「試験計測等料金表」令和６年４月１日改定のお知らせ　　　　　　　　　　〔新設・名称等変更・削除項目 追加〕

　日頃、KISTECを御利用いただき、誠にありがとうございます。

　既に御案内させていただきました通り、「試験計測等料金表」が令和６年４月１日から改定されます。

　新料金表につきましては、以下の試験計測等料金表（PDF版）をご確認ください。

　　試験計測等料金表（ＰＤＦ版）はこちら

　また、同日付で以下のとおり、試験項目が新設・名称等変更・削除されます。

●　新規に追加される試験項目は以下のとおりです。

試験計測料金　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　単位：円

No.項　目単　位料　金担当部名
E0215摩耗試験１試料１条件につき7,700機械・材料技術部
E0216摩耗試験　１件増１条件増すごとに3,520機械・材料技術部
E0775接合強度試験（はんだ継手強度試験）１測定条件につき（５測定点まで）9,130電子技術部
E0776接合強度試験（ワイヤーボンディング強度試験）１測定条件につき（５測定点まで）10,780電子技術部
E0777接合強度試験（ダイシェア試験）１測定条件につき（５測定点まで）11,660電子技術部
E0985高出力高精細Ｘ線ＣＴ撮影１時間当たり16,830機械・材料技術部
E1340冷熱衝撃試験（中・ハイパワータイプ）８時間まで15,510電子技術部
E1341冷熱衝撃試験（中・ハイパワータイプ）８時間増８時間増すごとに7,700電子技術部
E1555電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動イミュニティ試験１時間まで10,120電子技術部
E1556電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動イミュニティ試験　１時間増１時間増すごとに5,610電子技術部
E1801試料調製（１）（一般的な前処理）E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1891,E1892,E1911,E1921,E4010,
E4020 に適用		10,890化学技術部
E1802試料調製（２）（複雑な前処理）E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1891,E1892,E1911,E1921,E4010,
E4020 に適用		14,300化学技術部
E1803試料調製（３）（困難な前処理）E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1891,E1892,E1911,E1921,E4010,
E4020 に適用		21,230化学技術部
E1804試料調製（４）（非常に困難な前処理）E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1891,E1892,E1911,E1921,E4010,
E4020 に適用		29,150化学技術部
E1805切粉作製（Ａ）（加工が容易なもの）E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1891,E1892,E1911,E1921,E4010,
E4020 に適用		3,080化学技術部
E1806切粉作製（Ｂ）（加工がやや難しいもの）E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1891,E1892,E1911,E1921,E4010,
E4020 に適用		10,560化学技術部
E2215試料調製（溶出前処理）E2211,E2212に適用4,730化学技術部
E2281シャルピー衝撃試験（室温）１試験片につき2,310化学技術部
E3065試験途中の試料観察（槽からの取り出し無し）１回につき（E3060に適用）440化学技術部
E3066試験途中の試料観察（槽からの取り出し有り）１試料１回につき（E3060に適用）1,430化学技術部
E3067試験途中の試料洗浄１試料１回につき（E3066に適用）660化学技術部
E3068試験途中の試料抜き去り１試料１回につき（E3060に適用）440化学技術部
E3326冷却遠心分離　１時間増１時間増すごとに（E3325に適用）5,060化学技術部
E4173粒径分布測定（レーザ回折・散乱法）（Ａ）湿式または乾式１試料につき6,490機械・材料技術部
E4174粒径分布測定（レーザ回折・散乱法）（Ｂ）湿式（有機溶媒）１試料につき8,470機械・材料技術部
E4175粒径分布測定（レーザ回折・散乱法）（Ｃ）特殊なもの１試料につき10,450機械・材料技術部
E4183粒径分布測定（静的画像解析法）（Ａ）（簡易な評価）１試料につき4,730機械・材料技術部
E4184粒径分布測定（静的画像解析法）（Ｂ)１試料につき8,030機械・材料技術部
K3075光触媒のメチルメルカプタン除去性能試験１試験につき71,610川崎技術支援部

