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料金表PRICE LIST

KISTECに試験を依頼される際と、機器をご利用になる際の料金をお探しいただけます。

料金表に掲載の項目のほか、ご相談内容に応じて、料金表に無い試験を算定し、ご提示できる場合もございます。お気軽に無料技術相談フォームよりご相談ください。

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    材料分析

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    条件をクリア

    ご利用上の注意

    1. 料金は全て消費税を含んでいます。
    2. この料金表に掲げる以外に実施可能な項目及び使用可能な設備機器もあります。詳細は担当各部へお問い合わせください。
    3. 機器の更新等により項目及び設備機器名並びに料金の額を変更する場合があります。
    4. 担当部名欄のＥ及びＫの表示は、同一試験項目の各拠点の該当する料金番号を示しています。　(Ｅ　海老名本部、Ｋ　溝の口支所)

    材料分析

    定量分析

    定量分析（Ａ） （容易なもの）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1810 定量分析（Ａ）　（容易なもの） １試料，１成分につき（容易なもの） 10,450円 化学技術部

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    定量分析（Ｂ）（複雑なもの）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1820 定量分析（Ｂ）　（複雑なもの） １試料，１成分につき（複雑なもの） 12,650円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    炭素・硫黄分析装置による定量分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1821 炭素・硫黄分析装置による定量分析（Ａ）　（容易なもの） １試料，１成分につき（容易なもの） 9,130円 化学技術部
    E1822 炭素・硫黄分析装置による定量分析（Ｂ）　（複雑なもの） １試料，１成分につき（複雑なもの） 13,530円 化学技術部

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    原子吸光分析法による定量分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1831 原子吸光分析法による定量分析（Ａ）　（容易なもの） １試料，１成分につき（容易なもの） 9,240円 化学技術部
    E1832 原子吸光分析法による定量分析（Ｂ）　（複雑なもの） １試料，１成分につき（複雑なもの） 13,970円 化学技術部

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    ＩＣＰ発光分光分析法による定量分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1891 ICP発光分光分析法による定量分析（Ａ）　（容易なもの） １試料，１成分につき（容易なもの） 9,130円 化学技術部
    E1892 ICP発光分光分析法による定量分析（Ｂ）　（複雑なもの） １試料，１成分につき（複雑なもの） 13,640円 化学技術部

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    ＩＣＰ発光分光分析法による定性分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1911 ICP発光分光分析法による定性分析 １試料につき，基本１0元素まで 20,790円 化学技術部
    E1921 ICP発光分光分析法による定性分析　1元素増 １試料につき，１元素増すごとに 1,980円 化学技術部

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    カールフィッシャー水分測定（直接法）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1930 カールフィッシャー水分測定（直接法） １条件，１試料につき 12,320円 化学技術部
    E1931 カールフィッシャー水分測定（直接法）　1試料増 １試料増すごとに 7,040円 化学技術部

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    カールフィッシャー水分測定（加熱気化法）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1932 カールフィッシャー水分測定（加熱気化法） １条件，１試料につき 15,070円 化学技術部
    E1933 カールフィッシャー水分測定（加熱気化法）　1試料増 １試料増すごとに 10,340円 化学技術部

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    分光蛍光光度計試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2110 分光蛍光光度計試験 １スペクトルにつき 9,680円 化学技術部

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    ＣＨＮ元素分析装置による定量分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2610 CHN元素分析装置による定量分析 １試料につき 18,700円 化学技術部

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    水質試験（Ａ）（容易なもの）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4010 水質試験（Ａ）　（容易なもの） １項目につき　（容易なもの） 6,710円 化学技術部

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    水質試験（Ｂ）（複雑なもの）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4020 水質試験（Ｂ）　（複雑なもの） １項目につき　（複雑なもの） 10,560円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    溶出検液作成

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4030 溶出検液作成（Ａ）　（６成分以下) １試料につき　（6成分以下) 4,840円 化学技術部
    E4040 溶出検液作成（Ｂ）　（７成分以上） １試料につき　（7成分以上） 9,020円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E7170 分光蛍光光度計 日立　F-4010 4,400円 化学技術部

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    ガスクロマトグラフ成分分析

    ガスクロマトグラフによる分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2225 ガスクロマトグラフによる分析 １試料につき 11,220円 化学技術部

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    ガスクロマトグラフ定量分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2235 ガスクロマトグラフ定量分析 １試料１成分につき 16,060円 化学技術部
    E2236 ガスクロマトグラフ定量分析　1成分増 １成分増すごとに 6,490円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    ヘッドスペースガスクロマトグラフによる分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2265 ヘッドスペースガスクロマトグラフによる分析 １試料につき 16,500円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2275 ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析 １試料１成分につき 22,770円 化学技術部
    E2276 ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析　1成分増 １成分増すごとに 6,490円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2310 ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ） １試料１成分につき 44,770円 化学技術部
    E2311 ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ）　定性分析　1成分増 １成分増すごとに 5,720円 化学技術部
    E2312 ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ）　定量分析　1成分増 １成分増すごとに 6,710円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    ヘッドスペースＧＣＭＳ分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2330 ヘッドスペースＧＣＭＳ分析 １試料１成分につき 57,860円 化学技術部
    E2331 ヘッドスペースＧＣＭＳ分析　　定性分析　1成分増 １成分増すごとに 5,720円 化学技術部
    E2332 ヘッドスペースＧＣＭＳ分析　　定量分析　1成分増 １成分増すごとに 6,710円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    サーマルデソープションＧＣＭＳ分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2340 サーマルデソープションＧＣＭＳ分析 １試料１成分につき 62,150円 化学技術部
    E2341 サーマルデソープションＧＣＭＳ分析　定性分析　1成分増 １成分増すごとに 5,720円 化学技術部
    E2342 サーマルデソープションＧＣＭＳ分析　定量分析　1成分増 １成分増すごとに 6,710円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    化学イオン化（ＣＩ）法によるＧＣＭＳ分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2350 化学イオン化（ＣＩ）法によるＧＣＭＳ分析 １試料につき　（E2310, E2330, E2340に適用） 12,980円 化学技術部

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    熱分解GCMS分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2360 熱分解ＧＣＭＳ分析 １試料１成分につき 58,850円 化学技術部
    E2361 熱分解ＧＣＭＳ分析　定性分析　1成分増 １成分増すごとに 5,720円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

     
    該当する情報はありません

    液体クロマトグラフ成分分析

    イオンクロマトグラフ分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2211 イオンクロマトグラフ分析（１）　（一般的なもの） １測定につき 17,600円 化学技術部
    E2212 イオンクロマトグラフ分析（２）　（特殊なもの） １測定につき 22,440円 化学技術部
    E2215 試料調製（溶出前処理） E2211, E2212に適用 4,730円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    高速液体クロマトグラフ分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2281 高速液体クロマトグラフ分析　（分析条件検討を含まない） １試料１成分につき 12,320円 化学技術部
    E2282 高速液体クロマトグラフ分析　（簡単な分析条件を含む） １試料１成分につき 31,460円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    液体クロマトグラフ－質量分析（飛行時間型）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2290 液体クロマトグラフ－質量分析　（飛行時間型）　
    （分析条件検討を含まない）    		 １試料１成分につき 47,960円 化学技術部
    E2291 液体クロマトグラフ－質量分析　（飛行時間型）　
    （簡単な分析条件の検討）    		 １試料につき　（E2290に適用） 25,520円 化学技術部
    E2292 液体クロマトグラフ－質量分析　（飛行時間型）　
    定性分析1成分増    		 １成分増すごとに 4,510円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    液体クロマトグラフ－質量分析（四重極型）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2294 液体クロマトグラフ－質量分析　（四重極型）　
    （分析条件検討を含む）    		 １試料１成分につき 41,360円 化学技術部
    E2295 液体クロマトグラフ－質量分析　（四重極型）　
    （分析条件検討を含まない）    		 １試料１成分につき 21,010円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

     
    該当する情報はありません

    固体・表面分析

    Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）表面分析（ワイドスキャンのみ）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5002 Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ） １試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ） 27,610円 川崎技術支援部
    K5005 Ｘ線光電子分光分析
    （走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ） 追加試料    		 追加１試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ） 21,780円 川崎技術支援部
    K5007 Ｘ線光電子分光分析
    （走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ）　条件増    		 １条件増すごとに（ワイドスキャンのみ） 5,610円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2570 電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA） １ヶ所につき 29,370円 機械・材料技術部
    E2581 エネルギー分散型X線分析（EDS・FE-EPMAによる） １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） 7,260円 機械・材料技術部
    E2582 表面観察（FE-EPMAによる）　１ヶ所増 同一試料で１ヶ所増すごとに（E2570, E2580に適用） 4,510円 機械・材料技術部
    E2590 電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA）　追加分析 １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） 9,130円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    蛍光Ｘ線法による微小部定性分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1841 蛍光Ｘ線法（XRF）による微小部定性分析 １試料，１ヶ所につき 9,570円 化学技術部
    E1842 蛍光Ｘ線法（XRF）による微小部定性分析　1条件増 １条件増すごとに 3,520円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    蛍光Ｘ線定性分析（波長分散方式）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1860 蛍光Ｘ線定性分析（XRF）（波長分散方式） １試料につき 22,440円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    X線光電子分光分析（XPS）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1882 Ｘ線光電子分光分析（XPS）　（簡単なもの)　 １試料１ヶ所につき 18,150円 機械・材料技術部
    E1884 Ｘ線光電子分光分析（XPS）　（簡単なもの)　条件増 １条件増すごとに 8,250円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    X線光電子分光分析（走査型・XPS）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1980 Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・ワイドスキャンのみ） １試料１ヶ所につき 15,840円 機械・材料技術部
    E1982 Ｘ線光電子分光分析
    （走査型・XPS・ワイドおよびナロースキャン）    		 １試料１ヶ所につき（6元素まで） 23,540円 機械・材料技術部
    E1984 Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・面分析，線分析） １試料１ヶ所につき（5元素まで） 24,640円 機械・材料技術部
    E1986 Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・深さ方向分析） １試料１ヶ所につき（6元素まで） 37,180円 機械・材料技術部
    E1990 Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）　条件増 １条件増すごとに 5,720円 機械・材料技術部
    E1992 Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）　元素増（１） １元素増すごとに（E１982, E１984に適用） 4,950円 機械・材料技術部
    E1994 Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）　元素増（２） １元素増すごとに（E１986に適用） 7,370円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）深さ方向分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5010 Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・深さ方向分析）　 １試料１条件につき
    （主成分のみ、深さ0.2μmまで）    		 82,940円 川崎技術支援部
    K5015 Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・深さ方向分析）　条件増 １条件増すごとに 11,330円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）表面分析（ワイドおよびナロースキャン）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5011 Ｘ線光電子分光分析
    （走査型・XPS・表面分析・ワイドおよびナロースキャン）    		 １試料１条件につき
    （ワイドおよびナロースキャン）    		 49,060円 川崎技術支援部
    K5012 Ｘ線光電子分光分析
    （走査型・XPS・表面分析・ワイドおよびナロースキャン）　 条件増    		 １条件増すごとに（面分析、状態分析加算等） 11,330円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    微小部蛍光Ｘ線分析（XRF）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1210 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） １試料１条件につき 7,590円 川崎技術支援部
    K1211 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF）　条件追加 １条件追加につき 3,520円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    微小部蛍光Ｘ線分析（XRF）　面分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1212 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF）　面分析 面分析１条件につき（５元素まで） 12,100円 川崎技術支援部
    K1213 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF）　面分析　　条件追加 面分析１条件追加につき 2,530円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    K2210 微小部蛍光Ｘ線分析装置（XRF）　[SEA6000VX HSFinder] SII社　　SEA6000VX HSFinder 6,050円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    有機物定性分析

    フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5050 フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR）　　簡易な測定 １試料１条件につき 10,230円 川崎技術支援部
    K5055 フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR） １試料１条件につき 20,350円 川崎技術支援部
    K5056 フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR）　　条件追加 １条件追加につき 8,030円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2021 フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR） １スペクトルにつき 20,350円 化学技術部
    E2023 フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR）用微小試料調製 １試料につき 3,410円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    顕微レーザーラマン分光分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2080 顕微レーザーラマン分光分析 １試料１ヶ所につき 20,460円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    飛行時間型質量分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2631 飛行時間型質量分析 １試料１測定につき 29,810円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    電子スピン共鳴分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2651 電子スピン共鳴分析（Ａ）（基本測定） １試料１スペクトルにつき 22,220円 機械・材料技術部
    E2652 電子スピン共鳴分析（Ｂ）（特殊測定・定量） １試料１スペクトルにつき 38,940円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    K6050 フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）　
    [FT/IR-6300FV・IRT-7000]    		 日本分光 　FT/IR-6300FV・IRT-7000 9,680円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    X線構造解析

    X線回折試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2510 Ｘ線回折試験 （Ι）　粉末X線回折 １試料につき 24,090円 電子技術部
    E2520 Ｘ線回折試験 （Ⅱ）　高度な粉末Ｘ線回折・薄膜X線回折 １試料につき 36,630円 電子技術部
    E2530 Ｘ線回折試験 （Ⅲ）　高度な薄膜Ｘ線回折 １試料につき 56,650円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

     
    該当する情報はありません

    試料調製

    試料調製

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1801 試料調製（１）（一般的な前処理） E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 10,890円 化学技術部
    E1802 試料調製（２）（複雑な前処理） E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 14,300円 化学技術部
    E1803 試料調製（３）（困難な前処理） E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 21,230円 化学技術部
    E1804 試料調製（４）（非常に困難な前処理） E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 29,150円 化学技術部
    E1805 切粉作製（Ａ）（加工が容易なもの） E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 3,080円 化学技術部
    E1806 切粉作製（Ｂ）（加工がやや難しいもの） E1810, E1820, E1821, E1822, E1831, E1832, E1860, E1891, E1892, E1911, E1921, E4010, E4020 に適用 10,560円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

     
    該当する情報はありません

    材料観察

    外観観察

    顕微鏡試料調製

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5120 顕微鏡試料調製（第１種）：容易なもの １試料につき 1,980円 川崎技術支援部
    K5121 顕微鏡試料調製（第２種）：標準的なもの １試料につき 3,960円 川崎技術支援部
    K5122 顕微鏡試料調製（第３種）：比較的複雑なもの １試料につき 7,810円 川崎技術支援部
    K5123 顕微鏡試料調製（第４種）：非常に複雑なもの １試料につき 11,550円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    デジタルマイクロスコープ観察 [HRX-01]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0101 デジタルマイクロスコープ観察　[HRX-01] １試料につき 2,640円 機械・材料技術部

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    デジタルマイクロスコープ撮影 [HRX-01]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0102 デジタルマイクロスコープ撮影　[HRX-01] １撮影につき 1,100円 機械・材料技術部

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    金属組織写真撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5110 金属組織写真撮影 写真１枚につき 11,110円 川崎技術支援部

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    金属組織写真撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0031 金属組織写真撮影 写真１枚につき 11,110円 機械・材料技術部
    E0070 写真撮影箇所増し 　（E0031に適用） 同一試料で１ヶ所増すごとに 2,860円 機械・材料技術部

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    実体顕微鏡写真撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0055 実体顕微鏡写真撮影 写真１枚につき 4,840円 機械・材料技術部
    E0056 実体顕微鏡写真撮影箇所増し　　（E0055に適用） 同一試料で１ヶ所増すごとに 2,090円 機械・材料技術部

