研究テーマRESEARCH THEME

定量分析 ガスクロマトグラフ成分分析 液体クロマトグラフ成分分析 固体・表面分析 有機物定性分析 X線構造解析 試料調製

外観観察 微細構造観察 試料調製・前処理

熱物性測定 粉体・表面性能 透過度測定 電気化学試験 光学特性評価 電磁気特性評価 粘弾性測定 吸水性測定 比重測定 制振性

強度試験 摩擦摩耗

デザイン CAD・CAM・CAE ３Dプリンター 加工 微細加工

電気計測・試験 ネットワーク試験 半導体・実装 電磁環境・EMC 燃料電池・二次電池評価 太陽電池評価 光触媒評価 繊維性能評価 木材性能評価 塗膜・めっき性能評価 接着性能評価 バイオ・食品 寸法測定・形状測定 非破壊検査 撮影 音響 温湿度評価 耐候性・耐食性試験 疲労・振動耐久性

成績書の複本・データ等の交付 研究生の指導 製品開発室

金属材料 無機材料 セラミックス・無機酸化物 高分子材料 有機材料 多孔質材 磁性材料 電子材料 膜材 粒・粉体 吸音材 制振材 規制物質 （材料共通） その他

電気・電子製品 機械製品 太陽電池 燃料電池 二次電池 光触媒 塗装・メッキ製品 繊維製品 木材製品 食品 バイオ （製品共通） その他

空気浄化 水質浄化 粉末 界面 結晶方位 接着・接合 測色 トライボ 粒度分布 加圧 ラジカル ゼオライト 熱分解 人工オパール 劣化 破面 微生物 音響 塗装 パワーデバイス ひずみ グラフェン 残留応力 ペロブスカイト 焼結 揮発性有機成分 電磁波 共振

DX IoT ロボット 人工知能 光触媒 知的財産 脱炭素 太陽電池評価 バイオ EMC CAE

VCCI CISPR MIL EN JEM KES ASTM CC-Link FL-net IEC ISO JEITA イーサネット JIS RoHS NAS WEEE

電磁環境試験機器 3Dプリンター 加工機器 厚さ・膜厚 ナノインデンター 原子間力顕微鏡 光学機器 工作機器 内部観察機器 強度試験機 光学顕微鏡 形状測定 反応熱量計 材料試験機 マイクロスコープ 熱処理 分光分析 物理特性試験機 繊維試験機器 電子・半導体 電子顕微鏡 電気計測機器

温度測定 精密測定 画像解析 前処理 微細構造解析 成分分析 熱分析 水質試験 湿式分析 薄膜作成・成膜 部品実装 高周波特性評価 磁気特性評価 溶接 日射試験 シミュレーション 表面分析 元素分析 組織観察 半導体特性評価 表面観察 形状観察 結晶構造解析 電気化学試験 抗菌・抗ウイルス 電気抵抗率測定 組成分析

変色 異物 腐食 促進耐候性 促進耐光性 環境試験 振動 食品機能 不具合 耐久性 試作加工 有害物質規制（有害元素） 熱衝撃 耐食性 親水性 電磁ノイズ 耐摩耗性 耐薬品性 粘弾性 摩擦性 疲労 切削加工 塑性加工 レーザ加工 放電加工 食品加工 微細加工

製品開発 技術開発 技術改善 品質向上 トラブル対策 安全性評価 性能評価 事業化 環境保全 研究開発 技術支援 デザイン 信頼性評価 製品化 共同研究

製品化・事業化支援 次世代事業創出デザイン支援 デザイン支援 産学公連携事業化促進研究 技術開発可能性評価支援 生成AI活用促進 試験計測 技術開発受託 機器使用 経常研究 知的財産支援 評価法開発

JKA NEDO JST 文部科学省 経済産業省 KIP さがみロボット産業特区 PIAJ 神奈川版オープンイノベーション