● 名称等変更される試験項目は以下のとおりです。

試験計測料金　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　単位：円

No.項　目単　位料　金担当部名
E0110 引張･圧縮･曲げ試験（１）（簡単な試験）１試験につき2,530　機械・材料技術部
E0120引張･圧縮･曲げ試験（２）（比較的簡単な試験）１試験につき3,740機械・材料技術部
E0130引張･圧縮･曲げ試験（３）（標準的な試験）１試験につき5,500機械・材料技術部
E0140引張･圧縮･曲げ試験（４）（やや複雑な試験）１試験につき7,480機械・材料技術部
E0150引張･圧縮･曲げ試験（５）（複雑な試験）１試験につき10,560機械・材料技術部
E0160製品強度試験（１）（簡単な試験）１試験につき8,690機械・材料技術部
E0165製品強度試験（２）（標準的な試験）１試験につき15,510機械・材料技術部
E0170製品強度試験（３）（複雑な試験）１試験につき24,090機械・材料技術部
E0180硬さ試験１点につき1,100機械・材料技術部
K5330
E0295Ｘ線応力測定１試料１か所１方向につき6,050機械・材料技術部
E0415疲労試験　１時間以内１試験につき5,060機械・材料技術部
E0420疲労試験　８時間以内１試験につき17,050機械・材料技術部
E0431疲労試験　大型構造物　８時間以内１試験につき23,540機械・材料技術部
E0510電流電圧測定１試料１条件につき3,080電子技術部
E0570低抵抗測定１試料１条件につき4,180電子技術部
E0660電気機器・漏れ電流測定１試料１条件につき4,400電子技術部
E0680電気機器・接地回路の抵抗測定１試料１条件につき4,290電子技術部
E0750絶縁抵抗試験１試料１条件につき5,170電子技術部
E2885ノッチ加工１試験片につき（E2881に適用）1,980化学技術部
E3050浸せき試験室温で実施の場合　1試料24時間まで（試験液費用は別途負担）4,730化学技術部
E3325冷却遠心分離１時間まで5,390化学技術部
E4510試料調整（１）
（のこ盤、かんな盤などによる試験片作製）		１試料（30分につき）1,650情報・生産技術部
E5137総フラボノイド定量（塩化アルミニウム法による）１試料につき5,060化学技術部
K3610２灯式SSによる連続照射24時間につき（150mm角まで　山下電装YSS-T150Aを使用）54,670川崎技術支援部
K3612２灯式SSによる連続照射　追加追加24時間につき（150mm角まで　山下電装YSS-T150Aを使用）52,800川崎技術支援部
K3010光触媒の窒素酸化物除去性能試験１試験につき71,170川崎技術支援部
K3015光触媒の窒素酸化物除去性能試験　－再生率－１試験につき20,020川崎技術支援部
K3050光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験１試験につき48,840川崎技術支援部
K3055光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験　－バッグ法１試験につき44,990川崎技術支援部
K3060光触媒のトルエン除去性能試験１試験につき44,880川崎技術支援部
K3070光触媒のホルムアルデヒド除去性能試験１試験につき66,110川崎技術支援部
K3020光触媒のセルフクリーニング試験　湿式分解性能の測定１試験につき48,620川崎技術支援部
K3030光触媒のセルフクリーニング試験　水接触角の測定１試験につき71,610川崎技術支援部
K3080光触媒の水浄化性能試験（JISR1704準拠）（明条件のみ）１試験につき81,840川崎技術支援部
K3085光触媒の水浄化性能試験（JISR1704準拠）（暗条件のみ）１試験につき81,840川崎技術支援部
K3105光触媒性能試験JIS試験条件不成立時　（試験途中中止時）１試験につき24,310川崎技術支援部
K5340硬さ試験試料調製（第１種）：容易なもの１試料につき1,980川崎技術支援部
K5341硬さ試験試料調製（第２種）：比較的容易なもの１試料につき3,960川崎技術支援部
K9070技術開発受託報告書の複本・データ等の交付１通につき（写真を含む場合は別に加算することができる）297川崎技術支援部