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    プラスチック製品の破断面観察

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2940 プラスチック製品の破断面観察 １試料につき 29,150円 化学技術部
    E2941 プラスチック製品の破断面写真撮影 写真１枚につき（E2940に適用） 2,970円 化学技術部
    E2942 プラスチック製品の破断面写真撮影（倍率変更） 写真１枚につき（E2941に適用） 1,430円 化学技術部
    E2943 プラスチック製品の外観撮影 写真１枚につき（E2940に適用） 1,430円 化学技術部
    E2944 観察試料作製（１）　（標準的なもの） １試料につき（E2940に適用） 3,630円 化学技術部
    E2945 観察試料作製（２）　（複雑なもの） １試料につき（E2940に適用） 7,260円 化学技術部

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    デジタルマイクロスコープ観察 [VHX-600]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1910 デジタルマイクロスコープ観察　[VHX-600] 画像１枚につき 4,180円 川崎技術支援部

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    外観写真撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5112 外観写真撮影 写真１枚につき 5,720円 川崎技術支援部
    K5114 写真撮影１ヶ所増すごとに 同一試料で１ヶ所増すごとに 2,860円 川崎技術支援部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E7020 金属顕微鏡 ニコン　X2-T1-NR 550円 機械・材料技術部
    E7150 デジタルマイクロスコープ ハイロックス　HRX-01 1,980円 機械・材料技術部
    E7160 顕微鏡 オリンパス　CKX41N-31PHP 770円 化学技術部
    K2915 デジタルマイクロスコープ　[VHX-600]　（30分当たり） キーエンス 　VHX-600 1,650円 川崎技術支援部
    K6110 金属顕微鏡　　[BX-51]　（１時間当たり） オリンパス光学工業 　BX-51 1,650円 川崎技術支援部

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    微細構造観察

    ハイブリッドレーザー顕微鏡観察

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1145 ハイブリッドレーザー顕微鏡観察 １測定１解析につき 8,690円 電子技術部
    E1146 ハイブリッドレーザー顕微鏡観察　１視野追加 １視野追加につき 4,290円 電子技術部

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    レーザーマーキング

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1630 レーザーマーキング 15分以内 2,860円 川崎技術支援部
    K1635 レーザーマーキング　　追加 追加15分当たり 1,870円 川崎技術支援部

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    走査電子顕微鏡写真撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0011 走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍以下 １試料１視野観察につき 21,120円 機械・材料技術部
    E0012 走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍以下　１視野追加 １視野追加観察につき 4,840円 機械・材料技術部
    E0013 走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍を超えて10万倍以下 １試料１視野観察につき 30,910円 機械・材料技術部
    E0014 走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍を超えて10万倍以下　１視野追加 １視野追加観察につき 9,240円 機械・材料技術部
    E0015 走査電子顕微鏡写真撮影　10万倍を超えるもの １試料１視野観察につき 52,250円 機械・材料技術部
    E0016 走査電子顕微鏡写真撮影　10万倍を超えるもの　１視野追加 １視野追加観察につき 14,960円 機械・材料技術部
    E0017 走査電子顕微鏡写真撮影　10～15視野 115,940円 機械・材料技術部
    E0018 走査電子顕微鏡写真撮影　16～30視野 173,910円 機械・材料技術部
    E0021 エネルギー分散型X線分析（EDS）　
    （E0011～E0018、E1790に適用）    		 １ヶ所につき 7,150円 機械・材料技術部

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    電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1790 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定 １視野測定につき 49,500円 機械・材料技術部
    E1791 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定　
    １視野追加    		 １視野追加測定につき 12,760円 機械・材料技術部
    E0021 エネルギー分散型X線分析（EDS）　
    （E0011～E0018、E1790に適用）    		 １ヶ所につき 7,150円 機械・材料技術部

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    表面観察（FE-EPMAによる）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2580 表面観察（FE-EPMAによる） １ヶ所につき 20,350円 機械・材料技術部
    E2581 エネルギー分散型X線分析（EDS・FE-EPMAによる） １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） 7,260円 機械・材料技術部
    E2582 表面観察（FE-EPMAによる）　１ヶ所増 同一試料で１ヶ所増すごとに（E2570, E2580に適用） 4,510円 機械・材料技術部
    E2590 電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA）　追加分析 １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） 9,130円 機械・材料技術部

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    超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1150 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 １測定１解析につき 9,020円 電子技術部
    E1151 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定　１解析増 １解析増すごとに 2,420円 電子技術部

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    走査型プローブ顕微鏡観察

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1780 走査型プローブ顕微鏡観察 標準１条件１測定につき 23,320円 電子技術部
    E1781 走査型プローブ顕微鏡観察　１視野追加 １視野追加につき 10,780円 電子技術部

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    走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1010 走査電子顕微鏡観察
    （電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]　　５万倍以下    		 観察倍率５万倍以下　１条件につき 21,450円 川崎技術支援部
    K1015 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]　
    ５万倍以下　条件追加    		 観察倍率５万倍以下　１条件追加につき 4,950円 川崎技術支援部
    K1020 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]　
    ５万倍を超えて10万倍以下    		 観察倍率５万倍を超えて10万倍以下　
    １条件につき    		 31,020円 川崎技術支援部
    K1025 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]　　
    ５万倍を超えて10万倍以下　条件追加    		 観察倍率５万倍を超えて10万倍以下　
    １条件追加につき    		 9,680円 川崎技術支援部
    K1030 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]
    　10万倍を超えるもの    		 観察倍率10万倍を超えるもの　
    １条件につき    		 52,470円 川崎技術支援部
    K1035 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]　
    10万倍を超えるもの　条件追加    		 観察倍率10万倍を超えるもの　
    １条件追加につき    		 15,400円 川崎技術支援部
    K1040 走査電子顕微鏡（電界放出型）[S-4800]　
    エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）    		 １条件追加につき 15,400円 川崎技術支援部
    K1041 走査電子顕微鏡（電界放出型）[S-4800]　
    エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）　　条件追加    		 １条件追加につき 4,950円 川崎技術支援部
    K1042 走査電子顕微鏡（電界放出型）[S-4800]　
    エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）　　面分析    		 面分析１条件につき 16,390円 川崎技術支援部
    K1050 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]
    10～15視野    		 １試料の観察視野が10～15視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） 114,400円 川崎技術支援部
    K1052 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]
    16～30視野    		 １試料の観察視野が16～30視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） 170,060円 川崎技術支援部
    K1055 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]　
    条件追加    		 １条件追加につき 12,540円 川崎技術支援部

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    走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[JSM-7800F Prime]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1310 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　５万倍以下    		 観察倍率５万倍以下１試料１視野観察につき 21,120円 川崎技術支援部
    K1315 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　５万倍以下　　１視野追加    		 観察倍率５万倍以下　
    同一試料において１視野追加観察につき    		 4,840円 川崎技術支援部
    K1320 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　５万倍を超えて10万倍以下    		 観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 　
    １試料１視野観察につき    		 30,910円 川崎技術支援部
    K1325 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　５万倍を超えて10万倍以下　１視野追加    		 観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 　
    同一試料において１視野追加観察につき    		 9,240円 川崎技術支援部
    K1330 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　10万倍を超えるもの    		 観察倍率10万倍を超えるもの
    １試料１視野観察につき    		 52,250円 川崎技術支援部
    K1335 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　10万倍を超えるもの　１視野追加    		 観察倍率10万倍を超えるもの
    同一試料において１視野追加観察につき    		 14,960円 川崎技術支援部
    K1392 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　10～15視野    		 １試料の観察視野が10～15視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） 115,940円 川崎技術支援部
    K1395 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　16～30視野    		 １試料の観察視野が16～30視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） 173,910円 川崎技術支援部
    K1342 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　低真空モード    		 低真空モードの使用 11,220円 川崎技術支援部
    K1343 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　STEM    		 透過像観察機能（STEM）の使用 11,220円 川崎技術支援部
    K1340 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　１条件追加    		 １条件追加につき　 11,220円 川崎技術支援部
    K1350 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）　
    点分析    		 点分析１視野１箇所につき 17,380円 川崎技術支援部
    K1351 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）　
    点分析追加    		 点分析同一視野内で１箇所追加につき 5,170円 川崎技術支援部
    K1352 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）　
    線分析    		 線分析１視野１箇所につき 23,540円 川崎技術支援部
    K1353 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）　
    線分析追加    		 線分析同一視野内で１箇所追加につき 8,360円 川崎技術支援部
    K1354 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）　
    面分析    		 面分析１視野につき 35,860円 川崎技術支援部
    K1356 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）
    [JSM-7800F Prime]　エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）　
    各種データ処理    		 各種データ処理１条件につき 5,170円 川崎技術支援部

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    分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1440 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　
    10万倍以下    		 倍率　10万倍以下　１視野につき 19,470円 川崎技術支援部
    K1445 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]
    10万倍以下　１視野増    		 倍率　10万倍以下　１視野増すごとに 7,040円 川崎技術支援部
    K1441 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　
    10万倍を超えて50万倍以下    		 倍率　10万倍を超えて50万倍以下　
    １視野につき    		 25,850円 川崎技術支援部
    K1446 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　
    10万倍を超えて50万倍以下　１視野増    		 倍率　10万倍を超えて50万倍以下　
    １視野増すごとに    		 14,080円 川崎技術支援部
    K1450 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　
    50万倍を超えて200万倍以下    		 倍率　 50万倍を超えて200万倍以下　
    １視野につき    		 35,530円 川崎技術支援部
    K1455 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　
    50万倍を超えて200万倍以下　１視野増    		 倍率　 50万倍を超えて200万倍以下　
    １視野増すごとに    		 19,470円 川崎技術支援部
    K1451 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　
    200万倍を超えるもの    		 倍率　200万倍を超えるもの　１視野につき 51,590円 川崎技術支援部
    K1456 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　
    200万倍を超えるもの　１視野増    		 倍率　200万倍を超えるもの　１視野増すごとに 29,590円 川崎技術支援部
    K1460 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　
    試料傾斜調整    		 試料傾斜調整　１条件ごとに 13,420円 川崎技術支援部
    K1470 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]
    制限視野回折    		 制限視野回折　１視野につき 16,500円 川崎技術支援部
    K1471 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]
    微小領域回折    		 微小領域回折　１視野につき 29,590円 川崎技術支援部
    K1472 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]
    明視野像    		 明視野像　１視野につき 19,470円 川崎技術支援部
    K1473 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]
    暗視野像    		 暗視野像　１視野につき 35,530円 川崎技術支援部
    K1510 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　
    点分析    		 点分析　
    １試料１測定点につき    		 28,710円 川崎技術支援部
    K1515 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　
    点分析追加    		 点分析　
    同一試料において１測定点追加につき    		 6,160円 川崎技術支援部
    K1540 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　
    定量分析    		 定量分析　
    １試料１測定点につき    		 24,970円 川崎技術支援部
    K1545 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　
    定量分析追加    		 定量分析　
    同一試料において１測定点追加につき    		 7,370円 川崎技術支援部
    K1520 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　
    線分析    		 線分析　
    １測定５元素までごとに    		 68,090円 川崎技術支援部
    K1530 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　
    面分析    		 面分析　
    １視野５元素ごとに、または２時間につき    		 109,230円 川崎技術支援部
    K1550 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　データ処理 各種データ処理　１条件につき 12,320円 川崎技術支援部

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    分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/STEM/EDS）[Talos F200X]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1740 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X]　　
    10万倍以下    		 観察倍率10万倍以下　
    １視野につき    		 19,690円 川崎技術支援部
    K1741 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X]　　
    10万倍以下　１視野追加    		 観察倍率10万倍以下　
    同条件１視野追加につき    		 9,900円 川崎技術支援部
    K1745 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X]　　
    10万倍を超えて50万倍以下    		 観察倍率10万倍を超えて50万倍以下　
    １視野につき    		 26,840円 川崎技術支援部
    K1746 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X]　
    10万倍を超えて50万倍以下　１視野追加    		 観察倍率10万倍を超えて50万倍以下　
    同条件１視野追加につき    		 14,850円 川崎技術支援部
    K1750 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X]　　
    50万倍を超えて200万倍以下    		 観察倍率50万倍を超えて200万倍以下　
    １視野につき    		 35,530円 川崎技術支援部
    K1751 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X]　　
    50万倍を超えて200万倍以下　１視野追加    		 観察倍率50万倍を超えて200万倍以下　
    同条件１視野追加につき    		 19,690円 川崎技術支援部
    K1755 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X]　　
    200万倍を超えるもの    		 観察倍率200万倍を超えるもの　
    １視野につき    		 51,370円 川崎技術支援部
    K1756 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X]　　
    200万倍を超えるもの　１視野追加    		 観察倍率200万倍を超えるもの　
    同条件１視野追加につき    		 30,690円 川崎技術支援部
    K1760 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X]　　
    試料傾斜調整    		 試料傾斜調整　
    １条件につき    		 13,530円 川崎技術支援部
    K1761 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X]　　
    制限視野回折    		 制限視野回析　
    １視野につき    		 17,160円 川崎技術支援部
    K1768 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[Talos F200X]　　
    条件追加    		 １条件追加につき 12,210円 川崎技術支援部
    K1770 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[Talos F200X]　　
    エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）面分析    		 面分析　
    １視野５元素ごとに、または２時間につき    		 108,900円 川崎技術支援部
    K1410 TEM試料調製　　分散法　ふりかけ法 ふりかけ法　１試料につき 6,600円 川崎技術支援部
    K1411 TEM試料調製　　分散法　懸濁法 懸濁法　１試料につき 13,090円 川崎技術支援部
    K1425 TEM試料調製　　低エネルギーイオンミリング　
    （ジェントルミル）    		 １試料１条件につき 14,850円 川崎技術支援部
    K1432 TEM試料調製　　電子染色 １試料につき 29,260円 川崎技術支援部
    K1433 TEM試料調製　　樹脂包埋 １試料につき 14,190円 川崎技術支援部
    K1620 TEM試料調製　　FIB-リフトアウト法 １試料につき 88,440円 川崎技術支援部
    K1621 TEM試料調製　　FIB-リフトアウト法　条件追加 １条件追加につき 32,120円 川崎技術支援部
    K1625 TEM試料調製　　FIB-マイクロプロービング法　
    低加速ガリウムイオン    		 低加速ガリウムイオン仕上げ　
    １試料につき    		 122,100円 川崎技術支援部
    K1663 TEM試料調製　　FIB-マイクロプロービング法　　
    低加速ガリウムイオン　試料作製のみ    		 低加速ガリウムイオン仕上げ　
    １試料につき（試料作製のみ）    		 134,640円 川崎技術支援部
    K1626 TEM試料調製　　FIB-マイクロプロービング法　　
    低加速ガリウムイオン条件追加    		 低加速ガリウムイオン仕上げ　
    １条件追加につき    		 32,450円 川崎技術支援部
    K1627 TEM試料調製　　FIB-マイクロプロービング法　 　
    アルゴンイオンミリング    		 アルゴンイオンミリング仕上げ　
    １試料につき    		 137,500円 川崎技術支援部
    K1666 TEM試料調製　　FIB-マイクロプロービング法　 　
    アルゴンイオンミリング　試料作製のみ    		 アルゴンイオンミリング仕上げ　
    １試料につき（試料作製のみ）    		 149,380円 川崎技術支援部
    K1628 TEM試料調製　　FIB-マイクロプロービング法　 　
    アルゴンイオンミリング条件追加    		 アルゴンイオンミリング仕上げ　
    １条件追加につき    		 32,450円 川崎技術支援部

