「試験計測等料金表」令和6年7月1日改定のお知らせ

  • お知らせ

「試験計測等料金表」が令和6年7月1日から改定されます。

 同日付で以下のとおり、試験項目が新設・削除されます。

 新規追加される試験項目は以下のとおりです。

新規追加される試験項目

試験計測料金

単位:円

No.項 目単 位料 金担当部名
E1125触針式膜厚測定1測定につき4,400電子技術部
E1126触針式表面形状測定1測定につき12,650電子技術部
E0778薄膜硬さ試験1時間当たり5,940電子技術部
E2774試料調整(測定後処理)E2750,E2751,E2760,E2761,E2770 に適用3,630化学技術部
E2925ガス・水蒸気透過度測定1試料・1測定につき(24時間まで)28,600化学技術部
E3020蛍光X線法による膜厚測定1試料1ヶ所につき5,170化学技術部

機器使用料金

単位:円(1時間あたり)

No.設 備 機 器 名メーカー・型式料 金担当部名
E6970触針式膜厚計小坂研究所・ET4000AKR2,090電子技術部

削除される試験項目

機器使用料金

単位:円(1時間あたり)

No.設 備 機 器 名メーカー・型式料 金担当部名
E7280透明プラスチック残留応力観察装置理光研・ポラリスコープPS-51,650化学技術部

詳細は、メール技術相談フォームから担当部へお問い合わせください。

引き続き皆様のご利用をお待ちしております。