分析事例を見る ANALYSIS CASE STUDY
お客様の技術課題に対して、KISTECの依頼試験と委託開発をご利用いただいた事例をご紹介いたします。
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電子染色を利用した中空糸の断面観察事例
試料を電子染色することで、高分子材料である中空糸の断面構造をSEMにて高コントラストに観察しました。...
川崎技術支援部
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イオンミリングを活用した共晶ハンダの断面SEM観察
共晶ハンダの内部構造を調べるため、クライオイオンミリングにて作製した断面のSEM観察を行いました。 ...
川崎技術支援部
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ポリエチレンフィルム熱溶着界面の断面観察事例
シーリング不良により熱溶着差の生じたポリエチレンフィルムにおいて、断面観察を行い界面の様子を明らかに...
川崎技術支援部
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リチウムイオン電池セパレータの観察事例
リチウムイオン電池セパレータの表面および断面の構造観察を行いました。断面作製には、クライオイオンミリ...
川崎技術支援部
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ポリエチレンのラメラのSEM観察事例
ポリエチレンの表面・内部構造をSEM、SEM-STEMにて観察しました。 <試料>...
川崎技術支援部
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金めっき異常部の断面解析事例
金めっき上に確認された異常部の原因について、FIB-SEMを用いて調査しました。 ＜試料＞試料...
川崎技術支援部
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イオンミリングを活用しためっき層のSEM観察事例
Au/Ni/Cu(母材)の各層の膜厚やピンホール等の断面構造を明らかにしました。 ＜試料＞Au...
川崎技術支援部
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光学多層薄膜上の異常部の解析事例
光学多層薄膜上にて確認された、突起のような異常部の発生原因について調査しました。 ＜試料＞光学...
川崎技術支援部
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