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    集束イオンビーム装置観察（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1640 集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB] １時間以内 33,880円 川崎技術支援部
    K1641 集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB]　追加 追加１時間当たり 28,820円 川崎技術支援部
    K1650 FIBオプション　カーボン膜デポジション 10分当たり 2,420円 川崎技術支援部
    K1670 FIBオプション　アルゴンイオンミリング 30分当たり 11,330円 川崎技術支援部
    K1680 FIB付属のSEM観察 １試料１視野観察につき 20,680円 川崎技術支援部
    K1681 FIB付属のSEM観察　　視野追加 同一試料において１視野追加観察につき 4,620円 川崎技術支援部
    K1682 FIB付属のSEM観察　　条件追加 同一試料において１条件追加につき 4,620円 川崎技術支援部
    K1690 FIB付属のSEMオプション　　
    EDS分析測定　点分析    		 点分析１視野１箇所につき 17,050円 川崎技術支援部
    K1691 FIB付属のSEMオプション　　
    EDS分析測定　点分析追加    		 点分析同一視野内で１箇所追加につき 5,830円 川崎技術支援部
    K1694 FIB付属のSEMオプション　　
    EDS分析測定　線分析    		 線分析１視野１箇所につき 22,880円 川崎技術支援部
    K1695 FIB付属のSEMオプション　　
    EDS分析測定　線分析追加    		 線分析同一視野内で１箇所追加につき 8,910円 川崎技術支援部
    K1692 FIB付属のSEMオプション　　
    EDS分析測定　面分析    		 面分析１視野につき 34,650円 川崎技術支援部
    K1696 FIB付属のSEMオプション　　 　　
    EDS分析測定　各種データ処理    		 各種データ処理１条件につき 5,830円 川崎技術支援部
    K1672 FIB-SEMによる　三次元再構築用連続断面画像の取得 １測定につき 113,740円 川崎技術支援部
    K1674 FIB-SEMによる　三次元再構築用連続断面画像の取得　　
    条件追加    		 １条件追加につき 12,100円 川崎技術支援部
    K1730 FIB-SEMによる　微小試験片の作製　標準 標準的な作製　（SEM観察含む）　５本につき 182,160円 川崎技術支援部
    K1732 FIB-SEMによる　微小試験片の作製　複雑 複雑な作製　（SEM観察含む）　５本につき 273,130円 川崎技術支援部
    K1735 FIB-SEMによる　微小試験片の作製　条件追加 １条件追加につき 11,550円 川崎技術支援部
    K1610 マニピュレーターによるサンプリング １試料につき 5,830円 川崎技術支援部

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    集束イオンビーム装置観察（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1940 集束イオンビーム装置（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）
    [Scios LoVacシステム]    		 １時間以内 35,530円 川崎技術支援部
    K1941 集束イオンビーム装置（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）
    [Scios LoVacシステム]　追加    		 追加１時間当たり 30,470円 川崎技術支援部
    K1950 マルチ解析用FIBオプション　
    カーボン膜デポジション    		 10分当たり 2,420円 川崎技術支援部
    K1951 マルチ解析用FIBオプション　
    プラチナ膜デポジション    		 10分当たり 2,310円 川崎技術支援部
    K1960 マルチ解析用FIB付属のSEM観察 １試料１視野観察につき 20,900円 川崎技術支援部
    K1961 マルチ解析用FIB付属のSEM観察　　視野追加 同一試料において１視野追加観察につき 4,730円 川崎技術支援部
    K1962 マルチ解析用FIB付属のSEM観察　　条件追加 同一試料において１条件追加につき 4,730円 川崎技術支援部
    K1965 マルチ解析用FIB付属のSEM観察オプション　　低真空 低真空モードの使用 11,660円 川崎技術支援部
    K1970 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション　　　　
    EDS分析測定　　点分析    		 点分析１視野１箇所につき 17,380円 川崎技術支援部
    K1971 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション　　　　
    EDS分析測定　　点分析追加    		 点分析同一視野内で１箇所追加につき 5,940円 川崎技術支援部
    K1974 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション　
    EDS分析測定　　線分析    		 線分析１視野１箇所につき 23,210円 川崎技術支援部
    K1975 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション　
    EDS分析測定　　線分析追加    		 線分析同一視野内で１箇所追加につき 8,910円 川崎技術支援部
    K1976 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション　
    EDS分析測定　　面分析    		 面分析１視野につき 34,760円 川崎技術支援部
    K1978 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション　
    EDS分析測定　　各種データ処理    		 各種データ処理１条件につき 5,940円 川崎技術支援部
    K1980 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション　　
    EBSD分析測定　　結晶方位マップ    		 結晶方位マップ１視野につき 48,840円 川崎技術支援部
    K1981 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション　
    EBSD分析測定　　視野追加    		 同一試料で１視野追加につき 11,660円 川崎技術支援部
    K1984 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション　　
    EBSD分析測定　　条件追加    		 １条件追加につき 11,220円 川崎技術支援部
    K1985 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション　
    EBSD分析測定　　各種データ処理    		 各種データ処理１条件につき 5,940円 川崎技術支援部
    K1990 マルチ解析用FIB-SEMによる
    三次元再構築用連続断面画像の取得    		 １測定につき 120,230円 川崎技術支援部
    K1995 マルチ解析用FIB-SEMによる
    三次元再構築用連続断面画像の取得　　条件追加    		 １条件追加につき 12,210円 川崎技術支援部
    K1930 マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製　標準 標準的な作製（SEM観察含む）５本につき 193,710円 川崎技術支援部
    K1932 マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製　複雑 複雑な作製（SEM観察含む） ５本につき 292,820円 川崎技術支援部
    K1935 マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製　条件追加 １条件追加につき 11,880円 川崎技術支援部

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    画像解析システム

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1832 画像解析システム　三次元再構築 １測定対象につき 62,590円 川崎技術支援部
    K1834 画像解析システム　三次元データ処理 １条件追加につき 12,430円 川崎技術支援部
    K1840 画像解析システム　画像解析 １測定対象につき 23,760円 川崎技術支援部
    K1842 画像解析システム　データ処理 １条件追加につき 6,270円 川崎技術支援部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E6960 超深度形状測定顕微鏡　（レーザー顕微鏡） キーエンス　VK8500 2,090円 電子技術部
    E6965 ハイブリッドレーザー顕微鏡　データ解析 レーザーテック　OPTELICS HYBRID 880円 電子技術部
    K2015 FE-SEM/EDS　　[S-4800]　 日立ハイテクノロジーズ 　S-4800 39,380円 川崎技術支援部
    K2425 低エネルギーイオン研磨装置　[Model IV5（ジェントルミル）] リンダ　Model IV5（ジェントルミル） 12,100円 川崎技術支援部
    K2635 レーザーマーカ　[LR2100ST]　（30分当たり） HOYA 　LR2100ST 3,080円 川崎技術支援部

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    試料調製・前処理

    その他特殊処理

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4195 その他特殊処理 １試料につき 17,710円 川崎技術支援部
    K4196 その他特殊処理　条件追加 １条件追加につき 17,710円 川崎技術支援部

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    電子染色

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4192 電子染色 １試料につき 29,260円 川崎技術支援部

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    樹脂包埋

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4185 樹脂包埋 １試料につき 14,190円 川崎技術支援部

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    低エネルギーイオンミリング（ジェントルミル）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4180 低エネルギーイオンミリング（ジェントルミル） １試料１条件につき 14,850円 川崎技術支援部

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    分散法

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4170 分散法　ふりかけ法 １試料につき 6,600円 川崎技術支援部
    K4171 分散法　懸濁法 １試料につき 13,090円 川崎技術支援部

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    各種コーティング（カーボンコーティング他）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4310 カーボンコーティング １試料につき 3,520円 川崎技術支援部
    K4320 金コーティング １試料につき 3,520円 川崎技術支援部
    K4330 白金コーティング １試料につき 3,520円 川崎技術支援部
    K4340 パラジウムコーティング １試料につき 3,520円 川崎技術支援部
    K4350 オスミウムコーティング １試料につき 3,520円 川崎技術支援部

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    ウルトラミクロトーム法

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4280 ウルトラミクロトーム法　A：容易な試料 １試料につき 24,420円 川崎技術支援部
    K4282 ウルトラミクロトーム法　B：標準的な試料 １試料につき 49,170円 川崎技術支援部
    K4284 ウルトラミクロトーム法　C：複雑な試料 １試料につき 74,030円 川崎技術支援部
    K4286 ウルトラミクロトーム法　D：非常に複雑な試料 １試料につき 98,670円 川崎技術支援部
    K4287 ウルトラミクロトーム法　条件追加 １条件追加につき 6,270円 川崎技術支援部
    K4288 ウルトラミクロトーム法　クライオ クライオの使用　１試料につき 60,720円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    イオンミリング法　（大きい試料用）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4250 断面イオンミリング法　（大きい試料用）　
    A：容易な試料    		 １試料につき 23,100円 川崎技術支援部
    K4252 断面イオンミリング法　（大きい試料用）　
    B：標準的な試料    		 １試料につき 45,980円 川崎技術支援部
    K4254 断面イオンミリング法　（大きい試料用）　
    C：複雑な試料    		 １試料につき 68,860円 川崎技術支援部
    K4256 断面イオンミリング法　（大きい試料用）　　
    D：非常に複雑な試料    		 １試料につき 91,960円 川崎技術支援部
    K4257 断面イオンミリング法　（大きい試料用）　
    条件追加    		 １条件追加につき 5,720円 川崎技術支援部
    K4258 断面イオンミリング法　（大きい試料用）　
    クライオ    		 クライオの使用　１試料につき 5,830円 川崎技術支援部
    K4260 平面イオンミリング法　（大きい試料用）　
    A：容易な試料    		 １試料につき 11,220円 川崎技術支援部
    K4262 平面イオンミリング法　（大きい試料用）　
    B：標準的な試料    		 １試料につき 21,340円 川崎技術支援部
    K4264 平面イオンミリング法　（大きい試料用）　
    C：複雑な試料    		 １試料につき 31,350円 川崎技術支援部
    K4266 平面イオンミリング法　（大きい試料用）　　
    D：非常に複雑な試料    		 １試料につき 41,800円 川崎技術支援部
    K4267 平面イオンミリング法　（大きい試料用）　
    条件追加    		 １条件追加につき 5,390円 川崎技術支援部
    K4270 イオンビームスパッタ １試料につき 5,940円 川崎技術支援部

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    イオンミリング法　（小さい試料用）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4230 断面イオンミリング法　（小さい試料用）　
    A：容易な試料    		 １試料につき 24,090円 川崎技術支援部
    K4232 断面イオンミリング法　（小さい試料用）　
    B：標準的な試料    		 １試料につき 47,300円 川崎技術支援部
    K4234 断面イオンミリング法　（小さい試料用）　
    C：複雑な試料    		 １試料につき 72,490円 川崎技術支援部
    K4236 断面イオンミリング法　（小さい試料用）　
    D：非常に複雑な試料    		 １試料につき 92,620円 川崎技術支援部
    K4237 断面イオンミリング法　（小さい試料用）　
    条件追加    		 １条件追加につき 5,830円 川崎技術支援部
    K4238 断面イオンミリング法　（小さい試料用）　
    クライオ    		 クライオの使用　１試料につき 5,830円 川崎技術支援部
    K4240 平面イオンミリング法　（小さい試料用）　
    A：容易な試料    		 １試料につき 11,440円 川崎技術支援部
    K4242 平面イオンミリング法　（小さい試料用）　　
    B：標準的な試料    		 １試料につき 23,870円 川崎技術支援部
    K4244 平面イオンミリング法　（小さい試料用）　
    C：複雑な試料    		 １試料につき 34,320円 川崎技術支援部
    K4246 平面イオンミリング法　（小さい試料用）　
    D：非常に複雑な試料    		 １試料につき 44,770円 川崎技術支援部
    K4247 平面イオンミリング法　（小さい試料用）　
    条件追加    		 １条件追加につき 5,830円 川崎技術支援部
    K4248 平面イオンミリング法　（小さい試料用）　
    クライオ    		 クライオの使用　１試料につき 5,830円 川崎技術支援部

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    精密機械研磨法

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4210 精密機械研磨法　　　A：容易な試料 １試料につき 12,320円 川崎技術支援部
    K4212 精密機械研磨法　　　B：標準的な試料 １試料につき 24,750円 川崎技術支援部
    K4214 精密機械研磨法　　　C：複雑な試料 １試料につき 36,520円 川崎技術支援部
    K4216 精密機械研磨法　　　D：非常に複雑な試料 １試料につき 48,400円 川崎技術支援部
    K4217 精密機械研磨法　　　条件追加 １条件追加につき 5,720円 川崎技術支援部
    K4220 試料の撮影 １試料１視野につき 2,310円 川崎技術支援部

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    試料前処理（切断、導電処理等）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K4120 試料前処理（切断、導電処理等） 処理時間30分につき 1,650円 川崎技術支援部

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    顕微鏡試料調製

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0080 顕微鏡試料調製（１）　　（容易なもの） １試料につき 1,980円 機械・材料技術部
    E0090 顕微鏡試料調製（２）　　（標準的なもの） １試料につき 3,960円 機械・材料技術部
    E0091 顕微鏡試料調製（３）　　（比較的複雑なもの）　 １試料につき 7,810円 機械・材料技術部
    E0092 顕微鏡試料調製（４）　　（非常に複雑なもの）　 １試料につき 11,550円 機械・材料技術部

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    イオンミリング法による試料調製

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0022 イオンミリング法による試料調製（１）　（標準的なもの） １試料１ヶ所につき 45,100円 機械・材料技術部
    E0023 イオンミリング法による試料調製（２）　（複雑なもの） １試料１ヶ所につき 67,430円 機械・材料技術部

