分析事例を見る ANALYSIS CASE STUDY

XPSによる試料表面の元素分析を実施することで、試料のアセトアルデヒド分解性能の優劣について考察する...

川崎技術支援部

• 固体・表面分析
• 光触媒評価

• 光触媒

• #空気浄化
• #光触媒
• #表面分析

ガラス基板上に塗布した光触媒試料の表面分析 XPSワイドスキャン分析により、光触媒材料表面に、...

川崎技術支援部

• 固体・表面分析

• 光触媒

• #表面分析

鉛フリーはんだ / 鉛含有はんだ の分析 電子基板にはスズ (Sn) - 鉛 (Pb) 合金で...

化学技術部

• 固体・表面分析

• 金属材料

• #有害物質規制（有害元素）
• #元素分析

XPSワイドスキャン分析により、極表面の薄いシミに、どのような元素が存在するかわかります。 観...

川崎技術支援部

• 固体・表面分析

• 光触媒

• #表面分析

XRFの定性分析により、金属製品の材質を確認することができます。 金属製品の素材確認 ス...

川崎技術支援部

• 固体・表面分析

• 金属材料

• #元素分析

面分析でわかること EPMA（Electron Probe Micro Analysis）は試...

機械・材料技術部

• 固体・表面分析

• 金属材料
• 電気・電子製品

• #変色
• #JKA
• #元素分析

EPMA,SEM–EDXの特徴 固体材料表面に電子線を照射し、特性X線を計測することにより、固...

機械・材料技術部

• 固体・表面分析

• 金属材料
• 無機材料

• #JKA
• #不具合
• #元素分析

化学状態解析でわかること 機械・材料技術部解析評価グループでは，銅材に生じた光沢低下の要因を調...

機械・材料技術部

• 固体・表面分析

• 金属材料
• 無機材料

• #トラブル対策
• #研究開発
• #表面分析

EDS（エネルギー分散型X線分析装置）の面分析機能を使用するとどの成分が何処にあるのかが解ります。＜...

川崎技術支援部

• 外観観察
• 固体・表面分析

• セラミックス・無機酸化物
• 膜材

• #電子顕微鏡
• #形状観察
• #組成分析

光学多層薄膜上にて確認された、突起のような異常部の発生原因について調査しました。 ＜試料＞光学...

川崎技術支援部

• 微細構造観察
• 固体・表面分析

• 膜材
• 電気・電子製品

• #電子顕微鏡
• #形状観察
• #組成分析

めっき表面に発生した変色部分の断面観察および分析をすることで、変色の原因を調査しました。 ＜試...

川崎技術支援部

• 微細構造観察
• 固体・表面分析

• 金属材料
• 塗装・メッキ製品

• #電子顕微鏡
• #形状観察
• #組成分析

FIB-SEMシリアルセクショニング法※を用いて、耐衝撃性ポリスチレン（HIPS）中のブタジエンの抽...

川崎技術支援部

• 固体・表面分析

• 高分子材料

• #微細構造解析
• #組織観察
• #組成分析