分析事例を見るANALYSIS CASE
お客様の技術課題に対して、KISTECの依頼試験と委託開発をご利用いただいた事例をご紹介いたします。
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ワイヤボンディングの断面SEM観察事例
精密機械研磨により、ワイヤボンディングのような微小部位の断面作製が可能です。イオンミリング装置と組み...
川﨑技術支援部
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- #電子顕微鏡
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携帯電話ケース異常突起物の断面解析例
＜使用機器＞ 精密機械研磨装置（EM-TXP） 光学顕微鏡 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）...
川﨑技術支援部
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ミクロトームを活用したHIPS（耐衝撃性ポリスチレン）のSEM観察事例
ミクロトームを活用することでHIPS（耐衝撃性ポリスチレン）を広範囲で観察し、サブミクロン領域のモル...
川﨑技術支援部
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表面改質金属の断面解析例
微粒子ピーニング処理により表面改質させた金属を断面方向から可視化することで、表面付近の内部構造を明ら...
川﨑技術支援部
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鉄鋼材料の転位のSEM観察事例
平面イオンミリング加工した鉄鋼材料の表面を観察し、転位を観察しました。 ＜試料＞鉄鋼材料＜使用...
川﨑技術支援部
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MOCVD法で作製したβ-FeSi2薄膜の結晶粒観察事例
単結晶基板上にMOCVD法で作製したβ-FeSi2膜の結晶性、結晶サイズ、膜厚を断面方向からの観察で...
川﨑技術支援部
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粘着部の低真空SEM観察事例
付箋の粘着部を無蒸着で見るため、低真空モードを使用しSEM観察を行いました。 ＜試料＞市販の粘...
川﨑技術支援部
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低エネルギーイオンミリングを用いた化合物半導体の高分解能観察例
FIBによるTEM試料作製ではGaイオンビームによるダメージ層（～20nm）が加工面に形成されてしま...
川﨑技術支援部
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防振ゴムの断面観察事例
防振ゴムの内部構造を調査するため、イオンミリング装置にて作製した断面のSEM観察を行いました。 ...
川﨑技術支援部
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FIB-SEMによる断面観察事例
FIBで加工した断面を、SEMで斜め上から観察します。 FIB-SEM...
川﨑技術支援部
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市販トナーの断面観察事例
トナー粒子の内部構造を調査するため、イオンミリング装置にて作製した断面のSEM観察を行いました。 ...
川﨑技術支援部
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電子染色を利用した中空糸の断面観察事例
試料を電子染色することで、高分子材料である中空糸の断面構造をSEMにて高コントラストに観察しました。...
川﨑技術支援部
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