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    機器使用

     
    該当する情報はありません

    材料物性

    熱物性測定

    赤外線放射計による放射率測定※装置故障により現在ご利用いただけません。

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3930 赤外線放射計による放射率測定 １試料１測定につき 38,720円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    示差熱熱重量測定（ＴＧ／ＤＴＡ）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2411 示差熱熱重量測定（ＴＧ／ＤＴＡ）　室温～600℃ １測定につき 15,840円 化学技術部
    E2421 示差熱熱重量測定（ＴＧ／ＤＴＡ）　600℃をこえるもの １測定につき 21,120円 化学技術部
    E2490 試料調製（１） 　（切断，試験片作製等簡易な前処理） E2411からE2472に適用 3,300円 化学技術部
    E2491 試料調製（２）　（粉末化等困難な前処理） E2411からE2472に適用 4,950円 化学技術部
    E2492 試料調製（３）　（溶解，ろ過等複雑な前処理） E2411からE2472に適用 7,370円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    示差走査熱量測定（ＤＳＣ）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2432 示差走査熱量測定（ＤＳＣ） １測定につき 17,270円 化学技術部
    E2433 示差走査熱量測定（ＤＳＣ）液体窒素使用 １測定につき 23,430円 化学技術部
    E2490 試料調製（１） 　（切断，試験片作製等簡易な前処理） E2411からE2472に適用 3,300円 化学技術部
    E2491 試料調製（２）　（粉末化等困難な前処理） E2411からE2472に適用 4,950円 化学技術部
    E2492 試料調製（３）　（溶解，ろ過等複雑な前処理） E2411からE2472に適用 7,370円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    発火温度測定（ＨＰ-ＴＧ法）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2442 発火温度測定（ＨＰ-ＴＧ法） １測定につき 22,330円 化学技術部
    E2490 試料調製（１） 　（切断，試験片作製等簡易な前処理） E2411からE2472に適用 3,300円 化学技術部
    E2491 試料調製（２）　（粉末化等困難な前処理） E2411からE2472に適用 4,950円 化学技術部
    E2492 試料調製（３）　（溶解，ろ過等複雑な前処理） E2411からE2472に適用 7,370円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    複合熱分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2450 複合熱分析 １測定につき 70,290円 化学技術部
    E2490 試料調製（１） 　（切断，試験片作製等簡易な前処理） E2411からE2472に適用 3,300円 化学技術部
    E2491 試料調製（２）　（粉末化等困難な前処理） E2411からE2472に適用 4,950円 化学技術部
    E2492 試料調製（３）　（溶解，ろ過等複雑な前処理） E2411からE2472に適用 7,370円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    高圧示差走査熱量測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2460 高圧示差走査熱量測定 １測定につき 25,080円 化学技術部
    E2490 試料調製（１） 　（切断，試験片作製等簡易な前処理） E2411からE2472に適用 3,300円 化学技術部
    E2491 試料調製（２）　（粉末化等困難な前処理） E2411からE2472に適用 4,950円 化学技術部
    E2492 試料調製（３）　（溶解，ろ過等複雑な前処理） E2411からE2472に適用 7,370円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    熱機械測定（ＴＭＡ）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2470 熱機械測定（ＴＭＡ）室温～600℃ １測定につき 17,050円 化学技術部
    E2471 熱機械測定（ＴＭＡ）600℃をこえるもの １測定につき 30,140円 化学技術部
    E2472 熱機械測定（ＴＭＡ）液体窒素使用 １測定につき 23,320円 化学技術部
    E2490 試料調製（１） 　（切断，試験片作製等簡易な前処理） E2411からE2472に適用 3,300円 化学技術部
    E2491 試料調製（２）　（粉末化等困難な前処理） E2411からE2472に適用 4,950円 化学技術部
    E2492 試料調製（３）　（溶解，ろ過等複雑な前処理） E2411からE2472に適用 7,370円 化学技術部

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    熱伝導率測定（プローブ法）（室温）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2930 熱伝導率測定（プローブ法）　（室温） １試料につき 10,010円 化学技術部

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    サーモグラフィによる表面温度測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3690 サーモグラフィによる表面温度測定 １測定につき 2,750円 川崎技術支援部

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    サーモグラフィによる表面温度測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3771 サーモグラフィによる表面温度測定 １時間につき 4,620円 化学技術部
    E3772 サーモグラフィによる表面温度測定　（特殊条件の場合） １時間につき 17,380円 化学技術部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E7360 断熱反応装置 コロンビアサイエンティフィック　ARC 9,240円 化学技術部
    E7370 熱流束型熱量計 セタラム　C-80 20,680円 化学技術部
    E8580 プラスチック用熱伝導率計 京都電子工業　QTM-D3型 4,950円 化学技術部
    E8610 熱機械試験機 マック・サイエンス　TMA-4000 6,270円 化学技術部
    E8620 赤外線放射計 日本バーンズ　SA-200 8,360円 化学技術部
    K3560 赤外線サーモグラフィ　[TVS-200EX] 日本アビオニクス　TVS-200EX 2,750円 川崎技術支援部

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    粉体・表面性能

    接触角測定試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4150 接触角測定試験 １試料につき 2,420円 機械・材料技術部

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    ゼータ電位測定（Ａ）（微粒子分散溶液）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4160 ゼータ電位測定（Ａ）　（微粒子分散溶液） １試料につき 10,340円 機械・材料技術部

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    ゼータ電位測定（Ｂ）（平板形状試料）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4170 ゼータ電位測定（Ｂ）　（平板形状試料） １試料につき 12,870円 機械・材料技術部

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    粒径分布測定（レーザ回折・散乱法）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4173 粒径分布測定（レーザ回折・散乱法）　（Ａ）湿式または乾式 １試料につき 6,490円 機械・材料技術部
    E4174 粒径分布測定（レーザ回折・散乱法）　（Ｂ）湿式（有機溶媒） １試料につき 8,470円 機械・材料技術部
    E4175 粒径分布測定（レーザ回折・散乱法）　（Ｃ）特殊なもの １試料につき 10,450円 機械・材料技術部

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    粒径分布測定（動的光散乱法）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4180 粒径分布測定（動的光散乱法） １試料につき 9,020円 機械・材料技術部

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    粒径分布測定（静的画像解析法）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4183 粒径分布測定（静的画像解析法）（Ａ）（簡易な評価） １試料につき 4,730円 機械・材料技術部
    E4184 粒径分布測定（静的画像解析法）（Ｂ) １試料につき 8,030円 機械・材料技術部

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    比表面積測定（窒素ガス吸着法）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4190 比表面積測定（窒素ガス吸着法）（１）　（容易なもの） １試料につき 21,560円 機械・材料技術部
    E4191 比表面積測定（窒素ガス吸着法）（２）　（複雑なもの） １試料につき 35,860円 機械・材料技術部

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    細孔分布解析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4192 細孔分布解析 １試料につき 3,630円 機械・材料技術部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    K3542 接触角計　[DMｓ-401]　 協和界面科学　　DMｓ-401 3,410円 川崎技術支援部

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    透過度測定

    ガス・水蒸気透過度測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2925 ガス・水蒸気透過度測定 １試料・1測定につき（24時間まで） 28,600円 化学技術部

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    機器使用

     
    該当する情報はありません

    電気化学試験

    金属・合金の電極電位測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3211 金属・合金の電極電位測定（１） １試料につき４時間まで 14,410円 化学技術部
    E3212 金属・合金の電極電位測定（２）　１時間増 １時間増すごとに 220円 化学技術部
    E3280 試料調製（１）　（比較的容易） E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 3,300円 化学技術部
    E3290 試料調製（２）　（比較的複雑） E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 6,710円 化学技術部

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    金属・合金の腐食減量測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3221 金属・合金の腐食減量測定（１） １試料につき24時間まで 14,300円 化学技術部
    E3222 金属・合金の腐食減量測定（２）　24時間増 24時間増すごとに 4,290円 化学技術部
    E3280 試料調製（１）　（比較的容易） E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 3,300円 化学技術部
    E3290 試料調製（２）　（比較的複雑） E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 6,710円 化学技術部

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    異種金属接触腐食電流測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3223 異種金属接触腐食電流測定（１） １試料につき４時間まで 14,410円 化学技術部
    E3224 異種金属接触腐食電流測定（２）　１時間増 １時間増すごとに 220円 化学技術部
    E3280 試料調製（１）　（比較的容易） E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 3,300円 化学技術部
    E3290 試料調製（２）　（比較的複雑） E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 6,710円 化学技術部

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    金属の分極測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3270 金属の分極測定 １試料につき 19,250円 化学技術部
    E3280 試料調製（１）　（比較的容易） E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 3,300円 化学技術部
    E3290 試料調製（２）　（比較的複雑） E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 6,710円 化学技術部

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    電気化学インピーダンス測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3275 電気化学インピーダンス測定 １試料につき 7,260円 化学技術部
    E3280 試料調製（１）　（比較的容易） E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 3,300円 化学技術部
    E3290 試料調製（２）　（比較的複雑） E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 6,710円 化学技術部

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    電極の研磨

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3295 電極の研磨 １試料につき 1,650円 化学技術部

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    腐食液・電解液作製

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3296 腐食液・電解液作製 １試料につき 1,650円 化学技術部

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    機器使用

     
    該当する情報はありません

    光学特性評価

    分光光度計による透過率または拡散反射率測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2011 分光光度計による透過率または拡散反射率測定　
    （紫外・可視のみ）    		 １試料１スペクトルにつき 5,830円 機械・材料技術部
    E2012 分光光度計による透過率または拡散反射率測定　
    （紫外・可視・近赤外）    		 １試料１スペクトルにつき 6,380円 機械・材料技術部
    E2017 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 １スペクトル１解析につき 440円 機械・材料技術部

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    分光光度計による正反射率測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2013 分光光度計による正反射率測定　（紫外・可視・近赤外） 偏光子なしまたは偏光１成分の
    １試料１スペクトルにつき    		 6,820円 機械・材料技術部
    E2014 分光光度計による正反射率測定　（紫外・可視・近赤外）　
    追加（１）    		 同一試料・同一条件で偏光１成分追加につき 3,740円 機械・材料技術部
    E2015 分光光度計による正反射率測定　（紫外・可視・近赤外）　
    追加（２）    		 同一試料・同一条件・同一偏光成分で
    １角度追加につき    		 2,090円 機械・材料技術部
    E2017 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 １スペクトル１解析につき 440円 機械・材料技術部

    左右にスクロールできます

    分光光度計による透過率または反射率測定（特殊なもの）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2016 分光光度計による透過率または反射率測定　（特殊なもの） １試料１スペクトルにつき 9,790円 機械・材料技術部
    E2017 分光スペクトルによる色彩・色度座標または太陽光反射率計算 １スペクトル１解析につき 440円 機械・材料技術部

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    紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3450 紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定 １試料１条件につき 6,820円 川崎技術支援部
    K3452 紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定　追加 追加１条件につき 3,740円 川崎技術支援部

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    分光放射照度計によるスペクトル測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3470 分光放射照度計によるスペクトル測定 １測定につき 10,450円 川崎技術支援部

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    光学測定に関わる作業

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3660 光学測定に関わる作業 １時間につき 7,260円 川崎技術支援部

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    色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3670 色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定 １測定につき 4,730円 川崎技術支援部
    K3672 色彩輝度計による輝度・色度・相関色温度の測定　追加 １測定追加につき 3,080円 川崎技術支援部

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    色差計による色差の測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3680 色差計による色差の測定 １測定につき 3,410円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E8090 ボロメータ測定システム微小信号測定システム セイコー　5302 4,950円 電子技術部
    K3550 紫外・可視・近赤外分光光度計　[UH4150]　（1時間以内） 日立ハイテクサイエンス　　UH4150 8,470円 川崎技術支援部
    K3552 紫外・可視・近赤外分光光度計　[UH4150]　（追加30分当たり） 日立ハイテクサイエンス　　UH4150 2,860円 川崎技術支援部

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    電磁気特性評価

    試料調整

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0958 試料調整 １時間当たり 3,300円 電子技術部
    E0959 データ処理 １時間当たり 3,300円 電子技術部

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    交流磁化特性測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0951 交流磁化特性測定　
    （B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス）    		 １試料１測定につき 10,450円 電子技術部
    E0952 交流磁化特性測定　
    （B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス）　１条件増    		 １条件増すごとに 6,930円 電子技術部
    E0953 交流磁化特性測定　
    （B-H曲線無しの連続測定、可変条件は１）    		 １試料５測定まで 17,490円 電子技術部
    E0954 交流磁化特性測定　
    （B-H曲線無しの連続測定、可変条件は１）　１測定増    		 １測定増すごとに 2,640円 電子技術部

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    マイクロ波誘電率測定（共振器法・誘電体プローブ法）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0850 マイクロ波誘電率測定　（共振器法・誘電体プローブ法） １条件１測定につき 19,140円 電子技術部
    E0860 マイクロ波誘電率測定　（共振器法・誘電体プローブ法）　
    １件増    		 １測定増すごとに 6,380円 電子技術部

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    マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0870 マイクロ波誘電率・透磁率測定　（Ｓパラメータ法） １条件１測定につき 17,600円 電子技術部
    E0880 マイクロ波誘電率・透磁率測定　（Ｓパラメータ法）　１件増 １測定増すごとに 4,950円 電子技術部

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    マイクロ波誘電率・透磁率測定（ハーモニック共振器法）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0881 マイクロ波誘電率・透磁率測定　（ハーモニック共振器法） １測定につき 20,130円 電子技術部

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    マイクロ波誘電率測定（ＢＣＤＲ法）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0882 マイクロ波誘電率測定　（ＢＣＤＲ法） １条件１測定につき 39,380円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    磁化特性測定（ＶＳＭ方式）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0910 磁化特性測定（ＶＳＭ方式） １試料１測定につき 6,710円 電子技術部

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    磁化特性測定（積分方式）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0920 磁化特性測定（積分方式） １試料１測定につき 4,840円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    磁歪測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0930 磁歪測定 １試料１測定につき 18,920円 電子技術部
    E0931 磁歪測定　１条件増 １条件増すごとに 12,210円 電子技術部

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    磁化温度特性測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0940 磁化温度特性測定 １試料１測定につき 22,110円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    薄膜交流透磁率測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0950 薄膜交流透磁率測定 １試料１測定につき 6,050円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E8431 ガウスメータ（最小測定レンジ:0.35mT、最大測定レンジ:3.5T） Lake shore Inc　455型 1,430円 電子技術部

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    粘弾性測定

    動的粘弾性測定レオメーター

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2750 動的粘弾性測定レオメーター　
    （１走査１時間未満、冷凍機を使用しない場合）    		 １走査（温度変化または振動数変化）につき 18,150円 化学技術部
    E2760 動的粘弾性測定レオメーター　
    （１走査２時間未満または冷凍機使用）    		 １走査（温度変化または振動数変化）につき 30,030円 化学技術部
    E2770 動的粘弾性測定レオメーター　
    （１走査３時間未満または液体窒素使用）    		 １走査（温度変化または振動数変化）につき 45,320円 化学技術部
    E2771 ペルチェシステム使用（10～150℃） E2750, E2760に適用 7,040円 化学技術部
    E2772 試料調製（取り付け困難なもの） E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 2,970円 化学技術部
    E2774 試料調製（測定後処理） E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 3,630円 化学技術部

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    動的粘弾性測定ＤＭＡ

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2751 動的粘弾性測定ＤＭＡ　
    （１走査１時間未満、冷凍機を使用しない場合）    		 １走査（温度変化または振動数変化）につき 16,610円 化学技術部
    E2761 動的粘弾性測定ＤＭＡ　（１走査２時間未満または冷凍機使用） １走査（温度変化または振動数変化）につき 27,390円 化学技術部
    E2772 試料調製（取り付け困難なもの） E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 2,970円 化学技術部
    E2774 試料調製（測定後処理） E2750, E2751, E2760, E2761, E2770に適用 3,630円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

     
    該当する情報はありません

    吸水性測定

    吸水試験（室温）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2730 吸水試験　（室温） １試料につき 7,370円 化学技術部

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    機器使用

     
    該当する情報はありません

    比重測定

    比重試験（水中置換法）（室温）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2720 比重試験（水中置換法）　（室温） １試料につき 7,920円 化学技術部

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    機器使用

     
    該当する情報はありません

    制振性

    損失係数測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4977 損失係数測定（Ａ） １試料１測定温度につき 13,530円 機械・材料技術部
    E4978 損失係数測定（Ｂ）　１測定温度増 １測定温度増すごとに 1,430円 機械・材料技術部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E8713 制振性能測定装置 ブリュエルケアー　PULSE/MS-18143型 4,620円 機械・材料技術部