機器使用料金　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　単位：円（１時間当たり）

No.項　目メーカー・型式料　金担当部名
E8200絶縁抵抗計（表面および体積抵抗のみ）キーサイト・テクノロジー・4339B3,300電子技術部
E8220ＬＣＲメータＹＨＰ　・　YHP4285A3,190電子技術部
K2315電波暗室 （測定帯域 １GHz～6GHz）
　TDK製（３m法）　（１時間以内）		TDK製（３m法）9,460川崎技術支援部
K2316電波暗室 （測定帯域 １GHz～6GHz）
　TDK製（３m法）　（追加30分あたり）		TDK製（３m法）4,510川崎技術支援部

● 削除される試験項目は以下のとおりです。

試験計測料金　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　単位：円

No.項　目単　位料　金担当部名
E0591四探針法による抵抗率測定１試料１測定につき10,230　電子技術部
E0690ＬＣＲ測定１試料１条件につき9,460電子技術部
E0710ＬＣＲ測定 １ヶ所増１試料につき測定点１ヶ所増すごとに3,080電子技術部
E0761はんだ継手強度試験１測定条件につき（10測定点まで）18,700電子技術部
E0762はんだ継手強度試験　５測定点増５測定点増すごとに8,470電子技術部
E0763ワイヤーボンディング強度試験１測定条件につき（10測定点まで）21,560電子技術部
E0764ワイヤーボンディング強度試験　５測定点増５測定点増すごとに9,900電子技術部
E0765ダイシェア試験１測定条件につき（10測定点まで）23,210電子技術部
E0766ダイシェア試験　５測定点増５測定点増すごとに10,670電子技術部
E0813電源変動および瞬停試験２時間まで12,100電子技術部
E0814電源変動および瞬停試験　１時間増１時間増すごとに6,050電子技術部
E1030薄膜屈折率測定１試料につき23,870電子技術部
E1040定エネルギー分光測定１条件につき36,080電子技術部
E1050膜厚測定１試料１測定点につき5,830電子技術部
E1051三次元微細形状測定標準１測定当たり12,540電子技術部
E1160イオンプレーティング成膜標準１試料当たり50,930電子技術部
E1170イオンプレーティング成膜　１条件増１条件増すごとに19,470電子技術部
E1940試料調製（１）（切粉作製等簡易な前処理）E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1932,E1933,E2021,E2211,E2212,
E2225,E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,
E2290,E2294,E2295,E2310,E2330,E2340,
E4010,E4020に適用		1,870化学技術部
E1950試料調製（２）（難分解性試料等複雑な前処理）E1810,E1820,E1831,E1832,E1860,E1891,
E1892,E1911,E2021,E2211,E2212,E2225,
E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,E2290,
E2294,E2295,E2310,E2330,E2340,E4010,
E4020に適用		9,790化学技術部
E1960試料調製（３）（極微量物質の分離濃縮等困難な前処理）E1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892,
E1911,E2021,E2211,E2212,E2225,E2235,
E2265,E2275,E2281,E2282,E2290,E2294,
E2295,E2310,E2330,E2340,E4010,E4020に適用		16,280化学技術部
E1970試料調製（４）（抽出、濃縮等標準的な前処理）E1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892,
E1841,E1860,E1911,E2211,E2212,E2225,
E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,E2290,
E2294,E2295,E2310,E2330,E2340,E4010,
E4020に適用		5,170化学技術部
E2030試料調製（５）分取用　液体クロマトグラフ使用１試料１成分につき28,930化学技術部
E2040試料調製（６）分取用　液体クロマトグラフ使用　１成分増同試料１成分増すごとに3,740化学技術部
E2090顕微レーザーラマン分光分析　１条件増１条件増すごとに29,920機械・材料技術部
E2091顕微レーザーラマン分光分析　（簡単なもの）１試料１ヶ所につき20,460機械・材料技術部
E2773測定前温度調整１試料につき１時間毎（E2750,E2751,E2760,E2761,E2770に適用)3,190化学技術部
E2880衝撃試験（アイゾット・シャルピー）（室温）１試料につき6,380化学技術部
E3710剛軟度試験１試料１方向につき1,210化学技術部
E3730はっ水度試験１試料につき2,640化学技術部
E4181粒径分布測定（光学顕微鏡による画像解析式）１試料、合成画像１視野につき4,730機械・材料技術部
E4182粒径分布測定（光学顕微鏡による画像解析式）　１視野追加合成画像１視野追加につき1,650機械・材料技術部
K1345高分解能分析走査電子顕微鏡（FE-SEM/EDS）SEM観察　ArクリーナーArクリーナーの使用10分につき2,200川崎技術支援部
K1415TEM試料調製　電解研磨法１試料につき27,390川崎技術支援部
K1420TEM試料調製　イオンミリング法　易１試料につき100,870川崎技術支援部
K1421TEM試料調製　イオンミリング法　中１試料につき201,740川崎技術支援部
K1422TEM試料調製　イオンミリング法　難１試料につき297,000川崎技術支援部
K1642集束イオンビーム装置（FIB） （連続自動加工）追加１時間あたり（ただし、設定可能なものに限る）16,610川崎技術支援部
K1651FIBオプション　タングステン膜デポジション10分あたり2,420川崎技術支援部
K1660FIBオプション　マイクロプロービングシステム１時間あたり18,150川崎技術支援部
K1942マルチ解析用集束イオンビーム装置（FIB）（連続自動加工）追加１時間あたり（ただし、設定可能なものに限る）16,500川崎技術支援部
K1955マルチ解析用FIBオプション　Easy Lift１時間あたり17,930川崎技術支援部
K3460分光照度計による照度、演色性、色温度などの測定１試料１測定（５回測定）につき2,200川崎技術支援部
K4175電解研磨法１試料につき27,390川崎技術支援部
K4176イオンミリング法　　易１試料につき100,870川崎技術支援部
K4177イオンミリング法　　中１試料につき201,740川崎技術支援部
K4178イオンミリング法　　難１試料につき297,000川崎技術支援部

