槽（SH，SU600番台）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1390 | 小型恒温恒湿槽（SH，SU600番台） | 24時間まで | 16,170円 | 電子技術部 |
| E1391 | 小型恒温恒湿槽（SH，SU600番台） 24時間増 | 24時間増すごとに | 5,940円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
小型恒温恒湿槽 （SH，SU200番台）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1392 | 小型恒温恒湿槽（SH，SU200番台） | 24時間まで | 13,090円 | 電子技術部 |
| E1393 | 小型恒温恒湿槽（SH，SU200番台） 24時間増 | 24時間増すごとに | 4,730円 | 電子技術部 |
左右にスクロールできます
人工気象室（小型）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1394 | 人工気象室（小型） | １時間ごとに | 5,280円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
人工気象室（大型）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1395 | 人工気象室（大型） | １時間ごとに | 8,360円 | 化学技術部 |
| E1396 | 日射装置 | １時間ごとに （人工気象室（大型）の料金に加算） |
6,710円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
恒温恒湿槽（中）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5410 | 恒温恒湿槽（中） | 24時間まで | 22,440円 | 川崎技術支援部 |
| K5411 | 恒温恒湿槽（中） 24時間増 | 24時間増すごとに | 9,020円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
恒温恒湿槽（小）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5420 | 恒温恒湿槽（小） | 24時間まで | 18,370円 | 川崎技術支援部 |
| K5421 | 恒温恒湿槽（小） 24時間増 | 24時間増すごとに | 6,930円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
恒温槽
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5430 | 恒温槽 | 24時間まで | 12,210円 | 川崎技術支援部 |
| K5431 | 恒温槽 24時間増 | 24時間増すごとに | 6,270円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
プレッシャークッカー試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5440 | プレッシャークッカー試験 | 24時間まで | 19,800円 | 川崎技術支援部 |
| K5441 | プレッシャークッカー試験 24時間増 | 24時間増すごとに | 12,210円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
冷熱衝撃試験 （小）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K5450 | 冷熱衝撃試験 （小） | ８時間まで | 10,780円 | 川崎技術支援部 |
| K5451 | 冷熱衝撃試験 （小） ８時間増 | ８時間増すごとに | 5,610円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E7310 | 人工気象室 | タバイエスぺック TBL-9W4YPX | 14,190円 | 化学技術部 |
| K6430 | 恒温槽（室温～300℃） [PVH-110M] | エスペック PVH-110M | 660円 | 川崎技術支援部 |
| K6420 | 恒温恒湿槽（小）（-40～150℃） [ETAC TH411HA] | 楠本化成 ETAC TH411HA | 770円 | 川崎技術支援部 |
| K6410 | 恒温恒湿槽（中）（-40～150℃） [ETAC FX424P] | 楠本化成 ETAC FX424P | 1,210円 | 川崎技術支援部 |
| K6465 | 恒温恒湿槽（中）（-40～150℃） [ETAC FX412N-E] | 楠本化成 FX412N-E | 1,100円 | 川崎技術支援部 |
| K6440 | プレッシャークッカー [ETAC PM420] | 楠本化成 ETAC PM420 | 990円 | 川崎技術支援部 |
| K6450 | 冷熱衝撃試験機 （小） [ETAC TS100] | 楠本化成 ETAC TS100 | 1,430円 | 川崎技術支援部 |
| K2815 | 冷熱衝撃試験機 （小） [ETAC NT1050W] | 楠本化成 ETAC NT1050W | 1,430円 | 川崎技術支援部 |
| K2820 | 超低温恒温恒湿槽（-70～150℃） [PSL-2KPH] | エスペック PSL-2KPH | 1,100円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
耐候性・耐食性試験
促進耐候性試験(キセノン)
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E1397 | 促進耐候性試験（キセノン） | 標準条件(放射照度60W/㎡、BPT63℃、スプレー18分/120分)の場合 １試料50時間につき | 20,460円 | 化学技術部 |
| E1398 | 試料取付費 | １ホルダーにつき （E1397に適用） | 3,300円 | 化学技術部 |
| E1399 | 試料抜取り費 | １ホルダーにつき （E1397に適用） | 1,650円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
耐光試験（カーボンアーク）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3520 | 耐光試験（カーボンアーク） | １試料につき20時間 | 1,760円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
塩水噴霧試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E3060 | 塩水噴霧試験 | １試料24時間につき | 2,530円 | 化学技術部 |
| E3065 | 試験途中の試料観察（槽からの取り出し無し） | 1回につき（E3060に適用） | 440円 | 化学技術部 |
| E3066 | 試験途中の試料観察（槽からの取り出し有り） | １試料１回につき（E3060に適用） | 1,430円 | 化学技術部 |
| E3067 | 試験途中の試料洗浄 | １試料１回につき（E3066に適用） | 660円 | 化学技術部 |