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    材料強度

    強度試験

    引張･圧縮･曲げ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0110 引張・圧縮・曲げ試験（１）　（簡単な試験） １試験につき 2,530円 機械・材料技術部
    E0120 引張・圧縮・曲げ試験（２）　（比較的簡単な試験） １試験につき 3,740円 機械・材料技術部
    E0130 引張・圧縮・曲げ試験（３）　（標準的な試験） １試験につき 5,500円 機械・材料技術部
    E0140 引張・圧縮・曲げ試験（４）　（やや複雑な試験） １試験につき 7,480円 機械・材料技術部
    E0150 引張・圧縮・曲げ試験（５）　（複雑な試験） １試験につき 10,560円 機械・材料技術部

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    シャルピー衝撃試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0175 常温シャルピー衝撃試験 １試料につき 1,540円 機械・材料技術部
    E0176 低温シャルピー衝撃試験 １試料につき 3,410円 機械・材料技術部

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    疲労試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0415 疲労試験　　１時間以内 １試験につき 5,060円 機械・材料技術部
    E0420 疲労試験　　８時間以内 １試験につき 17,050円 機械・材料技術部
    E0435 疲労試験　　８時間増　（E0420, E0431に適用） ８時間を超えて８時間増すごとに 8,580円 機械・材料技術部

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    硬さ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5330 硬さ試験 １点につき 1,100円 川崎技術支援部
    K5340 硬さ試験試料調製（第１種）：容易なもの １試料につき 1,980円 川崎技術支援部
    K5341 硬さ試験試料調製（第２種）：比較的容易なもの １試料につき 3,960円 川崎技術支援部

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    硬さ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0180 硬さ試験 １点につき 1,100円 機械・材料技術部

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    薄膜・微小部硬さ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0191 薄膜・微小部硬さ試験 １試料１ヶ所につき 21,780円 機械・材料技術部
    E0192 薄膜・微小部硬さ試験　１ヶ所増 １ヶ所増すごとに 9,680円 機械・材料技術部

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    Ｘ線応力測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0295 Ｘ線応力測定　 １試料１か所１方向につき 6,050円 機械・材料技術部

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    熱間加工性試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0440 熱間加工性試験 １試料につき 8,250円 機械・材料技術部

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    引張試験（50ｋN以下）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2841 引張試験（50ｋN以下） １試験片につき 3,190円 化学技術部
    E2871 非接触式伸び計使用 １試験片につき（E2841に適用） 3,190円 化学技術部
    E2872 恒温槽使用（-30～200℃） １試験片１時間につき
    （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用）    		 2,970円 化学技術部
    E2873 恒温恒湿槽使用 １試験片１時間につき
    （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用）    		 4,070円 化学技術部

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    圧縮試験（50ｋN以下）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2842 圧縮試験（50ｋN以下） １試験片につき 3,190円 化学技術部
    E2872 恒温槽使用（-30～200℃） １試験片１時間につき
    （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用）    		 2,970円 化学技術部
    E2873 恒温恒湿槽使用 １試験片１時間につき
    （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用）    		 4,070円 化学技術部

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    曲げ試験（５ｋN以下）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2843 曲げ試験（5ｋN以下） １試験片につき 3,190円 化学技術部
    E2872 恒温槽使用（-30～200℃） １試験片１時間につき
    （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用）    		 2,970円 化学技術部
    E2873 恒温恒湿槽使用 １試験片１時間につき
    （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用）    		 4,070円 化学技術部

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    動作パターン制御試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2844 動作パターン制御試験 １試験片につき 9,900円 化学技術部
    E2872 恒温槽使用（-30～200℃） １試験片１時間につき
    （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用）    		 2,970円 化学技術部
    E2873 恒温恒湿槽使用 １試験片１時間につき
    （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用）    		 4,070円 化学技術部

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    引張弾性率測定（接触式伸び計使用）（室温）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2851 引張弾性率測定（接触式伸び計使用）（室温） １試験片につき 5,390円 化学技術部

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    圧縮弾性率測定（室温）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2852 圧縮弾性率測定（室温） １試験片につき 3,190円 化学技術部

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    曲げ弾性率測定（室温）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2853 曲げ弾性率測定（室温） １試験片につき 3,190円 化学技術部

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    軟質発泡材料圧縮試験（室温）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2863 軟質発泡材料圧縮試験（室温） １試験片につき 9,900円 化学技術部

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    シャルピー衝撃試験（室温）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2881 シャルピー衝撃試験（室温） １試験片につき 2,310円 化学技術部
    E2885 ノッチ加工 １試験片につき（E2881に適用） 1,980円 化学技術部

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    硬さ試験（ロックウェル・デュロメータ）（室温）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2920 硬さ試験（ロックウェル・デュロメータ）　（室温） １試料につき 3,520円 化学技術部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E6050 材料試験機（５ｋＮ） インストロンジャパン　5565型 1,320円 化学技術部

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    摩擦摩耗

    トライボ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0211 トライボ試験 １試料１条件につき 8,360円 機械・材料技術部
    E0212 トライボ試験　１件増 １条件増すごとに 3,850円 機械・材料技術部

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    摩耗試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0215 摩耗試験 １試料１条件につき 7,700円 機械・材料技術部
    E0216 摩耗試験　１件増 １条件増すごとに 3,520円 機械・材料技術部

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    機器使用

     
    該当する情報はありません

    設計加工

    デザイン

    デザイン・企画

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5280 デザイン・企画 １時間につき 3,410円 事業化支援部

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    機器使用

     
    該当する情報はありません

    CAD・CAM・CAE

    機械設計・解析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4990 機械設計・解析 １時間当たり 6,160円 情報・生産技術部

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    弾塑性解析（塑性加工のシミュレーション解析）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5001 弾塑性解析（塑性加工のシミュレーション解析） １時間当たり 9,020円 情報・生産技術部

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    構造解析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4994 構造解析 １時間当たり 9,460円 機械・材料技術部

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    機器使用

     
    該当する情報はありません

    ３Dプリンター

    三次元造形（小型インクジェット式３Ｄプリンター）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4991 三次元造形　（小型インクジェット式３Ｄプリンター） １時間当たり 770円 情報・生産技術部
    E4997 三次元造形前処理 １時間当たり 3,410円 情報・生産技術部
    E4999 三次元造形後処理 １時間当たり 3,630円 情報・生産技術部

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    三次元造形（インクジェット式３Dプリンター）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4998 三次元造形　（インクジェット式３Dプリンター） １時間当たり 2,970円 情報・生産技術部
    E4997 三次元造形前処理 １時間当たり 3,410円 情報・生産技術部
    E4999 三次元造形後処理 １時間当たり 3,630円 情報・生産技術部

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    三次元造形（光造形式３Dプリンター）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5000 三次元造形　（光造形式３Dプリンター） １時間当たり 1,430円 情報・生産技術部
    E4997 三次元造形前処理 １時間当たり 3,410円 情報・生産技術部
    E4999 三次元造形後処理 １時間当たり 3,630円 情報・生産技術部

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    機器使用

     
    該当する情報はありません

    加工

    立形マシニングセンタによる加工

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0490 立形マシニングセンタによる加工 １時間当たり 7,040円 情報・生産技術部

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    ５軸制御マシニングセンタによる加工

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0495 ５軸制御マシニングセンタによる加工 １時間当たり 7,590円 情報・生産技術部

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    ワイヤ放電加工

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4620 ワイヤ放電加工 １時間当たり 4,290円 情報・生産技術部

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    ＮＣ放電加工試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0450 ＮＣ放電加工試験 １時間当たり 2,530円 情報・生産技術部

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    ホットプレス処理

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0460 ホットプレス処理 １時間当たり 9,350円 機械・材料技術部

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    制御雰囲気炉処理

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0461 制御雰囲気炉処理 １時間当たり 4,620円 機械・材料技術部

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    脱脂炉処理

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0462 脱脂炉処理 １時間当たり 1,760円 機械・材料技術部

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    卓上型電気炉処理

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0463 卓上型電気炉処理 １時間当たり 2,090円 機械・材料技術部

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    ＨＩＰ処理

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0470 ＨＩＰ処理　 １時間当たり 19,580円 機械・材料技術部

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    ＣＩＰ処理

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0471 ＣＩＰ処理　 １時間当たり 6,160円 機械・材料技術部

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    熱処理特性試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0480 熱処理特性試験 １時間当たり 12,870円 機械・材料技術部

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    工具寿命試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0270 工具寿命試験　 １項目につき 17,160円 情報・生産技術部

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    切削抵抗測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0310 切削抵抗測定　 １項目につき 12,650円 情報・生産技術部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E6210 コンターマシン アマダ　VA-500 330円 情報・生産技術部
    E6230 平面研削盤 岡本　PSG-52DX 1,650円 機械・材料技術部
    E6240 ボール盤 ヤマモト　YSDT-550 220円 機械・材料技術部
    E6270 切断機 Hストルアス社　ﾃﾞｨｽｺﾄﾑ 1,430円 機械・材料技術部
    E6310 帯鋸盤 アマダ　HA300 990円 情報・生産技術部
    E6340 旋盤 昌運　ST-5 1,320円 機械・材料技術部
    E6350 ＣＮＣ旋盤 オークマ　LS-30N 5,500円 機械・材料技術部
    E6360 旋盤 シャブリン　SV-150A 2,090円 機械・材料技術部
    E6370 フライス盤 デッケル　FP1 2,310円 機械・材料技術部
    E6375 ＮＣフライス盤 イワシタ　ＮＲ２ 2,530円 情報・生産技術部
    E6380 立形マシニングセンタ 牧野フライス製作所　　V33 3,740円 情報・生産技術部
    E7720 ツールチェンジＮＣ加工機 平安コーポレーション　NC-151MC-1508 2,090円 情報・生産技術部
    E7730 ルータ 平安鉄工　NC-131P-1008 770円 情報・生産技術部
    E7750 油圧プレス　（ホットプレス） セイブ　HP-2 330円 情報・生産技術部
    E8810 混練機 森山　DSI-5GHH-E 2,750円 機械・材料技術部
    E8820 金属粉末射出成形装置 東芝機械　IS30EPN-1A 2,310円 機械・材料技術部
    E8840 電気炉 炉研工業　ﾏｯﾌﾙ型加熱炉 HI 1,430円 機械・材料技術部
    E8970 熱間加工再現試験装置 富士電波工機　ｻｰﾒｯｸﾏｽﾀｰZ 12,540円 機械・材料技術部
    E8975 熱処理再現試験装置 富士電波工機　特注品FTA-153VTほか 9,570円 機械・材料技術部
    E8980 シリコニット箱型炉 シリコニット高熱工業　　SFB-2040 990円 機械・材料技術部
    E9610 ファブラボ（Ⅰ） ３Ｄプリンタ使用可　　装置類取扱い指導有 3,300円 電子技術部
    E9620 ファブラボ（Ⅱ） ３Ｄプリンタ使用可　　装置類取扱い指導無 550円 電子技術部
    E9630 ファブラボ（Ⅲ） ３Ｄプリンタ使用不可　　装置類取扱い指導無 220円 電子技術部

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    微細加工

    真空蒸着

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1156 真空蒸着 標準１試料当たり　 37,070円 電子技術部
    E1157 真空蒸着　１条件増 １条件増すごとに　 17,270円 電子技術部

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    スパッタ成膜

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1158 スパッタ成膜 標準１試料当たり　 48,950円 電子技術部

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    アッシャーによるプラズマ処理

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1180 アッシャーによるプラズマ処理 １条件１時間につき　 18,040円 電子技術部

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    ＥＣＲプラズマエッチング

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1190 ＥＣＲプラズマエッチング 標準１試料当たり　 49,720円 電子技術部

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    高精度フォトリソグラフィ

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1191 高精度フォトリソグラフィ １枚につき　 28,600円 電子技術部
    E1192 高精度フォトリソグラフィ　１枚増　 １枚増すごとに　 10,340円 電子技術部

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    電子線リソグラフィ

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1200 電子線リソグラフィ １時間当たり　 10,670円 電子技術部
    E1201 電子線リソグラフィ試料調製 １試料につき　 9,350円 電子技術部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E6730 研磨機 ムサシノ電子　MA-200 2,530円 電子技術部
    E6735 自動研磨機 QATM社　サファイア250
    A2-ECO    		 3,300円 電子技術部
    E6760 高温小型真空雰囲気炉 ナガノ　NEWTONIAN
    PASCAL40    		 5,940円 電子技術部

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    性能評価

    電気計測・試験

    絶縁抵抗測定（平板試料）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5610 絶縁抵抗測定（平板試料） １試料につき 6,050円 川崎技術支援部

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    電流電圧測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0510 電流電圧測定 １試料１条件につき 3,080円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    電圧・電流波形測定（オシロスコープ）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0525 電圧・電流波形測定（オシロスコープ） ２時間まで 13,970円 電子技術部
    E0535 電圧・電流波形測定（オシロスコープ）　1時間増 １時間増すごとに 6,160円 電子技術部

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    低抵抗測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0570 低抵抗測定 １試料１条件につき 4,180円 電子技術部

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    電気機器・漏れ電流測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0660 電気機器・漏れ電流測定 １試料１条件につき 4,400円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    電気機器・耐電圧試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0670 電気機器・耐電圧試験 １試料１測定につき 4,290円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    電気機器・接地回路の抵抗測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0680 電気機器・接地回路の抵抗測定 １試料１条件につき 4,290円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    絶縁抵抗試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0750 絶縁抵抗測定 １試料１条件につき 5,170円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    電気機器・温度試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0760 電気機器・温度試験 １測定点につき 3,190円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    電気機器・電力測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0820 電気機器・電力測定 １試料１条件につき 5,500円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E8200 絶縁抵抗計（表面および体積抵抗のみ） キーサイト・テクノロジー　　　4339B 3,300円 電子技術部
    E8220 ＬＣＲメータ ＹＨＰ　YHP4285A 3,190円 電子技術部
    K6510 オシロスコープ　[WaveRunner62Xi] レクロイ 　WaveRunner62Xi 2,310円 川崎技術支援部
    K6515 ACミリオームハイテスター　[3560] 日置電機　　3560 550円 川崎技術支援部
    K6517 超絶縁計　[SM-8220] 日置電機　　SM-8220 220円 川崎技術支援部
    K6518 交流耐電圧試験器　[3158]　 日置電機　　3158 220円 川崎技術支援部
    K6520 漏れ電流試験器　[ST5540] 日置電機　　ST5540 990円 川崎技術支援部

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    ネットワーク試験

    イーサネットコンプライアンステスト

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0890 イーサネットコンプライアンステスト １時間につき 5,170円 情報・生産技術部

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    適合性試験（FL-net）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4820 適合性試験（FL-net） １試料６時間まで　 53,240円 情報・生産技術部

    左右にスクロールできます

    相互接続性試験（FL-net）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4821 相互接続性試験（FL-net） １試料２時間まで　 35,420円 情報・生産技術部

    左右にスクロールできます

    ノイズ試験（CC-Link）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4910 ノイズ試験（CC-Link） １試料８時間まで　 31,790円 情報・生産技術部

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    ハードウェア試験（CC-Link）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4920 ハードウェア試験（CC-Link） １試料４時間まで　 15,840円 情報・生産技術部

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    ソフトウェア試験（CC-Link）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4930 ソフトウェア試験（CC-Link） １試料１0時間まで　 39,710円 情報・生産技術部

