分析事例を見る ANALYSIS CASE STUDY
お客様の技術課題に対して、KISTECの依頼試験と委託開発をご利用いただいた事例をご紹介いたします。
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FIB-マイクロサンプリング法によるTEM試料作製事例
透過電子顕微鏡（TEM）の観察は、観察対象とするサンプルを約100nm以下の厚さに加工しなければ電子...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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マイクロカンチレバーの作製・測定事例
マイクロカンチレバー※を作製し、その試験片を用いて、材料表面（微小領域）の強度測定を行えます。 ...
川崎技術支援部
- 強度試験
- 金属材料
- セラミックス・無機酸化物
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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携帯電話ケース異常突起物の断面解析例
＜使用機器＞ 精密機械研磨装置（EM-TXP） 光学顕微鏡 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 電気・電子製品
- #光学顕微鏡
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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ワイヤボンディングの断面SEM観察事例
精密機械研磨により、ワイヤボンディングのような微小部位の断面作製が可能です。イオンミリング装置と組み...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 電気・電子製品
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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HIPSの三次元解析事例
FIB-SEMシリアルセクショニング法※を用いて、耐衝撃性ポリスチレン（HIPS）中のブタジエンの抽...
川崎技術支援部
- 固体・表面分析
- 高分子材料
- #微細構造解析
- #組織観察
- #組成分析
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めっき表面に発生した変色部分の断面観察および分析
めっき表面に発生した変色部分の断面観察および分析をすることで、変色の原因を調査しました。 ＜試...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 塗装・メッキ製品
- #電子顕微鏡
- #形状観察
- #組成分析
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光学多層薄膜上の異常部の解析事例
光学多層薄膜上にて確認された、突起のような異常部の発生原因について調査しました。 ＜試料＞光学...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 固体・表面分析
- 膜材
- 電気・電子製品
- #電子顕微鏡
- #形状観察
- #組成分析
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イオンミリングを活用しためっき層のSEM観察事例
Au/Ni/Cu(母材)の各層の膜厚やピンホール等の断面構造を明らかにしました。 ＜試料＞Au...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 塗装・メッキ製品
- #電子顕微鏡
- #形状観察
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金めっき異常部の断面解析事例
金めっき上に確認された異常部の原因について、FIB-SEMを用いて調査しました。 ＜試料＞試料...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 塗装・メッキ製品
- #電子顕微鏡
- #形状観察
- #組成分析
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ポリエチレンのラメラのSEM観察事例
ポリエチレンの表面・内部構造をSEM、SEM-STEMにて観察しました。 <試料>...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
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リチウムイオン電池セパレータの観察事例
リチウムイオン電池セパレータの表面および断面の構造観察を行いました。断面作製には、クライオイオンミリ...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 多孔質材
- 二次電池
- #電子顕微鏡
- #形状観察
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ポリエチレンフィルム熱溶着界面の断面観察事例
シーリング不良により熱溶着差の生じたポリエチレンフィルムにおいて、断面観察を行い界面の様子を明らかに...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 高分子材料
- 膜材
- #微細構造解析
- #破面
- #電子顕微鏡