| E3068 | 試験途中の試料抜き去り | １試料１回につき（E3060に適用） | 440円 | 化学技術部 |
左右にスクロールできます
紫外線照射試験（Atlas UV test）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3431 | 紫外線照射試験 [Atlas UV test] | 24時間につき | 6,270円 | 川崎技術支援部 |
| K3434 | 紫外線照射試験 [Atlas UV test] 連続100時間 | 連続運転100時間につき | 23,210円 | 川崎技術支援部 |
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紫外線照射試験（UV-B, C / Atlas UV test）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3436 | 紫外線照射試験 UV-B, C [Atlas UV test] | 24時間につき | 7,150円 | 川崎技術支援部 |
| K3437 | 紫外線照射試験 UV-B, C [Atlas UV test] 連続100時間 | 連続運転100時間につき | 24,970円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
小型Xe耐光試験機（東洋精機製作所 Atlas SUNTEST XLS+）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K3440 | 小型Xe耐光試験 [Atlas SUNTEST XLS+] | 24時間につき | 7,700円 | 川崎技術支援部 |
| K3442 | 小型Xe耐光試験 [Atlas SUNTEST XLS+] 連続100時間 | 連続運転100時間につき | 26,950円 | 川崎技術支援部 |
左右にスクロールできます
疲労・振動耐久性
製品強度試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0160 | 製品強度試験（１）（簡単な試験） | １試験につき | 8,690円 | 機械・材料技術部 |
| E0165 | 製品強度試験（２）（標準的な試験） | １試験につき | 15,510円 | 機械・材料技術部 |
| E0170 | 製品強度試験（３）（複雑な試験） | １試験につき | 24,090円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
疲労試験 大型構造物
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E0431 | 疲労試験 大型構造物 ８時間以内 | １試験につき | 23,540円 | 機械・材料技術部 |
| E0435 | 疲労試験 ８時間増 （E0420, E0431に適用） | ８時間を超えて８時間増すごとに | 8,580円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
振動試験
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4976 | 振動試験 | １時間当たり | 8,690円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
振動試験（大型の試験機によるもの）
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E4979 | 振動試験 （大型の試験機によるもの） | １時間当たり | 11,110円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E8711 | 振動試験機 | IMV VS-2000A-140T | 5,280円 | 機械・材料技術部 |
| E8712 | 振動試験機 （大型） | IMV i250/SA5M | 7,370円 | 機械・材料技術部 |
左右にスクロールできます
その他
成績書の複本・データ等の交付
成績書の複本・データ等の交付
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5350 | 成績書の複本・データ等の交付 | １通につき （写真を含む場合は別に加算することができる） |
297円 | |
| K9030 | 成績書の複本・データ等の交付 | １通につき （写真を含む場合は別に加算することができる） |
297円 | 川崎技術支援部 |
| K9050 | 技術開発受託報告書の作成（データ処理） | 基本単位 （難易度により加算あり） | 2,970円 | 川崎技術支援部 |
| K9060 | 技術開発受託報告書の作成（考察） | 基本単位 （難易度により加算あり） | 6,050円 | 川崎技術支援部 |
| K9070 | 技術開発受託報告書の複本・データ等の交付 | １通につき （写真を含む場合は別に加算することができる） |
297円 | 川崎技術支援部 |
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研究生の指導
Warning: Undefined array key "experiment" in /home/kir505164/public_html/connect/verbinden/wp-content/themes/kistec/page-support-price.php on line 378
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機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E5310 | 研究生の指導 | １人１日につき | 1,100円 | |
| E5320 | 研究生の指導 １人増 | 研究生１人増すごとに | 550円 | |
| K7030 | 機器操作指導料（開放利用時に適用） 15分当たり | 立会人１人、15分当たり | 3,080円 | 川崎技術支援部 |
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製品開発室
Warning: Undefined array key "experiment" in /home/kir505164/public_html/connect/verbinden/wp-content/themes/kistec/page-support-price.php on line 378
Warning: foreach() argument must be of type array|object, null given in /home/kir505164/public_html/connect/verbinden/wp-content/themes/kistec/page-support-price.php on line 378
機器使用
- ※特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E9210 | 製品開発室 | 実験棟 １･２･４階 | 88円 | 事業化支援部 |
| E9220 | ドラフトチャンバー（製品開発室） | 実験棟 １階 | 220円 | 事業化支援部 |
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