    左右にスクロールできます

    組み合わせ試験（CC-Link）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4940 組み合わせ試験（CC-Link） １試料６時間まで　 23,760円 情報・生産技術部

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    インタオぺラビリティ試験（CC-Link）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4950 インタオぺラビリティ試験（CC-Link） １試料５時間まで　 19,800円 情報・生産技術部

    左右にスクロールできます

    エージング試験（CC-Link）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4960 エージング試験（CC-Link） １試料１2時間まで　 14,190円 情報・生産技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

     
    該当する情報はありません

    半導体・実装

    触針式表面形状測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1126 触針式表面形状測定 １測定につき 12,650円 電子技術部

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    フォトルミネッセンス測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1060 フォトルミネッセンス測定 １試料１条件につき　 46,310円 電子技術部

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    高分解能（１nm以下）フォトルミネッセンス測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1070 高分解能（1nm以下）フォトルミネッセンス測定 １試料１条件につき　 74,250円 電子技術部

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    低温光特性評価

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1080 低温光特性評価 １試料１条件につき　 36,960円 電子技術部

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    酸化拡散試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1120 酸化拡散試験 １時間当たり　 23,650円 電子技術部

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    触針式膜厚測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1125 触針式膜厚測定 １測定につき 4,400円 電子技術部

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    光干渉式膜厚測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1130 光干渉式膜厚測定 １試料１測定点につき 3,190円 電子技術部
    E1140 光干渉式膜厚測定　1測定点増 １試料につき１測定点増すごとに 1,540円 電子技術部

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    ホール効果測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1152 ホール効果測定 １試料１条件につき　 21,670円 電子技術部

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    熱抵抗測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0767 熱抵抗測定 １時間当たり　 9,350円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    パワーサイクル試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1386 パワーサイクル試験 ８時間まで 22,990円 電子技術部
    E1387 パワーサイクル試験　８時間増 ８時間増すごとに 11,330円 電子技術部

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    超音波ウェッジボンダ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1153 超音波ウェッジボンダ試験 １時間当たり 8,910円 電子技術部

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    超音波ボールボンダ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1154 超音波ボールボンダ試験 １時間当たり 11,000円 電子技術部

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    接合強度試験（はんだ継手強度試験）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0775 接合強度試験（はんだ継手強度試験） １測定条件につき（５測定点まで） 9,130円 電子技術部

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    接合強度試験（ワイヤーボンディング強度試験）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0776 接合強度試験（ワイヤーボンディング強度試験） １測定条件につき（５測定点まで） 10,780円 電子技術部

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    接合強度試験（ダイシェア試験）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0777 接合強度試験（ダイシェア試験） １測定条件につき（５測定点まで） 11,660円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    薄膜硬さ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0778 薄膜硬さ試験 １時間当たり 5,940円 電子技術部

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    クリーン雰囲気試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1211 クリーン雰囲気試験 １時間当たり 6,490円 電子技術部

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    パワー半導体静特性試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0768 パワー半導体静特性試験 １時間当たり 7,370円 電子技術部

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    半導体パラメータ測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0769 半導体パラメータ測定 １時間当たり 7,260円 電子技術部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E6680 陽極接合装置 アユミ工業　AB-40特注品 12,870円 電子技術部
    E6690 マスクアライナ ミカサ　MA-20 7,590円 電子技術部
    E6740 酸化拡散装置 ＫＨエレクトロニクス　　特別仕様 19,360円 電子技術部
    E6770 超音波ボールボンダ ウエストボンド　7700A 7,700円 電子技術部
    E6790 チップ付け装置 ウエストボンド　7200A 2,860円 電子技術部
    E6810 超音波ウェッジボンダ ウエストボンド　7400A 5,610円 電子技術部
    E6880 アッシャー装置 東京応化工業　OPM-EM600 12,650円 電子技術部
    E6950 光干渉式膜厚測定装置 大日本スクリーン　VM-8000J 3,080円 電子技術部
    E6970 触針式膜厚計 小坂研究所　ET4000AKR 2,090円 電子技術部
    E6980 分光エリプソ装置 日本セミラボ　SE-2000 7,260円 電子技術部

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    電磁環境・EMC

    ネットワークアナライザ測定（マルチポート）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0780 ネットワークアナライザ測定（マルチポート） １測定につき　 11,440円 電子技術部

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    ネットワークアナライザ測定（４ポートまで）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0791 ネットワークアナライザ測定（4ポートまで） １試料１条件につき　 7,700円 電子技術部
    E0792 ネットワークアナライザ測定（4ポートまで）　１件増 １条件増すごとに　 2,970円 電子技術部

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    マイクロ波・ミリ波伝送特性測定（Ｓパラメータ・ＴＤＲ測定）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0835 マイクロ波・ミリ波伝送特性測定　（Sパラメータ・TDR測定） １条件１測定につき　 18,040円 電子技術部
    E0836 マイクロ波・ミリ波伝送特性測定　（Sパラメータ・TDR測定）　
    １件増    		 １測定増すごとに　 4,730円 電子技術部

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    マイクロ波・ミリ波伝送特性測定（プローバー測定）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0845 マイクロ波・ミリ波伝送特性測定　（プローバー測定） １条件１測定につき　 32,120円 電子技術部
    E0846 マイクロ波・ミリ波伝送特性測定　（プローバー測定）　１件増 １測定増すごとに　 5,390円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    放射妨害波測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1410 放射妨害波測定 ２時間まで ２時間まで　 40,810円 電子技術部
    E1420 放射妨害波測定　1時間増 １時間増すごとに　 15,730円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    車載機器の放射・伝導妨害波測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1425 車載機器の放射・伝導妨害波測定　２時間まで ２時間まで　 40,810円 電子技術部
    E1426 車載機器の放射・伝導妨害波測定　１時間増 １時間増すごとに　 15,730円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    電源・通信ポート伝導妨害波測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1430 電源・通信ポート伝導妨害波測定　１時間まで １時間まで　 24,970円 電子技術部
    E1440 電源・通信ポート伝導妨害波測定　１時間増 １時間増すごとに　 15,620円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    雑音電力測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1450 雑音電力測定 １時間まで １時間まで 24,970円 電子技術部
    E1460 雑音電力測定　１時間増 １時間増すごとに　 15,620円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    放射無線周波電磁界イミュニティ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1472 放射無線周波電磁界イミュニティ試験 ２時間まで ２時間まで　 31,900円 電子技術部
    E1482 放射無線周波電磁界イミュニティ試験　１時間増 １時間増すごとに　 12,760円 電子技術部

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    静電気放電イミュニティ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1490 静電気放電イミュニティ試験　１時間まで １時間まで　 12,760円 電子技術部
    E1510 静電気放電イミュニティ試験　１時間増 １時間増すごとに　 7,370円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    電気的ファーストトランジェント/ バーストイミュニティ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1520 電気的ファーストトランジェント/バーストイミュニティ試験　
    １時間まで    		 １時間まで　 12,760円 電子技術部
    E1530 電気的ファーストトランジェント/バーストイミュニティ試験　
    １時間増    		 １時間増すごとに　 7,370円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    雷サージイミュニティ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1540 雷サージイミュニティ試験　１時間まで １時間まで　 12,760円 電子技術部
    E1550 雷サージイミュニティ試験　１時間増 １時間増すごとに　 7,370円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    誘導伝導電磁界イミュニティ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1553 誘導伝導電磁界イミュニティ試験　１時間まで １時間まで　 19,580円 電子技術部
    E1554 誘導伝導電磁界イミュニティ試験　１時間増 １時間増すごとに　 13,090円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動イミュニティ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1555 電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動イミュニティ試験　
    １時間まで    		 １時間まで　 10,120円 電子技術部
    E1556 電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動イミュニティ試験　
    １時間増    		 １時間増すごとに　 5,610円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    インパルスノイズ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1560 インパルスノイズ試験　１時間まで １時間まで　 12,760円 電子技術部
    E1570 インパルスノイズ試験　１時間増 １時間増すごとに　 7,370円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    電磁波シールド効果測定 (100kHz～1GHz、 KEC法)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1581 電磁波シールド効果測定　（100kHz～1GHz、KEC法） １試料１測定（電界または磁界）につき 6,490円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    マイクロ波電磁波シールド効果測定 (1GHz～ 8.5GHz、2焦点型扁平空洞)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1600 マイクロ波電磁波シールド効果測定　
    （1GHz～8.5GHz、2焦点型扁平空洞）    		 １試料１測定につき　 7,370円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    電波透過特性測定（マイクロ波帯）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1605 電波透過特性測定（マイクロ波帯） １条件１測定につき　 16,940円 電子技術部
    E1606 電波透過特性測定（マイクロ波帯）　１件増 １測定増すごとに　 7,810円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    電波吸収率測定（簡易アンテナ法）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1610 電波吸収率測定（簡易アンテナ法） １条件１測定につき　 14,300円 電子技術部
    E1620 電波吸収率測定（簡易アンテナ法）　１件増 １測定増すごとに 3,960円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E8270 伝導イミュニティ測定システム ノイズ研究所　　　ESS-B3011 4,070円 電子技術部
    K2310 電波暗室（測定帯域 30MHz～１GHz）　
    [TDK製（３m法）]　（１時間以内）    		 TDK製（３m法）　 8,140円 川崎技術支援部
    K2311 電波暗室（測定帯域 30MHz～１GHz）　
    [TDK製（３m法）]　（追加30分当たり）    		 TDK製（３m法）　 3,960円 川崎技術支援部
    K2315 電波暗室 （測定帯域 １GHz～6GHz）　
    [TDK製（３m法）]　（１時間以内）    		 TDK製（３m法）　 9,460円 川崎技術支援部
    K2316 電波暗室 （測定帯域 １GHz～6GHz）　
    [TDK製（３m法）]　（追加30分当たり）    		 TDK製（３m法）　 4,510円 川崎技術支援部
    K2330 電源高調波電流測定器　[PM3000ACE他]　（１時間以内） Voltec 　PM3000ACE他 2,860円 川崎技術支援部
    K2331 電源高調波電流測定器　[PM3000ACE他]　（追加30分当たり） Voltec 　PM3000ACE他 1,430円 川崎技術支援部
    K2350 インピーダンス安定化回路網（ISN）　
    [ISN T8,T8CAT6]　（１時間以内）    		 TESEQ 　ISN T8,T8CAT6 1,320円 川崎技術支援部
    K2351 インピーダンス安定化回路網（ISN）　
    [ISN T8,T8CAT6]　（追加30分当たり）    		 TESEQ 　ISN T8,T8CAT6 770円 川崎技術支援部
    K2360 静電気試験器　[ESS-S3011&GT-30R]　（１時間以内） ノイズ研究所 　ESS-S3011&GT-30R 2,420円 川崎技術支援部
    K2361 静電気試験器　[ESS-S3011&GT-30R]　（追加30分当たり） ノイズ研究所 　ESS-S3011&GT-30R 1,210円 川崎技術支援部
    K2370 ノイズシミュレータ　[INS-4040]　（１時間以内） ノイズ研究所　INS-4040 2,860円 川崎技術支援部
    K2371 ノイズシミュレータ　[INS-4040]　（追加30分当たり） ノイズ研究所 　INS-4040 1,430円 川崎技術支援部
    K2380 パルスイミュニティ試験器　[Compact NX5]　（１時間以内） EM Test 　Compact NX5 2,970円 川崎技術支援部
    K2381 パルスイミュニティ試験器　[Compact NX5]　（追加30分当たり） EM Test 　Compact NX5 1,320円 川崎技術支援部
    K2430 シールドルーム　[SH-H1313]　 （１時間以内） ノイズ研究所　SH-H1313 3,300円 川崎技術支援部
    K2431 シールドルーム　[SH-H1313]　 （追加30分当たり） ノイズ研究所　SH-H1313 1,210円 川崎技術支援部
    K2440 シールドテント　[TM-2.5-1.7-2-2]　（１時間以内） 富山電気ビルディング　TM-2.5-1.7-2-2 3,190円 川崎技術支援部
    K2441 シールドテント　[TM-2.5-1.7-2-2]　（追加30分当たり） 富山電気ビルディング　TM-2.5-1.7-2-2 1,430円 川崎技術支援部
    K2450 EMI測定システムＡ（放射雑音測定）　
    [N9010A EXA]　（１時間以内）    		 キーサイト　N9010A EXA 5,610円 川崎技術支援部
    K2451 EMI測定システムＡ（放射雑音測定）　
    [N9010A EXA]　（追加30分当たり）    		 キーサイト　N9010A EXA 1,650円 川崎技術支援部
    K2460 EMI測定システムＡ（伝導性雑音測定）　[N9010A EXA]　（１時間以内） キーサイト　N9010A EXA 4,070円 川崎技術支援部
    K2461 EMI測定システムＡ（伝導性雑音測定）　
    [N9010A EXA]　（追加30分当たり）    		 キーサイト　N9010A EXA 1,210円 川崎技術支援部
    K2776 伝導イミュニティ試験器　[NSG2070]　（１時間以内） SCHAFFNER 　NSG2070 2,860円 川崎技術支援部
    K2777 伝導イミュニティ試験器　[NSG2070]　（追加30分当たり） SCHAFFNER 　NSG2070 1,430円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    燃料電池・二次電池評価

    燃料電池の電極作製（スプレー塗工）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3255 燃料電池の電極作製(スプレー塗工) １時間当たり　 4,730円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    燃料電池の発電試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3241 燃料電池の発電試験 １時間当たり　 8,470円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    燃料電池スタック試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3253 燃料電池スタック試験（１） 24時間まで（8時間当たり） 4,510円 化学技術部
    E3254 燃料電池スタック試験（２）　24時間増 24時間増すごとに　 7,150円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    燃料電池の露点測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3251 燃料電池の露点測定（１） 24時間まで（１時間当たり） 4,180円 化学技術部
    E3252 燃料電池の露点測定（２）　24時間増 24時間増すごとに　 25,520円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    電解質膜のガス透過性測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3242 電解質膜のガス透過性測定 １試料につき（１時間当たり） 6,380円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    電池充放電試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3261 電池充放電試験（１） １試料につき６時間まで 23,760円 化学技術部
    E3262 電池充放電試験（２）　6時間増 ６時間増すごとに　 10,780円 化学技術部
    E3280 試料調製（１）　（比較的容易） E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 3,300円 化学技術部
    E3290 試料調製（２）　（比較的複雑） E3211, E3212, E3221, E3222, E3223, E3224, E3261, E3262, E3270, E3275に適用 6,710円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    電極の熱ロールプレス処理

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3263 電極の熱ロールプレス処理 １試料１時間につき　 4,070円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    大型電池充放電試験（２kW以下）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3265 大型電池充放電試験（２kW以下）（１） １試料につき6時間まで 9,020円 化学技術部
    E3266 大型電池充放電試験（２kW以下）（２）　　6時間増 ６時間増すごとに　 5,940円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    機器使用

     
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    太陽電池評価

    太陽電池のIPCE測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3310 太陽電池のIPCE測定 １試料につき 41,360円 川崎技術支援部
    K3312 太陽電池のIPCE測定　追加 １試料または１条件追加につき 11,660円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    太陽電池のI-V測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3320 太陽電池のI-V測定 １試料につき 42,570円 川崎技術支援部
    K3322 太陽電池のI-V測定　追加 １試料または１条件追加につき 11,880円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    太陽電池のI-V測定　LED特定波長

