積層セラミックコンデンサ ユーザーのための選定・品質向上・故障解析
～基礎から、故障現象・解析事例まで～
～基礎から、故障現象・解析事例まで～
小型・軽量で高い静電容量を持つ積層セラミックコンデンサ（以下、MLCC）は、電子機器のさらなる小型化と電子回路の高密度化への需要が高まる中、欠かせない部品となっています。本セミナーは、MLCCを使用する現場・開発・品質関係者向けに、実践的な知識を活かした講義を行います。開発、故障解析の経験豊富な講師が、高誘電率発生の原理、選定のための基礎知識を解説し、MLCCの主な故障メカニズム（クラックと絶縁劣化）とその解析事例を紹介します。また、大きな流れである小型化の影響とそれに伴う故障リスク、代替品の簡便な選定方法についても紹介します。
日時
令和7年 ６月26日（木）11：00-17：00
会場
かながわサイエンスパーク
（神奈川県川崎市高津区坂戸3-2-1）
募集人員
40名（先着順）
対象
・スマートフォン、パソコン、IoT機器、EV等電子機器の品質管理に携わる方
・MLCC選定のための基礎知識を学びたい方
・MLCC故障解析事例から品質向上の糸口を見つけたい方
・電子機器全般の製品開発の参考にしたい方
講師
斎藤 彰 氏（テック・サイトウ代表 元・村田製作所研究員）
カリキュラム
11:00-12:30 （90分） MLCCの特徴とクラックの発生原因と解析手法
13:30-15:00 （90分） MLCCの絶縁劣化メカニズムと解析手法
15:10-16:30 （80分）新たなMLCCの選定や小型のMLCCの使用における注意点
16:30-17:00（30分）質疑
※17:00から30分の名刺交換会を設けております。
受講料
13,000円（消費税込）
主催
神奈川県立産業技術総合研究所