機器使用料金　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　単位：円（１時間当たり）

No.項　目メーカー・型式料　金担当部名
E6620電極形成装置の本体システムＫＨエレクトロニクス・特別仕様　　　18,920電子技術部
E6650定エネルギー分光器日本分光・YQ-250CW-GT11,990電子技術部
E6660ボロメータ評価システム用高温電気測定用チャンバテクノロ工業・特別仕様4,510電子技術部
E6670ボロメータ評価システム用光源システム日本分光・SS-25GT12,100電子技術部
E6980焼き付け装置デルタデザイン（米国）・9023型880電子技術部
E8010薄膜屈折率測定装置溝尻光学・DHA-XA型8,800電子技術部
E8040Ｃ－Ｖ測定装置ＹＨＰ・4280A5,830電子技術部
E8150膜厚計小坂研究所・T4000AKR2,860電子技術部
E8190マルチフリケンシャルＬＣＲメータＹＨＰ・YHP4274A/YHP4275A2,860電子技術部
E8430ガウスメータ（最小測定レンジ:2mT、最大測定レンジ:2T）ベル・9200型880電子技術部
K2610マニピュレーター　SISA-30TI-2　（30分あたり）ナリシゲ・SISA-30TI-22,860川崎技術支援部
K2642集束イオンビーム装置　XVision200TB　（１時間あたり）SII社・ XVision200TB53,350川崎技術支援部
K2660TEM用グリッド　（１個あたり）3,740川崎技術支援部
K2690TEM用グリッド（１個あたり）　Scios使用ナリシゲ・ SISA-30TI-22,860川崎技術支援部
K2681マルチ解析用集束イオンビーム装置　Scios　（１時間あたり）FEI社・ Scios51,810川崎技術支援部
K2778電磁波妨害源探査装置　　EPS-M1　（１時間以内）ノイズ研究所・EPS-M12,640川崎技術支援部
K2779電磁波妨害源探査装置　　EPS-M1　（追加30分あたり）ノイズ研究所・EPS-M11,320川崎技術支援部

詳細は担当部にお問い合わせください。

引き続き皆様のご利用をお待ちしております。