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3330 太陽電池のI-V測定　LED特定波長 １試料につき 23,100円 川崎技術支援部
    K3332 太陽電池のI-V測定　LED特定波長　追加 １試料または１条件追加につき 7,150円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    低照度環境下におけるI-V測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3620 低照度環境下におけるI-V測定 １条件につき 5,500円 川崎技術支援部
    K3622 低照度環境下におけるI-V測定　追加 １試料または１条件追加につき 2,640円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    XeランプSSによる連続照射

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3350 XeランプSSによる連続照射 24時間につき 22,770円 川崎技術支援部
    K3352 XeランプSSによる連続照射　追加 追加24時間につき 20,240円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    LED-SSによる特定波長の光照射

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3360 LED-SSによる特定波長の光照射 24時間につき 33,000円 川崎技術支援部
    K3362 LED-SSによる特定波長の光照射　追加 追加24時間につき 30,360円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    ２灯式SSによる連続照射

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3610 2灯式SSによる連続照射 24時間につき（150mm角まで　
    山下電装YSS-T150Aを使用）　    		 54,670円 川崎技術支援部
    K3612 2灯式SSによる連続照射　追加 追加24時間につき（150mm角まで　
    山下電装YSS-T150Aを使用）    		 52,800円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    低照度光源による光照射

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3630 低照度光源による光照射 １時間につき 4,180円 川崎技術支援部
    K3632 低照度光源による光照射　24時間 24時間につき 30,140円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    無抵抗電流計による電流値測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3640 無抵抗電流計による電流値測定 １時間につき 1,210円 川崎技術支援部
    K3642 無抵抗電流計による電流値測定　24時間 24時間につき 9,130円 川崎技術支援部

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    データロガーによる測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3650 データロガーによる測定 １時間につき 1,210円 川崎技術支援部
    K3652 データロガーによる測定　24時間 24時間につき 9,240円 川崎技術支援部

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    オシロスコープ

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3655 オシロスコープ １時間につき 2,090円 川崎技術支援部
    K3657 オシロスコープ　24時間 24時間につき 10,450円 川崎技術支援部

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    連続光照射に伴う簡易なI-V測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3390 連続光照射に伴う簡易なI-V測定 １回につき 3,520円 川崎技術支援部

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    太陽電池のインピーダンス測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3395 太陽電池のインピーダンス測定 １試料につき 14,410円 川崎技術支援部

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    発電面積規定用遮光マスク（面積測定済み）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3420 発電面積規定用遮光マスク（面積測定済み） １枚につき 1,870円 川崎技術支援部

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    機器使用

     
    該当する情報はありません

    光触媒評価

    光触媒の窒素酸化物除去性能試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3010 光触媒の窒素酸化物除去性能試験 １試験につき 71,170円 川崎技術支援部
    K3015 光触媒の窒素酸化物除去性能試験　　－再生率－ １試験につき 20,020円 川崎技術支援部
    K3110 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

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    光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3050 光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験 １試験につき 48,840円 川崎技術支援部
    K3055 光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験　　－バッグ法 １試験につき 44,990円 川崎技術支援部
    K3110 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

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    光触媒のトルエン除去性能試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3060 光触媒のトルエン除去性能試験 １試験につき 44,880円 川崎技術支援部
    K3110 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

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    光触媒のホルムアルデヒド除去性能試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3070 光触媒のホルムアルデヒド除去性能試験 １試験につき 66,110円 川崎技術支援部
    K3110 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

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    光触媒のメチルメルカプタン除去性能試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3075 光触媒のメチルメルカプタン除去性能試験 １試験につき 71,610円 川崎技術支援部

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    光触媒のセルフクリーニング試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3020 光触媒のセルフクリーニング試験　　湿式分解性能の測定 １試験につき 48,620円 川崎技術支援部
    K3030 光触媒のセルフクリーニング試験　　水接触角の測定 １試験につき 71,610円 川崎技術支援部
    K3110 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

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    光触媒の水浄化性能試験（JISR1704準拠）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3080 光触媒の水浄化性能試験（JISR1704準拠）　　（明条件のみ） １試験につき 81,840円 川崎技術支援部
    K3085 光触媒の水浄化性能試験（JISR1704準拠）　　（暗条件のみ） １試験につき 81,840円 川崎技術支援部
    K3110 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

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    光触媒性能試験JIS試験条件不成立時　（試験途中中止時）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3105 光触媒性能試験JIS試験条件不成立時　　（試験途中中止時） １試験につき 24,310円 川崎技術支援部
    K3110 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

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    その他光触媒性能試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3122 その他光触媒性能試験 １時間につき 7,150円 川崎技術支援部
    K3110 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

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    空気清浄機によるたばこ煙成分の脱臭試験（JEM1467に準じた試験法）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3090 空気清浄機によるたばこ煙成分の脱臭試験
    （JEM1467に準じた試験法）    		 １試験につき 69,740円 川崎技術支援部
    K3110 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

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    水接触角の測定（光触媒JIS試験以外）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3042 水接触角の測定（光触媒JIS試験以外） １試料１点につき　 4,950円 川崎技術支援部
    K3047 水接触角の測定（光触媒JIS試験以外）追加 １点追加につき　 1,210円 川崎技術支援部
    K3110 光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,740円 川崎技術支援部

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    機器使用

     
    該当する情報はありません

    繊維性能評価

    繊維熱物性試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3450 繊維熱物性試験 １試料１測定につき 6,050円 化学技術部

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    重量測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3460 重量測定 １試料につき 660円 化学技術部

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    編織物厚さ測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3620 編織物厚さ測定 １試料につき 1,980円 化学技術部

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    編織物通気度試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3650 編織物通気度試験 １試料につき 3,080円 化学技術部

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    編織物強伸度測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3661 編織物強伸度測定 １試料１方向につき 3,300円 化学技術部

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    糸強伸度測定（容易なもの）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3820 糸強伸度測定（容易なもの） １試料につき 1,210円 化学技術部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E8550 風合い計測システム カトーテック　KES-F7ｻｰﾓﾗﾎﾞⅡ 3,630円 化学技術部

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    木材性能評価

    試料調整

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4510 試料調製（１）　　（のこ盤、かんな盤などによる試験片作製） １試料（30分につき） 1,650円 情報・生産技術部
    E4520 試料調製（２）　　（接着調湿等の前処理を伴うもの） １試料につき 2,530円 情報・生産技術部

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    摩耗試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4250 摩耗試験 １試料につき 4,290円 情報・生産技術部

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    圧縮試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4210 圧縮試験 １試料につき 3,190円 情報・生産技術部

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    引張試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4220 引張試験 １試料につき 3,410円 情報・生産技術部

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    曲げ試験（50kN以下）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4240 曲げ試験（50kN以下） １試料につき 2,750円 情報・生産技術部
    E4241 曲げ試験（50kN以下）　
    （曲げ強さ及び曲げヤング係数の算出を必要とするもの）    		 １試料につき 4,180円 情報・生産技術部

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    局所構造試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4260 局所構造試験 １試料１測定につき 3,190円 情報・生産技術部

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    密度測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4270 密度測定 １試料につき 1,650円 情報・生産技術部

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    含水率測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4280 含水率測定 １試料につき 6,490円 情報・生産技術部
    E4281 含水率測定　１増 一緒の工程で１試料増すごとに 2,530円 情報・生産技術部

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    いす繰返し衝撃試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4310 いす繰返し衝撃試験（１） １試料１条件につき（4,000回まで） 9,020円 情報・生産技術部
    E4320 いす繰返し衝撃試験（２）　4,000回増 同一試料に連続し4,000回増すごとに 5,170円 情報・生産技術部

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    いす繰返し耐久性試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4350 いす繰返し耐久性試験（１） １試料１条件につき（5,000回まで） 9,900円 情報・生産技術部
    E4360 いす繰返し耐久性試験（２）　5,000回増 同一試料に連続し5,000回増すごとに 5,170円 情報・生産技術部

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    垂直過重下の強度試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4370 垂直過重下の強度試験 １試料１条件につき 3,740円 情報・生産技術部

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    背もたれの静的強度試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4380 背もたれの静的強度試験 １試料１条件につき 3,740円 情報・生産技術部

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    脚部の静的強度試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4390 脚部の静的強度試験 １試料１条件につき 3,740円 情報・生産技術部

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    煮沸繰返し試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4480 煮沸繰返し試験 １試料につき 2,750円 情報・生産技術部

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    温冷水浸せき試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4490 温冷水浸せき試験 １試料につき 1,760円 情報・生産技術部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E6080 万能材料試験機 オリエンテック　UTA-5T 1,320円 情報・生産技術部
    E9016 摩耗試験機　（研磨紙使用無し） 東洋精機　NO410 GS10付 220円 情報・生産技術部

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    塗膜・めっき性能評価

    外観撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3090 外観撮影 １枚につき 440円 化学技術部
    E3095 外観撮影（色彩調整を要するもの） １枚につき 2,310円 化学技術部

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    塗膜物性試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3010 塗膜物性試験 １試料につき 1,870円 化学技術部

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    蛍光X線法による膜厚測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3020 蛍光X線法による膜厚測定 １試料１ヶ所につき 5,170円 化学技術部

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    光沢度測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3030 光沢度測定 １試料につき 3,740円 化学技術部

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    色彩測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3040 色彩測定 １試料につき 3,630円 化学技術部

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    浸せき試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3050 浸せき試験 室温で実施の場合　1試料24時間まで　
    （試験液費用は別途負担）    		 4,730円 化学技術部
    E3051 浸せき試験　24時間増 24時間増すごとに 770円 化学技術部
    E3052 浸せき試験用試薬調製 １試料につき 3,410円 化学技術部

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    煮沸試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3071 煮沸試験 １試料８時間につき 3,630円 化学技術部

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    耐熱性試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3080 耐熱性試験　 １試料500℃まで８時間につき 2,420円 化学技術部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E8910 乾式塗装ブース サンエス工業　DS-CSS-1200 1,980円 化学技術部

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    接着性能評価

    接着強さ試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2861 接着強さ試験 １試験片につき 4,180円 化学技術部
    E2872 恒温槽使用（-30～200℃） １試験片１時間につき
    （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用）    		 2,970円 化学技術部
    E2873 恒温恒湿槽使用 １試験片１時間につき
    （E2841, E2842 ,E2843, E2844, 2861 に適用）    		 4,070円 化学技術部

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    はく離接着強さ試験（室温）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E2862 はく離接着強さ試験（室温） １試験片につき 4,620円 化学技術部

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    機器使用

     
    該当する情報はありません

    バイオ・食品

    試料調製

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5180 試料調製（１）　（簡易なもの） E5011～E5176、E3325に適用 1,760円 化学技術部
    E5181 試料調製（２）　（基本的なもの） E5011～E5176、E3325に適用 3,630円 化学技術部
    E5182 試料調製（３）　（複雑なもの） E5011～E5176、E3325に適用 7,150円 化学技術部
    E5183 試料調製（４）　（困難なもの） E5011～E5176、E3325に適用 10,890円 化学技術部

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    一般生菌数測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5011 一般生菌数測定 １試料につき 5,060円 化学技術部

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    嫌気性菌数測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5031 嫌気性菌数測定 １試料につき 6,380円 化学技術部

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    抗菌性評価試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5036 抗菌性評価試験 １試料１測定につき 6,600円 化学技術部

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    蛍光顕微鏡観察（生物試料）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5038 蛍光顕微鏡観察（生物試料） １試料１測定につき 6,380円 化学技術部

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    抗酸化性測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5040 抗酸化性測定（１） １試料につき 3,960円 化学技術部
    E5041 抗酸化性測定（２）　（H－ＯＲＡＣ法による） １試料につき 12,760円 化学技術部

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    酵素阻害活性測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5060 酵素阻害活性測定（１）　（複雑なもの） １試料につき 7,700円 化学技術部
    E5061 酵素阻害活性測定（２）　（容易なもの） １試料につき 5,500円 化学技術部

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    抗糖化性測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5062 抗糖化性測定（１）　（複雑なもの） １試料につき 7,370円 化学技術部
    E5063 抗糖化性測定（２）　（容易なもの） １試料につき 5,500円 化学技術部

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    水分定量（常圧乾燥法による）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5090 水分定量（常圧乾燥法による） １試料につき 4,950円 化学技術部

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    遊離アミノ酸組成分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5091 遊離アミノ酸組成分析 １試料につき 43,120円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    タンパク質定量（Bradford法、Lowry法、BCA法による）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5100 タンパク質定量　　（Bradford法、Lowry法、BCA法による） １試料につき 4,620円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    タンパク質電気泳動試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5105 タンパク質電気泳動試験 １試料につき 7,590円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    脂質定量（ソックスレー抽出法による）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5110 脂質定量（ソックスレー抽出法による） １試料につき 5,720円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    灰分定量（直接灰化法による）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5120 灰分定量（直接灰化法による） １試料につき 5,500円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    総ポリフェノール定量（Folin-Ciocalteu法による）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5130 総ポリフェノール定量　（Folin-Ciocalteu法による） １試料につき 4,620円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    総アントシアニン定量（pH differential法による）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5135 総アントシアニン定量　（pH differential法による） １試料につき 6,930円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    総プロアントシアニジン定量（ＤＭＡＣ法による）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5136 総プロアントシアニジン定量（ＤＭＡＣ法による） １試料につき 4,620円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    総フラボノイド定量（塩化アルミニウム法による）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5137 総フラボノイド定量（塩化アルミニウム法による） １試料につき 5,060円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    炭水化物定量（フェノール-硫酸法による）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5140 炭水化物定量（フェノール-硫酸法による） １試料につき 5,500円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    リグニン定量（硫酸法による）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5150 リグニン定量（硫酸法による） １試料につき 9,020円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    サフラン試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5160 サフラン試験 １試料につき 24,310円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    凍結乾燥

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5170 凍結乾燥　（24時間まで） 24時間まで 6,050円 化学技術部
    E5171 凍結乾燥　（24時間増すごとに） 24時間増すごとに 2,640円 化学技術部

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    凍結乾燥（温度制御有）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5175 凍結乾燥（温度制御有）　（24時間まで） 24時間まで 11,770円 化学技術部
    E5176 凍結乾燥（温度制御有）　（24時間増すごとに） 24時間増すごとに 8,140円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    冷却遠心分離

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3325 冷却遠心分離 １時間まで 5,390円 化学技術部
    E3326 冷却遠心分離　１時間増 １時間増すごとに （E3325に適用） 5,060円 化学技術部

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    超臨界炭酸ガス抽出

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3310 超臨界炭酸ガス抽出 １試料、30分間につき 14,300円 化学技術部
    E3314 超臨界炭酸ガス抽出　30分増 30分増すごとに（E3310に適用） 3,850円 化学技術部
    E3312 エントレーナー使用（超臨界炭酸ガス抽出） １試料、30分間につき（E3310に適用） 4,290円 化学技術部
    E3313 コールドトラップ使用（超臨界炭酸ガス抽出） １試料、30分間につき（E3310に適用） 2,200円 化学技術部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E7180 蛍光顕微鏡（生物試料） サーモフィッシャー
    サイエンティフィック　AMF5000    		 2,640円 化学技術部
    E8725 冷却遠心機 エッペンドルフ・ハイマック・テクノロジーズ　CR21N 1,760円 化学技術部
    E9040 濃縮機　（遠心式濃縮機） タイテック　VC-96N 110円 化学技術部
    E9060 フレンチプレス細胞破砕機 アミンコ　FA078 440円 化学技術部
    E9061 マルチ検出モードプレートリーダー テカンジャパン　Infinite200Pro 1,430円 化学技術部

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    寸法測定・形状測定

    三次元座標測定（接触式測定）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0225 三次元座標測定（接触式測定） １時間当たり 18,480円 情報・生産技術部

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    三次元座標測定（光学式測定）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0230 三次元座標測定（光学式測定） １時間当たり 8,470円 情報・生産技術部

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    表面粗さ測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0245 表面粗さ測定 １試料１ヶ所につき 1,430円 情報・生産技術部

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    表面形状測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0255 表面形状測定 １試料１ヶ所につき 1,870円 情報・生産技術部
    E0260 形状評価 １寸法につき 220円 情報・生産技術部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E7810 万能測定顕微鏡 カールツァイス　UMM300/100 2,090円 情報・生産技術部
    E7830 表面形状測定装置 東京精密　サーフコムNEX241 SD2-13 1,980円 情報・生産技術部
    K6370 表面粗さ形状測定機　[サーフコム 550A]　　 東京精密 　　　　　　　　サーフコム550A 1,430円 川崎技術支援部

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    非破壊検査

    Ｘ線透過試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0960 Ｘ線透過試験 １時間当たり　 7,590円 機械・材料技術部

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    Ｘ線ＣＴ撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0981 Ｘ線ＣＴ撮影 １測定につき　 33,440円 機械・材料技術部

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    高出力高精細Ｘ線ＣＴ撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0985 高出力高精細X線CT撮影 １時間当たり　 16,830円 機械・材料技術部

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    非破壊超音波映像撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0990 非破壊超音波映像撮影 １時間当たり　 9,020円 電子技術部
    E0991 非破壊超音波映像撮影　（データ解析のみ） １解析当たり　 3,520円 電子技術部

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    マイクロフォーカスＸ線検査装置

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K1720 マイクロフォーカスＸ線検査装置 30分以内 7,040円 川崎技術支援部
    K1725 マイクロフォーカスＸ線検査装置　追加 追加15分当たり　 3,080円 川崎技術支援部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E7230 Ｘ線透視装置 島津製作所　SMX-2000 4,290円 機械・材料技術部
    E7240 Ｘ線ＣＴスキャン装置 ユニハイトシステム　XVA-160 Noix+Presto 13,310円 機械・材料技術部
    K2720 マイクロフォーカスＸ線検査装置　[MXT-160UU]　（30分以内） メディエックステック 　MXT-160UU 4,070円 川崎技術支援部
    K2725 マイクロフォーカスＸ線検査装置　[MXT-160UU]　
    （追加15分当たり）    		 メディエックステック 　MXT-160UU 1,650円 川崎技術支援部

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    撮影

    高速度カメラ撮影

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4995 高速度カメラ撮影 １時間当たり 6,050円 情報・生産技術部
    E4996 高速度カメラ撮影　　（アナログ波形データ収集装置併用） １時間当たり 6,490円 情報・生産技術部

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    機器使用

     
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    音響

    時間波形分析（振動）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4974 時間波形分析（振動） １分析につき 3,740円 機械・材料技術部

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    周波数分析（振動）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4975 周波数分析（振動） １分析につき 5,500円 機械・材料技術部

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    騒音測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4980 騒音測定 １測定につき 2,750円 機械・材料技術部

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    オクターブ分析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4981 オクターブ分析 １分析につき 3,300円 機械・材料技術部

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    時間波形分析（音）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4982 時間波形分析（音） １分析につき 3,630円 機械・材料技術部

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    周波数分析（音）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4983 周波数分析（音） １分析につき 5,500円 機械・材料技術部

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    音響パワーレベル測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4984 音響パワーレベル測定 １測定につき 11,110円 機械・材料技術部

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    音圧分布測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4985 音圧分布測定 １測定につき 16,610円 機械・材料技術部

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    音質評価解析

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4986 音質評価解析 １測定につき 6,270円 機械・材料技術部

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    音響インピーダンス及び伝搬定数測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4988 音響インピーダンス及び伝搬定数測定 １測定につき 7,920円 機械・材料技術部

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    垂直入射吸音率測定

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4989 垂直入射吸音率測定 １測定につき 5,170円 機械・材料技術部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E7470 簡易半無響室 小野測器　 1,650円 機械・材料技術部
    E8260 音響インテンシティ測定装置 小野測器　CF6400INT/MOD 11,110円 機械・材料技術部
    E8261 音質評価システム 小野測器　WS-5160 3,960円 機械・材料技術部
    E8263 垂直入射吸音率測定システム 日本音響エンジニアリング　　WinZacMTX 1,540円 機械・材料技術部

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    温湿度評価

    小型恒温恒湿槽 （SH，SU200番台）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1392 小型恒温恒湿槽（SH，SU200番台） 24時間まで 13,090円 電子技術部
    E1393 小型恒温恒湿槽（SH，SU200番台）　24時間増 24時間増すごとに 4,730円 電子技術部

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    恒温恒湿槽（低湿度対応，ＰＤＬ）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1378 恒温恒湿槽 （低湿度対応，ＰＤＬ) ８時間まで 17,380円 電子技術部
    E1379 恒温恒湿槽 （低湿度対応，ＰＤＬ)　８時間増 ８時間増すごとに 4,070円 電子技術部

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    恒温恒湿槽

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1250 恒温恒湿槽 24時間まで 24,090円 電子技術部
    E1251 恒温恒湿槽　24時間増 24時間増すごとに 9,680円 電子技術部

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    高温槽

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1290 高温槽 24時間まで 13,750円 電子技術部
    E1310 高温槽　24時間増 24時間増すごとに 6,710円 電子技術部

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    プレッシャークッカー試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1320 プレッシャークッカー試験 24時間まで 19,800円 電子技術部
    E1330 プレッシャークッカー試験　24時間増 24時間増すごとに 12,210円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    プレッシャークッカー試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5440 プレッシャークッカー試験 24時間まで 19,800円 川崎技術支援部
    K5441 プレッシャークッカー試験　24時間増 24時間増すごとに 12,210円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    冷熱衝撃試験（中・ハイパワータイプ）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1340 冷熱衝撃試験（中・ハイパワータイプ） ８時間まで 15,510円 電子技術部
    E1341 冷熱衝撃試験（中・ハイパワータイプ） ８時間増 ８時間増すごとに 7,700円 電子技術部

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    冷熱衝撃試験（中）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1350 冷熱衝撃試験（中） ８時間まで 12,100円 電子技術部
    E1360 冷熱衝撃試験（中）　８時間増 ８時間増すごとに 6,050円 電子技術部

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    冷熱衝撃試験（中・TSA）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1363 冷熱衝撃試験（中・TSA） ８時間まで 14,520円 電子技術部
    E1364 冷熱衝撃試験（中・TSA）　８時間増 ８時間増すごとに 7,040円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    HAST試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1365 HAST試験 24時間まで 20,020円 電子技術部
    E1366 HAST試験　24時間増 24時間増すごとに 13,090円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    ハイパワー恒温恒湿槽

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1367 ハイパワー恒温恒湿槽 ８時間まで 17,490円 電子技術部
    E1368 ハイパワー恒温恒湿槽　８時間増 ８時間増すごとに 5,280円 電子技術部

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    恒温恒湿槽（大、１５０℃対応）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1370 恒温恒湿槽（大、150℃対応） 24時間まで 35,750円 電子技術部
    E1375 恒温恒湿槽（大、150℃対応）　24時間増 24時間増すごとに 19,140円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    冷熱衝撃試験（大）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1380 冷熱衝撃試験（大） ８時間まで 16,280円 電子技術部
    E1385 冷熱衝撃試験（大）　８時間増 ８時間増すごとに 8,250円 電子技術部

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    小型恒温恒湿槽（SH，SU600番台）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1390 小型恒温恒湿槽（SH，SU600番台） 24時間まで 16,170円 電子技術部
    E1391 小型恒温恒湿槽（SH，SU600番台）　24時間増 24時間増すごとに 5,940円 電子技術部

    左右にスクロールできます

    人工気象室（小型）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1394 人工気象室（小型） １時間ごとに 5,280円 化学技術部

    左右にスクロールできます

    人工気象室（大型）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1395 人工気象室（大型） １時間ごとに 8,360円 化学技術部
    E1396 日射装置 １時間ごとに
    （人工気象室（大型）の料金に加算）    		 6,710円 化学技術部

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    恒温恒湿槽（中）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5410 恒温恒湿槽（中） 24時間まで 22,440円 川崎技術支援部
    K5411 恒温恒湿槽（中）　24時間増 24時間増すごとに 9,020円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    恒温恒湿槽（小）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5420 恒温恒湿槽（小） 24時間まで 18,370円 川崎技術支援部
    K5421 恒温恒湿槽（小）　24時間増 24時間増すごとに 6,930円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    恒温槽

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5430 恒温槽 24時間まで 12,210円 川崎技術支援部
    K5431 恒温槽　24時間増 24時間増すごとに 6,270円 川崎技術支援部

    左右にスクロールできます

    冷熱衝撃試験 （小）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K5450 冷熱衝撃試験 （小） ８時間まで 10,780円 川崎技術支援部
    K5451 冷熱衝撃試験 （小）　８時間増 ８時間増すごとに 5,610円 川崎技術支援部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E7310 人工気象室 タバイエスぺック　TBL-9W4YPX 14,190円 化学技術部
    K2815 冷熱衝撃試験機　（小）　[ETAC　NT1050W] 楠本化成　 　ETAC　NT1050W 1,430円 川崎技術支援部
    K2820 超低温恒温恒湿槽（-70～150℃）　[PSL-2KPH]　 エスペック 　PSL-2KPH 1,100円 川崎技術支援部
    K6410 恒温恒湿槽（中）（-40～150℃）　[ETAC FX424P]　 楠本化成 　ETAC FX424P 1,210円 川崎技術支援部
    K6420 恒温恒湿槽（小）（-40～150℃）　[ETAC TH411HA] 楠本化成 　ETAC TH411HA 770円 川崎技術支援部
    K6430 恒温槽（室温～300℃）　[PVH-110M]　 エスペック 　PVH-110M 660円 川崎技術支援部
    K6440 プレッシャークッカー　[ETAC PM420]　 楠本化成 　ETAC PM420 990円 川崎技術支援部
    K6450 冷熱衝撃試験機　（小）　[ETAC TS100]　 楠本化成 　ETAC TS100 1,430円 川崎技術支援部
    K6465 恒温恒湿槽（中）（-40～150℃） [ETAC FX412N-E] 楠本化成 　FX412N-E 1,100円 川崎技術支援部

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    耐候性・耐食性試験

    小型Xe耐光試験機（東洋精機製作所　Atlas SUNTEST XLS+）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3440 小型Xe耐光試験　[Atlas SUNTEST XLS+] 24時間につき 7,700円 川崎技術支援部
    K3442 小型Xe耐光試験　[Atlas SUNTEST XLS+]　連続100時間 連続運転100時間につき 26,950円 川崎技術支援部

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    促進耐候性試験(キセノン)

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E1397 促進耐候性試験（キセノン） 標準条件(放射照度60W/㎡、BPT63℃、スプレー18分/120分)の場合　１試料50時間につき 20,460円 化学技術部
    E1398 試料取付費 １ホルダーにつき　（E1397に適用） 3,300円 化学技術部
    E1399 試料抜取り費 １ホルダーにつき　（E1397に適用） 1,650円 化学技術部

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    耐光試験（カーボンアーク）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3520 耐光試験（カーボンアーク） １試料につき20時間 1,760円 化学技術部

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    塩水噴霧試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E3060 塩水噴霧試験 １試料24時間につき　 2,530円 化学技術部
    E3065 試験途中の試料観察（槽からの取り出し無し） 1回につき（E3060に適用） 440円 化学技術部
    E3066 試験途中の試料観察（槽からの取り出し有り） １試料１回につき（E3060に適用） 1,430円 化学技術部
    E3067 試験途中の試料洗浄 １試料１回につき（E3066に適用） 660円 化学技術部
    E3068 試験途中の試料抜き去り １試料１回につき（E3060に適用） 440円 化学技術部

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    紫外線照射試験（Atlas UV test）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3431 紫外線照射試験　[Atlas　UV test] 24時間につき 6,270円 川崎技術支援部
    K3434 紫外線照射試験　[Atlas　UV test]　連続100時間 連続運転100時間につき 23,210円 川崎技術支援部

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    紫外線照射試験（UV-B, C / Atlas UV test）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    K3436 紫外線照射試験 UV-B, C　[Atlas　UV test]　 24時間につき 7,150円 川崎技術支援部
    K3437 紫外線照射試験 UV-B, C　[Atlas　UV test]　連続100時間 連続運転100時間につき 24,970円 川崎技術支援部

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    機器使用

     
    該当する情報はありません

    疲労・振動耐久性

    製品強度試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0160 製品強度試験（１）（簡単な試験） １試験につき 8,690円 機械・材料技術部
    E0165 製品強度試験（２）（標準的な試験） １試験につき 15,510円 機械・材料技術部
    E0170 製品強度試験（３）（複雑な試験） １試験につき 24,090円 機械・材料技術部

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    疲労試験　大型構造物

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E0431 疲労試験　　大型構造物　８時間以内 １試験につき 23,540円 機械・材料技術部
    E0435 疲労試験　　８時間増　（E0420, E0431に適用） ８時間を超えて８時間増すごとに 8,580円 機械・材料技術部

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    振動試験

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4976 振動試験 １時間当たり 8,690円 機械・材料技術部

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    振動試験（大型の試験機によるもの）

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E4979 振動試験　（大型の試験機によるもの） １時間当たり 11,110円 機械・材料技術部

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    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E8711 振動試験機 IMV　VS-2000A-140T 5,280円 機械・材料技術部
    E8712 振動試験機　（大型） IMV　i250/SA5M 7,370円 機械・材料技術部

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    その他

    成績書の複本・データ等の交付

    成績書の複本・データ等の交付

     
    No. 項目 単位 料金 担当部名
    E5350 成績書の複本・データ等の交付 １通につき
    （写真を含む場合は別に加算することができる）    		 297円
    K9030 成績書の複本・データ等の交付 １通につき
    （写真を含む場合は別に加算することができる）    		 297円 川崎技術支援部
    K9050 技術開発受託報告書の作成（データ処理） 基本単位　（難易度により加算あり） 2,970円 川崎技術支援部
    K9060 技術開発受託報告書の作成（考察） 基本単位　（難易度により加算あり） 6,050円 川崎技術支援部
    K9070 技術開発受託報告書の複本・データ等の交付 １通につき
    （写真を含む場合は別に加算することができる）    		 297円 川崎技術支援部

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    機器使用

     
    該当する情報はありません

    研究生の指導

    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E5310 研究生の指導 １人１日につき　 1,100円
    E5320 研究生の指導　１人増 研究生１人増すごとに 　 550円
    K7030 機器操作指導料（開放利用時に適用）　15分当たり 立会人１人、15分当たり　 3,080円 川崎技術支援部

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    製品開発室

    機器使用

     
    No. 設備機器名 メーカー・型式 料金 担当部名
    E9210 製品開発室 実験棟　１･２･４階 88円 事業化支援部
    E9220 ドラフトチャンバー（製品開発室） 実験棟　１階 220円 事業化支援部

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